「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(46ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING CRYSTAL DEFECT例文帳に追加

結晶欠陥の評価方法及び結晶欠陥評価装置 - 特許庁

PRODUCTION OF STAINLESS STEEL STRIP SMALL IN SURFACE MICRO- DEFECT例文帳に追加

表面微小欠陥の少ないステンレス鋼帯の製造法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR ANALYZING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置及び半導体装置の不良解析方法 - 特許庁

CONTACT DEFECT INSPECTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND DEVICE THEREOF例文帳に追加

半導体デバイスのコンタクト不良検査方法及びその装置 - 特許庁

To make defect correction with sufficient accuracy even to the defect wherein complicated correction work is required and its difficulty is high.例文帳に追加

複雑な修正作業を要する難易度の高い欠陥に対しても精度良く欠陥修正を行えるようにする。 - 特許庁

To prevent paper wrinkling and a defect in fixation (hence, an image defect) by improving conveying properties for a paper and a belt.例文帳に追加

用紙及びベルトの搬送性を向上させ、用紙のしわ及び定着不良（したがって画像不良）を防止すること。 - 特許庁

OBSERVATION METHOD OF SURFACE DEFECT OF NITRIDE COMPOUND SEMICONDUCTOR例文帳に追加

ナイトライド系化合物半導体の表面欠陥観察法 - 特許庁

METHOD FOR REGISTERING DEFECT OF MAGNETIC DISK, AND MAGNETIC DISK APPARATUS例文帳に追加

磁気ディスクの欠陥登録の方法及び磁気ディスク装置 - 特許庁

Further, when the operator conducts it inputting with visually checking existence of a surface defect, defect marking is done to a corresponding position.例文帳に追加

そして、オペレータが表面欠陥の存在を目視確認して入力すると、対応する位置に欠陥マーキングがなされる。 - 特許庁

Data of leak current values are totaled for the entire wafer, and a degree of a defect for the entire wafer is calculated as a defect rate.例文帳に追加

リーク電流値のデータをウェハ全体で集計し、ウェハ全体の不良の度合いを不良率として算出する。 - 特許庁

To measure an internal defect of a sample with high resolution without breaking the sample.例文帳に追加

試料の内部欠陥を高い分解能で測定する。 - 特許庁

To provide an AIN layer of large area with small defect density.例文帳に追加

欠陥密度が小さく且つ大面積のＡｌＮ層を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a structure that can detect a short-circuit defect and an opening defect of a through electrode in a chip or a wafer.例文帳に追加

貫通電極のショート不良およびオープン不良をチップまたはウェハ状態で検出可能な構造とする。 - 特許庁

A recipe is then determined for further analysis of the defect.例文帳に追加

次いで、欠陥の更なる分析のためにレシピが決められる。 - 特許庁

WAFER DEFECT DETECTION SYSTEM WITH TRAVELING LENS MULTI-BEAM SCANNER例文帳に追加

移動レンズマルチビームスキャナを備えたウェハ欠陥検出システム - 特許庁

To detect even a small defect with high throughput.例文帳に追加

小さな欠陥であっても高スループットで検出可能にする。 - 特許庁

Thereby, the luminance of the pixel 21a of the bright spot defect is reduced.例文帳に追加

これにより、輝点不良の画素２１ａの輝度が下がる。 - 特許庁

To realize an inspection device capable of individually detecting a step bunching and a defect other than the step bunching such as a lattice defect.例文帳に追加

格子欠陥等のステップバンチング以外の欠陥とステップバンチングとを個別に検出できる検査装置を実現する。 - 特許庁

IMAGE SIGNAL PROCESSING APPARATUS AND DETECTION METHOD OF PIXEL DEFECT例文帳に追加

画像信号処理装置及び画素欠陥の検出方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND DEFECT RELIEVING METHOD USING IT例文帳に追加

半導体記憶装置とそれを用いた欠陥救済方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND PROGRAM OF PERPENDICULAR MAGNETIC RECORDING MEDIUM例文帳に追加

垂直磁気記録媒体の欠陥検査方法およびプログラム - 特許庁

The defect inspecting apparatus 10 images an object (the printed material) 12, and inspects the defect using a computer 16.例文帳に追加

本発明に係る欠陥検査装置１０は、被写体（印刷物）１２を撮影し、コンピュータ１６によって欠陥を検査する。 - 特許庁

DEFECT CORRECTING METHOD OF ELECTRONIC CIRCUIT PATTERN, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

電子回路パターンの欠陥修正方法およびその装置 - 特許庁

DEFECT DETECTING DEVICE AND ELECTRIC POWER STEERING DEVICE例文帳に追加

歯車の損傷検出装置及び電動パワーステアリング装置 - 特許庁

To provide a defect patch device and method that patches a defect in the heart or other cardiovascular tissue.例文帳に追加

心臓又はその他の心管系組織にある欠損部にパッチを当てる欠損部パッチ用の装置及び方法の提供。 - 特許庁

METHOD AND EQUIPMENT FOR INSPECTING DEFECT OF POROUS CERAMIC MEMBER例文帳に追加

多孔質セラミック部材の欠陥検査方法及び検査装置 - 特許庁

To provide a pattern inspection device which eliminates an erroneous detection of false defect macroscopically, and enables high defect detection accuracy microscopically.例文帳に追加

マクロには擬似欠陥の誤検出がなく、ミクロには欠陥検出精度が高いパターン検査装置を提供する。 - 特許庁

ELECTRONIC COMPONENT MOUNTING DEVICE, AND BONDING DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

電子部品実装装置及び接合不良検出方法 - 特許庁

To realize a resizing process with high accuracy and improve defect detection sensitivity in a defect inspecting device.例文帳に追加

欠陥検査装置におけるリサイズ処理を高い精度で実現することができ、欠陥検出感度の向上をはかる。 - 特許庁

PRESSURE RESERVOIR USED BY HYDRAULIC SYSTEM WITH IMPROVED DEFECT DETECTION AND DEFECT DETECTION METHOD IN RESERVOIR例文帳に追加

欠陥認知が改善された、ハイドロリックシステムに用いられる圧力リザーバならびにリザーバにおける欠陥認知のための方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of efficiently classifying a defect with high precision without taking labor.例文帳に追加

欠陥を分類するのに手間を掛けずに効率良く高精度に欠陥分類できる欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

To remove a black defect with less over etching by detecting a finish point by an AFM (Atomic Force Microscope) photomask defect correcting apparatus.例文帳に追加

ＡＦＭフォトマスク欠陥修正装置で終点検出によりオーバーエッチングの少ない黒欠陥除去を行う。 - 特許庁

To detect a defect caused by a manufacturing process or a manufacturing device and to specify the process causing the defect.例文帳に追加

製造プロセス又は製造装置に起因した不良の検出を可能とし、不良の原因となったプロセスを特定する。 - 特許庁

CHANNEL CIRCUIT AND DEFECT DETECTION METHOD OF MAGNETIC DISK DEVICE例文帳に追加

チャネル回路及び磁気ディスク装置の欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

If the defect is not remedied within the said time-limit, the Patent Office itself may cause the defect to be remedied. 例文帳に追加

瑕疵が当該期限内に補正されない場合には，特許庁自ら当該瑕疵を他の者に補正させることができる。 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING SURFACE DEFECT OF METAL ROLL, AND ITS DEVICE例文帳に追加

金属ロールの表面欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

Upon receiving the defect content, the receiver 7 reproduces the original content by using the defect content and down- loaded content.例文帳に追加

欠損コンテンツの供給を受けた受信装置７は、欠損コンテンツとダウンロードコンテンツを用いてコンテンツの再生を行う。 - 特許庁

WITHSTAND VOLTAGE DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

耐電圧不良検出方法及び耐電圧不良検出装置 - 特許庁

CORRECTION DEVICE, AND ELECTRONIC CIRCUIT PATTERN DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加

修正装置及び電子回路のパターン欠陥修正方法 - 特許庁

TFT ARRAY INSPECTION DEVICE AND DEFECT INTENSITY CALCULATION METHOD例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査装置および欠陥強度算出方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD OF ELIMINATING OR REDUCING IMAGE DEFECT IN DIGITAL CAMERA例文帳に追加

デジタルカメラにおける画像欠陥の解消又は軽減方法 - 特許庁

PHOTOMASK DEFECT CORRECTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

フォトマスク欠陥修正装置及びフォトマスク欠陥修正方法 - 特許庁

RECORDING MEDIUM, IMAGE FORMING APPARATUS, IMAGE DEFECT POSITION DETERMINATION DEVICE, IMAGE FORMATION PROGRAM, AND IMAGE DEFECT POSITION DETERMINATION PROGRAM例文帳に追加

記録媒体、画像形成装置、画像欠陥位置判定装置、画像形成プログラム、及び画像欠陥位置判定プログラム - 特許庁