「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(33ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a fissure-like defect repairing method for a nuclear reactor structure capable of suppressing propagation of a fissure-like defect, even if water remains inside the fissure-like defect.例文帳に追加

き裂状欠陥内に水分が残存する場合であってもき裂状欠陥の進展を抑制することができるき裂状欠陥の補修方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system for specifying a defect-origin device, the system specifying a device which is an origin of defect generation when detecting a defect generated on a substrate.例文帳に追加

基板に発生した欠陥を検出した際、該欠陥の発生原因となっている装置を特定する欠陥原因装置特定システムを提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspecting apparatus which quickly analyzes the cause of the occurrence of a defect by specifying a film in which the defect has occurred, to thereby prevent a decrease in productivity.例文帳に追加

欠陥検査装置において、欠陥の生じた膜を特定することにより、欠陥発生の原因分析を迅速化し、生産性の低下を防止する。 - 特許庁

To provide an inspection method of an active matrix substrate capable of inspecting point defect, line defect, or brightness defect at the stage of the active matrix substrate.例文帳に追加

アクティブマトリクス基板の段階で、点欠陥、線欠陥または輝度不良を検査することができるアクティブマトリクス基板の検査方法を提供すること。 - 特許庁

SURFACE DEFECT DETECTOR, GRINDING DEVICE, SURFACE DEFECT DETECTION METHOD AND SURFACE DEFECT DETECTION PROGRAM FOR REDUCTION ROLL, AND REDUCTION ROLL GRINDING METHOD例文帳に追加

圧延用ロールの表面欠陥検出装置、研削装置、表面欠陥検出方法及び表面欠陥検出用プログラム並びに圧延用ロール研削方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of detecting a defect independently, and calculating a characteristic quantity of the detected defect, and an image processing device therefor.例文帳に追加

単独で欠陥を検出し検出した欠陥の特徴量を算出することができる欠陥検査装置及びその画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe capable of detecting even an inclined defect and having high evaluation precision of the defect, and a defect evaluation method using the probe.例文帳に追加

傾いた欠陥でも検出することができ、、且つ、欠陥の評価精度が高い超音波プローブ及びこれを用いた欠陥評価方法を提供する。 - 特許庁

After a certain process if completed, defects of a wafer W are detected by a defect detecting apparatus 2, and the defect positioning data is transferred to a defect observation apparatus 3.例文帳に追加

あるプロセスが終了した後、欠陥検出装置２によりウェハＷの欠陥を検出し、その欠陥位置データを欠陥観察装置３に送出する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device, a specimen for an electronic device, and a defect inspection method, capable of inexpensively and easily inspecting a defect in a short time.例文帳に追加

欠陥の検査を安価、短時間、及び容易に行うことができる欠陥検査装置、電子装置用試験体、及び欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

Thus, when a white defect occurs, where the pixel is displayed always brightly, the white defect can be changed into a black defect in which pixels are hardly discriminated.例文帳に追加

これにより、画素が常に明るく表示されるホワイト不良が発生する場合、画素をほとんど識別が不可能なブラック不良に容易に変えることができる。 - 特許庁

INFORMATION STORAGE MEDIUM STORING DEFECT MANAGEMENT INFORMATION, ALTERNATION PROCESSING METHOD OF DEFECT MANAGEMENT INFORMATION, AND APPARATUS PERFORMING ALTERNATION PROCESSING OF DEFECT MANAGEMENT INFORMATION例文帳に追加

欠陥管理情報を格納する情報記憶媒体、欠陥管理情報の交替処理方法、および欠陥管理情報の交替処理を行なう装置 - 特許庁

To make it possible to enhance the detection accuracy of a line defect and to enhance the identification accuracy of the point defect and the line defect in inspection of a TFT array.例文帳に追加

ＴＦＴアレイの検査において、線欠陥の検出精度を高めることができ、また、点欠陥と線欠陥の識別精度を高めること。 - 特許庁

Alternatively, the operator may manually repair the defect in the place of defect after the material stationing machine has automatically returned to the place of defect.例文帳に追加

代替的に、材料配置機械が欠陥の場所に自動的に戻り、その後オペレータが欠陥の場所における欠陥を手動で修復してもよい。 - 特許庁

When defect detection is performed by a defect data detecting part 112c, judgment of reliability of the detection is first performed prior to the defect detection.例文帳に追加

欠陥データ検出部１１２ｃによる欠陥検出を行なう場合、まず、その欠陥検出に先立って、その検出の信頼性判定を行なう。 - 特許庁

To provide a defect correction method capable of easily correcting a fine white defect part without damaging and contaminating the neighborhood of a defect part.例文帳に追加

欠陥部の近傍にダメージを与えたり、汚染することなく、微細な白欠陥部を容易に修正することが可能な欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect correcting device capable of precisely correcting a defect in a short time by being equipped with a defect detection unit for a substrate.例文帳に追加

基板の欠陥検出ユニットを備えることによって、正確かつ短時間で欠陥の修正を行うことが可能な欠陥修正装置を提供する。 - 特許庁

Furthermore, the profile of the defect degree along the X-axis and the profiles of the defect degree along the Y-axis are calculated from the defect degree calculated.例文帳に追加

さらに、算出された欠陥度に基づいて、Ｘ軸に沿った欠陥度のプロファイルおよびＹ軸に沿った欠陥度のプロファイルが算出される。 - 特許庁

To decide accurate defect inspection parameters which are not influenced by the knowledge, etc., of a defect inspection unit, by reducing the occupying time of a defect inspection device.例文帳に追加

欠陥検査装置の占有時間を減少し、欠陥検査者の知識等に左右されることのない正確な欠陥検査パラメータを決定する。 - 特許庁

To provide a defect analyzing system, a defect analyzing method, and a defect analyzing program capable of improving analyzing accuracy and suppressing an increase in an analyzing time.例文帳に追加

解析精度を向上し、且つ解析時間の増大を抑制する欠陥解析システム、欠陥解析方法及び欠陥解析プログラムを提供する。 - 特許庁

METHOD OF ASSESSING STRUCTURAL DEFECT ON WAFER SURFACE例文帳に追加

ウェーハー表面の構造欠陥を査定する方法 - 特許庁

IMAGE DEFECT DETECTING METHOD, AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加

画像欠陥検査方法および画像形成装置 - 特許庁

ILLUMINATION OPTICAL MECHANISM APPARATUS AND DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

照明光学機構装置、および、欠陥検査装置 - 特許庁

COMPOSITE IMPLANT FOR RESTORING TISSUE DEFECT IN PATIENT AND METHOD FOR REPAIRING TISSUE DEFECT例文帳に追加

患者の組織の欠陥を修復するための組み合わせ移植片および組織の欠陥を修復する方法 - 特許庁

METHOD AND EQUIPMENT FOR DETECTING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の欠陥検出法および装置 - 特許庁

TRANSPARENT FILM INSPECTION DEVICE AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

透明フィルム検査装置及び欠陥検出方法 - 特許庁

To enlarge the control region of defect-free layer depth and fine defect density of the inside in a CZ silicon wafer.例文帳に追加

ＣＺシリコンウエーハにおいて、無欠陥層深さと内部微小欠陥密度の制御範囲を拡大する。 - 特許庁

To obtain a method and an apparatus for the inspection of a defect wherein the defect of a specimen can be detected in a short time.例文帳に追加

被検査物の欠陥を短時間で検出できる欠陥検査方法及びその装置を得る。 - 特許庁

In a step (e), the expert analyzes the defect on the basis of the image information and the product defect information.例文帳に追加

（ｅ）ステップは、画像情報と製品不具合情報とに基づいて、専門家が不具合の解析を行う。 - 特許庁

The defect map 19 and the defect histogram 21 are displayed, based on the extracted inspection data.例文帳に追加

この抽出された検査データを基にした欠陥マップ１９や欠陥ヒストグラム２１が表示される。 - 特許庁

BEARING RING WITH ARTIFICIAL DEFECT, ROLLER BEARING WITH AN ARTIFICIAL DEFECT, AND LIFETIME TESTING METHOD FOR ROLLER BEARING例文帳に追加

人工欠陥付軌道輪及び人工欠陥付転がり軸受と転がり軸受の寿命試験方法 - 特許庁

IMPRINT METHOD AND DEFECT INSPECTION METHOD OF TEMPLATE例文帳に追加

インプリント方法及びテンプレートの欠陥検査方法 - 特許庁

PIXEL DEFECT DISCRIMINATION SUPPORTING METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

画素欠陥の判別支援方法およびその装置 - 特許庁

METHOD FOR VERIFYING PRECISION OF SOLIDIFICATION DEFECT PREDICTION ANALYSIS例文帳に追加

凝固欠陥予測解析の精度検証方法 - 特許庁

To provide an electronic component module for avoiding a shortcircuited defect and an open defect in a mounted chip component.例文帳に追加

搭載チップ部品のショート不良及びオープン不良を回避し得る電子部品モジュールを提供すること。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

After an inspection is performed, the controlling part 14 compares defect information generated during inspection with defect information generated during inspection of un underlying layer of the substrate so that the underlying layer generates target defect information which identifies a defect occurred on the uppermost layer except an overlapping defect which overlaps the defect.例文帳に追加

検査が行われた後、制御部１４は、その検査時に生成された欠陥情報と、基板の下層レイヤーの検査時に生成された欠陥情報とを比較し、前記下層レイヤーが欠陥と重複する重複欠陥を除いて前記最上層レイヤー上に発生した欠陥を識別する注目欠陥情報を生成する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a defect improved in measurement accuracy of a defect of a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハにおける欠陥の測定精度を向上させた欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect judging technique for accurately judging the presence of the defect on the surface of an inspection target.例文帳に追加

的確に検査対象の表面上の欠陥の有無を判定する欠陥判定技術を提供する。 - 特許庁

SHEET DEFECT INSPECTING DEVICE AND SHEET MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

シートの欠陥検査装置及びシートの製造方法 - 特許庁

LED DEFECT DETECTION CIRCUIT, DISPLAY UNIT FOR TRAIN, LED DRIVING CIRCUIT, AND LED DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

ＬＥＤ異常検出回路、列車用表示器、ＬＥＤ駆動回路、およびＬＥＤ異常検出方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD FOR DEFECT OF HONEYCOMB FILTER, INSPECTION DEVICE FOR DEFECT OF HONEYCOMB FILTER, AND MANUFACTURING METHOD FOR HONEYCOMB FILTER例文帳に追加

ハニカムフィルタの欠陥の検査方法、ハニカムフィルタの欠陥の検査装置、及び、ハニカムフィルタの製造方法 - 特許庁

EDGE GRADIENT DETECTION METHOD, STAIN DEFECT DETECTION METHOD, EDGE GRADIENT DETECTION DEVICE AND STAIN DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

エッジ勾配検出方法、シミ欠陥検出方法、エッジ勾配検出装置、シミ欠陥検出装置 - 特許庁

SHEET DEFECT DETECTION METHOD AND SHEET DISCRIMINATION METHOD例文帳に追加

シート欠陥検出方法及びシート分別方法 - 特許庁

METHOD FOR OBSERVING DEFECT ON SEMICONDUCTOR SINGLE CRYSTAL SUBSTRATE例文帳に追加

半導体単結晶基板の欠陥観察方法 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE DEVICE, PIXEL DEFECT INSPECTING METHOD, PIXEL DEFECT INSPECTING PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

液晶表示装置及び画素不良検査方法並びに画素不良検査プログラム及び記憶媒体 - 特許庁