「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(59ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD OF MEASURING AMOUNT OF CRYSTAL DEFECT CONTAINED IN SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加

半導体基板に含まれる結晶欠陥量を測定する方法 - 特許庁

To provide an apparatus and method for finding a defect on a reticle.例文帳に追加

レチクル上の欠陥を発見する装置及び方法を開示する。 - 特許庁

A defect information storage unit 310 stores defect information on a defective pixel having a large offset of a pixel signal generated by an imaging device.例文帳に追加

欠陥情報記憶部３１０は、撮像素子で生成される画素信号のオフセットが大きい欠陥画素の欠陥情報を記憶する。 - 特許庁

WATERPROOF SHEET OR EXTENSION SHEET, ITS DEFECT DETECTING METHOD, AND DEFECT DETECTING METHOD FOR JOINT BETWEEN WATERPROOF SHEET AND EXTENSION SHEET例文帳に追加

防水シート又は増し張りシート、及びその欠陥部検知方法並びに防水シートと増し張りシートとの接合部の欠陥部検知方法 - 特許庁

To provide a configuration enabling the selective repair, exchange, or the like of one portion related to a defect, when the defect occurs in one portion.例文帳に追加

一部に不具合が生じた場合に、その不具合に係る一部を選択的に修理、交換等することができる構成を提供する。 - 特許庁

Especially, this OB defect corrector classifies the OB signals for every color filter array, and performs defect correction for every classification thereof.例文帳に追加

特に、このＯＢ欠陥補正部は、カラーフィルタアレイの色別にＯＢ信号を区分し、その区分別にＯＢ信号の欠陥補正を行う。 - 特許庁

The positional information and the defect grade of the defective pixel are stored.例文帳に追加

この欠陥画素の位置情報と欠陥グレードとを記憶しておく。 - 特許庁

To prevent a high-resistance defect and an open defect of a via while reducing an element or a wiring arrangement area.例文帳に追加

本発明によれば、素子や配線の配置面積を縮小しつつ、ビアの高抵抗不良およびオープン不良が発生しないようにする。 - 特許庁

The high-defect regions exist in three positions, namely, a central part and both end parts of the substrate, and the low-defect region exists among them.例文帳に追加

高欠陥領域が基板の中央領域と両端部との３カ所にあり、それらの間に低欠陥領域が存在している。 - 特許庁

To provide an observation system and an installation defect detection program, capable of automatically detecting the installation defect of a container in an optical axis direction.例文帳に追加

光軸方向における容器の設置不備を自動で検出できる観察システム及び設置不備検出プログラムを提供する。 - 特許庁

As a result, a defect in the weak pin 30 can be detected.例文帳に追加

これにより、弱点ピン３０の欠損を検出することができる。 - 特許庁

To provide a pattern defect inspection apparatus having stable inspection performance.例文帳に追加

検査性能が安定したパターン欠陥検査装置を実現すること。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION SYSTEM, DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING DISPLAY DEVICE例文帳に追加

欠陥検査システム、表示装置および表示装置の製造方法 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an intermediate transfer belt, capable of eliminating a coating film defect and an appearance defect for ensuring uniform surface property.例文帳に追加

塗膜の欠陥、外観不良を無くし均一な表面性を確保することが可能な中間転写ベルトの製造方法である。 - 特許庁

CATV INTERNET SERVICE AUTOMATIC RESTORATION SYSTEM ON OCCURRENCE OF DEFECT OF CENTER MODEM例文帳に追加

センタモデム不具合時のＣＡＴＶインターネットサービス自動復旧方式 - 特許庁

CORRECTION METHOD AND CORRECTION COLOR FOR DEFECT PART OF COLOR FILTER PATTERN例文帳に追加

カラーフィルターのパターン欠陥部の補修方法および補修用カラー - 特許庁

RECORDING MEDIUM STORED WITH DEFECT MANAGEMENT INFORMATION FOR RECORDING REAL-TIME DATA, DEFECT MANAGING METHOD THEREFOR, AND RECORDING METHOD FOR REAL-TIME DATA例文帳に追加

リアルタイムデータを記録するための欠陥管理情報を貯蔵する記録媒体、その欠陥管理方法とリアルタイムデータの記録方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT INSIDE QUARTZ GLASS例文帳に追加

石英ガラス材内部の欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

BLACK INK FOR CORRECTING DEFECT OF FINE COLORED PATTERN, AND COLOR FILTER例文帳に追加

微小着色パターン欠陥修正用黒インキ、及び、カラーフィルター - 特許庁

PHOTOVOLTAIC DEVICE INSPECTION APPARATUS AND METHOD OF DETERMINING DEFECT IN PHOTOVOLTAIC DEVICE例文帳に追加

太陽電池の検査装置及び太陽電池の欠陥判定方法 - 特許庁

To specify a color component of a color causing a defect, even when a defect of an image formed based on an image data is an achromatic color.例文帳に追加

画像データに基づいて形成された画像の欠陥が、無彩色の場合でも、欠陥の原因色となる色成分を特定する。 - 特許庁

RECORDING MEDIUM TO STORE DEFECT CONTROL INFORMATION FOR RECORDING REAL TIME DATA, DEFECT CONTROL METHOD THEREOF, AND REAL TIME DATA RECORDING METHOD例文帳に追加

リアルタイムデ—タを記録するための欠陥管理情報を貯蔵する記録媒体、その欠陥管理方法とリアルタイムデ—タの記録方法 - 特許庁

To provide a defective pixel correction technique for calculating a defect judgment reference for detecting a defect precisely, as easily as possible.例文帳に追加

正確な欠陥検出を可能とする欠陥判定基準をできるだけ簡単に算出する欠陥画素修正技術を提供する。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR PATTERN DEFECT INSPECTION AND COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM WITH RECORDED PATTERN DEFECT INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

パターン欠陥検査方法及びパターン欠陥検査システム並びにパターン欠陥検査プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR EVALUATION OF DEFECT IN EDGE REGION OF WAFER例文帳に追加

ウエハの縁部領域の欠陥の評価のための装置及び方法 - 特許庁

The first defect pixel binary data are displayed on a thin glow monitor.例文帳に追加

第１不良画素二値データは薄焼モニター上に表示される。 - 特許庁

DEFECT RESTORING METHOD OF MEMBRANE FORMED ON POROUS SUBSTRATE, MEMBRANE SEPARATING BODY AND GAS SEPARATING BODY WITH DEFECT OF MEMBRANE RESTORED例文帳に追加

多孔質基体上に成膜された膜の欠陥修復方法並びに膜の欠陥が修復された膜分離体及びガス分離体 - 特許庁

To select and apply an optimum defect treatment method to a condition of an individual surface defect occurring in an in-furnace apparatus.例文帳に追加

炉内機器に発生する個々の表面欠陥の状態に対して最適な欠陥処置方法を選択し適用することを可能にする。 - 特許庁

To rapidly evaluate a crystal defect occurring in a manufacturing process.例文帳に追加

製造過程で生じた結晶欠陥を迅速に評価すること。 - 特許庁

After that, according to the calibrated image data, a defect of the sample wafer is detected by the defect extract part 40 and the result is displayed.例文帳に追加

その後、較正された画像データに基づいて欠陥抽出部４０で試料ウエハの欠陥検出を行い、結果を表示する。 - 特許庁

To provide a gallium nitride semiconductor layer having a low defect density.例文帳に追加

低欠陥密度を有する窒化ガリウム半導体層を提供する。 - 特許庁

SEM-TYPE DEFECT-REVIEWING DEVICE AND METHOD AND INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

ＳＥＭ式欠陥レビュー装置およびその方法並びに検査システム - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR CHECKING HOLLOW FIBER MEMBRANE MODULE FOR DEFECT例文帳に追加

中空糸膜モジュールの欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a group III nitride semiconductor having less crystal defect.例文帳に追加

結晶欠陥の少ないIII 族窒化物半導体の製造方法 - 特許庁

DEFECT PIXEL CORRECTING METHOD FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY, AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY例文帳に追加

液晶ディスプレイの欠陥画素修正方法及び液晶ディスプレイ - 特許庁

LENS, OPTICAL PICKUP, OPTICAL DISK DRIVE AND TRANSFER DEFECT DISCRIMINATION METHOD例文帳に追加

レンズ、光ピックアップ、光ディスク装置及び転写不良判別方法 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING DEFECT INDEPENDENT FROM CALIBRATION IN IMAGE SYSTEM例文帳に追加

画像システムにおける、較正から独立した欠陥の修正方法 - 特許庁

To provide a continuous casting method for producing a cast slab without developing the surface defect and the internal defect when the continuous casting of steel is performed.例文帳に追加

鋼の連続鋳造を行なう際に、表面欠陥や内部欠陥のない鋳片を製造する連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DEFORMATION DEFECT INSPECTION OF HOOP例文帳に追加

フープ材の変形不良検査装置および変形不良検出方法 - 特許庁

(i) Matters concerning liability in the case the goods have a hidden defect 例文帳に追加

一　商品に隠れた瑕疵がある場合の責任に関する事項 - 日本法令外国語訳データベースシステム

SURFACE INSPECTION DEVICE OF STEEL STRIP, AND DETECTING METHOD OF SURFACE DEFECT例文帳に追加

鋼帯の表面検査装置及び表面欠陥の検出方法 - 特許庁

To provide an efficient semiconductor easy to specify a defect.例文帳に追加

不具合特定が容易で、効率的な半導体装置を提供する。 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING DEFECT OF WAFER AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

ウェーハの欠陥検査方法および半導体デバイスの製造方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PROCESSING RECORDING MEDIUM, AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

記録媒体処理装置及び方法、並びに欠陥検出方法 - 特許庁

An image signal from a receiver board 23 is processed by a data processing board 25, and image data on a defect is sent to a defect-image display device 15.例文帳に追加

レシーバボード２３からの画像信号をデータ処理ボード２５で処理して、欠陥の画像データを欠陥画像表示装置１５に送る。 - 特許庁