「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(64ページ目) - Weblio英語例文検索

The charged particle beam image is then analyzed to characterize the defect.例文帳に追加

そして、その荷電粒子ビーム画像は分析され、欠陥をキャラクタライズする。 - 特許庁

To detect a defect appropriately from a wafer image.例文帳に追加

ウェーハの画像から適切に欠陥を検出することができるようにする。 - 特許庁

APPARATUS, METHOD AND PROCESSING PROGRAM FOR DETECTING DEFECT例文帳に追加

欠陥検出装置、欠陥検出方法、及び欠陥検出処理プログラム - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT IN STENCIL MASK例文帳に追加

ステンシルマスクの欠陥修正装置およびステンシルマスクの欠陥修正方法 - 特許庁

To provide a defect-signal generating circuit for generating a defect signal for a stable servo control, and to provide an optical disk reproducing device.例文帳に追加

安定したサーボ制御を可能とするためのディフェクト信号を生成するディフェクト信号生成回路及び光ディスク再生装置を提供する。 - 特許庁

METHOD OF REMOVING DEFECT RELEVANT TO DEVELOPMENT USING PHOTORESIST MASK例文帳に追加

フォトレジスト・マスクにおける現像に関連する欠陥を除去する方法 - 特許庁

When carrying out finalization, the defect management information is recorded in the determinative defect management area 13 prepared in the control information recording area.例文帳に追加

ファイナライズをするときには、ディフェクト管理情報を、制御情報記録エリア内に設けられた確定的ディフェクト管理エリア１３に記録する。 - 特許庁

Based on the search domains in the series of visible images, the size of the defect part is determined by a visible image defect size decision means 8.例文帳に追加

可視画像欠陥寸法特定手段８は、一連の可視画像の検索領域に基づいて、前記欠陥部位の寸法を特定する。 - 特許庁

APPARATUS FOR INSPECTING SURFACE DEFECT OF MAGNETIC STORAGE MEDIUM OF DISCRETE TRACK SYSTEM例文帳に追加

ディスクリート・トラック方式の磁気記憶媒体の表面欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEVICE MANUFACTURING METHOD USING IT例文帳に追加

欠陥検査装置及び欠陥検査装置を用いたデバイス製造方法 - 特許庁

To make detectable a defect uniformly thicker or thinner than a reference value, a fine change, or a fine defect with high precision.例文帳に追加

基準値に対して一様に太く、または一様に細い欠陥、微小な変化や微小な欠陥でも高精度に検出できるようにする。 - 特許庁

In an image processing part 12 of this radiation image photographing apparatus 10, a defect detection part 24 detects a black defect of a radiation image, and makes a storage part 28 store a position of the black defect satisfying a prescribed condition.例文帳に追加

放射線画像撮影装置１０の画像処理部１２では、欠陥検出部２４が放射線画像の黒欠陥を検出し、所定の条件を満たした黒欠陥の位置を記憶部２８に記憶させる。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING SURFACE DEFECT OF SLAB例文帳に追加

スラブ表面欠陥検出方法およびスラブ表面欠陥検出装置 - 特許庁

In this constitution, the electric defect position data at an IC memory obtained in a semiconductor IC tester, can be converted to the real coordination, and the defect position data can be compared with defect data of productive process.例文帳に追加

この構成により、半導体ＩＣ試験装置にて取得したＩＣメモリの電気的な不良位置の情報を実座標に変換することができ、製造プロセスの欠陥データと比較することが可能となる。 - 特許庁

METHOD OF SIMULATING DENSITY AND SIZE DISTRIBUTION OF DEFECT IN SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

単結晶内欠陥の密度分布及びサイズ分布のシミュレーション方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of acquiring precisely an image of an inspection object, and capable of obtaining sufficient defect detection precision.例文帳に追加

検査対象の画像を高精度で取得することができ、十分な欠陥検出精度を得ることが可能な欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The defect inspection method acquires the image having the height information in the selected measuring condition based on positional information of the defect candidate of acquiring the image having the height information, and inspects the defect of the inspection object, based on the image.例文帳に追加

高さ情報を有する画像を取得する欠陥候補の位置情報から選択した測定条件で高さ情報を有する画像を取得し、その画像に基づいて前記検査対象物の欠陥を検査する。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer defect detection system having a remarkably heightened throughput.例文帳に追加

スループットが著しく高められる半導体ウェハ欠陥検出システム。 - 特許庁

The defect detecting section 108 compares the feature quantities in an edge section in which two edge strengths meet the conditions and determines that the pixel is the defect pixel for imaging the defect if the absolute value of the difference between two feature quantities is large.例文帳に追加

欠陥検出部１０８は、２個のエッジ強度が条件を満たすエッジ部において特徴量を比較し、２個の特徴量の差の絶対値が大きい場合に画素を欠陥を撮像した欠陥画素と判定する。 - 特許庁

To easily detect a defect such as a crack occurring on a piezoelectric element.例文帳に追加

圧電素子に発生するヒビ等の欠陥を容易に検出すること。 - 特許庁

As the defect echo length, 22 mm can be obtained from a reference value 25% of the defect echo height determined beforehand by a test piece or the like.例文帳に追加

予めテストピースなどによって定める欠陥エコー高さの基準値２５％から、欠陥エコー長さとして２２ｍｍを得ることができる。 - 特許庁

To safely and securely prevent a fixation defect under simple control.例文帳に追加

簡単な制御で、安全かつ確実に定着不良を防止すること。 - 特許庁

A counter means counts signals indicating the defect from a determination means.例文帳に追加

カウンタ手段は、判定手段からの不良を示す信号をカウントする。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の不良検出方法及び不良検出装置 - 特許庁

To provide a phase difference defect inspection device which easily discriminates and detects the residual defect of a phase shifter and the surface flaw defect of a glass substrate from another defects, such as foreign matter (light shielding) defects.例文帳に追加

位相シフターの残存欠陥及びガラス基板の表面傷欠陥を異物（遮光）欠陥等の他の欠陥と区別して検出することを簡便に行なう位相差欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The frequency-based measures are used to detect defect regions on the hard disc and/or classify defect regions as being due to either thermal asperity (TA) or drop-out medium defect (MD).例文帳に追加

この周波数に基づく評価量は、ハードディスク上の欠陥領域を検出し、かつ／または、欠陥領域を熱凹凸（ＴＡ）もしくはドロップアウト・媒体欠陥（ＭＤ）のいずれかの原因に分類するのに使用される。 - 特許庁

To provide a system for predicting number-of-defects countermeasure man-hour, which supports quality management of a software development project (PJ), predicts the number of remaining defects in each defect sort and predicts total defect countermeasure man-hour in each defect attribute.例文帳に追加

ソフトウェア開発プロジェクト（ＰＪ）の品質管理を支援し、残不良数を不良の種類毎に予測し、その不良属性毎の総不良対策工数を予測する不良数・対策工数予測システムを提供する。 - 特許庁

To provide a defect correcting method for a liquid crystal display device of a pixel division method by which the size of a defect can be reduced than ever before.例文帳に追加

欠陥サイズを従来よりも縮小可能な画素分割方式の液晶表示装置の欠陥修正方法を提供すること。 - 特許庁

At least a part of the third defect is constituted of a semiconductor.例文帳に追加

第３の欠陥の少なくとも一部は半導体で構成されている。 - 特許庁

To provide an optical sheet which has both defect concealing performance and luminance.例文帳に追加

欠陥の隠蔽性能と輝度を兼ね備えた光学シートを提供する。 - 特許庁

Thus, even if there is a defect in a substrate, it is not required that it be discarded, and the substrate cost can be reduced, when the defect does not affect the pattern.例文帳に追加

これにより、基板に欠陥があってもパターンに影響を与えなければ廃棄することなく、基板コストの削減を図ることができる。 - 特許庁

To update efficiently an inspection recipe, when inspecting a defect of a substrate.例文帳に追加

基板の欠陥を検査する際に、検査レシピを効率よく更新する。 - 特許庁

To provide a technique that allows a sample surface with an insulation region and a conduction region formed thereon to be observed under high contrast, and that facilitates detection of a deletion defect and an open defect and classification of the defect types.例文帳に追加

絶縁領域と導電領域が形成されている試料面の観察を高コントラストで行い、且つ、欠落欠陥や開放欠陥の検出と欠陥種類の分類を容易なものとする技術を提供すること。 - 特許庁

A discrimination method by a threshold is used for defect detection as hitherto.例文帳に追加

欠陥の検出には、従来同様、閾値による判別手法を用いる。 - 特許庁

Then, a defect correction part for executing correction of the defects is controlled by using the defect correction method where the size and the application sequence have been optimized.例文帳に追加

そして、サイズと適用順が最適化された欠陥修正手法を利用して欠陥の修正を実行する欠陥修正部を制御する。 - 特許庁

To prevent erroneous detection of a defect portion regardless of the state of a detection object surface, and to prevent decline of detection accuracy to the defect portion.例文帳に追加

検査対象物表面の状態にかかわらず、欠陥部位の誤検出を防止し、欠陥部位に対する検出精度の低下を防ぐ。 - 特許庁

To provide a defect marker and a defect marking method for films with improved accuracy in recognizing the location of a defect in a marking area, thus capable of preventing reduction of yield and reducing man-hours required for a visual inspection.例文帳に追加

マーキングエリアでの欠陥部分の位置の認識精度を向上させることで歩留りを下げることなく、かつ、目視検査の工数を削減できるフィルム用欠陥マーキング装置及び欠陥マーキング方法を提供する。 - 特許庁

To simultaneously estimate a defect cross-section and a defect width of a defective portion of an inspected body, as to a method of inspection using a guided wave.例文帳に追加

ガイド波を用いた検査方法において、検査体の欠損部分の欠損断面積および欠損幅を同時に推定できるようにする。 - 特許庁

To promptly start identification of a cause of occurrence of defect of a substrate.例文帳に追加

基板の異常が発生する原因の特定を、迅速に開始させる。 - 特許庁

To detect a defect of a disk-shaped article to be inspected with high accuracy.例文帳に追加

円盤形状の被検査物品の欠損を高精度に検出する。 - 特許庁

A defect correction circuit 16 corrects a picture signal Y(n) in accordance with the address information of the registered pixel defect and generates a picture signal Y'(n).例文帳に追加

登録された画素欠陥のアドレス情報に応じて欠陥補正回路１６が画像信号Ｙ(n)を補正して、画像信号Ｙ'(n)を生成する。 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING EPITAXIAL WAFER, DEFECT REMOVING METHOD, AND THE EPITAXIAL WAFER例文帳に追加

エピタキシャルウェハの製造方法、欠陥除去方法およびエピタキシャルウェハ - 特許庁

The monthly fatal defect density of the reference product is multiplied by a calculated average fatality ratio to calculate the monthly fatal defect density of the yield prediction subject product.例文帳に追加

リファレンス製品の月別致命欠陥密度に平均致命率の比をかけ、予測対象製品の月別致命欠陥密度を算出する。 - 特許庁

(C) The defect quantities of the inspected body are estimated based on the data for defect quantity estimation found in (A) and on the size of the guided wave detected in (B).例文帳に追加

（Ｃ）（Ａ）で求めた欠損量推定用データと、（Ｂ）で検出したガイド波の大きさに基づいて、検査体の欠損量を推定する。 - 特許庁

To provide a highly sensitive and high-throughput defect inspection apparatus in defect inspection of a sample in which a pattern is formed such as a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハなどのパターンが形成された試料の欠陥検査において、高感度かつ高スループットの欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁