Defectを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 18303件
LIQUID MATERIAL APPLICATOR AND DEFECT CORRECTING APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加
液状材料塗布装置およびそれを用いた欠陥修正装置 - 特許庁
FOGGING DEFECT DETECTING DEVICE, AND JUDGING METHOD FOR DOCTOR BLADE REPLACEMENT TIMING例文帳に追加
カブリ不良検出装置およびドクターブレード交換時期判断方法 - 特許庁
PRODUCTION OF STEEL SLAB WITHOUT DEVELOPING SURFACE DEFECT DUE TO WIDTH REDUCTION例文帳に追加
幅圧下による表面欠陥が生じない鋼片の製造方法 - 特許庁
DEFECT DETECTION DEVICE FOR LAMINATED BODY AND INSPECTING DEVICE FOR FUEL CELL例文帳に追加
積層体の欠陥検出装置及び燃料電池の検査装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF COLOR FILTER SUBSTRATE例文帳に追加
カラーフィルタ基板の欠陥修正装置および欠陥修正方法 - 特許庁
To restrain production of an interface defect at the time of forming an insulating film and to reduce the produced defect.例文帳に追加
絶縁膜を形成する際の界面欠陥の生成を抑制するとともに、生成された欠陥を低減させることを可能にする。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT AND METHOD OF MANUFACTURING FOR MASK例文帳に追加
欠陥検出方法及びその装置並びにマスクの製造方法 - 特許庁
To automatically put defect marks on chips that are located around a defective chip, when a continuous defect distribution is generated in measurement of a wafer.例文帳に追加
ウエハ測定で連続的な不良分布が発生した時、不良チップ周辺に自動的に不良マークができるようにすること。 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR OPTICALLY INSPECTING DEFECT例文帳に追加
半導体装置の製造方法及び光学式欠陥検査方法 - 特許庁
METHOD AND SENSOR FOR DETECTING CONDUCTOR DEFECT IN ELECTRIC WIRE例文帳に追加
電線の導体欠陥検知方法及び導体欠陥検知用センサ - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR DETECTION OF DEFECT IN MULTI- CHANNEL SCAN DRIVER例文帳に追加
マルチチャネルスキャンドライバにおける欠陥を検出する装置及び方法 - 特許庁
To provide a defect correction device and method for reliably correcting a defect, and also to provide a method for manufacturing a patterned substrate.例文帳に追加
確実に欠陥を修正することができる欠陥修正装置、欠陥修正方法、及びパターン基板の製造方法を提供する。 - 特許庁
METHOD FOR CLASSIFYING CAST DEFECT IN FRAMEWORK OF X-RAY ANALYSIS例文帳に追加
X線解析のフレームワーク内での鋳造欠陥の分類方法 - 特許庁
To prevent deformation of a blank and unfilled defect caused by the deformation.例文帳に追加
素材の変形や変形に起因する未充填欠陥を防止する。 - 特許庁
To suppress a pinhole to be a defect of a reflection film of an optical disk.例文帳に追加
光ディスクの反射膜の欠損であるピンホールを抑制する。 - 特許庁
To improve stability by reducing the defect rate of trimming caused by fusing.例文帳に追加
フューズによるトリミングの不良率を低減して安定性を高める。 - 特許庁
To provide a surface defect detection method capable of detecting a defect present on the surface of an object to be tested with high precision.例文帳に追加
被検査体の表面に存在する欠陥を高い精度で検出することができる表面欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁
To provide a liquid crystal display without a line defect in pixel display.例文帳に追加
画素表示に線欠陥のない液晶表示装置を提供する。 - 特許庁
That is, the relief is carried out by a redundancy replacement in the case of defect being physically broken, and by a timing adjustment in the case of defect of margin.例文帳に追加
すなわち物理的に壊れている場合は冗長置換で救済し、マージン不良の場合は、タイミング調整で救済する。 - 特許庁
To accurately detect a black defect of a solid state image sensing device.例文帳に追加
固体撮像素子について黒欠陥検出を正確に行う。 - 特許庁
To provide an image defect detector capable of automatically setting a threshold for detecting a defect of a displayed image.例文帳に追加
表示画像の欠陥を検出するためのしきい値を自動的に設定することができる画像欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁
FINE PATTERN CORRECTION DEVICE AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF FINE PATTERN例文帳に追加
微細パターン修正装置および微細パターンの欠陥修正方法 - 特許庁
To relax a dot defect in appearance when a pixel is caused to be the dot defect due to pattern failure or the like in a liquid crystal display device.例文帳に追加
液晶表示装置において、画素がパターン不良等で点欠陥になった場合に、その点欠陥の見え方を緩和させる。 - 特許庁
The classification support unit forms separated defect parts data for setting or changing the defect detection parameters and forming the knowledge base.例文帳に追加
分類支援装置は、上記欠陥検出パラメータの設定や変更、上記知識ベース作成のための分離欠陥部分データを作成する。 - 特許庁
METHOD OF INSPECTING FLOATING DEFECT OF COMPONENT ELECTRODE AND SUBSTRATE INSPECTING DEVICE例文帳に追加
部品電極の浮き不良の検査方法および基板検査装置 - 特許庁
DEFECT DETECTION METHOD, AND VISUAL INSPECTION DEVICE USING THE SAME例文帳に追加
欠陥検出方法およびその方法を用いた視覚検査装置 - 特許庁
To enhance the efficiency of a matching processing between a defect image obtained by a defect review device or the like and a layout image based upon design data.例文帳に追加
欠陥レビュー装置などで取得された欠陥画像と設計データに基づくレイアウト画像とのマッチング処理の効率向上を図る。 - 特許庁
The image processing part 20 extracts a defect (crack, peeling) of the object for evaluation from the image data, and computes the size of each defect.例文帳に追加
画像処理部20は、その画像データから評価対象物の欠陥(ひび割れ、剥離)を抽出して、各欠陥の大きさを算定する。 - 特許庁
DEFECT MARKING APPARATUS, SHEET MATERIAL, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
欠陥マーキング装置、シート材料の製造方法およびシート材料 - 特許庁
ARRAY SUBSTRATE HAVING WIRE BREAKING DEFECT CORRECTED AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加
断線欠陥を矯正したアレイ基板、及び、その製造方法 - 特許庁
PREPREG DEFECT INSPECTION METHOD, INSPECTION SYSTEM, AND PREPREG MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
プリプレグ欠点検査方法、検査システム、およびプリプレグの製造方法 - 特許庁
Defect map data are read in a defect map data read processing 11 and failure probability data are read in a failure probability data read processing 12.例文帳に追加
欠陥マップデータを欠陥マップデータ読出し処理11で読み出し、不良確率データを不良確率データ読出し処理12で読み出す。 - 特許庁
PATTERN FOR EVALUATING WIRING DEFECT AND EVALUATING METHOD FOR SEMICONDUCTOR CIRCUIT例文帳に追加
半導体回路の配線欠陥評価用パターン及び評価方法 - 特許庁
EVALUATION METHOD AND EVALUATING APPARATUS FOR CRYSTAL DEFECT IN ARTIFICIAL CRYSTAL例文帳に追加
人工水晶の結晶欠陥の評価方法、及び評価装置 - 特許庁
HARD DISK DRIVE, METHOD FOR DETECTING DEFECT ON DISK AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
ハードディスクドライブ,ディスク上の欠陥検出方法,コンピュータプログラム物 - 特許庁
To provide an inexpensive digital eddy current defect detection test device capable of performing efficiently an eddy current defect detection test of a pipe.例文帳に追加
パイプの渦流探傷試験を効率よく実施することができる安価なデジタル式渦流探傷試験装置を提供すること。 - 特許庁
APPARATUS FOR INSPECTING SOLAR CELL AND METHOD OF DETERMINING DEFECT OF SOLAR CELL例文帳に追加
太陽電池検査装置及び太陽電池欠陥判定方法 - 特許庁
A control part 2 of the defect detector is provided with a reference mask generating part 200, an inspection mask generating part 201, and a defect detecting part 202.例文帳に追加
欠陥検出装置の制御部2に基準マスク生成部200、検査マスク生成部201、欠陥検出部202を設ける。 - 特許庁
To provide a defect detection device for detecting a defect with a simple method by setting a proper mask area.例文帳に追加
本発明は、適正なマスク領域を設定し、簡易な手法にて欠陥の検出を行う欠陥検出装置の提供を目的とする。 - 特許庁
To make detectable a defect even if the brightness of an article, e.g. a sheet, is high when a defect accompanied with irregularities is detected.例文帳に追加
シート等の物品における凹凸を伴う不良の検出に際し、物品の明度が高い場合でも不良を検出可能とする。 - 特許庁
The header, the N defect entries and the anchor area arrayed in this order.例文帳に追加
ヘッダとN個の欠陥エントリとアンカとはこの順で配置される。 - 特許庁
To provide a method for checking a defect of a honeycomb filter that allows for checking in a short time period, and a device for checking the defect of the honeycomb filter.例文帳に追加
短時間での検査が可能な、ハニカムフィルタの欠陥を検査する方法、及び、ハニカムフィルタの欠陥の検査装置を提供する。 - 特許庁
The output circuit 43 in activated state makes the judge of the presence of defect by the 2nd defect judging means C4 to be effective.例文帳に追加
検反有効化状態の出力回路43は第2の欠点有無判定手段C4の欠点有りの判定を有効化する。 - 特許庁
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