「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(33ページ目) - Weblio英語例文検索

An image processing section 24 determines whether a defect exists, whose size allows to make a defect decision by visual inspection, based on information representing the size of the defect.例文帳に追加

画像処理部２４は、欠陥の大きさを示す情報に基づいて、目視によって欠陥の判断が可能な大きさの欠陥があるかどうかを判断する。 - 特許庁

A secondary defect detection part 37 executes secondary defect detection processing for detecting a defect on the inspection object by using image data of the inspection object.例文帳に追加

２次欠陥検出部３７は、検査対象物の画像データを用いて検査対象物上の欠陥を検出する２次欠陥検出処理を実行する。 - 特許庁

To provide a differential interference microscope capable of picking up the image of a defect without depending on the directivity of the defect even when it is the defect having the directivity.例文帳に追加

方向性を有する欠陥であっても、欠陥の方向性に依存することなく欠陥像を撮像できる微分干渉顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To achieve a defect detection apparatus for detecting defects in a flat panel at the high defect detection accuracy, without sacrificing defect detection speed.例文帳に追加

欠陥検出速度を犠牲にすることなく高い欠陥検出精度でフラットパネルの欠陥を検出し得る欠陥検出装置を実現することにある。 - 特許庁

To correct a black defect or a white defect having a perpendicular cross section without tilting the stage in a mask defect correcting apparatus using an electron beam.例文帳に追加

電子ビームを用いたマスク欠陥修正装置でステージを傾斜させずに垂直な断面を持つ黒欠陥修正や白欠陥修正を実現する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of detecting a defect independently, and calculating a characteristic quantity of the detected defect, and an image processing device therefor.例文帳に追加

単独で欠陥を検出し検出した欠陥の特徴量を算出することができる欠陥検査装置及びその画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe capable of detecting even an inclined defect and having high evaluation precision of the defect, and a defect evaluation method using the probe.例文帳に追加

傾いた欠陥でも検出することができ、、且つ、欠陥の評価精度が高い超音波プローブ及びこれを用いた欠陥評価方法を提供する。 - 特許庁

After a certain process if completed, defects of a wafer W are detected by a defect detecting apparatus 2, and the defect positioning data is transferred to a defect observation apparatus 3.例文帳に追加

あるプロセスが終了した後、欠陥検出装置２によりウェハＷの欠陥を検出し、その欠陥位置データを欠陥観察装置３に送出する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device, a specimen for an electronic device, and a defect inspection method, capable of inexpensively and easily inspecting a defect in a short time.例文帳に追加

欠陥の検査を安価、短時間、及び容易に行うことができる欠陥検査装置、電子装置用試験体、及び欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

Thus, when a white defect occurs, where the pixel is displayed always brightly, the white defect can be changed into a black defect in which pixels are hardly discriminated.例文帳に追加

これにより、画素が常に明るく表示されるホワイト不良が発生する場合、画素をほとんど識別が不可能なブラック不良に容易に変えることができる。 - 特許庁

INFORMATION STORAGE MEDIUM STORING DEFECT MANAGEMENT INFORMATION, ALTERNATION PROCESSING METHOD OF DEFECT MANAGEMENT INFORMATION, AND APPARATUS PERFORMING ALTERNATION PROCESSING OF DEFECT MANAGEMENT INFORMATION例文帳に追加

欠陥管理情報を格納する情報記憶媒体、欠陥管理情報の交替処理方法、および欠陥管理情報の交替処理を行なう装置 - 特許庁

To make it possible to enhance the detection accuracy of a line defect and to enhance the identification accuracy of the point defect and the line defect in inspection of a TFT array.例文帳に追加

ＴＦＴアレイの検査において、線欠陥の検出精度を高めることができ、また、点欠陥と線欠陥の識別精度を高めること。 - 特許庁

Alternatively, the operator may manually repair the defect in the place of defect after the material stationing machine has automatically returned to the place of defect.例文帳に追加

代替的に、材料配置機械が欠陥の場所に自動的に戻り、その後オペレータが欠陥の場所における欠陥を手動で修復してもよい。 - 特許庁

When defect detection is performed by a defect data detecting part 112c, judgment of reliability of the detection is first performed prior to the defect detection.例文帳に追加

欠陥データ検出部１１２ｃによる欠陥検出を行なう場合、まず、その欠陥検出に先立って、その検出の信頼性判定を行なう。 - 特許庁

To provide a defect correction method capable of easily correcting a fine white defect part without damaging and contaminating the neighborhood of a defect part.例文帳に追加

欠陥部の近傍にダメージを与えたり、汚染することなく、微細な白欠陥部を容易に修正することが可能な欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect correcting device capable of precisely correcting a defect in a short time by being equipped with a defect detection unit for a substrate.例文帳に追加

基板の欠陥検出ユニットを備えることによって、正確かつ短時間で欠陥の修正を行うことが可能な欠陥修正装置を提供する。 - 特許庁

Furthermore, the profile of the defect degree along the X-axis and the profiles of the defect degree along the Y-axis are calculated from the defect degree calculated.例文帳に追加

さらに、算出された欠陥度に基づいて、Ｘ軸に沿った欠陥度のプロファイルおよびＹ軸に沿った欠陥度のプロファイルが算出される。 - 特許庁

To decide accurate defect inspection parameters which are not influenced by the knowledge, etc., of a defect inspection unit, by reducing the occupying time of a defect inspection device.例文帳に追加

欠陥検査装置の占有時間を減少し、欠陥検査者の知識等に左右されることのない正確な欠陥検査パラメータを決定する。 - 特許庁

To provide a defect analyzing system, a defect analyzing method, and a defect analyzing program capable of improving analyzing accuracy and suppressing an increase in an analyzing time.例文帳に追加

解析精度を向上し、且つ解析時間の増大を抑制する欠陥解析システム、欠陥解析方法及び欠陥解析プログラムを提供する。 - 特許庁

METHOD OF ASSESSING STRUCTURAL DEFECT ON WAFER SURFACE例文帳に追加

ウェーハー表面の構造欠陥を査定する方法 - 特許庁

IMAGE DEFECT DETECTING METHOD, AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加

画像欠陥検査方法および画像形成装置 - 特許庁

ILLUMINATION OPTICAL MECHANISM APPARATUS AND DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

照明光学機構装置、および、欠陥検査装置 - 特許庁

COMPOSITE IMPLANT FOR RESTORING TISSUE DEFECT IN PATIENT AND METHOD FOR REPAIRING TISSUE DEFECT例文帳に追加

患者の組織の欠陥を修復するための組み合わせ移植片および組織の欠陥を修復する方法 - 特許庁

METHOD AND EQUIPMENT FOR DETECTING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の欠陥検出法および装置 - 特許庁

TRANSPARENT FILM INSPECTION DEVICE AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

透明フィルム検査装置及び欠陥検出方法 - 特許庁

A defect detection part 25 extracts a defect on an inspection object by using the reduced image information.例文帳に追加

欠陥検出部25は、縮小画像情報を用いて検査対象物上の欠陥を抽出する。 - 特許庁

SUBSTRATE SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE THEREOF例文帳に追加

基板表面欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

To inspect a defect in a mask pattern with high accuracy and to prevent a defect in an exposure pattern on a wafer.例文帳に追加

マスクパターンの欠陥検査を精度良く行い、ウェハ上の露光パターンに欠陥が生じないようにする。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a defect inspection method capable of reliably detecting various defects.例文帳に追加

様々な欠陥を確実に検出し得る欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

SPECIFICATION OF DISSOLUTION DEFECT-GENERATING SOURCE OF OVEN FOR MELTING GLASS AND SYSTEM FOR ANALYZING DISSOLUTION DEFECT-GENERATING SOURCE例文帳に追加

ガラス溶融炉の溶解欠点発生源特定方法および溶解欠点発生源解析システム - 特許庁

METHOD AND PROGRAM FOR DETECTING DEFECT OF IMAGE PICKUP ELEMENT例文帳に追加

撮像素子の欠陥検出方法及びプログラム - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING GROWN-IN DEFECT DENSITY OF SILICON WAFER例文帳に追加

シリコンウエハのグローン・イン欠陥密度の評価方法 - 特許庁

DEFECT HEIGHT ESTIMATION METHOD BY ULTRASONIC FLAW DETECTION例文帳に追加

超音波探傷による欠陥高さ推定方法 - 特許庁

LEAKAGE FLUX FLAW DETECTING-APPARATUS AND METHOD FOR JUDGING DEFECT例文帳に追加

漏洩磁束探傷装置および疵判定方法 - 特許庁

IMPRINT METHOD AND DEFECT INSPECTION METHOD OF TEMPLATE例文帳に追加

インプリント方法及びテンプレートの欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD FOR VERIFYING PRECISION OF SOLIDIFICATION DEFECT PREDICTION ANALYSIS例文帳に追加

凝固欠陥予測解析の精度検証方法 - 特許庁

SHEET DEFECT INSPECTING DEVICE AND SHEET MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

シートの欠陥検査装置及びシートの製造方法 - 特許庁

LED DEFECT DETECTION CIRCUIT, DISPLAY UNIT FOR TRAIN, LED DRIVING CIRCUIT, AND LED DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

ＬＥＤ異常検出回路、列車用表示器、ＬＥＤ駆動回路、およびＬＥＤ異常検出方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD FOR DEFECT OF HONEYCOMB FILTER, INSPECTION DEVICE FOR DEFECT OF HONEYCOMB FILTER, AND MANUFACTURING METHOD FOR HONEYCOMB FILTER例文帳に追加

ハニカムフィルタの欠陥の検査方法、ハニカムフィルタの欠陥の検査装置、及び、ハニカムフィルタの製造方法 - 特許庁

EDGE GRADIENT DETECTION METHOD, STAIN DEFECT DETECTION METHOD, EDGE GRADIENT DETECTION DEVICE AND STAIN DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

エッジ勾配検出方法、シミ欠陥検出方法、エッジ勾配検出装置、シミ欠陥検出装置 - 特許庁

SHEET DEFECT DETECTION METHOD AND SHEET DISCRIMINATION METHOD例文帳に追加

シート欠陥検出方法及びシート分別方法 - 特許庁

METHOD FOR OBSERVING DEFECT ON SEMICONDUCTOR SINGLE CRYSTAL SUBSTRATE例文帳に追加

半導体単結晶基板の欠陥観察方法 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE DEVICE, PIXEL DEFECT INSPECTING METHOD, PIXEL DEFECT INSPECTING PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

液晶表示装置及び画素不良検査方法並びに画素不良検査プログラム及び記憶媒体 - 特許庁

FUSION DEFECT DETECTION METHOD OF RESIN TUBE FUSION PART例文帳に追加

樹脂管融着部の融着不良検出方法 - 特許庁

The tool may identify both a type of defect and individual netlists in which that defect is likely to occur.例文帳に追加

前記ツールは、欠陥の種類及び欠陥が生じ易い個々のネットリストの両方を同定し得る。 - 特許庁