「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(58ページ目) - Weblio英語例文検索

APPARATUS AND METHOD FOR DETECTION OF DEFECT IN SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の欠陥検出装置および欠陥検出方法 - 特許庁

To enable no-defect build-up welding by eliminating a casting defect in a build-up welding section of a casting beforehand.例文帳に追加

鋳造品の肉盛溶接部位における鋳造欠陥を前もってなくし、欠陥のない肉盛溶接を行うことができるようにする。 - 特許庁

SYNCHRONIZING SIGNAL SHAPING CIRCUIT, IMAGE PROCESSOR AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

同期信号整形回路、画像処理装置及び欠陥検査装置 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF OPTICAL FILM, AND DEFECT INSPECTION ELEMENT USED THEREFOR例文帳に追加

光学フィルムの検査方法及びこれに用いる欠陥検査用素子 - 特許庁

To precisely set a parameter, such as defect detecting thresholds and defect detecting focus, in a short time, in detect inspection.例文帳に追加

欠陥検査において欠陥検出閾値及び欠陥検出フォーカス等のパラメータを高精度で且つ短時間に設定できるようにする。 - 特許庁

DEFECT-DETECTING METHOD OF METAL BODY, AND SCANNING TYPE MAGNETIC DETECTOR例文帳に追加

金属体の欠陥検出方法及びスキャニング式磁気検出器 - 特許庁

WELDED PART PROCESSING DEVICE AND METHOD OF REMOVING DEFECT OF WELDING PART例文帳に追加

溶接部加工装置および溶接部の欠陥箇所除去方法 - 特許庁

PIXEL DEFECT DETECTING/CORRECTING APPARATUS AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

画素欠陥検出補正装置及び画素欠陥検出補正方法 - 特許庁

DEFECT POSITION INSPECTION DECISION METHOD OF WEB-LIKE RAW MATERIAL, AND ITS DEVICE例文帳に追加

ウエブ状素材の不良位置検査確定方法およびその装置 - 特許庁

APPLICATION MECHANISM OF CORRECTION LIQUID AND DEFECT CORRECTION DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

修正液塗布機構およびそれを用いた欠陥修正装置 - 特許庁

To effectively defect and evaluate the state of an internal defect of a material to be measured such as a bulk material or the like even at a deep position from its surface.例文帳に追加

バルク材料など被測定物の内部欠陥の状況を表面から深い位置であっても有効に検出し評価する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DETECTING DEFECT OF PARTICLE COLLECTION FILTER例文帳に追加

微粒子捕集フィルタの欠陥検出装置および検出方法 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING SURFACE DEFECT IN INFORMATION-RECORDING DISK, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

情報記録ディスクの表面欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

DRAWING METHOD OF METALLIC MATERIAL PREVENTING OCCURRENCE OF INTERNAL DEFECT例文帳に追加

内部欠陥発生を防止した金属材料の引抜き加工方法 - 特許庁

DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR IMAGE QUALITY DEFECT DETECTION例文帳に追加

画質欠陥検出装置、画質欠陥検出方法およびプログラム - 特許庁

We will accept a retune only when a defect was found at the time of opening the package. 例文帳に追加

開封時に瑕疵がある場合に限り返品を受け付けます。 - Weblio Email例文集

A plurality of defective area lists (TDFL) and structure information (TDDS) are recorded in the temporary defect management area (TDMS) of the defect management area.例文帳に追加

当該欠陥管理領域の一時的欠陥管理領域(TDMS)には、複数の欠陥領域リスト(TDFL)と、構造情報(TDDS)とが記録されている。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF SPECIFYING POSITION OF DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置および半導体装置の欠陥位置特定方法 - 特許庁

DEFECT DETECTING METHOD FOR DIAPHRAGM PART OF LIQUID DROPLET DELIVERING HEAD, AND MANUFACTURING METHOD FOR LIQUID DROPLET DELIVERING HEAD USING THE DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

液滴吐出ヘッドのダイアフラム部の欠陥検出方法、及びその欠陥検出方法を用いた液滴吐出ヘッドの製造方法 - 特許庁

METHOD FOR REPAIRING DEFECT OF PATTERN FORMED ON TRANSFERRED MASK FOR ELECTRON BEAM例文帳に追加

電子線用転写マスクに形成されたパターンの欠陥修正法 - 特許庁

LIQUID MATERIAL COATING MACHINE MECHANISM AND DEFECT REMEDY APPARATUS USING IT例文帳に追加

液状材料塗布機構およびそれを用いた欠陥修正装置 - 特許庁

To provide a defect analyzing method for a semiconductor capable of inexpensively identifying a short-circuiting defect part between wires with high efficiency.例文帳に追加

低コスト且つ高効率で配線間のショート不良個所を同定することができる半導体装置の不良解析方法を提供する。 - 特許庁

To improve quality of defect correction while largely improving work efficiency of defect correction processes, by properly detecting defects.例文帳に追加

欠陥を適切に検出し、欠陥修正工程の作業効率を著しく向上させつつ、欠陥修正の品質を向上させる。 - 特許庁

To improve quality of defect correction while largely improving work efficiency of defect correction processes, by properly determining defects.例文帳に追加

欠陥を適切に判定し、欠陥修正工程の作業効率を著しく向上させつつ、欠陥修正の品質を向上させる。 - 特許庁

To provide a high-throughput and high-sensitivity defect inspection apparatus.例文帳に追加

高スループットかつ高感度の欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a review apparatus and an inspection apparatus system for easily and visually recognizing a defect regardless of a type and a size of the defect.例文帳に追加

欠陥の種類やサイズにかかわらず、欠陥を容易に視認することのできるレビュー装置および検査装置システムを提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method capable of scanning the entire sample surface in a short time and detecting minute defect without causing thermal damage to the sample.例文帳に追加

試料全面を短時間で走査し，試料に熱ダメージを与えることなく微小な欠陥を検出することができるようにする。 - 特許庁

The difference signal between the simulation images is calculated as to the plurality of predicted fatal defects to display the difference signal the defect by the defect.例文帳に追加

予想される複数の致命欠陥について、シミュレーション画像の差分信号を計算し、欠陥毎に差分信号を表示する。 - 特許庁

The luminance distribution varies in accordance with kinds of defects, so the defect is classified from points of view of the shape and luminance distribution of the defect image.例文帳に追加

欠陥の種類に応じて、輝度分布が相違するので、欠陥画像の形状及び輝度分布の観点より欠陥を分類する。 - 特許庁

SIGNAL PROCESSOR, IMAGE PROCESSOR, AND SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

信号処理装置、画像処理装置及び表面欠陥検査装置 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus capable of acquiring a desired image with high precision and carrying out a precise defect inspection.例文帳に追加

所望の画像を高精度で取得することができ、高精度の欠陥検査を行うことが可能な欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To prevent image defect by cleaning an intermediate transfer body well.例文帳に追加

中間転写体を良好にクリーニングして画像不良を防止する。 - 特許庁

To provide a defect correcting method and device capable of correcting even if the width of a rib defect of a flat display is narrow.例文帳に追加

フラットディスプレイのリブ欠陥の幅が小さくても修正が可能な欠陥修正方法および欠陥修正装置を提供する。 - 特許庁

APPARATUS, SYSTEM AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF FILM例文帳に追加

フィルムの欠陥検査装置、欠陥検査システムおよび欠陥検査方法 - 特許庁

To provide a defect classifying/inspecting device having high classification accuracy.例文帳に追加

高い分類精度を有する欠陥分類検査装置を提供する。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF SUBSTRATE, AND LIQUID CRYSTAL SUBSTRATE例文帳に追加

基板の欠陥修正装置及びその方法並びに液晶基板 - 特許庁

To detect a flicker defect in a cycle as long as possible using a limited frame memory in flicker defect pixel detection of a solid-state imaging device.例文帳に追加

固体撮像素子の点滅欠陥画素検出において、限られたフレームメモリでできるだけ長い周期の点滅欠陥を検出する。 - 特許庁

Subsequently, the marker 30 is detected by the mask defect correction device, and the defect 20 is corrected with reference to the position of the marker 30.例文帳に追加

次いで、マスク欠陥修正装置でマーカ３０を検出すると共に、該マーカ３０の位置を基準にして欠陥２０を修正する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE OF DEFECT INSPECTION FOR CCD SOLID-STATE IMAGING ELEMENT例文帳に追加

ＣＣＤ型固体撮像素子の欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

METHOD OF MEASURING ELECTRONIC STATE OF IMPURITY AND DEFECT IN SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体内不純物および欠陥の電子状態測定方法 - 特許庁

To provide a new implant being excellent in ossification capability, which transplanted into a defect in a substantial bone to effectively cure the defect.例文帳に追加

骨形成能に優れ、実質骨欠損部へ移植して効果的に骨欠損部を治癒し得る新規な生体移植片を提供する。 - 特許庁

TILE SURFACE DEFECT INSPECTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

瓦表面欠陥検査装置および瓦表面欠陥検査方法 - 特許庁

To improve a transfer property and prevent an occurrence of defect in optical functions.例文帳に追加

転写性を良くし、光学機能面の不良発生を防止する。 - 特許庁

NICKEL BASE SUPERALLOY EXHIBITING ONLY MINIMUM DEFECT OF CRYSTAL GRAIN例文帳に追加

最小限の結晶粒欠陥しか呈さないニッケル基超合金 - 特許庁

BLACK INK FOR CORRECTING MICROSCOPIC DEFECT IN COLORING PATTERN, AND COLOR FILTER例文帳に追加

微小着色パターン欠陥修正用黒インキ、及び、カラーフィルター - 特許庁