「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(34ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF CIRCUIT PATTERN AND DEVICE THEREOF例文帳に追加

回路パターンの欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

To prevent generation of an initial defect in placing concrete.例文帳に追加

コンクリート打設の際の、初期欠陥の発生を防ぐ。 - 特許庁

The tool may identify both a type of defect and individual netlists in which that defect is likely to occur.例文帳に追加

前記ツールは、欠陥の種類及び欠陥が生じ易い個々のネットリストの両方を同定し得る。 - 特許庁

To reduce detection sensitivity for a defect having a low degree of influence as a defect to conduct inspection.例文帳に追加

本発明は、欠陥として影響度の小さい欠陥の検出感度を低下して欠陥検査を行う。 - 特許庁

The defect density generated by a lattice mismatching is reduced, and the defect distribution can be distributed.例文帳に追加

格子不整合によって発生する欠陥密度を減少させ、欠陥分布を分散させることができる。 - 特許庁

INSPECTION SUPPORT EQUIPMENT FOR DEFECT IN INTERIOR OF CAST例文帳に追加

鋳造内部欠陥検査支援装置及び方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF COATING FILM例文帳に追加

塗工膜の欠陥検査装置及び検査方法 - 特許庁

CORRECTION DEVICE FOR DEFECT PIXEL DATA FOR SOLID-STATE IMAGE PICKUP ELEMENT例文帳に追加

固体撮像素子の欠陥画素データ補正装置 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING CRYSTAL DEFECT IN SURFACE LAYER PART OF SILICON WAFER例文帳に追加

シリコンウェハ表層部結晶欠陥検査方法 - 特許庁

APPARATUS FOR DISPOSING OF CONTAINER BY MONITORING DEFECT IN PRINT例文帳に追加

印刷の欠落監視で容器を処理する装置 - 特許庁

SPECIFICATION OF DISSOLUTION DEFECT-GENERATING SOURCE OF OVEN FOR MELTING GLASS AND SYSTEM FOR ANALYZING DISSOLUTION DEFECT-GENERATING SOURCE例文帳に追加

ガラス溶融炉の溶解欠点発生源特定方法および溶解欠点発生源解析システム - 特許庁

METHOD AND PROGRAM FOR DETECTING DEFECT OF IMAGE PICKUP ELEMENT例文帳に追加

撮像素子の欠陥検出方法及びプログラム - 特許庁

SURFACE DEFECT DETECTION SYSTEM AND DATA PROCESSING METHOD例文帳に追加

表面欠陥検出システム及びデータ処理方法 - 特許庁

Thus, this casting defect 3 is eliminated by burying the plastically fluidized material M into the casting defect 3.例文帳に追加

塑性流動した材料Ｍを鋳物欠陥３で埋めることでその鋳物欠陥３を消去する。 - 特許庁

Only when the line defect 7 still appears, will the defect part be specified and an array substrate 21 be repaired.例文帳に追加

それでも線欠陥７が現れる場合にのみ、欠陥箇所の特定とアレイ基板２１のリペアを行う。 - 特許庁

To remove a defect derived from a correction pattern in a defect inspection of a photomask having the correction pattern.例文帳に追加

補正パターンを有するフォトマスクの欠陥検査において、補正パターンに由来する欠陥を除外すること。 - 特許庁

For inspection result, total defect display (step S74) or defect display (step S75) is made for each group of patterns.例文帳に追加

検査結果は、総欠陥表示（ステップＳ７４）またはパターン群別に欠陥表示（ステップＳ７５）がなされる。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for easily performing inspection even on a luminescent spot defect with a low luminance value.例文帳に追加

輝度値が低い輝点欠点などであってもその検査が容易な欠点検査装置を提供する。 - 特許庁

The defect frequency holds the frequency of the correctable defect occurring in a corresponding physical address space.例文帳に追加

障害回数は、対応する物理アドレス空間で発生した訂正可能障害の回数を保持する。 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING CRYSTAL DEFECT OF SILICON SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

シリコン単結晶の結晶欠陥の評価方法 - 特許庁

POINT DEFECT 3-DIMENSIONAL PHOTONIC CRYSTAL OPTICAL RESONATOR例文帳に追加

点欠陥３次元フォトニック結晶光共振器 - 特許庁

CARRYING SUBSTRATE DEFECT DETECTION DEVICE AND LASER TRIMMING MACHINE EQUIPPED WITH CARRYING SUBSTRATE DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

搬送基板不良検出装置及びこの搬送基板不良検出装置を備えたレーザトリミングマシン - 特許庁

To repair a blank defect hard to repair in a defect repairing device using an ion beam.例文帳に追加

イオンビームを用いた欠陥修正装置では修正し難いタイプの白欠陥の修正を可能にする。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER INSPECTION METHOD AND DEFECT REVIEW APPARATUS例文帳に追加

半導体ウェハ検査方法及び欠陥レビュー装置 - 特許庁

To identify the position of a defect before polarization when a defect is contained in the coaxial flexible piezoelectric body.例文帳に追加

同軸状可撓性圧電体に欠陥が含まれる場合、分極前に欠陥の位置を特定できない。 - 特許庁

DEFECT INSPECTING APPARATUS, DEFECT INSPECTING METHOD, SYSTEM OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR APPARATUS, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SEMICONDUCTOR APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査方法、半導体装置の製造システム及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

To prevent a contact defect between a bump of a BOF tape and an electrode of a semiconductor chip and a shorting defect.例文帳に追加

ＢＯＦテープのバンプと半導体チップの電極との接触不良およびショート不良を防止する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of inspecting a defect in a large-sized photomask and a glass substrate at high speed.例文帳に追加

大型のフォトマスクやガラス基板を高速で欠陥検査できる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING WELD DEFECT IN LASER BEAM WELDING例文帳に追加

レーザ溶接における溶接欠陥の検知方法 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING SURFACE DEFECT OF SYNTHETIC RESIN MATERIAL AND SYNTHETIC RESIN MATERIAL OF WHICH SURFACE DEFECT IS CORRECTED例文帳に追加

合成樹脂材の表面欠陥修正方法及び表面欠陥を修正した合成樹脂材 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT OF INSPECTION OBJECT例文帳に追加

被検査体の欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

MASK DEFECT INSPECTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

マスク欠陥検査装置及びマスク欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING SURFACE DEFECT OF GLASS FIBER PRODUCT例文帳に追加

ガラス繊維物品の表面欠陥検出方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING DEFECT IN STEEL STRUCTURE例文帳に追加

鋼構造物の欠陥検出方法および装置 - 特許庁

PROCESS AND PRINTER WITH MASKING OF DEFECT例文帳に追加

欠陥をマスクすることを備える方法およびプリンタ - 特許庁

THIN FILM DEFECT DETECTING METHOD, THIN FILM DEFECT REPAIRING METHOD USING THE SAME, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

薄膜の欠陥検出方法と装置および該欠陥検出方法を用いた薄膜の欠陥補修方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTING METHOD FOR METAL FOIL PATTERN ETCHING PRODUCT例文帳に追加

金属箔パターンエッチング製品の欠陥検査方法 - 特許庁

DETECTOR AND DETECTING METHOD FOR PRINT DEFECT例文帳に追加

印刷欠点の検出装置および検出方法 - 特許庁

To provide a clear image of a subject without affected by a defect even when the defect exists in a scintillator.例文帳に追加

シンチレータに欠陥があってもそれの影響なく対象物の鮮明な画像が得られるようにする。 - 特許庁

MEASURING DEVICE, DEFECT INSPECTION DEVICE, AND MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

計測装置、欠陥検査装置及び計測方法 - 特許庁

To provide an inspection method for a defect of a honeycomb filter that improves detection precision of the defect more.例文帳に追加

欠陥の検出精度をより向上できる、ハニカムフィルタの欠陥を検査する方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect detector and a defect detection method for reducing false detections of defects.例文帳に追加

欠陥を誤って検出することが少ない欠陥検出装置及び欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT OF PERIODIC PATTERN例文帳に追加

周期性パターンの欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

OPTICAL DISK DEVICE AND METHOD OF ALLOWING PASSAGE ON DISK DEFECT例文帳に追加

光ディスク装置およびディスク欠陥通過方法 - 特許庁

A defect detection part 25 extracts a defect on an inspection object by using the reduced image information.例文帳に追加

欠陥検出部25は、縮小画像情報を用いて検査対象物上の欠陥を抽出する。 - 特許庁