Defectを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 18303件
DEFECT CORRECTION METHOD OF COLOR FILTER SUBSTRATE, AND COLOR FILTER SUBSTRATE例文帳に追加
カラーフィルタ基板の欠陥修正方法及びカラーフィルタ基板 - 特許庁
DEFECT RELIEVING DISCRIMINATING CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD THEREFOR例文帳に追加
半導体メモリの欠陥救済判定回路および方法 - 特許庁
MAGNETIC DISK DEFECT TEST METHOD, PROTRUSION TEST DEVICE, AND GLIDE TESTER例文帳に追加
ディスク欠陥検査方法、突起検査装置およびグライドテスタ - 特許庁
To provide a defect inspecting method and its device accurately detecting a defect due to plastic working of a laminated sheet material.例文帳に追加
ラミネートシート材の塑性加工による欠陥を精度よく検出する欠陥検査方法とその装置を提供すること。 - 特許庁
A determining part 52 acquires a plurality of defect element pairs constituted of the deflect elements derived from the same defect.例文帳に追加
判定部52では、同一欠陥に由来する欠陥要素により構成される複数の欠陥要素ペアが取得される。 - 特許庁
To perform the control made to correspond to dust or a defect by discriminating dust (a mote, a scratch) on the surface of a disk from the defect on a recording surface.例文帳に追加
ディスク表面のゴミ(埃、傷)と記録面のディフェクトを識別して、ゴミ、ディフェクトに対応した制御を行う。 - 特許庁
DATA STRUCTURE OF DEFECT MANAGEMENT INFORMATION IN OPTICAL RECORDING MEDIUM例文帳に追加
光記録媒体における欠陥管理情報のデータ構造 - 特許庁
SPECIFYING METHOD AND INSPECTION SYSTEM FOR PERIODIC DEFECT OCCURRENCE PART例文帳に追加
周期欠陥発生箇所の特定方法および検査システム - 特許庁
To provide a defect inspection apparatus by which a defect can be inspected with high throughput even when a charged particle beam is used.例文帳に追加
荷電粒子線ビームを用いた場合でも高スループットで欠陥の検査が可能な欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR MONITORING DEFECT OF SEAMED SECTION OF DRUM例文帳に追加
ドラム缶の巻締部の欠陥監視装置および監視方法 - 特許庁
Laser is irradiated on a short-circuit defect part of an organic electroluminescent layer of a non-luminescent pixel to insulate the short-circuit defect part.例文帳に追加
滅点画素の有機エレクトロルミネッセンス層のショート欠陥部分にレーザを照射して、該ショート欠陥部分を絶縁化する。 - 特許庁
DEFECT DATA ANALYTIC METHOD, APPARATUS FOR THE SAME AND REVIEW SYSTEM例文帳に追加
欠陥データ解析方法及びその装置並びにレビューシステム - 特許庁
AUTOMATIC WELDING DEFECT DETECTING METHOD IN RADIOGRAPHIC INSPECTION例文帳に追加
放射線透過検査における溶接欠陥自動検出法 - 特許庁
METHOD FOR SOLVING DISPLAY DEFECT OF NEMATIC LIQUID CRYSTAL DISPLAY ELEMENT例文帳に追加
ネマティック液晶表示素子の表示不良解決方法 - 特許庁
RADIOGRAPHING APPARATUS AND IMAGE DEFECT DISCRIMINATING METHOD例文帳に追加
放射線画像撮影装置および画像欠陥識別方法 - 特許庁
DEFECT-CORRECTING METHOD FOR PHASE SHIFT MASK, AND DEVICE FOR THE SAME例文帳に追加
位相シフトマスクの欠陥修正方法およびその装置 - 特許庁
METHOD FOR CORRECTING DEFECT IN GRAY TONE PART IN GRAY TONE MASK例文帳に追加
グレートーンマスクにおけるグレートーン部の欠陥修正方法 - 特許庁
REPEAT PATTERN ERASING METHOD AND PATTERN DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加
繰り返しパターン消去方法及びパターン欠陥検査装置 - 特許庁
CHEMICAL MECHANICAL POLISHING PAD HAVING BUILT-IN WINDOW WITH LOW DEFECT例文帳に追加
低欠陥の一体型窓を有する化学機械研磨パッド - 特許庁
To improve the detection accuracy of an adjacent defect line.例文帳に追加
隣接欠陥ラインの検出精度の向上を実現する。 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD OF ELECTROLUMINESCENT DISPLAY, DEFECT CORRECTION METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTROLUMINESCENT DISPLAY例文帳に追加
エレクトロルミネッセンス表示装置の欠陥検査方法及び欠陥修正方法及びエレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法 - 特許庁
METHOD OF INSPECTING COIL AND DEVICE FOR PREPARING POSITIONAL INFORMATION OF DEFECT例文帳に追加
コイルの検査方法及び欠陥位置情報作成装置 - 特許庁
APPARATUS FOR DETECTING SURFACE DEFECT OF METAL STRIP DURING RUNNING例文帳に追加
走行中の金属ストリップの表面欠陥検出装置 - 特許庁
A photographed image with high image quality is obtained, by reading the defect information at photographing and interpolating of the defect.例文帳に追加
この欠陥情報を撮影時において読み出し、欠陥を補間することによって、高画質の撮影画像が得られる。 - 特許庁
To efficiently suppress a false defect and to carry out reticle inspection where a defect is detected with high detection sensitivity.例文帳に追加
本発明は、効率良く擬似欠陥を抑制し、高い検出感度で欠陥検出可能なレチクル検査を実現する。 - 特許庁
DEFECT INSPECTING METHOD AND APPARATUS BY IMAGE PROCESSING例文帳に追加
画像処理による欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁
To prevent tearing by biting and defect of gripping at a tenter clip from occurring.例文帳に追加
テンタークリップでの噛みちぎりと把持不良とを防止する。 - 特許庁
ILLUMINATING DEVICE AND DEFECT INSPECTION DEVICE USING SAME例文帳に追加
照明装置およびこの装置を用いた欠陥検査装置 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR DETECTING AND DISPLAYING DEFECT例文帳に追加
欠陥検出表示システムおよび欠陥検出表示方法 - 特許庁
To precisely remove the effect of a defect resulting from defective pixels.例文帳に追加
傷画素から傷による影響を精度よく除去できる。 - 特許庁
METHOD AND PROGRAM FOR DETECTING DEFECT AND INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
欠陥検出方法、欠陥検出プログラムおよび検査装置 - 特許庁
LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR RELIEVING DOT DEFECT THEREOF例文帳に追加
液晶表示装置およびその点欠陥救済方法 - 特許庁
The optical disk 1 includes a defect management area (DMS).例文帳に追加
光ディスクには、一時的欠陥管理領域(DMA)が存在する。 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD AND PROGRAM OF PERPENDICULAR MAGNETIC RECORDING MEDIUM例文帳に追加
垂直磁気記録媒体の欠陥検査方法およびプログラム - 特許庁
The defect inspecting apparatus 10 images an object (the printed material) 12, and inspects the defect using a computer 16.例文帳に追加
本発明に係る欠陥検査装置10は、被写体(印刷物)12を撮影し、コンピュータ16によって欠陥を検査する。 - 特許庁
DEFECT CORRECTING METHOD OF ELECTRONIC CIRCUIT PATTERN, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加
電子回路パターンの欠陥修正方法およびその装置 - 特許庁
DEFECT DETECTING DEVICE AND ELECTRIC POWER STEERING DEVICE例文帳に追加
歯車の損傷検出装置及び電動パワーステアリング装置 - 特許庁
To provide a defect patch device and method that patches a defect in the heart or other cardiovascular tissue.例文帳に追加
心臓又はその他の心管系組織にある欠損部にパッチを当てる欠損部パッチ用の装置及び方法の提供。 - 特許庁
To realize a resizing process with high accuracy and improve defect detection sensitivity in a defect inspecting device.例文帳に追加
欠陥検査装置におけるリサイズ処理を高い精度で実現することができ、欠陥検出感度の向上をはかる。 - 特許庁
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