「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(56ページ目) - Weblio英語例文検索

In this process, a defect is detected by comparing a basic inspection image obtained from the basic pattern formed in the basic pattern region of the mask for inspection of pattern defect detection sensitivity with a defect reference image produced by image processing based on the design data of the defect pattern.例文帳に追加

この際、パターン欠陥検出感度検査用マスクの基本パターン領域に形成された基本パターンから取得した基本検査画像と、欠陥パターンの設計データを基に画像処理により生成した欠陥参照画像とを、比較して欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a pattern defect repair apparatus capable of repairing the defect of a higher fineness mask pattern by solving the problem of the case a laser beam is employed as a light source for an inspection apparatus for the pattern defect and by inspecting the defect of the pattern with higher resolution.例文帳に追加

レーザ光をパターン欠陥の検査装置の光源として採用した場合の問題点を解決し、より高い分解能でパターンの欠陥を検査し、これにより高精細なマスクパターンの欠陥修復を行なえるパターン欠陥修復装置を提供する。 - 特許庁

A correction control part 4 compares pixel defect detection signals with respect to multiple frames, determines that the pixel defect is the true one when the same kind of pixel defects exist at the same pixel positions of the multiple frames, and indicates the correction of the pixel defect to a pixel defect correction part 5.例文帳に追加

補正制御部４は、複数フレームに対する画素欠陥検出信号を比較し、複数フレームの同じ画素位置に同種の画素欠陥が存在している場合は真の画素欠陥と判定し、画素欠陥補正部５に対し画素欠陥の補正を指示する。 - 特許庁

To realize a defect inspection system enabling further efficient production management by sharing inspection result data by the whole production line, and easy recognition of the details of a defect detected by defect inspection.例文帳に追加

生産ライン全体で検査結果データを共有してより効率的な生産管理ができるとともに、欠陥検査で検出された欠陥の詳細を容易に認識できる欠陥検査システムを実現する。 - 特許庁

A defect correction circuit 110 uses defect information (a defective position and a defective level) stored in a defect information storage RAM 120 to particularize a defective pixel in the image signal thereby correcting the defective pixel.例文帳に追加

欠陥補正回路１１０は、欠陥情報格納ＲＡＭ１２０に格納された欠陥情報（欠陥個所、欠陥レベル）を用いて、画像信号の欠陥画素を特定し、この欠陥画素の補正を行う。 - 特許庁

This method is provided with a process for adjusting defect detection sensitivity so as to detect the defect in the desired size while using a standard sample prepared by programming the size and position of the defect beforehand.例文帳に追加

本発明は、予め欠陥の大きさと位置をプログラムして作製した標準試料を用いて所望の大きさの欠陥を検出するように欠陥検出感度を調整する工程を備えている。 - 特許庁

Even when a defect occurs in the photoelectric conversion substrate 12, a radiation image fitting in a specification in relation to the defect can be acquired by cutting a part causing the generation of a defect signal.例文帳に追加

光電変換基板12で欠陥が発生した場合でも、欠陥信号を発生させる原因となっている箇所を切断することで、欠陥に関して規格内に収まる放射線画像を取得できる。 - 特許庁

To provide a steel sheet defect inspection device capable of identifying the kinds of defects generated on a surface and in a surface layer, a defect generated in an inside, and a hole defect.例文帳に追加

本発明は、表面及び表層に発生する欠陥、内部に発生する欠陥、及び穴欠陥の種類を識別することが可能な鋼板欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To properly inspect the defect in a solid-state image pickup element without being affected by a dot defect included in a small signal in the case of inspecting the defect by using the small signal outputted from the solid-state image pickup element.例文帳に追加

固体撮像素子から出力される小信号を用いて欠陥検査を行う場合に、前記小信号に含まれる点状の欠陥の影響を受けることなく適正な検査を行う。 - 特許庁

When the valve closure defect is similarly detected even with the drain valve 20, the drain valve is driven to be forcibly opened and closed several times and if the cause for the valve closure defect is the bite of the foreign matter, the foreign matter is removed and the valve closure defect is automatically repaired.例文帳に追加

排水弁２０についても、同様に閉弁不良が検知されたら強制的に開閉駆動され、異物の噛み込みによる閉弁不良であれば、異物が除去されて自動修復される。 - 特許庁

The CPU (central processing unit) refers to the defect pixel information stored in the memory to set the light-receiving element group having many OB defect pixels to lower sensitivity and the light-receiving element group having a few OB defect pixels to higher sensitivity.例文帳に追加

ＣＰＵは、メモリに記憶された欠陥画素情報を参照して、ＯＢ欠陥画素の多い受光素子群を低感度、ＯＢ欠陥画素の少ない受光素子群を高感度に設定する。 - 特許庁

To provide a processing system for defect information and a processing method for defect information which are capable of analyzing defect information of products on a production line and quickly notifying an operator of the analyzed result.例文帳に追加

製造ラインにおける製品の不具合情報を解析し、解析結果を作業者に速やかに伝達することができる不具合情報の処理システム及び不具合情報の処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device for a metal component, capable of detecting a defect existing in a surface and an inside of the metal component, without using a fluid such as water.例文帳に追加

水等の液体を用いること無く、金属部品の表面及び内部に存在する欠陥を検査することが可能な金属部品の欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

Even the small rugged defect which was difficult to identify in a conventional polarization type surface defect inspection device can thereby be identified with high accuracy, not to mention the small pattern-like defect.例文帳に追加

これによって小さな模様状欠陥は勿論、従来の偏光式表面欠陥検査装置では識別が困難であった小さな凹凸欠陥についても高精度に識別することができる。 - 特許庁

Model defect reproduction information for reproducing the image of the model defect prepared in the preparation process ST100 is stored in a model defect reproduction information storage process ST200.例文帳に追加

モデル欠陥再現情報記憶工程ＳＴ２００においてモデル欠陥作成工程ＳＴ１００にて作成されたモデル欠陥の画像を再現するためのモデル欠陥再現情報を記憶する。 - 特許庁

When a defect (for example, operational defect of a starter 2 or the defect of a belt 5 leading to the breakage of the belt) is detected in this system, an economical running ECU performs the measures against these defects as follows.例文帳に追加

エコランＥＣＵは、本システムに異常（例えばスタータ２の作動異常、あるいはベルト切れに至る様なベルト５の異常等）が検出されると、その異常発生に対する以下の処置を実行する。 - 特許庁

On a detailed display picture plane for a defect, images and displaying order of the images are determined/displayed for displaying so that the features of the defect are saliently shown based on the inspection information, the kind of defect, etc.例文帳に追加

また、欠陥の詳細表示画面において、検査情報や欠陥種類等を基に、その欠陥の特徴を顕著に表すように表示する画像やその画像の表示順序を定め、表示する。 - 特許庁

The defect position is acquired (step 120) by comparing these low magnification images (6) and (7) with each other and the electron beam is deflected to irradiate the defect position to acquire the composition spectrum of the defect (step 121).例文帳に追加

そして、これら低倍画像(６），(７）を比較することにより、欠陥位置を取得し（ステップ１２０）、電子ビームを偏向させてこの欠陥位置に照射し、この欠陥の組成スペクトルを取得する（ステップ１２１）。 - 特許庁

To provide a self discharge defect detection device and a self discharge defect detection method for a secondary battery that can detect self discharge defect without accelerating depletion of the battery in a short time.例文帳に追加

短時間で、かつ、電池の劣化を加速させることなく自己放電不良を検出することができる二次電池の自己放電不良検出装置および自己放電不良検出方法を提供する。 - 特許庁

A p-side crystal defect layer 108 is also formed similarly, and the p-side crystal defect layer 108 and n-side crystal defect layer 107 are formed contiguously and alternately as shown in Fig.1(a).例文帳に追加

ｐ側結晶欠陥層１０８も同様であり、図１（ａ）に示されるように、ｐ側結晶欠陥層１０８とｎ側結晶欠陥層１０７とは隣接して交互に形成されている。 - 特許庁

To provide a learning-type defect detection device, method and program, capable of maintaining the accuracy of defect detection regardless of the size of a defect generated in an inspection object.例文帳に追加

検査対象物に発生する欠陥の大きさにかかわらず欠陥の検出精度を維持可能な学習型の欠陥検出装置、欠陥検出方法および欠陥検出プログラムを提供する。 - 特許庁

To analyze a defect distribution state based on defect data detected by an inspection apparatus and easily identify a defect reason due to an apparatus or a process in a semiconductor wafer manufacturing process.例文帳に追加

半導体ウェーハの製造工程において、検査装置によって検出された欠陥データに基づいて欠陥分布状態解析を行い、装置あるいはプロセス起因の不良原因の特定を容易にする。 - 特許庁

When the defect occurs when data are written in a predetermined recording medium using a plurality of pickups, a pickup which detects the defect reports the occurrence of the defect.例文帳に追加

所定の記録媒体に、複数のピックアップで、データの書き込みを行っているときに、ディフェクトが発生した場合、ディフェクトを検出したピックアップから、ディフェクトが発生したことに関する通知がある。 - 特許庁

An image processing section 12 creates defect feature information showing the feature of the feature of a defect from the image information and decides an irradiation condition when emitting a laser beam according to the defect feature information.例文帳に追加

画像処理部１２は、画像情報から、欠陥の特徴を示す欠陥特徴情報を生成し、欠陥特徴情報に基づいて、レーザ光を照射する際の照射条件を決定する。 - 特許庁

Since the gradation of the test pattern displayed on the screen is changed by a transmission defect of each bit, the defect of the low-order bit and the defect of the high-order bit can be visually judged on the single screen.例文帳に追加

このとき、各ビットの送信不良によって、画面に表示されるテストパターンの階調は変化するため、一画面上で上位ビットの不良と、下位ビットの不良を視覚的に判断できる。 - 特許庁

To attain a stable inspection for a defect even though sensitivity in the defect inspection is different for every inspection head, in the defect inspection method of a disk storage medium such as a magnetic disk.例文帳に追加

磁気ディスクなどのディスク記憶媒体の欠陥検査方法に関し，検査ヘッドごとのＤｅｆｅｃｔ検出感度に差があっても，安定した欠陥検査を可能にすることを目的とする。 - 特許庁

To provide an MLC display having no defect of a conventional technique or only the low level defect even if the defect is present, simultaneously having extremely high specific resistance value, and based on ECB and VA effects.例文帳に追加

従来技術の欠点を有していないか、または有していても小さい程度のみであり、同時に極めて高い比抵抗値を有する、ＥＣＢおよびＶＡ効果に基づくＭＬＣディスプレイを提供する。 - 特許庁

The defect pixel detection section 112b conducts defect pixel discrimination on the basis of priority, where defect pixel objects resident adjacent to each other with lower priority are not discriminated to be defective.例文帳に追加

欠陥画素検出部１１２ｂでは、複数の欠陥画素候補が隣接した場合には優先順位の低いものは欠陥と判定しないという、優先度に基づく欠陥画素判定が行われる。 - 特許庁

(B) In cases where a guided wave has a second frequency, a second group of data for defect quantity estimation are previously found which show relations among the amplitude of a reflected wave, a defect cross-section, and a defect width.例文帳に追加

（Ｂ）ガイド波が第２の周波数を有する場合における、反射波の振幅と、欠損断面積および欠損幅との関係を示す第２の欠損量推定用データを予め求める。 - 特許庁

The evaluation image 52 is binarized to a defect region 52a and a normal region 52b, and the maximum intensity information of the defect region 52a of the evaluation image 52 is outputted to a defect determination circuit 55.例文帳に追加

評価画像５２は、欠陥領域５２ａと正常領域５２ｂとに二値化され、評価画像５２の欠陥領域５２ａの最大強度情報は、欠陥判定回路５５に出力される。 - 特許庁

To provide a defect analysis method and a defect analysis apparatus for a semiconductor apparatus, and a computer program for the same capable of determining defect points, without the comparison with a non-defective product in a noncontact manner by the defective product itself.例文帳に追加

非接触で良品との比較なしに不良品単独で不良箇所を判定できる半導体装置の不良解析方法、不良解析装置、及びそれらのコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

(A) In cases where a guided wave has a first frequency, a first group of data for defect quantity estimation are previously found which show relations among the amplitude of a reflected wave, a defect cross-section, and a defect width.例文帳に追加

（Ａ）ガイド波が第１の周波数を有する場合における、反射波の振幅と、欠損断面積および欠損幅との関係を示す第１の欠損量推定用データを予め求める。 - 特許庁

The detection device detects from an obtianed imaged image, defect pixel candidates in each classification, by using each different detection condition in each classification of a point defect or a line defect detected from the imaged image.例文帳に追加

また、検出装置は、取得した撮像画像から、該撮像画像から検出する点欠陥又は線欠陥の種別ごとに異なる検出条件を用いて種別ごとに欠陥画素候補を検出する。 - 特許庁

The media defect detection circuit 112 can operate to identify a media defect, and the anchor fixing circuit 114 can operate to identify a location based on the criterion of the media defect.例文帳に追加

媒体欠陥検出回路１１２は、媒体欠陥を識別するように動作可能であり、アンカ固定回路１１４は、その媒体欠陥を基準とするロケーションを識別するように動作可能である。 - 特許庁

The projecting defect Wi of the measuring object W is detected as a white defect image in the image of the dark field section W_b imaged by the line sensor camera 2, but the recessed defect is not detected.例文帳に追加

被測定物Ｗの凸状欠陥Ｗｉは、ラインセンサカメラ２によって撮像された暗視野部Ｗ_b の画像の中に白い欠陥画像として検出されるが、凹状欠陥は検出されない。 - 特許庁

To provide a defect reviewing system, a defect reviewing method, a defect analyzing method and a method of manufacturing a semiconductor device by which the purpose of inspection can be limited and a process that generates defects can be easily specified.例文帳に追加

検査目的を限定でき、欠陥の発生する工程を特定することが容易になる欠陥レビュー装置、欠陥レビュー方法及び欠陥解析方法、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect information management method which can collect information on the defect of a product in a store or the like timely, permitting to promptly grasp the product defect occurred in the market.例文帳に追加

販売店等における製品の不具合の情報をタイムリーに収集し、市場で発生している製品の不具合を迅速に把握することが可能な不具合情報管理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection apparatus capable of improving visibility of a small signal defect within a pattern and preventing information in the whole review area from being lost wherever possible.例文帳に追加

パターン中の信号の小さい欠陥の視認性を向上する一方で、レビュー領域全体の情報を可能な限り失わない欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

After the principal surface is subjected to precision processing and to defect inspection, to specify a defect on the principal surface, the polishing process is carried out on the specified defect.例文帳に追加

上記主表面の研磨加工は、当該主表面を精密加工した後欠陥検査を行って当該主表面上の欠陥を特定し、この特定された欠陥に対して実施するものである。 - 特許庁

A defect identification determining part 21 obtains the times of defect detection by determining whether the defects detected by defect inspection devices arranged in a plurality of inspection processes are the same defects or not.例文帳に追加

欠陥同一判定部２１は、複数の検査工程に配置された欠陥検査装置によって検出された欠陥が同一欠陥であるか否かを判定して欠陥検出回数を求める。 - 特許庁

To provide a defect inspection method detecting automatically a defect wherein a foreign matter or the like is intermingled in an object having a plane, especially a defect of film thickness fluctuation on the plane caused by the foreign matter.例文帳に追加

平面を有する対象物に異物などが混入した欠陥、特に異物による平面上の膜厚変動の欠陥を自動的に検出することのできる、欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

Judgment of defect is performed at the time without request of recording or readout, avoiding using of a recording position with possibility for generating the error repeatedly by temporary defect registration of a defect temporary registration means 4.例文帳に追加

ディフェクト仮登録手段４の仮のディフェクト登録によりエラーを繰り返し生ずる恐れのある記録場所の使用を避け、ディフェクトの判定を記録や読み出しの要求のない時に行う構成にした。 - 特許庁

To provide a defect detection device for an optically transparent film, improving a detection rate and a detection efficiency of a defect of the optically transparent film, and suppressing erroneous detection of a defect.例文帳に追加

光透過性フィルムの欠陥の検出率及び検査効率を向上すると共に、欠陥の誤検出を抑制することができる光透過性フィルムの欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a nondestructive defect detection device for a thin sheet capable of detecting a defect generated on the thin sheet in a short time, and detecting even a fine defect generated on the thin sheet.例文帳に追加

薄板に発生した欠陥を短時間で検出することができるとともに、薄板に発生している微細な欠陥までも検出することが可能な薄板の非破壊欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of certainly detecting a defect such as foreign matter or the like having mixed in an object to be detected without being affected by the shape of the object to be detected or the position of the defect.例文帳に追加

検出対象の形状や、欠点の位置に影響されず、検出対象に混入している異物等の欠点を確実に検出することができる欠点検出装置を提供する。 - 特許庁