「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(62ページ目) - Weblio英語例文検索

By this method, an error caused by a defect signal formed in a period of HS-HE is reducible to the utmost since a defect processing signal G for improving the detected defect signal is arranged so as to be generated for a period longer than that of the detection signal of the defect.例文帳に追加

本発明では、検出されたディフェクト信号を改善するためのディフェクト処理信号Ｇを、ディフェクトの検出信号Ｄの期間より長い期間だけ生成するようにしたので、ＨＳ〜ＨＥの期間でなるディフェクト信号によるエラーを極力低減することができる。 - 特許庁

When a defect is detected, a defect contour is extracted from the generated image data, the extracted defect contour is reflected in the pattern data of a semiconductor integrated circuit, and a first drop recipe is prepared based on the pattern data which has the defect contour reflected therein.例文帳に追加

欠陥が検出されたとき、前記生成された画像データから欠陥輪郭を抽出して、前記抽出した欠陥輪郭を前記半導体集積回路のパターンデータに反映させ、前記欠陥輪郭が反映されたパターンデータに基づいて第１ドロップレシピを生成する。 - 特許庁

A detection rate is calculated in every of the defects based on whether the same defect is detected in a plurality of differential images or not, based on a result in a process for detecting the defect on a surface of the silicon wafer, and the shape of the defect is identified in the every defect on the surface of the silicon wafer, according to the detection rate.例文帳に追加

シリコンウエハ表面上の欠陥を検出する工程の結果から、同一の欠陥が複数の差分画像から検出されたかにより欠陥毎に検出率を算出し、前記検出率に従って前記シリコンウエハ表面上の欠陥毎に該欠陥の形状を識別する。 - 特許庁

The retrieval is performed under the condition of two agreements, namely, the agreement between both position data of the position data of the defect data and the position data of the pseudo-defects in the pseudo-defect information, and agreement between both intensity data of the intensity data of the defect data and the intensity data of the pseudo-defects in the pseudo-defect information.例文帳に追加

検索では、欠陥データの位置データと疑欠陥情報の疑欠陥の位置データの両位置データの合致、および、欠陥データの強度データと疑欠陥情報の疑欠陥の強度データの両強度データの合致の２つの合致を条件として行う。 - 特許庁

To provide a method of correcting a defect of a color filter, in which a white defect part in a colored layer of the color filter is corrected by selectively making a correction fluid stay in the white defect part so that a color blend or a projection is not generated newly, and to provide an apparatus for correcting the defect of the color filter.例文帳に追加

カラーフィルタの着色層における白欠陥を修正する方法において、修正液を白欠陥部に選択的に残すことができ、従って新たな混色や突起を発生させることの無い修正方法および修正装置を提供すること。 - 特許庁

This makes it possible to adjust the criteria of the defect inspection performed by the defect inspection device 14, 24 in accordance with the criteria of defect inspection to be performed by the inspection device 30 later, so that the defect inspection can be more preferably performed and the yield of the optical films can be improved.例文帳に追加

これにより、後に検査装置３０により行われる欠点検査の基準に合わせて、欠点検査装置１４，２４により行われる欠点検査の基準を調整することができるので、欠点検査をより好適に行うことができ、光学フィルムの歩留りを向上することができる。 - 特許庁

For etching a glass of Levenson mask, etching Cr in a black defect of a binary mask or etching MoSi in a black defect of a phase shift mask, only the defect region 7 is selectively scanned with the tilted electron beam 4 while blowing xenon fluoride from a gas gun 8 to correct the defect.例文帳に追加

レベンソンマスクのガラスのエッチングや、バイナリマスクの黒欠陥のＣｒのエッチングや、位相シフトマスクの黒欠陥のＭｏＳｉのエッチングには、フッ化キセノンをガス銃８から流しながら前記の傾斜させた電子ビーム４で欠陥領域７のみ選択的に走査して欠陥の修正を行う。 - 特許庁

When a region for storing the pixel defect information is full or when the pixel defect information cannot be stored entirely, the pixel defect information is ranked and stored sequentially starting from one having the highest defect level or a latest detection time.例文帳に追加

また、画素欠陥情報を記憶する記憶領域が満杯、或いは追記しようとする画素欠陥情報のすべてを記憶しきれない場合には、欠陥レベルの大きいものから順位付けして或いは検出時期の新しいものから順位付けして上位のものから記憶させる。 - 特許庁

A black spot defect position determination circuit 21 determining the position of a black spot defect on a self-luminous display panel 17 is arranged, and the black spot defect is determined by connecting a detection current source inside the black spot defect position determination circuit 21 to a pixel during a period other than a display period of a data signal.例文帳に追加

自発光表示パネル１７の黒点欠陥画素の位置を判別する黒点欠陥位置判別回路２１を設け、この黒点欠陥位置判別回路２１内の検出用電流源をデータ信号の表示期間とは別の期間に画素に接続して、黒点欠陥を判別する。 - 特許庁

The defect in the electric circuit of the device inside is determined when the defect is detected by electric inspection when the negative pressure of the decompression chamber 4 is sufficient, and the defect of the electric connection between the both electrodes is thereby determined discriminatedly from the defect in the electric circuit of the device inside.例文帳に追加

減圧室４の負圧が足りているときに、電気的検査により不良が検出されたときは、デバイス内部の電気回路の不良であることがわかるので、両電極の間の電気的接続の不良であるか、デバイス内部の電気回路の不良であるかが判別できる。 - 特許庁

The liquid crystal display thin film transistor panel having a plurality of pixels and including a defect pixel area with a bright spot defect present in at least one of the plurality of the pixels by defect is provided with an opaque substance 6 in the defect pixel area on a thin film transistor panel.例文帳に追加

複数の画素を有すると共に、不良により複数の画素の少なくとも１つにブライトスポット欠陥が存在する不良画素領域を含む液晶ディスプレイ薄膜トランジスタパネルを提供し、薄膜トランジスタパネル上の不良画素領域内に不透明物質６が設けられる。 - 特許庁

To provide a defect marking device for a film and a defect marking method capable of reducing man-hours for visual inspection without lowering yield by improving greatly marking accuracy on a defect position in comparison with a conventional technology, and by marking on a fine defect itself.例文帳に追加

従来技術に比べて欠陥位置へのマーキング精度を飛躍的に向上することで歩留りを下げることなく、かつ、微小欠陥そのものにマーキングすることで目視検査の工数を削減できるフィルム用欠陥マーキング装置及び欠陥マーキング方法を提供すること。 - 特許庁

The correcting device corrects a pattern defect of the display in which an electronic circuit pattern having the pattern defect on a surface of a substrate is formed, and is equipped with a plasma irradiation means of irradiating an area of the pattern defect locally with plasma to correct the pattern defect.例文帳に追加

基板の表面にパターン欠陥を有する電子回路パターンが形成された表示装置の前記パターン欠陥を修正する修正装置であって、 前記パターン欠陥の領域に局所的なプラズマの照射によって前記パターン欠陥を修正するプラズマ照射手段を備えてなる。 - 特許庁

To provide a lighting method and imaging method for detecting a hologram defect that can be utilized for general purpose for detecting any kind of hologram defect and can detect the defect accurately and stably, and to provide a defect extraction method using this technique.例文帳に追加

本発明は、任意の品種のホログラム欠陥検出に、汎用的に利用することができ、かつ欠陥を精度良く安定して検出することが可能なホログラム欠陥検出のための照明方法および撮像方法、および本手法を用いた欠陥抽出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A defect image processing device performs image matching by normalized cross correlation between the layout image 52 obtained from the design data and an image obtained by removing a defect region part from the defect image 53, and displays a layout image and defect image 54 as a matching result on a device.例文帳に追加

欠陥画像処理装置は、設計データから得られるレイアウト画像５２と、欠陥画像５３から欠陥領域部分を除去した画像と、を正規化相互相関により画像マッチングし、そのマッチング結果として、レイアウト画像＆欠陥画像５４を表示装置に表示する。 - 特許庁

Furthermore, in the scanning charged particle microscope for semiconductor test and semiconductor measurement, by using a pattern size measurement, defect detection, and defect classification or the like by using the image after image restoration, measurement precision improvement and high precision of defect detection and defect classification or the like become possible.例文帳に追加

さらに、半導体検査および半導体計測用の走査型荷電粒子顕微鏡において、画像復元後の画像を用いてパターン寸法計測、欠陥検出、欠陥分類等に用いることにより、計測精度向上や欠陥検出、欠陥分類の高精度化を可能とした。 - 特許庁

A defect data analytic method analyzes the defect distribution state based on defect location coordinates detected by the inspection apparatus and categorizes the defect distribution state into one of distribution feature categories including repetitive defects, aggregate defects, circular distribution defects, radial distribution defects, linear distribution defects, ring or cluster distribution defects and random defects.例文帳に追加

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、円弧状分布欠陥、放射状分布欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁

If the defect of the same material as that of the object 12 to be examined such as, for example, a ruggedness, a density unevenness or the like exists, the light detoured at the plate 18 is bent by the defect, and arrived at the unit 16, and hence the defect is detected as a bright defect having a strong light intensity.例文帳に追加

また、例えば、凹凸や密度ムラ等の、被検査物１２の材質と同じ材質の欠点が存在する場合には、拡散板１８を回り込んだ光が欠点にて屈曲して、撮像装置１６に到達するため、光強度の強い明欠点として検出される。 - 特許庁

The defect repair method in a flat membrane for water treatment includes a step of pressing a defect part to seal a defect hole by compression, with regard to the defect generated on the surface of the flat membrane manufactured by coating a material containing an organic polymer as a main component on the surface of a flat substrate.例文帳に追加

平面状基材の表面に有機高分子を主成分とする物質を塗布して製造した平膜の表面に発生した欠点に対して、該欠点部を圧着して、欠点孔を圧縮により密閉する水処理用平膜上の欠点補修方法。 - 特許庁

A defect display device 4 reads the image and the defect information obtained by the automatic defect inspection device 2 from the storage part 41 on the basis of the substrate ID of a substrate to be visually inspected in a visual inspection device 3, and highlights a defect part with respect to the image.例文帳に追加

欠陥表示装置４は、目視検査装置３において目視検査を行う基板の基板ＩＤに基づいて自動欠陥検査装置２で取得された画像及び欠陥情報を記憶部４１から読み出して、画像に対して欠陥部分を強調表示する。 - 特許庁

The sorted final defect distributions and layer defect distributions obtained by each in-line inspection process 10a, 10e and 10f are compared, respectively, and the in-line inspection process 10e obtaining the layer defect distributions (such as 31b) similar to the final defect distributions (such as 26a) is specified.例文帳に追加

分類された最終欠陥分布と各インライン検査工程１０ａ、１０ｅ、１０ｆによって得られたレイヤ欠陥分布とをそれぞれ比較して、最終欠陥分布（例えば２６ａ）に対して類似するレイヤ欠陥分布（例えば３１ｂ）が得られたインライン検査工程１０ｅを特定する。 - 特許庁

To provide an inspection method for a recording medium by which a defect actually causing a recording and reproducing defect or a tracking defect, etc., in the recording medium such as an optical disk or a magneto- optical disk is surely detected and the detailed factor causing the defect can be grasped.例文帳に追加

光ディスクや光磁気ディスクのような記録媒体における記録再生不良やトラッキング不良などを実際に生じさせる欠陥を確実に検出することができ、また欠陥の詳細な発生要因を把握することができる記録媒体の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a mask defect with which a defect is inspected with high accuracy and within a minimum time length by automatically inspecting a minimum region on the mask to be subjected to EB defect inspection, a device for inspecting the mask defect, and a method for manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加

ＥＢ欠陥検査をしなければならないマスク上の最小限の領域を自動的に検査することを可能にし、高精度の欠陥検査を最小時間で行うマスク欠陥検査方法、マスク欠陥検査装置、および半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

In the method for detecting the defect on the cyclic pattern, a defect is detected by comparing positions deviated for the cycle of the pattern, and when the detected defect has a size larger than the pattern cycle, a defective part is compared with a normal part, thereby detecting the size of the defect.例文帳に追加

周期的なパターン上における欠陥の検出方法であって、パターンの周期分ずれた位置同士を比較して欠陥を検出し、検出した欠陥がパターン周期よりも大きなサイズである場合に、欠陥部と正常部を比較して欠陥のサイズを検出する。 - 特許庁

To provide a bonding defect detector capable of accurately recognizing the possibility of generating a bonding defect by giving a large temperature difference to the bonding part of an electronic component and a substrate, and accurately reproducing the generation state of the bonding defect; and to provide a bonding defect detection method.例文帳に追加

電子部品と基板との接合部に大きな温度差を与えることにより接合不良が発生する可能性を正確に把握したり、接合不良の発生状態を的確に再現可能な接合不良検知装置、並びに、接合不良検知方法の提供を目的とする。 - 特許庁

A redundant signal switching part switches the first and the second pieces of defective position information supplied to the redundant switching part when a position of defect indicated by the second defect position is positioned between a position of defect indicated by the first defect position information and the first redundant memory cell.例文帳に追加

冗長信号切替部は、第２不良位置情報が示す不良の位置が、第１不良位置情報が示す不良の位置と第１冗長メモリセルとの間に位置するときに、冗長切替部に供給される第１および第２不良位置情報を入れ替える。 - 特許庁

A defect correcting circuit 64 corrects the pixel defect of the CCD 42 with respect to the image through the use of the normal defect information or highly-sensitive defect information, in response to the setting of the light reception sensitivity concerning the CCD 42 when the image is picked up by the CCD 42.例文帳に追加

欠陥補正回路６４は、ＣＣＤ４２による画像の撮像時におけるＣＣＤ４２に対する受光感度の設定に応じて通常欠陥情報若しくは高感度欠陥情報を用い、ＣＣＤ４２の画素欠陥の補正を当該画像に対して施す。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus and a defect inspection method using it which accurately find the number of defects on inspected materials when quality of the inspected materials is determined based on defect information of the inspected materials respectively detected by a plurality of defect detectors and determine the quality of the inspected materials based on the number of the defects.例文帳に追加

複数の欠陥検出器がそれぞれ検出した被検査材の欠陥情報に基づいて、被検査材の合否判定を行う際、被検査材の欠陥数を正確に求めることができる欠陥検査装置およびそれを用いた欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

When a reflection wave signal is generated by the defect and detected, two types of defect detecting gates are provided, the number of gates for detecting the reflection wave signal generated by the defect and exceeding a threshold value is found, and the location of the defect relative to the central face in thick can be determined.例文帳に追加

欠陥に基づく反射波信号を検出する際に、２種類の欠陥検出ゲートを設け、しきい値を超える前記欠陥に基づく反射波信号を検出したゲート数を求め、欠陥が板厚中心面に対してどちら側の鋼板内に存在するのかの判別を可能にした。 - 特許庁

To provide a defect detection apparatus and a defect detection method for detecting the defect of an object to be inspected reliably by applying light for detecting defects to the site of the object to be detected whose position is regulated reliably, and for miniaturizing the entire defect detection apparatus.例文帳に追加

位置が確実に規制される検査対象物の部位に欠陥検出用の光を照射して、検査対象物の欠陥を確実に検出することができ、しかも欠陥検出装置全体の小型化を図ることができる欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

ACTIVE MATRIX TYPE LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR CORRECTING PIXEL DEFECT例文帳に追加

アクティブマトリクス型液晶表示装置および画素欠陥修正方法 - 特許庁

DETECTION SYSTEM FOR WELDING DEFECT OF ELECTRIC RESISTANCE WELDED STEEL PIPE AND ELECTRIC RESISTANCE WELDED STEEL PIPE例文帳に追加

電縫鋼管の溶接欠陥の検出システム及び電縫鋼管 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL FILM USING IT例文帳に追加

欠点検査方法およびそれを用いた光学フィルムの製造方法 - 特許庁

DEFECT AVOIDING METHOD FOR MAGNETIC RECORDING MEDIUM, AND MAGNETIC RECORDING/PLAYBACK DEVICE例文帳に追加

磁気記録媒体の欠陥回避方法および磁気記録再生装置 - 特許庁

The other embodiment relates to the method and the system for detecting the defect of the elevator rope having a conductive tensile member, that is, for measuring the defect, and shows the defect by suing the measured value of the electric resistance of the tensile member.例文帳に追加

本発明の他の形態は、導電性引張部材を備えたエレベータロープの欠陥を検出つまり測定するための方法およびシステムに関し、引張部材の電気抵抗の測定値によって、欠陥を示す。 - 特許庁

DEVICE WITH BIOLOGICAL TISSUE SCAFFOLD FOR INTRACARDIAC DEFECT OCCLUSION例文帳に追加

心臓内欠損閉塞のための生物学的組織足場を有するデバイス - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECT IN MASK, COMPUTER PROGRAM, AND REFERENCE SUBSTRATE例文帳に追加

マスクの欠陥を検出する方法、コンピュータ・プログラム、および参照基板 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING DEFECT INFORMATION DETECTION SENSITIVITY DATA, METHOD FOR MANAGING DEFECT DETECTION DEVICE, AND METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT IN SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

欠陥情報検出感度データの決定方法及び欠陥情報検出感度データの決定装置、欠陥検出装置の管理方法、半導体装置の欠陥検出方法及び半導体装置の欠陥検出装置 - 特許庁

PRINTING DEFECT DETECTION METHOD, DETECTOR AND PRINTING MACHINE CONTROL PROCESS例文帳に追加

印刷不良検知方法及び検知装置並びに印刷機制御方法 - 特許庁

To provide an image processing apparatus that reduces image quality defect due to image formation, and reduces image quality defect due to screen processing.例文帳に追加

画像形成に起因する画質欠陥を軽減するとともにスクリーン処理に起因する画質欠陥を軽減する画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method for detecting a wiring disconnection or defect and a connection defect in conduction aging image inspection of a liquid crystal module.例文帳に追加

液晶モジュール通電エージング画像検査において配線断線不具合、接続不具合を検出する構成の検査方法を提供する。 - 特許庁

Further, since defect liability does not arise to the seller, the seller has no worry about being forced to bear an economical burden based on the defect liability.例文帳に追加

また、売主には瑕疵担保責任が生じないので、売主は瑕疵担保責任に基づく経済的な負担を強いられる心配がなくなる。 - 特許庁

TAB LEAD CONTINUOUS BODY AND DEFECT LOCATION DISPLAY METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

タブリード連続体及びタブリード連続体の不良箇所表示方法 - 特許庁

ACTIVE MATRIX TYPE LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加

アクティブマトリクス型液晶表示装置および画素欠陥修正方法 - 特許庁

To produce a BH steel sheet capable of inexpensively producing an automotive outer board free from defect in the adhesion of plating, defect in alloying and defect in surface quality caused by linear unevenness and excellent in surface properties and to provide a method for producing the same.例文帳に追加

めっき付着不良、合金化不良、線状むらによる表面品質不良のない表面性状の優れた自動車外板を安定的に製造できるBH鋼板とその製造方法を提供する。 - 特許庁