「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(31ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a defect inspecting device of a cathode ray tube capable of easily specifying on which device a defect is developed from information about the defect when the defect is developed on a surface.例文帳に追加

表面に欠陥が生じた場合、その欠陥に関する情報からどの装置によって欠陥が生じたかを容易に特定することができる陰極線管の欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

AUTOMATIC DEFECT CHECKER FOR PHOTOMASK AND ITS CHECKING METHOD例文帳に追加

フォトマスクの自動欠陥検査装置及び方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING DEFECT-FREE SILICON SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

無欠陥のシリコン単結晶を製造する方法 - 特許庁

DETECTION METHOD OF WHEEL DEFECT AND ITS EQUIPMENT例文帳に追加

車輪損傷の検出方法及びその装置 - 特許庁

Then, a good/bad map data read step 14 is executed, and in a fatal defect rate calculation step 15, the defect map data and the good/bad map data are checked to calculate a fatal defect rate in the defect map data.例文帳に追加

次に，良品・不良品マップデータ読込みステップ１４を行い，致命率計算ステップ１５で，欠陥マップデータと良品・不良品マップデータを照合して，欠陥マップデータの致命率を計算する。 - 特許庁

METHOD OF CONFIRMING AND REPAIRING DEFECT OF HARDWARE例文帳に追加

ハードウェアの欠陥の確認及び補修の方法 - 特許庁

Also, defect inspection is carried out at a linear recording density equal to or lower than 1/(2 to 4) of a defect size impossible to be error-corrected at the magnetic disk device, and a defect size targeted for acceptance/rejection determination in defect inspection.例文帳に追加

また、磁気ディスク装置でエラー訂正不可能な欠陥サイズであって且つ欠陥検査で合否判定の対象とする欠陥サイズの１／（２〜４）以下の線記録密度で欠陥検査を行うこと。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING CRYSTAL DEFECT OF WAFER例文帳に追加

ウェーハの結晶欠陥測定方法及び装置 - 特許庁

SURFACE LUG DEFECT DETECTING DEVICE FOR LONG MATERIAL例文帳に追加

長尺材の表面突起欠陥検出装置 - 特許庁

IMAGE DEFECT CORRECTING DEVICE FOR SOLID-STATE IMAGE PICKUP DEVICE例文帳に追加

固体撮像装置用画像欠陥補正装置 - 特許庁

DEFECT MANAGEMENT METHOD FOR INFORMATION RECORDING DEVICE例文帳に追加

情報記録媒体における欠陥管理方法 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING COATING FILM DEFECT OF RESIN COATED FILM例文帳に追加

樹脂塗布フィルムの塗膜欠陥の検査方法 - 特許庁

To prevent generation of a stain like display defect.例文帳に追加

しみ状の表示不良の発生を防止する。 - 特許庁

SYSTEM FOR INSPECTING SAMPLE FOR DEFECT AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

試料の欠陥検査システム、および検査方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE OF PLATE-LIKE BODY例文帳に追加

板状体の欠陥検出方法及び装置 - 特許庁

I want to know the analysis results of that defect.例文帳に追加

その不良品の分析結果が知りたいです。 - Weblio Email例文集

The defect signal corresponding thereto and a plurality of the defect approach signals corresponding to the defect signal and the ultrasonic response signals from the measuring places on both sides of the defect position, are inputted to an educated artificial neural network.例文帳に追加

そして、欠陥信号及び欠陥位置の両側の測定箇所からの超音波応答信号に対応する複数の欠陥近接信号は、教育された人工ニューラルネットワークに入力される。 - 特許庁

DEFECT DATA PROCESSING METHOD AND DATA PROCESSING DEVICE例文帳に追加

欠陥データ処理方法、およびデータの処理装置 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING DEFECT IN SEMICONDUCTOR SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

半導体単結晶中の欠陥検査方法 - 特許庁

DISK DRIVE APPARATUS AND MEDIA DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

ディスクドライブ装置及びメディア欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT ANALYZER AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスの欠陥解析装置及び方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

不良検出回路および半導体記憶装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING WHITE DEFECT IN PHOTOMASK例文帳に追加

フォトマスクの白欠陥修正方法及び装置 - 特許庁

DEFECT DETECTING METHOD OF SURFACE OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加

半導体基板表面の欠陥検出方法 - 特許庁

To actually experience a defect in brake.例文帳に追加

ブレーキ失陥を実際に体験できるようにする。 - 特許庁

PIXEL DEFECT DETECTION METHOD AND IMAGE PROCESSOR例文帳に追加

画素欠陥検出方法及び画像処理装置 - 特許庁

DEFECT ANALYZER, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥解析装置，検査システム、及び、検査方法 - 特許庁

A fluid is locally sprayed to a defect of a mask M by a fluid spray means 30, so that the defect is removed when being a foreign matter but the defect remains when being a black defect.例文帳に追加

流体噴出手段３０により、マスクＭの欠陥に局所的に流体が吹きつけられることにより、欠陥が異物であれば除去され、欠陥が黒欠陥であれば残存することとなる。 - 特許庁

The header a defect list identifier 131 for identifying the defect list, and first updating number-of-time information 133, and a defect entry number 132 indicating the number of defect entries.例文帳に追加

ヘッダは、欠陥リストを識別する欠陥リスト識別子１３１と、欠陥リストの更新回数を示す第１の更新回数情報１３３と、欠陥エントリの個数を示す欠陥エントリ数１３２とを含む。 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING DEFECT ON SURFACE OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウェーハ表面の欠陥評価方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体欠陥検査装置ならびにその方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of detecting an irregular defect such as fish eye generated in a film having light transmission, and capable of conducting effectively defect determination containing height information of the defect.例文帳に追加

光透過性を有するフィルムに生じたフィッシュアイ等の凹凸状の欠陥検出および欠陥の高さ情報を含んだ欠陥判定を有効に行うことができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR REDUCING SURFACE DEFECT IN HOT ROLLING例文帳に追加

熱間圧延における表面疵低減方法 - 特許庁

ROLLING METHOD FOR SUPPRESSING SURFACE DEFECT OF STEEL SHEET例文帳に追加

鋼板の表面疵を抑制する圧延方法 - 特許庁

DISK STORAGE AND SERVO DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

ディスク記憶装置及びサーボ欠陥検出方法 - 特許庁

THROUGH HOLE WALL SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE OF PRINTED BOARD例文帳に追加

プリント基板のスルーホール壁面欠陥検査装置 - 特許庁

IMAGING DEVICE AND IMAGE DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加

画像撮影装置および画像欠陥補正方法 - 特許庁

MONITORING DEVICE FOR PERFORMANCE OF SURFACE-DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

表面欠陥検査装置の性能監視装置 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING COLOR FILTER DEFECT IN COLOR FILTER SUBSTRATE例文帳に追加

カラーフィルタ基板のカラーフィルタ欠陥検査方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD FOR SURFACE DEFECT AND INSPECTION DEVICE THEREOF例文帳に追加

表面欠陥の検査方法および検査装置 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY MEMBER HAVING DEFECT REPAIRING FUNCTION例文帳に追加

欠陥修理機能のある液晶ディスプレイ部材 - 特許庁

PROCESS FOR SIMULATING REGION WITHOUT DEFECT IN SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

単結晶の無欠陥領域シミュレーション方法 - 特許庁

SELF-INTERSTITIAL DOMINATED SILICON HAVING LOW DEFECT DENSITY例文帳に追加

低欠陥密度の自己格子間物優勢シリコン - 特許庁

DEFECT COMPENSATION DEVICE AND METHOD FOR OPTICAL DISK例文帳に追加

光ディスクの欠陥補償装置及びその方法 - 特許庁

The print output method is constituted so as to lower the concentration of the ink of the defect of a defect-containing image or the concentration of the ink of the defect and a region other than the region in the vicinity of the defect to perform print output.例文帳に追加

欠陥を含む画像において、前記欠陥または前記欠陥とその近傍の領域以外の領域のインキ濃度を下げてプリント出力するようにしたプリント出力方法。 - 特許庁