「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(39ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF MAGNETIC DISK AND MAGNETIC DISK CERTIFIER例文帳に追加

磁気ディスク欠陥検査方法および磁気ディスクサーテファイア - 特許庁

To surely fetch an image of a single defect.例文帳に追加

単発欠陥の画像を確実に切り出せるようにする。 - 特許庁

The method is provided with a defect information storage means 35 for storing a defect point correlating with a portion of an education material.例文帳に追加

教材箇所と関連付けて不具合点数を格納した不具合情報記憶手段３５を具備する。 - 特許庁

OPTICAL DISK DRIVE HAVING ENVELOPE DEFECT DETECTION FUNCTION例文帳に追加

包絡線異常検出機能を備えた光ディスクドライブ - 特許庁

Final defect distributions on each substrate are sorted into defect-distribution patterns P1 and P2 by using final defect-distribution information in a final inspection process 10g.例文帳に追加

最終検査工程１０ｇにおける最終欠陥分布情報を用いて、各基板上の最終欠陥分布を欠陥分布パターンＰ１、Ｐ２毎に分類する。 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, PATTERN DEFECT INSPECTING TEST PATTERN BOARD, PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE, PHOTO MASK MANUFACTURING METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING DISPLAY DEVICE SUBSTRATE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法、パターン欠陥検査用テストパターン基板、及びパターン欠陥検査装置、並びにフォトマスクの製造方法、及び表示デバイス用基板の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING CLEARING OF YARN DEFECT AND DEVICE FOR PROCESSING YARN例文帳に追加

糸欠点のクリアリング判定方法と糸処理装置 - 特許庁

The processing means includes functions to extract the defect information on the identical defect imaged by different camera devices from the position information and output the clipped images (defect images) as to the extracted defect simultaneously to an identical display screen (defect time series display screen shown in the figure).例文帳に追加

処理手段は、位置情報に基づき異なるカメラ装置で撮像された同一の欠陥についての欠陥情報を抽出し、その抽出した欠陥について切り出した画像（欠陥画像）を同一の表示画面（図に示す欠陥時系列表示画面）に同時に出力する機能を備えた。 - 特許庁

Rank determination of the liquid crystal panel is performed based on a defect area of the irregular defect and average brightness detected in the irregular defect detection process (ST300) (rank determination process ST400).例文帳に追加

ムラ欠陥検出工程（ＳＴ３００）にて検出されたムラ欠陥の欠陥面積、平均輝度に基づいて液晶パネルをランク判定する（ランク判定工程ＳＴ４００）。 - 特許庁

To detect a defect on an optical disk more accurately.例文帳に追加

光ディスク上のディフェクトをより正確に検出する。 - 特許庁

TEST PATTERN WAFER FOR DEFECT INSPECTING DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND EVALUATION METHOD OF DEFECT INSPECTION APPARATUS USING IT例文帳に追加

欠陥検査装置用テストパターンウエハ、その製造方法及びそれを用いた欠陥検査装置の評価方法 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING CRYSTAL DEFECT OF SILICON SINGLE-CRYSTAL WAFER例文帳に追加

シリコン単結晶ウエーハの結晶欠陥の評価方法 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL, AND PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD THEREFOR例文帳に追加

液晶ディスプレイパネル及びその画素欠陥修正方法 - 特許庁

To accurately evaluate the defect detection sensitivity of an inspection apparatus for a defect in a mask pattern by suppressing influences of the shift of a pattern defect created in a basic pattern from a design value.例文帳に追加

基本パターンに作り込んだパターン欠陥の、設計値からのズレによる影響を抑えて、正確にマスクパターンの欠陥検査装置の欠陥検出感度を評価する。 - 特許庁

DEFECT PREVENTION APPARATUS OF SEALING PART OF FILM MATERIAL MANUFACTURING APPARATUS例文帳に追加

フィルム材製造装置のシール部の不良防止装置 - 特許庁

DEFECT MANAGEMENT OF HDD BY VARIABLE INDEX ARCHITECTURE例文帳に追加

可変インデックス・アーキテクチャによるＨＤＤの欠陥管理 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTING APPARATUS, SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING CIRCUIT BOARD USING THE INSPECTION METHOD例文帳に追加

表面欠点検査装置、表面欠点検査方法およびその検査方法を用いた回路基板の製造方法 - 特許庁

UNIT AND METHOD FOR CRYSTAL DEFECT INSPECTION例文帳に追加

結晶欠陥検査装置及び結晶欠陥検査方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF BLOCK RAW MATERIAL FOR ULTRASONIC DEFECT DETECTION TEST例文帳に追加

超音波深傷試験用ブロック素材の製造方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING SURFACE DEFECT, AND STORAGE MEDIUM RECORDED WITH SURFACE DEFECT INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

表面欠陥検査装置、表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査用プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To suppress the extinguishment of a defect echo by the influence of an end surface echo even in the case of a defect present in the vicinity of the side end surface of a subject to be tested and precisely detect the defect.例文帳に追加

検査対象の側端面近傍に欠陥があった場合でも、端面エコーの影響による欠陥エコーの消失を抑えて精度よく欠陥を検出する。 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR CORRECTING ITS DEFECT例文帳に追加

液晶表示装置及びその欠陥修正方法 - 特許庁

A mark M indicating existence of the defect 4 is provided by laying it on top of the defect 4 existing on the surface of or in the inside of the thin band-like sheet material 20, or in the vicinity of the defect.例文帳に追加

薄い帯状のシート材料２０の表面または内部に存在する欠陥４に重ねてまたはその近傍に欠陥４の存在を示すマークＭを設けた。 - 特許庁

DEFECT DETECTION CORRECTION DEVICE IN IMAGE INPUT DEVICE例文帳に追加

画像入力装置における欠陥検出補正装置 - 特許庁

MATERIAL SURFACE DEFECT MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE例文帳に追加

材料表面欠陥測定方法および測定装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR DETECTING DEFECT OF STRUCTURE例文帳に追加

構造体の欠陥を検知するための方法及びシステム - 特許庁

ILLUMINATION APPARATUS FOR INSPECTION DEVICE, AND DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

検査装置用照明装置および欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INFORMATION MANAGEMENT METHOD AND RECORDING MEDIUM PROCESSING DEVICE例文帳に追加

欠陥情報管理方法及び記録媒体処理装置 - 特許庁

To detect a minute defect at a high speed with high sensibilities.例文帳に追加

高速かつ高感度で微小欠陥を検出する。 - 特許庁

SOLID-STATE IMAGE PICKUP DEVICE AND METHOD FOR DETECTING PIXEL DEFECT例文帳に追加

固体撮像装置および画素欠陥検出方法 - 特許庁

To detect a defect in a mask with high sensitivity by acquisition of a dark field image without generating a pseudo defect.例文帳に追加

疑似欠陥を発生させることなく、暗視野像の取得によりマスクの欠陥を高い感度で検出する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING MASK DEFECT FOR ELECTRON BEAM EXPOSURE例文帳に追加

電子ビーム露光用マスク欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

The defect list includes a header 121 arranged at a fixed position, N defect entries 122 to 125 containing information regarding the positions of the defect areas, and an anchor 126.例文帳に追加

欠陥リストは、固定位置に配置されたヘッダ１２１と、欠陥領域の位置に関する情報を含むＮ個の欠陥エントリ１２２〜１２５と、アンカ１２６とを含む。 - 特許庁

To separate a low defect density film from a base substrate after growing the low defect density film on the base substrate.例文帳に追加

ベース基板に低欠陥密度膜を形成した後低欠陥密度膜をベース基板から分離させること。 - 特許庁

To form a low-defect density crystalline silicon film.例文帳に追加

欠陥密度の小さい結晶性珪素膜を形成する - 特許庁

Then, a generation cause of the common defect is specified from a common defect distribution corresponding to the discrimination number.例文帳に追加

そして、識別番号に対応する共通欠陥分布から、当該共通欠陥の発生原因を特定する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE WITH CATADIOPTRIC OBJECTIVE LENS例文帳に追加

反射屈折型対物レンズを用いた欠陥検査装置 - 特許庁

To obtain a defect correcting apparatus capable of correcting a large-sized defect by efficiently polishing in an optimum sequence.例文帳に追加

大型の欠陥について最適な順序で効率よく研磨処理できる欠陥修正装置を実現する。 - 特許庁

The defect correction method for a photomask includes removing a foreign matter defect on a photomask by use of a plurality of probes.例文帳に追加

フォトマスク上の異物欠陥を複数のプローブを用いて除去するフォトマスクの欠陥修正方法である。 - 特許庁

When a defect is detected, the position of the defect is recorded as a relative position to the reference mark (step S107).例文帳に追加

欠陥が検出された場合、その位置を基準マークからの相対位置として記録する（ステップＳ１０７）。 - 特許庁

To provide a press apparatus where the generation of forming defect based on operation defect is prevented, and to provide a method for controlling the same.例文帳に追加

操作不良に基づく成形不良の発生を防止するプレス装置とその制御方法を提供する。 - 特許庁

METHOD AND PHOTOGRAPHIC SYSTEM FOR COMPENSATING DEFECT OF FILM UNIT例文帳に追加

フィルムユニット欠陥を補償する方法及び写真システム - 特許庁

OPTICAL DISK DEVICE AND DEFECT PROCESSING METHOD OF OPTICAL DISK例文帳に追加

光ディスク装置及び光ディスクの欠陥処理方法 - 特許庁

DOT DEFECT DECISION DEVICE FOR DOT MATRIX DISPLAY UNIT例文帳に追加

ドットマトリックス表示器におけるドット欠陥判定装置 - 特許庁

To diagnose whether a defect of the mobile terminal is caused by the mobile terminal itself or a defect in a network.例文帳に追加

携帯端末の不具合が携帯端末自身の不具合なのか、ネットワークの不具合によるものかを診断する。 - 特許庁