Defectを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 18303件
METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR DETERMINATION OF CONTINUOUS DEFECT例文帳に追加
連続欠陥判定方法、連続欠陥判定装置及びプログラム - 特許庁
DEFECT CORRECTING METHOD FOR TRANSLUCENT MESH ELECTROMAGNETIC WAVE SHIELD MATERIAL例文帳に追加
透光性メッシュ電磁波シールド材料の欠陥修正方法 - 特許庁
LIQUID MATERIAL APPLYING UNIT AND FINE PATTERN DEFECT CORRECTING APPARATUS例文帳に追加
液体材料塗布ユニットおよび微細パターン欠陥修正装置 - 特許庁
NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD FOR DETECTING LEAKAGE DEFECT OF THE SAME例文帳に追加
不揮発性半導体メモリ及びそのリーク不良検出方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT IN SOLID-STATE IMAGE DEVICE例文帳に追加
固体撮像素子の欠陥補正装置および欠陥補正方法 - 特許庁
To prevent occurrence of defect of an image by fusion of a developing agent.例文帳に追加
現像剤の融着による画像欠陥の発生を防止する。 - 特許庁
PIXEL DEFECT DETECTION/CORRECTION DEVICE AND IMAGE PICK- UP DEVICE USING THE SAME例文帳に追加
画素キズ検出・補正装置およびそれを用いた撮像装置 - 特許庁
COLORED PHOTOSENSITIVE COMPOSITION FOR CORRECTION OF DEFECT AND COLOR FILTER例文帳に追加
欠陥修正用着色感光性組成物およびカラーフィルター - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT IN LIGHT TRANSMISSION OPTICAL FILM例文帳に追加
光透過性光学膜の欠陥検査方法および同装置 - 特許庁
To predict the defect which may be induced by washing after inspection.例文帳に追加
検査後の洗浄により生ずるであろう欠陥を予測する。 - 特許庁
GETTERING OF HIGH DIELECTRIC CONSTANT GATE DIELECTRICS DEFECT USING DOPANT例文帳に追加
ドーパントを用いる高誘電率ゲート誘電体欠陥のゲッタリング - 特許庁
To solve defect of a conventional technique of continuous hydrosilylation.例文帳に追加
連続的ヒドロシリル化の従来技術の欠点を解消する。 - 特許庁
TEST OF SEMICONDUCTOR MEMORY, DEFECT RELIEVING METHOD, AND SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加
半導体メモリの検査、欠陥救済方法、及び半導体メモリ - 特許庁
AUTOMATIC WELDING, DEFECT REPAIR METHOD AND AUTOMATIC WELDING EQUIPMENT例文帳に追加
自動溶接及び欠陥補修方法並びに自動溶接装置 - 特許庁
DESTATICIZING METHOD OF ELECTRON BEAM DEFECT CORRECTION DEVICE AND ITS DEVICE例文帳に追加
電子ビーム欠陥修正装置の除電方法およびその装置 - 特許庁
ELECTRODE MITIGATING EFFECT OF DEFECT IN ORGANIC ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加
有機電子デバイスにおける欠陥の影響を軽減する電極 - 特許庁
To decrease influences of a sector interface as a crystal defect.例文帳に追加
結晶欠陥であるセクタ境界面の影響を低減する。 - 特許庁
COMPACT COLUMN ELECTRON MICROSCOPE COMBINED DEVICE, AND DEFECT OBSERVATION METHOD例文帳に追加
小型カラム電子顕微鏡複合装置及び欠陥観察方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND DETECTION METHOD FOR ITS SHORT DEFECT LOCATION例文帳に追加
半導体装置およびそのショート欠陥箇所の検出方法 - 特許庁
To properly convert coordinates of a defect detected on a wafer.例文帳に追加
ウェハで検出された欠陥の座標を適正に変換する。 - 特許庁
QUALITY DEFECT DATA REFERENCE SUPPORT APPARATUS IN DESIGNING CIRCUIT BLOCK例文帳に追加
回路ブロック設計における品質不良データ参照支援装置 - 特許庁
GENE DEFECT METHOD ACETIC ACID BACTERIUM NOT INSERTED WITH EXOGENOUS DNA例文帳に追加
外来DNAを挿入しない酢酸菌の遺伝子欠損法 - 特許庁
WAVELENGTH CONVERSION OPTICAL SYSTEM, LASER APPARATUS AND MASK DEFECT INSPECTING MACHINE例文帳に追加
波長変換光学系、レーザ装置、及びマスク欠陥検査装置 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING SILICON SEMICONDUCTOR WAFER HAVING LOW DEFECT DENSITY例文帳に追加
低欠陥密度を有するシリコン半導体ウエハの製造方法 - 特許庁
METHOD FOR CORRECTING AMPLITUDE DEFECT IN MULTILAYER FILM OF EUVL MASK例文帳に追加
EUVLマスクの多層膜中の振幅欠陥修正方法 - 特許庁
MIRROR ELECTRON MICROSCOPE, AND PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE USING IT例文帳に追加
ミラー電子顕微鏡及びそれを用いたパターン欠陥検査装置 - 特許庁
CORRECTION METHOD OF ISOLATED BLACK DEFECT OF PHOTOMASK AND ITS DEVICE例文帳に追加
フォトマスクの孤立した黒欠陥修正方法およびその装置 - 特許庁
APPARATUS FOR INSPECTING GROUT DEFECT OF PC STEEL MATERIAL BY NEUTRON BEAM例文帳に追加
中性子線によるPC鋼材のグラウト欠陥検査装置 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING POINT DEFECT DISTRIBUTION OF SILICON MONOCRYSTAL INGOT例文帳に追加
シリコン単結晶インゴットの点欠陥分布を測定する方法 - 特許庁
speech defect involving excessive use or unusual pronunciation of the phoneme `l' 例文帳に追加
音素『l』の過度に使用したり異常に発音する言語障害 - 日本語WordNet
hemophilia is determined by a gene defect on an X chromosome 例文帳に追加
血友病はX染色体の遺伝子欠陥によって決定する - 日本語WordNet
visual defect in which objects appear to have a yellowish hue 例文帳に追加
物が黄ばんでいる色を持っているように見える視覚障害 - 日本語WordNet
a defect of an optical system, called astigmatism 例文帳に追加
物理光学における非点収差という,レンズなどの収差現象 - EDR日英対訳辞書
a defect in a crystal of a semiconductor due to an electron having left its normal position 例文帳に追加
半導体の結晶で,原子価電子が欠けてできた孔 - EDR日英対訳辞書
PRODUCTION FOR SOFT PACKAGE MATERIAL AND DEFECT INFORMATION TRANSMITTING DEVICE例文帳に追加
軟包装材料の生産方法及び不良情報伝達装置 - 特許庁
ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, AND DISPLAY DEVICE, AND ITS DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加
アクティブマトリクス基板、表示装置およびその欠陥修正方法 - 特許庁
METHOD FOR CORRECTING MASK DEFECT AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
マスク欠陥修正方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
DEFECT CORRECTION METHOD AND DEVICE USING LASER BEAM例文帳に追加
レーザ光による欠陥修正方法および欠陥修正装置 - 特許庁
SIMULATION DEFECT SAMPLE AND SENSITIVITY DETECTING METHOD FOR DEFECTIVE INSPECTING DEVICE例文帳に追加
模擬欠陥サンプル及び欠陥検査装置の感度検出方法 - 特許庁
To obtain high production efficiency while reducing mounting defect.例文帳に追加
実装不良の低減を図りながら高い生産効率を得る。 - 特許庁
DEFECT MONITORING DEVICE AND SECONDARY BATTERY STORAGE SHELF PROVIDED WITH THE SAME例文帳に追加
異常監視装置及び該装置を備えた二次電池収容棚 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING REORIENTED Si OF LOW DEFECT DENSITY例文帳に追加
配向変更された低欠陥密度のSiを製造する方法 - 特許庁
To suppress the occurrence of a defect in the base of a thin film (mask layer).例文帳に追加
薄膜(マスク層)の下地に欠陥が発生するのを抑える。 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING OPTICAL WAVEGUIDE, AND DEVICE FOR GENERATING GLASS DEFECT例文帳に追加
光導波路の製造方法およびガラス欠陥生成装置 - 特許庁
METHOD FOR CORRECTING DEFECT ON COLOR FILTER SUBSTRATE, AND COLOR FILTER SUBSTRATE例文帳に追加
カラーフィルタ基板の欠陥修正方法およびカラーフィルタ基板 - 特許庁
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