「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(39ページ目) - Weblio英語例文検索

When a defect part detecting circuit 20 detects a defect part from a user data region of an optical disk 10, a defect management information generating and storing circuit 3 generates defect management information including at least an address of the defect part and the address of its alternative region and stores them.例文帳に追加

欠陥部位検出回路２０が光ディスク１０のユーザデータ領域から欠陥部位を検出すると、欠陥管理情報生成記憶回路３は欠陥部位のアドレスと、その代替領域のアドレスとを少なくとも含む欠陥管理情報を生成して記憶する。 - 特許庁

(E) The defect cross-section and the defect width of the defective portion of the inspected body are estimated based on the first and second groups of data for defect quantity estimation and on the first and second amplitudes.例文帳に追加

（Ｅ）第１および第２の欠損量推定用データと、第１および第２の振幅とに基づいて、欠損部分の欠損断面積および欠損幅を推定する。 - 特許庁

The scattered light from the defect in the inspection range 22 is weaker than the scattered light from the defect in the inspection range 23, so that only a further large defect can be detected.例文帳に追加

検査範囲２２の欠陥からの散乱光は検査範囲２３の欠陥からの散乱光よりも更に弱いから、より大きな欠陥のみが検出される。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of outputting the inspection result of the defect related to the whole of an inspection target surface even if there are many defects, and a defect inspection method.例文帳に追加

欠陥が多くても検査対象面の全体についての欠陥の検査結果を出力可能な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

The differential interface image of the surface of the substrate is supplied to a defect detection means (34), and a defect is detected.例文帳に追加

基板表面の微分干渉画像は欠陥検出手段（３４）に供給されて欠陥が検出される。 - 特許庁

An information recording device 110 comprises: a defect list updating unit 122 which updates a defect list registering a defect address showing a position of a defect area exists in an user area; a recording unit 113 which records information in an information recording medium 130 based on the updated defect list.例文帳に追加

情報記録装置１１０は、ユーザ領域内に存在する欠陥領域の位置を示す欠陥アドレスが登録された欠陥リストを更新する欠陥リスト更新部１２２と、更新された欠陥リストに基づいて、情報記録媒体１３０に情報を記録する記録部１１３とを備えている。 - 特許庁

To provide an insulation defect position locating device of a linear conductor capable of locating highly accurately an insulation defect position.例文帳に追加

絶縁欠陥位置を高精度に標定可能な線状導体の絶縁欠陥位置標定装置を得る。 - 特許庁

To provide an improved selector valve overcoming a defect of conventional technology provided with a complicated defect-solving means.例文帳に追加

複雑な解決手段が設けられた従来技術の欠点を解消する改良された切換弁を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate with a defect identification marker in which a defect position is readily apparent even if a defect itself is not detected in a device process, and the defect position can be identified from the substrate itself even if the data of defect position information is not prepared separately.例文帳に追加

デバイスプロセス工程でウェハの欠陥そのものを検出しなくても、欠陥位置が容易に分かり、欠陥位置情報のデータを別途用意しなくても、基板自体からその欠陥位置を識別することができる欠陥識別マーカー付き基板、及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and an inspection device determining quickly whether a defect on a disk is a circumferential flaw or an island defect.例文帳に追加

ディスク上の欠陥について円周疵か、島状欠陥かの判定を高速に処理することが可能な欠陥検査方法および検査装置を提供することにある。 - 特許庁

The differential interference image on the substrate surface is supplied to defect detecting means (34) for detecting a defect.例文帳に追加

基板表面の微分干渉画像は欠陥検出手段（３４）に供給されて欠陥が検出される。 - 特許庁

OPTICAL DISK DRIVE HAVING ENVELOPE DEFECT DETECTION FUNCTION例文帳に追加

包絡線異常検出機能を備えた光ディスクドライブ - 特許庁

Final defect distributions on each substrate are sorted into defect-distribution patterns P1 and P2 by using final defect-distribution information in a final inspection process 10g.例文帳に追加

最終検査工程１０ｇにおける最終欠陥分布情報を用いて、各基板上の最終欠陥分布を欠陥分布パターンＰ１、Ｐ２毎に分類する。 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, PATTERN DEFECT INSPECTING TEST PATTERN BOARD, PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE, PHOTO MASK MANUFACTURING METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING DISPLAY DEVICE SUBSTRATE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法、パターン欠陥検査用テストパターン基板、及びパターン欠陥検査装置、並びにフォトマスクの製造方法、及び表示デバイス用基板の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING CLEARING OF YARN DEFECT AND DEVICE FOR PROCESSING YARN例文帳に追加

糸欠点のクリアリング判定方法と糸処理装置 - 特許庁

The processing means includes functions to extract the defect information on the identical defect imaged by different camera devices from the position information and output the clipped images (defect images) as to the extracted defect simultaneously to an identical display screen (defect time series display screen shown in the figure).例文帳に追加

処理手段は、位置情報に基づき異なるカメラ装置で撮像された同一の欠陥についての欠陥情報を抽出し、その抽出した欠陥について切り出した画像（欠陥画像）を同一の表示画面（図に示す欠陥時系列表示画面）に同時に出力する機能を備えた。 - 特許庁

Rank determination of the liquid crystal panel is performed based on a defect area of the irregular defect and average brightness detected in the irregular defect detection process (ST300) (rank determination process ST400).例文帳に追加

ムラ欠陥検出工程（ＳＴ３００）にて検出されたムラ欠陥の欠陥面積、平均輝度に基づいて液晶パネルをランク判定する（ランク判定工程ＳＴ４００）。 - 特許庁

To detect a defect on an optical disk more accurately.例文帳に追加

光ディスク上のディフェクトをより正確に検出する。 - 特許庁

TEST PATTERN WAFER FOR DEFECT INSPECTING DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND EVALUATION METHOD OF DEFECT INSPECTION APPARATUS USING IT例文帳に追加

欠陥検査装置用テストパターンウエハ、その製造方法及びそれを用いた欠陥検査装置の評価方法 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING CRYSTAL DEFECT OF SILICON SINGLE-CRYSTAL WAFER例文帳に追加

シリコン単結晶ウエーハの結晶欠陥の評価方法 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL, AND PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD THEREFOR例文帳に追加

液晶ディスプレイパネル及びその画素欠陥修正方法 - 特許庁

To accurately evaluate the defect detection sensitivity of an inspection apparatus for a defect in a mask pattern by suppressing influences of the shift of a pattern defect created in a basic pattern from a design value.例文帳に追加

基本パターンに作り込んだパターン欠陥の、設計値からのズレによる影響を抑えて、正確にマスクパターンの欠陥検査装置の欠陥検出感度を評価する。 - 特許庁

DEFECT PREVENTION APPARATUS OF SEALING PART OF FILM MATERIAL MANUFACTURING APPARATUS例文帳に追加

フィルム材製造装置のシール部の不良防止装置 - 特許庁

DEFECT MANAGEMENT OF HDD BY VARIABLE INDEX ARCHITECTURE例文帳に追加

可変インデックス・アーキテクチャによるＨＤＤの欠陥管理 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTING APPARATUS, SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING CIRCUIT BOARD USING THE INSPECTION METHOD例文帳に追加

表面欠点検査装置、表面欠点検査方法およびその検査方法を用いた回路基板の製造方法 - 特許庁

UNIT AND METHOD FOR CRYSTAL DEFECT INSPECTION例文帳に追加

結晶欠陥検査装置及び結晶欠陥検査方法 - 特許庁

Brightness data of each pixel of a point defect or a strain defect having a smaller area than an irregular defect in the image data acquired in the inspection image acquisition process is replaced with an interpolation value based on brightness data of a peripheral pixel, to thereby repair the non-evaluation object defect species (point/strain defect repair process ST200).例文帳に追加

検査画像取得工程にて取得された画像データ中でムラ欠陥よりも面積が小さい点欠陥、シミ欠陥の各画素の輝度データを周囲の画素の輝度データに基づく補間値で置き換えてこの非評価対象欠陥種を修補する（点・シミ欠陥修補工程ＳＴ２００）。 - 特許庁

In this system and method, upon the detection of a defect, the printer is enabled to skip the defect area, or alternatively an image influenced by the defect is reprinted.例文帳に追加

本発明のシステムおよび方法において、欠陥が検出された場合、プリンタをイネーブルして欠陥領域をスキップさせるか、欠陥の影響を受けた画像を再印刷する。 - 特許庁

PROJECTION DEFECT HEIGHT MEASURING DEVICE AND REPAIR DEVICE OF COLOR FILTER例文帳に追加

カラーフィルタの突起欠陥高さ測定器及びリペア装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR SUPPORTING INSPECTION OF INTERNAL DEFECT IN CASTING例文帳に追加

鋳造品内部欠陥検査支援装置及び方法 - 特許庁

To specify the exacter coordinate position of a picture element defect by inspecting the presence or absence of the picture element defect of a liquid crystal display panel.例文帳に追加

液晶表示パネルの絵素欠陥の有無を検査し、絵素欠陥のより正確な座標位置を特定する。 - 特許庁

To provide a method for detecting a defect in a cable connecting section capable of detecting the defect at low cost and with high sensitivity.例文帳に追加

低コストで、かつ高感度に欠陥を検出できるケーブル接続部の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL PANEL, AND DEFECT CORRECTION METHOD THEREFOR例文帳に追加

液晶パネルおよび液晶パネルの欠陥修正方法 - 特許庁

METHOD OF DETECTING DEFECT IN POWER CABLE AND ACCESSORIES例文帳に追加

電力ケーブルおよび付属品の欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT INFLUENCE DEGREE ESTIMATION METHOD AND DESIGN SUPPORT SYSTEM例文帳に追加

不良影響度評価方法および設計支援システム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING SURFACE DEFECT OF STEEL例文帳に追加

鋼材表面欠陥の検査方法および検査装置 - 特許庁

To obtain an excellent video signal by accurately detecting a defect on an image pickup element and properly improving the influence of the defect.例文帳に追加

撮像素子のキズを精度良く検出し、キズの影響を適切に改善して、良好な映像信号を得る。 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING OCCURRENCE CONDITION OF SURFACE DEFECT OF STEEL MATERIAL例文帳に追加

鋼材表面欠陥の発生条件の特定方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF BLOCK RAW MATERIAL FOR ULTRASONIC DEFECT DETECTION TEST例文帳に追加

超音波深傷試験用ブロック素材の製造方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING SURFACE DEFECT, AND STORAGE MEDIUM RECORDED WITH SURFACE DEFECT INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

表面欠陥検査装置、表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査用プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To suppress the extinguishment of a defect echo by the influence of an end surface echo even in the case of a defect present in the vicinity of the side end surface of a subject to be tested and precisely detect the defect.例文帳に追加

検査対象の側端面近傍に欠陥があった場合でも、端面エコーの影響による欠陥エコーの消失を抑えて精度よく欠陥を検出する。 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR CORRECTING ITS DEFECT例文帳に追加

液晶表示装置及びその欠陥修正方法 - 特許庁

A mark M indicating existence of the defect 4 is provided by laying it on top of the defect 4 existing on the surface of or in the inside of the thin band-like sheet material 20, or in the vicinity of the defect.例文帳に追加

薄い帯状のシート材料２０の表面または内部に存在する欠陥４に重ねてまたはその近傍に欠陥４の存在を示すマークＭを設けた。 - 特許庁

DEFECT DETECTION CORRECTION DEVICE IN IMAGE INPUT DEVICE例文帳に追加

画像入力装置における欠陥検出補正装置 - 特許庁

MATERIAL SURFACE DEFECT MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE例文帳に追加

材料表面欠陥測定方法および測定装置 - 特許庁