「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(46ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND SYSTEM FOR INSPECTING DEFECT OF SUBSTRATE例文帳に追加

基板の欠陥検査方法および基板の欠陥検査システム - 特許庁

METHOD OF CORRECTING DEFECT OF MASK AND METHOD OF MANUFACTURING THE MASK例文帳に追加

マスクの欠陥修正方法およびマスクの製造方法 - 特許庁

SYSTEM FOR DISPLAYING AND CONTROLLING DEFECT IN OPTICAL RECORDING MEDIUM例文帳に追加

光記録媒体における欠陥表示及び管理方式 - 特許庁

DEFECT INSPECTING METHOD OF INTEGRATED CIRCUIT PATTERN, AND DEVICE FOR SAME例文帳に追加

集積回路パターンの欠陥検査方法、及びその装置 - 特許庁

To accurately detect the defect of the surface of a spherical transparent body, such as a glass ball, regardless of the shape of the defect.例文帳に追加

例えばガラス玉などの球状透明体表面の欠陥を、その欠陥の形状によらず正確に検出する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus and an inspection method for simultaneously detecting a phase defect and a pattern defect or a foreign substance.例文帳に追加

位相欠陥と、パターン欠陥または異物とを、同時に検出可能な検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

To shorten a period of time required to acquire a signal for use in defect detection, without lowering the precision of defect detection.例文帳に追加

欠陥の検出精度を下げることなく、欠陥検出に用いる信号を取得されるまでの時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a defect detector and a defect detection method having improved accuracy in detecting defects in a formed part.例文帳に追加

成形部の欠陥の検出精度を向上させた欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of ultrasonic flaw detection/examination for improving defect detection by facilitating detection of a defect waveform.例文帳に追加

欠陥波形の検出を容易に行い、欠陥の探傷を向上できる超音波探傷試験方法を提供する。 - 特許庁

A dual charged-particle beam system is automatically navigated to the vicinity of defect location using information from the defect file.例文帳に追加

複式荷電粒子ビームシステムが、欠陥ファイルからの情報を用いて、自動的にその欠陥位置の近傍にナビゲートされる。 - 特許庁

(A) Data for defect quantity estimation are previously found which show a relation between the defect quantities of the inspected body and the size of the reflected wave.例文帳に追加

（Ａ）検査体の欠損量と反射波の大きさとの関係を示す欠損量推定用データを予め求める。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR ANALYZING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置及び半導体装置の不良解析方法 - 特許庁

CONTACT DEFECT INSPECTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND DEVICE THEREOF例文帳に追加

半導体デバイスのコンタクト不良検査方法及びその装置 - 特許庁

To make defect correction with sufficient accuracy even to the defect wherein complicated correction work is required and its difficulty is high.例文帳に追加

複雑な修正作業を要する難易度の高い欠陥に対しても精度良く欠陥修正を行えるようにする。 - 特許庁

To prevent paper wrinkling and a defect in fixation (hence, an image defect) by improving conveying properties for a paper and a belt.例文帳に追加

用紙及びベルトの搬送性を向上させ、用紙のしわ及び定着不良（したがって画像不良）を防止すること。 - 特許庁

OBSERVATION METHOD OF SURFACE DEFECT OF NITRIDE COMPOUND SEMICONDUCTOR例文帳に追加

ナイトライド系化合物半導体の表面欠陥観察法 - 特許庁

METHOD FOR REGISTERING DEFECT OF MAGNETIC DISK, AND MAGNETIC DISK APPARATUS例文帳に追加

磁気ディスクの欠陥登録の方法及び磁気ディスク装置 - 特許庁

Further, when the operator conducts it inputting with visually checking existence of a surface defect, defect marking is done to a corresponding position.例文帳に追加

そして、オペレータが表面欠陥の存在を目視確認して入力すると、対応する位置に欠陥マーキングがなされる。 - 特許庁

Data of leak current values are totaled for the entire wafer, and a degree of a defect for the entire wafer is calculated as a defect rate.例文帳に追加

リーク電流値のデータをウェハ全体で集計し、ウェハ全体の不良の度合いを不良率として算出する。 - 特許庁

By comparing a pixel obtained by these circuits and the value of the black defect or white defect level register 10 or 12, a detective pixel is specified.例文帳に追加

これにより得られる画素と、黒キズまたは白キズレベルレジスタ１０，１２との値を比較し、欠陥画素を特定する。 - 特許庁

LAMINATE FILM HAVING PRINT PART FACILITATING DETECTION OF PRINT DEFECT例文帳に追加

印刷欠陥検知が容易な印字部を有する積層フィルム - 特許庁

The detected defect signals are transmitted to defect discrimination devices 13a, 13b, and each frequency component thereof is calculated.例文帳に追加

さらに、検出された欠陥信号は、欠陥弁別装置１３ａ、１３ｂに送られ、その周波数成分が計算される。 - 特許庁

An occurrence rate calculation part 114 calculates a defect occurrence rate as the detection frequency of the defect per unit operation amount.例文帳に追加

発生率算出部１１４は、単位稼動量あたりの不具合の検知回数として不具合発生率を算出する。 - 特許庁

A probe 1 is pressed against the excess defect 3 of the photomask.例文帳に追加

探針１をフォトマスクの余剰欠陥３に押しつける。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE OF MASK SUBSTRATE, MANUFACTURING METHOD OF PHOTO MASK, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

マスク基板の欠陥検査方法及び欠陥検査装置、フォトマスクの製造方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

To reduce defect density in a semiconductor element substrate.例文帳に追加

半導体素子用基板において、欠陥密度を低減する。 - 特許庁

Consequently, occurrence of a bridge defect or icicle defect between adjacent electrode leads 6 can be suppressed.例文帳に追加

これにより、隣り合う電極リード６の間にブリッジ不良またはツララ不良が発生することを抑制することができる。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE PROVIDED WITH WORD LINE DEFECT CHECK CIRCUIT例文帳に追加

ワードライン欠陥チェック回路を具備した半導体メモリ装置 - 特許庁

CRADLE, IMAGING APPARATUS, IMAGING SYSTEM, AND DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

クレードル、撮像装置、撮像システム、および欠陥検出方法 - 特許庁

Timing of additional registration itself is basically optional provided that it is after the defect detection even when it is before or after defect compensation.例文帳に追加

追加登録タイミング自体は欠陥補償の前でも後でも、欠陥検出以後なら基本的には任意である。 - 特許庁

A defect correcting circuit 44 corrects the pixel part detected as the defective pixels by the defect detecting circuit 41.例文帳に追加

欠陥補正回路４４では、欠陥検出回路４１で欠陥画素と検出された画素部に対して補正が行われる。 - 特許庁

ADJUSTING METHOD FOR PHOTOGRAPHING TIMING IN SURFACE DEFECT INSPECTION例文帳に追加

表面欠陥検査における撮影タイミングの調整方法 - 特許庁

If the defect is not remedied within the said time-limit, the Patent Office itself may cause the defect to be remedied. 例文帳に追加

瑕疵が当該期限内に補正されない場合には，特許庁自ら当該瑕疵を他の者に補正させることができる。 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING SURFACE DEFECT OF METAL ROLL, AND ITS DEVICE例文帳に追加

金属ロールの表面欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

Upon receiving the defect content, the receiver 7 reproduces the original content by using the defect content and down- loaded content.例文帳に追加

欠損コンテンツの供給を受けた受信装置７は、欠損コンテンツとダウンロードコンテンツを用いてコンテンツの再生を行う。 - 特許庁

CORRECTION DEVICE, AND ELECTRONIC CIRCUIT PATTERN DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加

修正装置及び電子回路のパターン欠陥修正方法 - 特許庁

TFT ARRAY INSPECTION DEVICE AND DEFECT INTENSITY CALCULATION METHOD例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査装置および欠陥強度算出方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD OF ELIMINATING OR REDUCING IMAGE DEFECT IN DIGITAL CAMERA例文帳に追加

デジタルカメラにおける画像欠陥の解消又は軽減方法 - 特許庁

PHOTOMASK DEFECT CORRECTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

フォトマスク欠陥修正装置及びフォトマスク欠陥修正方法 - 特許庁

RECORDING MEDIUM, IMAGE FORMING APPARATUS, IMAGE DEFECT POSITION DETERMINATION DEVICE, IMAGE FORMATION PROGRAM, AND IMAGE DEFECT POSITION DETERMINATION PROGRAM例文帳に追加

記録媒体、画像形成装置、画像欠陥位置判定装置、画像形成プログラム、及び画像欠陥位置判定プログラム - 特許庁

To provide a defect information management method for a steel material for surely removing a defect in the steel material.例文帳に追加

鋼材中の欠陥除去を確実なものとする鋼材の欠陥情報管理方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE AND CONTROL PROGRAM RECORDING MEDIUM例文帳に追加

表面欠陥検査装置及び制御プログラム記録媒体 - 特許庁

ALIGNMENT APPARATUS, DEFECT DETECTION DEVICE AND ALIGNMENT METHOD例文帳に追加

位置合わせ装置、欠陥検出装置、および位置合わせ方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD AND DEFECT INSPECTING MACHINE FOR PLASMA ADDRESS DISPLAY DEVICE例文帳に追加

プラズマアドレス表示装置の製造方法及び欠陥検査機 - 特許庁