Defectを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 18303件
To provide a glass substrate defect inspection device or a glass substrate defect inspection method or a glass substrate defect inspection system attaining accurate inspection by securing flatness over the entire surface of a separated glass substrate.例文帳に追加
分ガラス基板の全面亘って平坦性を確保し、精度よく検査できるガラス基板欠陥検査装置またはガラス基板欠陥検査方法あるいはガラス基板欠陥検査システムを提供する。 - 特許庁
A black defect region 3 is recognized by the observation of AFM, and anodic oxidation is repetitively performed only on the black defect region 3 in selective scanning while a height is monitored in the middle of work and the black defect is removed.例文帳に追加
AFMの観察で黒欠陥領域3を認識し、加工途中で高さをモニターしながら選択的な走査で黒欠陥領域3のみ繰り返し陽極酸化を行って黒欠陥を除去する。 - 特許庁
Further, defect inspection data wherein the defect inspections ensitivity and defect inspection positions are defined for the specific pattern of the mask having a plurality of inspection areas are prepared and photomask inspection is performed according to the data.例文帳に追加
また、複数の検査領域を有するフォトマスクの所定のパターンに対する欠陥検査感度と欠陥検査位置とを定義した欠陥検査データを用意しこのデータに基づいてフォトマスク検査を行う。 - 特許庁
The defects of the wafer W are observed by the defect observation apparatus 3 based on the defect positioning data so as to identify defects, and the identified result is stored in a memory as an initial defect identification data.例文帳に追加
次いで、欠陥観察装置3により欠陥位置データを基にしてウェハWの欠陥を観察し、欠陥の識別を行い、その識別結果を初期欠陥識別データとしてメモリに記憶する。 - 特許庁
The defect as the object is changed, and, with the registered rectangular region as the object, in the case the rectangular region comprises the defect, the longitudinal and transverse cutter lines are set so as to evade the defect.例文帳に追加
対象となる欠点を変更し、登録された矩形領域を対象として、当該矩形領域がその欠点を含む場合には、この欠点を避けるように縦および横のカッター線を設定する。 - 特許庁
When the defect of the track such as the scratch is formed in the optical disk 10, the defect is detected with a defect detecting part 16a in an RF amplifier 16, and a detection signal is supplied to a servo signal processing part 18.例文帳に追加
光ディスク10に傷などのトラック欠陥が生じた場合、RFアンプ16内のディフェクト検出部16aで検出し、検出信号をサーボ信号処理部18に供給する。 - 特許庁
To provide a substrate defect inspection method and a substrate defect inspection system that can grasp accurately how a defect occurred in a certain process affects the subsequent processes.例文帳に追加
ある工程で発生した欠陥が後の工程にどの程度影響を与えているかを正確に把握することができる基板の欠陥検査方法および基板の欠陥検査システムを提供する。 - 特許庁
To provide a detection method of a defect caused by chemical solution capable of detecting foreign matter in the chemical solution causing such a fine defect undetectable by a conventional defect inspection device of a resist pattern.例文帳に追加
従来のレジストパターンの欠陥検査装置では検出不可能となるほど微細な欠陥の起因となる薬液中の異物の検出が可能な、薬液起因の欠陥検出方法を提供すること。 - 特許庁
A defect detection circuit 12 compares the picture signal of a target pixel with the picture signal of peripheral pixels, detects a pixel defect candidate and stores the address information of the pixel defect candidate in a position memory circuit 13.例文帳に追加
欠陥検出回路12で目標画素の画像信号を周辺画素の画像信号と対比して画素欠陥候補を検出し、画素欠陥候補のアドレス情報を位置メモリ回路13に記憶する。 - 特許庁
The defect detection sensitivity is inspected by using a mask for defect inspection having a photomask pattern which includes a basic pattern and a pattern defect comprising a resist pattern at a specified position of the basic pattern.例文帳に追加
基本パターンと、基本パターンの所定の位置に、レジストパターンにより形成されたパターン欠陥とを含むフォトマスクパターンを有する欠陥検査用マスクを用いて、欠陥検出感度検査を行う。 - 特許庁
To preliminarily prevent the occurrence of a large amount of failures by specifying a stamper which is the factor of defect occurrence in an early stage by extracting a defect originated in the stamper from the defect of a pattern generated on the disk.例文帳に追加
ディスク上に発生したパターンの欠陥からスタンパに由来する欠陥を抽出して、欠陥発生の原因となっているスタンパを早期に特定して大量の不良の発生を未然に防止する。 - 特許庁
When the data recorded by this recording method are erased, only a key part in a file including a deciphering key is physically set as a defect or registered as the defect by a defect management system.例文帳に追加
この記録方法により記録したデータを消去するとき、暗号を解くキーが含まれるファイル内のキー部分のみを物理的にディフェクトとし、又は、ディフェクト管理システムによりディフェクトとして登録する。 - 特許庁
Moreover, the device is equipped with a storage determination circuit 16 for determining if the defect information is stored or not in the defect information storing register 17, according to the information on the preset defect information storing method.例文帳に追加
また、予め設定された不良情報格納方法情報に応じて不良情報を不良情報格納レジスタ17に格納するか否かを判定する格納判定回路16を備えている。 - 特許庁
A defect detecting part analyzes the extracted featured values to generate the defect of a candidate based on a set of the trained featured values with respect to the kind of each defect and on a weight values corresponding to it.例文帳に追加
欠陥検出部が抽出された特徴値を分析して、各々の欠陥の種類に対する一組のトレーニング済み特徴値と対応する重み値とに基づいて候補の欠陥を生成する。 - 特許庁
For example, in the case of the defect which is in communication with the bottom of the test object, the size of the defect is determined from appearances of the creeping wave, the mode transformed wave and the longitudinal wave or the transversal wave from the head edge section of the defect.例文帳に追加
例えば、欠陥が試験体の底に連通するものであり、クリーピング波、モード変換波及び欠陥先端部からの横波又は縦波の表れ方により欠陥の大きさを判別する。 - 特許庁
To decide whether the defect generated on the surface of a substrate is the defect that arises from the defect existing on a prescribed pattern or not, in the substrate which is manufactured so that a repeated pattern is transferred on the major surface.例文帳に追加
主面に、繰り返しパターンが転写されて製造される基板において、その表面に生じる欠陥が、所定パターンに存在する欠陥に起因した欠陥であるか否かを確定する。 - 特許庁
NOISE-REMOVING METHOD AND APPARATUS, UNEVENNESS DEFECT INSPECTING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加
ノイズ除去方法および装置、ムラ欠陥検査方法および装置 - 特許庁
To provide a defect detector for a sheet capable of accurately detecting even an infinitesimal defect and to provide a method of manufacturing the sheet.例文帳に追加
微小な欠点でも精度良く検出することができるシートの欠点検出装置ならびにシートの製造方法を提供する。 - 特許庁
DEFECT DETECTION METHOD OF LINER SHEET, AND DETECTION DEVICE USED FOR IT例文帳に追加
遮水シートの欠陥検知方法およびそれに用いる検知装置 - 特許庁
To shorten vulcanizing time while preventing a forming defect.例文帳に追加
成形不良を防止しつつ加硫時間の短縮などを可能とする。 - 特許庁
APPLICATION NEEDLE, APPLICATION MECHANISM USING THE SAME, DEFECT CORRECTING DEVICE, APPLICATION METHOD, AND DEFECT CORRECTING METHOD OF COLOR FILTER FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL例文帳に追加
塗布針と、それを用いた塗布機構、欠陥修正装置、塗布方法、および液晶表示パネル用カラーフィルタの欠陥修正方法 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING CAST SLAB FOR STEEL SHEET FREE FROM INCLUSION-INDUCED DEFECT例文帳に追加
介在物性欠陥のない薄鋼板用鋳片の製造方法 - 特許庁
DEFECT MANAGEMENT METHOD FOR OPTICAL DISK, OPTICAL DISK AND OPTICAL DISK DEVICE例文帳に追加
光ディスクの欠陥管理方法、光ディスク、及び、光ディスク装置 - 特許庁
To provide a cam which can test for the presence of defect of a priority encoder, and a method of testing the presence of defect of a priority encoder.例文帳に追加
優先順位エンコーダの欠陥有無テストが可能なCAM及び優先順位エンコーダの欠陥有無テスト方法を提供する。 - 特許庁
PROCESS FOR PREPARING LOW DEFECT DENSITY SILICON USING HIGH GROWTH RATE例文帳に追加
高成長速度を用いた低欠陥密度シリコンの製造方法 - 特許庁
To provide a semiconductor device which is free from contact defect of an electrode.例文帳に追加
電極の接触不良のない半導体装置を提供する。 - 特許庁
DEFECT-DETECTING CIRCUIT AND STORAGE MEDIUM REPRODUCING DEVICE PROVIDED THEREWITH例文帳に追加
欠陥検出回路及びそれを備えた記憶媒体再生装置 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR RECOVERING EJECTION DEFECT, AND INK JET RECORDER例文帳に追加
吐出不良回復装置及び方法並びにインクジェット記録装置 - 特許庁
To provide an apparatus of correcting a defect improved so that various defect can be corrected efficiently.例文帳に追加
様々な欠陥を効率よく修正することができるように改良された欠陥の修正装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
RADIOLOGICAL IMAGE PHOTOGRAPHIC APPARATUS AND METHOD FOR OBTAINING PIXEL DEFECT INFORMATION例文帳に追加
放射線画像撮影装置及び画素欠陥情報取得方法 - 特許庁
To provide an exposure apparatus suppressing the occurrence of an exposure defect.例文帳に追加
露光不良の発生を抑制できる露光装置を提供する。 - 特許庁
METHOD FOR DEFECT DETECTING AND PROCESSING OF OPTICAL DISK AND RECORDING/REPRODUCING APPARATUS例文帳に追加
光ディスクの欠陥検出処理方法及び記録再生装置 - 特許庁
To efficiently inspect the working defect, etc., of a magnetic head with high accuracy.例文帳に追加
磁気ヘッドの加工不良等を高精度に効率良く検査する。 - 特許庁
To transfer a softened element member after thermal development without a defect.例文帳に追加
熱現像後の軟化したエレメント部材の転写を欠陥なく行う。 - 特許庁
PICTURE DEFECT CORRECTING METHOD AND RECORDING MEDIUM RECORDING THE SAME例文帳に追加
画像欠陥補正方法およびこの方法を記録した記録媒体 - 特許庁
METHOD OF REPAIRING CONCRETE DEFECT OCCURRING DURING CONSTRUCTION OF CONCRETE STRUCTURE, AND VIBRATOR FOR USE IN REPAIRING THE CONCRETE DEFECT例文帳に追加
コンクリート構造物の施工中に発生したコンクリート欠陥の修復方法及び該コンクリート欠陥を修復するために使用する振動機 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING DEFECT IN TOOTH OF GENERATOR ROTOR例文帳に追加
発電機ロータの歯の欠陥を検出するための方法および器具 - 特許庁
To provide a defect detecting circuit which can detect a defect highly accurately and quickly independently of operation speed of an optical disk apparatus.例文帳に追加
光ディスク装置の動作速度によらずディフェクトを高精度かつ迅速に検出することが可能なディフェクト検出回路を提供する。 - 特許庁
To suppress degradation of reliability and reduce the time for observing a defect in an automatic defect review of a semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置の自動欠陥観察において、欠陥観察の信頼性の劣化を抑え、欠陥観察に要する時間の短縮を図る。 - 特許庁
The device for correcting color filter defect corrects a defect of a color filter with a plurality of picture elements arranged therein, each of the picture elements having a plurality of pixels.例文帳に追加
カラーフィルタ欠陥修正装置は、複数個の画素を有する絵素が複数個配置されるカラーフィルタの欠陥を修正する。 - 特許庁
METHOD FOR DISCRIMINATING DISCONNECTION OR CONNECTION DEFECT IN AUTOMATIC TEE-UP DEVICE例文帳に追加
自動ティアップ装置における断線、接続不良等の判別方法 - 特許庁
The past defect information is displayed in the application form.例文帳に追加
これにより申請フォーム中に過去の不具合情報を表示する。 - 特許庁
DIAGNOSTIC DEVICE AND METHOD FOR DIAGNOSING MATERIAL DEFECT USING POSITRON例文帳に追加
陽電子を用いた材料欠陥診断装置および診断方法 - 特許庁
To provide a semiconductor memory device having a defect check circuit.例文帳に追加
欠陥チェック回路をもつ半導体メモリ装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a cutting tool combined with abrasion resistance and defect resistance.例文帳に追加
耐摩耗性と耐欠損性を兼ね備えた切削工具を提供する。 - 特許庁
METHOD FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF SUBSTRATE, AND METHOD OF INSPECTING PAINTING DEFECT例文帳に追加
基材の非接触測定方法及び塗装不良検査方法 - 特許庁
To provide a surface defect inspecting device which secures an S/N ratio required for inspection of a surface defect by certainly removing diffracted light.例文帳に追加
回折光を確実に除去して表面欠陥の検査に必要なSN比を確保できる表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
When there is the second reception signal whose crest value is equal to or larger than the threshold, the determination unit determines the defect candidate signal as a defect signal.例文帳に追加
判定部は、波高値が閾値以上の第2受信信号がある場合、欠損候補信号を欠損信号として判定する。 - 特許庁
DEFECT DETECTING CIRCUIT AND STORAGE MEDIUM REPRODUCING DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加
欠陥検出回路及びそれを備えた記憶媒体再生装置 - 特許庁
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