「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(66ページ目) - Weblio英語例文検索

To obtain a defect analyzing method by which defective modes can be classified highly accurately.例文帳に追加

不良モードを高精度に分類できる不良解析方法を得る。 - 特許庁

To provide an inspection method of a pattern defect capable of stably detecting a target defect in various processes by reducing the misdetection of grain or morphology or the effect of interference light intensity irregularity, and an inspection device of the pattern defect.例文帳に追加

グレインやモホロジーの誤検出や干渉光強度ムラの影響を低減して、様々なプロセスにおけるターゲット欠陥を安定に検出できるパターン欠陥検出方法及びその装置を提供すること。 - 特許庁

The laminate process control part specifies a carrying position of the defect portion of the film 3 based on the carrying position and the defect portion information of the film 3.例文帳に追加

ラミネート工程制御部は、フイルム３の搬送位置と欠点部位情報とに基づいてフイルム３の欠点部位の搬送位置を特定する。 - 特許庁

To obtain a method and an apparatus for examining defect capable of detecting a defect in high sensitivity even when a surface to be examined is in a non-mirror state.例文帳に追加

検査面が非鏡面状の場合であっても、欠陥を高感度に検出し得る欠陥検査方法及び欠陥検査装置を得る。 - 特許庁

To prevent a transfer nip defect, a pre-transfer phenomenon, and a transfer defect by optimizing the value of a guide pressurizing means of a before-transfer guide.例文帳に追加

転写前ガイドのガイド加圧手段の値を最適化することにより、転写ニップ不良、プリ転写現象及び転写不良を防止すること。 - 特許庁

A size of an object included in the read defect correction method and a correction execution sequence are optimized for the defect correction device.例文帳に追加

次に、読み出した欠陥修正手法に含まれるオブジェクトのサイズと修正実行順を当該欠陥修正装置に対して最適化する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTING METHOD AND DEFECT INSPECTING DEVICE FOR ELECTROLUMINESCENCE DISPLAY DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD OF ELECTROLUMINESCENCE DISPLAY DEVICE USING THEM例文帳に追加

エレクトロルミネッセンス表示装置の欠陥検査方法及び欠陥検査装置及びこれらを利用したエレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法 - 特許庁

A step to optically detect the defect aggregate consists of a step wherein the defect aggregate of the fluoride crystal is irradiated with a light and a step to detect light being scattered by the defect aggregate.例文帳に追加

前記欠陥集合体を光学的に検出する工程が、光をフッ化物結晶の欠陥集合体に照射する工程と、前記欠陥集合体により散乱された光を検出する工程である。 - 特許庁

To provide a repairing method for performing the consistent defect repair by friction stirring to a welded part having any defect caused during friction stir welding.例文帳に追加

摩擦攪拌接合の際に欠陥が生じた接合部に対して摩擦攪拌により安定した欠陥補修を行う補修方法を提供する。 - 特許庁

To provide a battery defect detection circuit, capable of improving accuracy of detecting defect of a secondary battery, and to provide a power supply device using the same.例文帳に追加

二次電池の異常検出の精度を向上することができる電池異常検出回路、及びこれを用いた電源装置を提供する。 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING NON-ORIENTED MAGNETIC STEEL SHEET FOR REDUCING OCCURRENCE OF SEAM DEFECT例文帳に追加

シーム疵の発生の少ない無方向性電磁鋼板の製造方法 - 特許庁

To prevent an image defect caused from shading-compensated image data.例文帳に追加

シェーディング補正後の画像データから発生する画像不良を防止する。 - 特許庁

DEFECT-DETECTING METHOD AND DEVICE FOR FEELING VALVE FOR LIQUID-FILLING MACHINE例文帳に追加

液体充填機用のフィーリングバルブの不良検出方法及び装置 - 特許庁

To provide a defect detection method capable of acquiring accurately information of the form and the position of a defect from the outside in a layered product after laminating a metal layer, concerning the defect existing inside the layered product.例文帳に追加

積層体の内部に存在する欠陥を、金属層を積層した後の積層体において、その外部から欠陥の形態及び位置の情報を精度良く把握するという、欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁

To achieve an inspection correction device for efficiently performing various processing even when defect inspection or a defect correction object substrate is large-sized.例文帳に追加

欠陥検査又は欠陥修正される基板が大型化しても、各種処理を効率よく行うことができる検査修正装置を実現する。 - 特許庁

In a third defect check, the mean shot image is averaged in a prescribed size, the standard deviation of the luminance is calculated and the defect is checked.例文帳に追加

第３欠陥検査は、平均ショット画像を所定サイズで平均化処理した上で、輝度の標準偏差を計算して欠陥を検査する。 - 特許庁

Also, the level of a defect is set by the detection level setting key 20 and the defect is corrected in the priority order of the area and in the order of level of the defects.例文帳に追加

また、検出レベル設定キー２０で欠陥のレベルを設定し、領域の優先順で、且つ欠陥のレベル順に欠陥を補正する。 - 特許庁

The defect correction processing portion 42b set corresponding to the color processing portion 40 sets the correction level at a high level and eliminates the pixel defect properly.例文帳に追加

色処理部４０に対応して設けられた欠陥補正処理部４２ｂは、補正レベルを高く設定され、画素欠陥を好適に除去する。 - 特許庁

METHOD EOR CORRECTING BLACK DEFECT OF MASK BY APPLYING ELECTROCHEMICAL TECHNIQUE TO AFM例文帳に追加

ＡＦＭに電気化学的手法を適用したマスク黒欠陥修正 - 特許庁

An operator designates local defective areas within a sample image, subsequently performs defect candidate detection with the area threshold as a minimum value (S2), and classifies the defect candidates into overlooked defects, noise defects and designated defect candidates (S3).例文帳に追加

オペレータがサンプル画像内の局所的な欠陥領域を指定した後、面積しきい値を最小値として欠陥候補検出を行って（Ｓ２）、見逃し欠陥、ノイズ欠陥、指定欠陥候補に分類する（Ｓ３）。 - 特許庁

Bubbles staying in a defect 1a becomes easily separable from the defect 1a by depressurization because a force pressing from the upper side is reduced.例文帳に追加

その減圧により、欠陥１ａ内に留まっていた気泡は、上から押さえ込む力の減少によって欠陥１ａより乖離しやすくなる。 - 特許庁

The device for correcting a defect of a reticle pattern comprises: a lithography emulation system 48 having an optical emulation system 45; and a micromachining defect correction system 52 having a reticle defect correction mechanism 49 with a cantilever.例文帳に追加

レチクルパターン欠陥修正装置は光学エミュレーションシステム４５を有するリソグラフィエミュレーションシステム４８と、カンチレバーを備えたレチクル欠陥修正機構４９を有するマイクロマシニング欠陥修正システム５２から成る。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND DEFECT INFORMATION ACCUMULATING METHOD OF THE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置および半導体装置の不良情報蓄積方法 - 特許庁

REFLECTIVE MASK BLANK HAVING ARTIFICIAL DEFECT AND ITS PRODUCING PROCESS, REFLECTIVE MASK HAVING ARTIFICIAL DEFECT AND ITS PRODUCING PROCESS, AND SUBSTRATE FOR PRODUCING REFLECTIVE MASK BLANK OR REFLECTIVE MASK HAVING ARTIFICIAL DEFECT例文帳に追加

擬似欠陥を有する反射型マスクブランクス及びその製造方法、擬似欠陥を有する反射型マスク及びその製造方法、並びに擬似欠陥を有する反射型マスクブランクス又は反射型マスクの製造用基板 - 特許庁

A photographing part 16 photographs a defect of the infrared cut-off filter 10 by the infrared ray transmitted through the infrared cut-off filter 10 due to the defect.例文帳に追加

そして、欠陥によって赤外カットフィルタ１０を透過した赤外光で、撮影部１６は赤外カットフィルタ１０の欠陥を撮影する。 - 特許庁

To provide a system, a method and a computer program product for detecting a defect, especially the defect in a mask used for a photolithographic process.例文帳に追加

欠陥検出、特にフォトリソグラフィープロセスに使用されるマスクの欠陥検出のためのシステム、方法およびコンピュータプログラム製品を提供する。 - 特許庁

When a defect, matching a criterion exists, the image processing section 24 generates display image data for displaying the defect matching the criterion, by using the image data of the defect, and outputs them to a display section 25.例文帳に追加

条件に合致する欠陥が存在した場合、画像処理部２４は、欠陥の画像データを用いて、条件に合致した欠陥を表示するための表示画像データを生成し、表示部２５へ出力する。 - 特許庁

To provide a defect pixel correcting method for a liquid crystal display, in which defect pixels on the liquid crystal display D can be corrected easily and sufficiently.例文帳に追加

液晶ディスプレイ上の欠陥画素を簡単かつ十分に修正できる液晶ディスプレイの欠陥画素修正方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a stain defect detecting method which prevents misdetection and accurately and automatically detects stain defect which is low in contrast, with high precision, without detecting defects other than the stain flaw, and to provide a stain defect detector.例文帳に追加

誤検出を防ぎ、シミ欠陥以外の欠陥を検出することなく、コントラストの低いシミ欠陥を正確かつ高精度に自動検出するシミ欠陥の検出方法及びその検出装置を提供する。 - 特許庁

REPAIRING METHOD AND DEVICE FOR SURFACE DEFECT OF SINGLE CRYSTAL WAFER例文帳に追加

単結晶ウエハーの表面欠陥の修復方法及び修復装置 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for the detection of a defect on a substrate such as a solar cell, in which a defect such as a crack is detected uniformly, in which the kind of the defect is discriminated, and in which the substrate is not heated excessively.例文帳に追加

クラックのような欠陥を均一に検出し、欠陥の種類を識別し、しかも、基板を過度に加熱することのない、太陽電池のような基板の欠陥を検出する装置及び方法を提供すること。 - 特許庁

To detect a defect such as a crack generated on a weld bead.例文帳に追加

溶接ビードに発生している亀裂等の欠陥を検出すること。 - 特許庁

To provide a fixing device capable of suppressing image defect.例文帳に追加

画像不良を抑制することができる定着装置を提供すること。 - 特許庁

that interpretation is an unfortunate defect of our lack of information 例文帳に追加

その解釈は私たちに情報が欠けているという不幸な欠点だ - 日本語WordNet

(i) Where the final appeal is unlawful and such defect cannot be corrected. 例文帳に追加

一　上告が不適法でその不備を補正することができないとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

DEFECT CORRECTING METHOD OF PHOTOMASK, METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOMASK AND PHOTOMASK例文帳に追加

フォトマスクの欠陥修正方法、フォトマスクの製造方法及びフォトマスク - 特許庁

DEFECT ANALYZER FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, SYSTEM, AND DETECTION METHOD例文帳に追加

半導体集積回路の不良解析装置、システムおよび検出方法 - 特許庁

To provide a simple defect inspection device and a defect inspection method for performing defect inspection on a substrate by using diffraction beams generated from a repetitive pattern of further fine intervals without shortening the wavelengths of illumination beams.例文帳に追加

照明光の波長を短くしなくても、さらに微細なピッチの繰り返しパターンから発生する回折光を利用して、基板の欠陥検査を行える簡易な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

Then, the defect of the inspection object 1 is classified by using a database which is different corresponding to the domain to which the detected defect belongs.例文帳に追加

そして、検出された欠陥が属する領域に応じて、異なるデータベースを使用して検査対象物１の欠陥の分類を行なう。 - 特許庁

To provide an imaging system with high performance not to virtually generate degradation of image quality due to a defect by performing effective defect compensation.例文帳に追加

効果的な欠陥補償を行なうことで、欠陥による画質劣化を事実上生じない高性能な撮像装置を提供すること。 - 特許庁

METHOD FOR MAKING CRYSTAL DEFECT OBVIOUS, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE FOR EVALUATION, METHOD FOR EVALUATING CRYSTAL DEFECT, AND SEMICONDUCTOR DEVICE FOR EVALUATION例文帳に追加

結晶欠陥の顕在化方法、評価用半導体装置の製造方法、結晶欠陥の評価方法及び、評価用半導体装置 - 特許庁

Based on the corrected inspection data, a defect on the reticle is detected.例文帳に追加

補正後の検査データに基づいて、レチクル上の欠陥を検出する。 - 特許庁

REFLECTION IMAGE FORMING ELECTRON MICROSCOPE AND DEFECT INSPECTING DEVICE USING IT例文帳に追加

反射結像型電子顕微鏡、及びそれを用いた欠陥検査装置 - 特許庁

PHOTOMASK, METHOD FOR INSPECTING PATTERN DEFECT AND METHOD FOR PRODUCING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

フォトマスク、パターン欠陥検査方法、及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

The selector 15 selects a pixel value to be allotted to the pixel of interest for the purpose of correcting the defect, on the basis of the result of determination by the defect determination circuit 14.例文帳に追加

セレクタ１５は、キズ判定回路１４による判定結果に応じて、キズ補正のために注目画素に割り当てる画素値を選択する。 - 特許庁