「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(63ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR ESTIMATION AND INSPECTION OF REMAINING DEFECT ON HEAVY PLATE PRODUCT例文帳に追加

厚板製品での疵残留予測方法及び残留疵検査方法 - 特許庁

At the time of finalizing, the defect management information is recorded in a deterministic defect management area 13 disposed in the control information recording area.例文帳に追加

ファイナライズをするときには、ディフェクト管理情報を、制御情報記録エリア内に設けられた確定的ディフェクト管理エリア１３に記録する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for compensating for display defect of a flat panel display for electrically compensating for a display defect appearing on a display panel.例文帳に追加

表示パネルに現れる表示欠陥を電気的に補償する平板表示装置の表示欠陥補償方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide an array substrate in which interconnection resistances are reduced and interconnection defect is reduced.例文帳に追加

配線抵抗及び不良が減少したアレイ基板を提供する。 - 特許庁

To provide a method for detecting a surface defect of a slab for precisely detecting the surface defect such as slag biting produced in the slab.例文帳に追加

スラブに発生したノロ噛み等の表面欠陥を精度よく検出することのできるスラブの表面欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING DEFECT IN COLOR FILTER例文帳に追加

カラーフィルタの欠陥修正方法およびカラーフィルタの欠陥修正装置 - 特許庁

To correct a white defect having a phase effect in a halftone phase shift mask or to correct a recessed phase defect in a Levenson type phase shift mask.例文帳に追加

ハーフトーン型位相シフトマスクの位相効果を持つ白欠陥修正やレベンソン型位相シフトマスクの凹型の位相欠陥修正を可能にする。 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING PIXEL DEFECT OF IMAGING ELEMENT AND INSPECTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

撮像素子の画素欠陥補正方法及びそれを用いた検査装置 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING DEFECT IN COLOR FILTER, COLOR FILTER, AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY ELEMENT例文帳に追加

カラーフィルターの欠陥検査方法、カラーフィルターおよび液晶表示素子 - 特許庁

When the head part 3 reaches the candidate defect sector, the controller 5 controls to skip the candidate defect sector.例文帳に追加

そして、連続記録モードにおいて、ヘッド部３が欠陥候補セクタに達したときは、コントローラ５が、この欠陥候補セクタをスキップさせる制御を行う。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING SHAPE DEFECT OF PLATE MATERIAL HAVING INTERNAL SPACE例文帳に追加

内部空間を有する板材の形状欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE FOR COLOR FILTER AND DETECT INSPECTION METHOD FOR COLOR FILTER例文帳に追加

カラーフィルターの欠陥検査装置およびカラーフィルターの欠陥検査方法 - 特許庁

In a first evaluation section 53, a tentative evaluation is made as to whether a defect candidate in the region corresponding to the defect inclusion region in the difference image is true.例文帳に追加

第１評価部５３では、差分画像の欠陥包含領域に対応する領域中の欠陥候補の真虚が仮評価される。 - 特許庁

To provide a device and a method for inspecting mask blank, that improve detection sensitivity to and detection reliability of a phase defect and an amplitude defect which are too high in defect height to detect only through dark field detection.例文帳に追加

暗視野検出だけでは困難であった欠陥高さの高い位相欠陥や振幅欠陥に対する検出感度や検出信頼性を向上できるマスクブランク検査装置および方法を提供する。 - 特許庁

Respective display sections operate in conjunction with each other, whereby the defective image, the defect information list and the defect graph are changed in response to selected map information.例文帳に追加

それぞれの表示部は連動して動作し、選択されたマップ情報に対応して欠陥画像、欠陥情報リスト、欠陥グラフが変化する。 - 特許庁

In the case where the representative value R becomes a threshold value Th1 or higher, the pixel value of a defective pixel having a defect grade of defect grade N or higher is corrected.例文帳に追加

代表値Ｒが閾値Ｔｈ１以上となる場合に、欠陥グレードＮ以上の欠陥グレードの欠陥画素の画素値を補正する。 - 特許庁

MARTENSITIC STAINLESS STEEL HAVING NO PINHOLE DEFECT AND ITS PRODUCTION METHOD例文帳に追加

ピンホールの欠陥のないマルテンサイト系ステンレス鋼及びその製造方法 - 特許庁

To provide an imaging device, a defect correction apparatus, a defect correction method, and a program, which perform correction processing of image data with high accuracy.例文帳に追加

画像データの補正処理を高精度で行うことができる撮像装置、欠陥補正装置、欠陥補正方法及びプログラムを提供すること。 - 特許庁

A defect detection circuit 10 compares a latest half period measured at present with an anterior half period measured one half-period before the latest half period to detect that defect occurs.例文帳に追加

ディフェクト検出回路１０は最新の半周期と１半周期前の半周期とを比較して異常が発生したことを検出する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING ULTRA LOW DEFECT SEMICONDUCTOR SINGLE CRYSTALLINE INGOT例文帳に追加

極低欠陥半導体単結晶製造方法及びその製造装置 - 特許庁

The edge defect enhancement process applies the edge defect enhancement filter in directions D1-D3, and considers the maximum of the enhancement calculation values obtained in the directions D1-D3 as a defect enhancement value at the object pixel A.例文帳に追加

エッジ欠陥強調工程は、方向Ｄ１〜Ｄ３毎にエッジ欠陥強調フィルタを適用し、方向Ｄ１〜Ｄ３毎に得られた強調算出値の最大値をその対象画素Ａにおける欠陥強調値とする。 - 特許庁

DEFECT REPAIR METHOD FOR PHASE SHIFT MASK, PHASE SHIFT MASK AND EXPOSURE METHOD例文帳に追加

位相シフトマスクの欠陥修正方法、位相シフトマスク及び露光方法 - 特許庁

Therefore, a defect existing deeply in the structure T can be detected.例文帳に追加

構造物Ｔに深く存在する欠陥を検出することができる。 - 特許庁

To provide a defect classification equipment for eliminating the need of any threshold at the time of extracting any defect, and for performing classification with high robustness to a threshold.例文帳に追加

欠陥抽出時の閾値が不要な、または閾値に対してロバスト性の高い分類を行うことが可能な欠陥分類装置を提供する。 - 特許庁

A discrimination number is imparted respectively to each common defect, and existence of a common defect corresponding to the discrimination number is determined relative each substrate.例文帳に追加

各共通欠陥にそれぞれ識別番号を付与しておき、各基板毎に識別番号に対応する共通欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

Prior to correction of defect, a stage 2 moves a substrate 1 two-dimensionally to a position where the defect are put in the visual field area of an objective 14.例文帳に追加

欠陥の修正が行われる前に、ステージ２は、欠陥が対物レンズ１４の視野領域に入る位置に基板１を二次元移動する。 - 特許庁

MAGNETIC DEVICE FOR CORRECTING GEOMETRIC DEFECT OF IMAGE FOR CATHODE-RAY TUBE例文帳に追加

陰極線管用の画像の幾何学的欠陥を補正する磁気装置 - 特許庁

In advance of this demerit point defect, a reverse bias voltage is impressed between an anode and a cathode of the EL element to actualize the demerit point defect.例文帳に追加

この滅点欠陥に先立って、ＥＬ素子のアノード・カソード間に逆バイアス電圧を印加することにより滅点欠陥を顕在化させる。 - 特許庁

DEFECT CORRELATION DEVICE, SUBSTRATE INSPECTION SYSTEM, AND METHOD OF CORRELATING DEFECTS例文帳に追加

欠陥関連付け装置、基板検査システム、および欠陥関連付け方法 - 特許庁

FIELD PATTERN DEFECT DETECTION METHOD IN SEMICONDUCTOR PRODUCTION PROCESS例文帳に追加

半導体製造工程におけるＦｉｅｌｄパターン欠陥検出方法 - 特許庁

TEG (TEST EXPERIMENTAL GROUP) FOR DETECTING PIPING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS PIPING DEFECT DETECTION METHOD, AND ITS VOID FORMATION STATE DETERMINATION METHOD例文帳に追加

半導体装置のパイピング不良検出用ＴＥＧ並びにそのパイピング不良検出方法およびそのボイド形成状態判定方法 - 特許庁

A causality network is stored in an estimation knowledge recording part 23 to represent diagnostic paths of factor estimation from defect results to defect factors corresponding to the defect results, as a tree structure of knowledge with conditional branches.例文帳に追加

不良結果から該不良結果に対応する各不良要因に至る要因推定の診断パスを、条件分岐による木構造の知識として示す因果ネットワークが推定知識記録部２３に記憶されている。 - 特許庁

To correctly and efficiently perform defect inspection of a halftone type reticle.例文帳に追加

ハーフトーン型のレチクルの欠陥検査を正確に、かつ、効率よく行う。 - 特許庁

An FROM 112 stores pixel defect information being information about a pixel defect of the CCD image pickup element 101 for each different driving method.例文帳に追加

ＦＲＯＭ１１２は、駆動方式別にＣＣＤ撮像素子１０１の画素欠陥に関する情報である画素欠陥情報を格納する。 - 特許庁

TOOL AND METHOD FOR DETERMINING FILE DEFECT OF DISPLAY PANEL例文帳に追加

表示パネルの微小欠陥判定治具および微小欠陥判定方法 - 特許庁

To provide a cutter defect detecting method capable of surely detecting a defect of a cutter in a short time, while rotating the cutter without stopping it when detecting the defect of the cutter of an NC machine tool.例文帳に追加

ＮＣ工作機械の刃物欠損を検出する場合において、刃物を停止することなく回転させながら、刃物の欠損を短時間にかつ確実に検出することができる刃物欠損検出方法を提供する。 - 特許庁

INFRARED DEFECT DETECTING SYSTEM AND METHOD THEREFOR THROUGH WIDE BAND SOUNDS例文帳に追加

広帯域音響を介する赤外線欠陥検出方法および装置 - 特許庁

To quickly detect the defect of woven fabric on a loom in high accuracy.例文帳に追加

織機上の織布の欠点を迅速かつ高い確度で検出する。 - 特許庁

Meanwhile, the output data of a defect are generated by using fundamental defect data 114, the material constant data 113 and the device parameter 115 (123A).例文帳に追加

一方、基本欠陥データ１１４、材料定数データ１１３、装置パラメータデータ１１５を用いて欠陥の出力データを作成する（１２３Ａ）。 - 特許庁

To provide a method for detecting the surface defect of a slab for precisely detecting the surface defect such as a blow-hole produced in the slab.例文帳に追加

スラブに発生したブローホールや割れ等の表面欠陥を精度よく検出することのできるスラブ表面欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

DEFECT PROBING METHOD FOR CONCRETE DUE TO STRIKE BASED ON ATTENUATION OF ENERGY例文帳に追加

エネルギーの減衰に基づいた打撃によるコンクリートの欠陥探査方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SEARCHING DEFECT OF MOUNTING SUBSTRATE例文帳に追加

実装基板の不良探索方法及び実装基板の不良探索装置 - 特許庁

To prevent an image defect by optimizing the posture of paper entering a transfer nip.例文帳に追加

転写ニップへ入る紙の姿勢を適正にして、画像不良を防止。 - 特許庁

To easily manufacture a multi-hole tube without a defect and with high quality.例文帳に追加

欠陥がなく品質の高い多穴チューブを容易に製造すること。 - 特許庁

METHOD FOR REDUCING NUMBER OF DEFECT OF PATTERN COLLAPSE IN MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイス製造の際のパターンつぶれ欠陥数の低減方法 - 特許庁