「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(65ページ目) - Weblio英語例文検索

In an image signal processing device, a defect detection circuit 12 compares the image signal of a target pixel with the image signal of surrounding pixels thereof to detect a pixel defect candidate, and stores the address information of the pixel defect candidate in a position memory circuit 13.例文帳に追加

欠陥検出回路１２で目標画素の画像信号を周辺画素の画像信号と対比して画素欠陥候補を検出し、画素欠陥候補のアドレス情報を位置メモリ回路１３に記憶する。 - 特許庁

To provide a recording medium having a room for defect management and its management information, a room assigning method and a defect management method.例文帳に追加

欠陥管理のための余裕空間とその管理情報を有する記録媒体、余裕空間割当方法及び欠陥管理方法を提供する。 - 特許庁

To inspect a printed circuit board and automatically recover defect parts.例文帳に追加

プリント回路基板を検査し、欠陥部分を自動的に修復すること。 - 特許庁

To provide a latent image carrier defect detection method for detecting the defect of a latent image carrier by a simple method and an image forming apparatus capable of detecting the defect of the latent image carrier by using the latent image carrier detection method.例文帳に追加

簡単な方法で潜像担持体の欠陥を検知できる潜像担持体欠陥検知方法及びその潜像担持体検知方法を用いて潜像担持体の欠陥を検知できる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The defect relief condition generation part 4 displays list of description errors present in the defect relief conditions at the display part 2 based on the reported verification result and makes the designer to correct the defect relief conditions.例文帳に追加

不良救済条件作成部４は通知された検証結果をもとに不良救済条件に存在する記述誤りの一覧を表示部２に表示して、不良救済条件の修正を設計者に行わせる。 - 特許庁

The reference chip is compared with the pattern of the inspection chip, and a defect generation place where a pattern defect can be easily generated is specified in the layout (S3 to S5).例文帳に追加

リファレンスチップと検査チップのパターンを比較し、レイアウト内においてパターン欠陥が生じやすい欠陥発生箇所を特定する（Ｓ３〜Ｓ５）。 - 特許庁

To provide a technology capable of implementing a position adjustment and a property test with high sensitivity and detecting defects while separating a position adjustment defect and a property defect in the case where any defect occurs.例文帳に追加

高感度に位置調整と特性試験を実施することができ、不良が生じた場合には位置調整上の不良と特性不良とを切り分けて不良を検出することを可能とする技術の提供。 - 特許庁

To stack lens storage trays without the occurrence of a transport defect.例文帳に追加

搬送不良を起こさずにレンズ収納トレイの積み重ねを可能にする。 - 特許庁

DRIVE DEFECT DETECTION CIRCUIT FOR INVERTED AMPLIFIER AND OVERLOAD DETECTION APPARATUS例文帳に追加

反転増幅器の駆動不良検出回路、及び過負荷検出装置 - 特許庁

To correct defect pixel data accurately in an external image processor.例文帳に追加

外部の画像処理装置において、欠陥画素データを正確に補正する。 - 特許庁

To provide a method and device for inspecting a surface defect constituted to surely detect a fatal defect, and capable of selecting optionally a degree of unevenness detected as the defect in response to an inspected object.例文帳に追加

致命的な欠陥を確実に検出できるように構成するとともに、検査対象物に応じて欠陥として検知する凹凸の程度を任意に選択することができる表面検査方法および装置を提供する。 - 特許庁

DEFECT CHECKING DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD USING THE DEVICE例文帳に追加

欠陥検査装置及び該装置を用いた半導体デバイス製造方法 - 特許庁

In particular, the micropipe defect and in-base-plane defect can be discriminated from other defects by using the classifying method.例文帳に追加

特に、本発明による分類方法を用いることにより、マイクロパイプ欠陥及び基底面内欠陥を他の欠陥から区別することが可能である。 - 特許庁

In order to produce a defect sorter 120 which fulfills the sorting request from the user, first of all, the defect sorter is represented by using a determination tree for hierarchically sorting defect sorting classes with a plurality of branch elements.例文帳に追加

ユーザの分類要求を満足する欠陥分類器１２０を生成するために、まず欠陥分類器を複数の分岐要素によって階層的に欠陥分類クラスを分類する決定ツリーを用いて表現する。 - 特許庁

To provide a defect detection device and its method capable of detecting a linear defect on a test object with high accuracy.例文帳に追加

検査対象物上の線状欠陥を高精度に検出することができる欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR DETECTING DEFECT OF RECORDABLE STORAGE MEDIUM例文帳に追加

記録可能な記憶媒体の欠陥を検出する方法並びにシステム - 特許庁

SEALING COMPLEMENT METHOD, METAL MEMBER REPAIR METHOD, AND METAL DEFECT REPAIR DEVICE例文帳に追加

封止補完方法、金属部材補修方法、金属欠陥補修装置 - 特許庁

DISK MEMORY DEVICE, DEFECT DETERMINATION METHOD FOR DISK MEMORY DEVICE, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

ディスクメモリ装置、ディスクメモリ装置不良判定方法、及び記録媒体 - 特許庁

From the image after the combination, an outstanding defect can be eliminated.例文帳に追加

合成後の画像から、その存在が目立つキズを無くすことができる。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT IN PATTERN ON OBJECT TO BE INSPECTED例文帳に追加

被検査対象物上のパターンの欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

COLOR-CALIBRATING APPARATUS OF IMAGE DATA, AND COLOR DEFECT AUTOMATIC DETECTION APPARATUS例文帳に追加

画像データの色彩較正装置および色彩欠陥自動検出装置 - 特許庁

To provide a system for concurrent inkjet printing and defect inspection.例文帳に追加

同時型インクジェット印刷及び欠陥検査ためのシステムを提供する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTING METHOD AND DEVICE MANUFACTURING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

欠陥検査方法及びその検査方法を用いたデバイス製造方法 - 特許庁

CLUSTER FORMING DEVICE, DEFECT CLASSIFYING DEVICE, CLUSTER FORMING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

クラスタ生成装置、欠陥分類装置、クラスタ生成方法およびプログラム - 特許庁

To correct inner and/or external defect in an image capture process.例文帳に追加

画像取込みプロセスの内部および／または外部欠陥を補正すること。 - 特許庁

To provide a nitride semiconductor device by which a crystal defect is reduced.例文帳に追加

結晶欠陥が低減された窒化物半導体装置を提供する。 - 特許庁

On the basis of defect information 400, the multiplication calculation part 482 calculates display magnification α1 (display magnification data 403) of a defect region.例文帳に追加

欠陥情報４００に基づいて、倍率演算部４８２が欠陥領域の表示倍率α１（表示倍率データ４０３）を演算する。 - 特許庁

For example, in a main defect list of a defect management region of the optical disk, a group of consecutive region numbers is recorded using (N, L) format.例文帳に追加

例えば、光ディスクの欠陥管理領域の主欠陥リストには、連続する領域番号のグループが（Ｎ，Ｌ）フォーマットを用いて記録される。 - 特許庁

COATING METHOD OF METAL MATERIAL HAVING SURFACE DEFECT AND COATED PRODUCT例文帳に追加

表面欠陥を有する金属材料の塗装方法および塗装物 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DEFECT CORRECTION, AND PATTERN SUBSTRATE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

欠陥修正装置、欠陥修正方法、及びパターン基板製造方法 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING ULTRASONIC PLATE WAVE AND METHOD FOR DETECTING DEFECT IN PIPING例文帳に追加

超音波板波の検出方法及び配管の欠陥検出方法 - 特許庁

To provide a liquid crystal panel in which defect/nondefect of a transfer is simply and reliably inspected, and a method and a device for inspecting the defect/nondefect of the transfer.例文帳に追加

トランスファーの良否を簡単且つ確実に検査することができる液晶パネル並びその検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To facilitate comparison and monitoring of information on an identical defect.例文帳に追加

同一の欠陥についての情報を容易に比較・監視するできること - 特許庁

To restrain a defect of paper in a paper bundle made by gathering.例文帳に追加

丁合して作成した用紙束における用紙の欠落を抑制する。 - 特許庁

A color determination part determines that a cause of the defect is a monochromic color when the color component specified by the defect cause color specifying part is the K color, and determines that the cause of the defect is a color mixture when the color component is the CMYK color.例文帳に追加

そして、色判別部が、欠陥原因色特定部で特定された色成分が、Ｋ色の場合は欠陥の原因は単色であり、ＣＭＹＫ色の場合は、欠陥の原因は混色であると判別する。 - 特許庁

The defect removing equipment 20 stops running of the printed matter 10 at a position where the position of detection of the defect and the position indicated by the mark 13 coincide with each other, and performs cutting and pasting of an area of removal including the defect.例文帳に追加

欠陥除去装置２０は、欠陥検出位置とマーク１３が示す位置とが一致する位置で印刷物１０の走行を停止させ、欠陥を含む除去領域の切断及び貼り合わせを行う。 - 特許庁

To provide a die which can achieve the reduction in the defect of casting.例文帳に追加

鋳造不良の低減を図ることができる金型を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for defect inspection for simply and rapidly extracting an object defect to be observed.例文帳に追加

観察すべき検査対象欠陥を簡単、かつ、迅速に抽出することができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

COLORED COMPOSITION AND COLORED PATTERN DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加

着色組成物およびこれを用いた着色パターン欠陥修正方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTING DEVICE AND METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF PLATE-LIKE BODY例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査方法及び板状体の製造方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT IN COATING FILM INSIDE PIPE例文帳に追加

管内被膜欠陥検査装置および管内被膜欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR CORRECTING LUMINESCENT SPOT DEFECT OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE例文帳に追加

液晶ディスプレイ装置の輝点欠陥修正方法およびその装置 - 特許庁

DEFECT DETECTING AND CORRECTING DEVICE FOR SOLID-STATE IMAGE PICKUP ELEMENT AND IMAGE PICKUP DEVICE例文帳に追加

固体撮像素子の欠陥検出補正装置および撮像装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING DEFECT OF TUBULAR OBJECT例文帳に追加

管状体の欠陥評価方法及び管状体の欠陥評価装置 - 特許庁

To easily manufacture a specimen with a defect for a nondestructive inspection, which has a crack-shape internal defect, without a special bonding device required.例文帳に追加

特殊な接合装置を必要とすることなく、簡単に亀裂状の内部欠陥を有する非破壊検査用有欠陥試験体を製作する。 - 特許庁