Defectを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 18303件
To provide a rice cooker not to be a product defect even when a dimension defect is generated at a component.例文帳に追加
部品に寸法不良が生じても製品不良とならない炊飯器とする。 - 特許庁
DEFECT HANDLING METHOD AND OPTICAL DISK DEVICE例文帳に追加
欠陥処理方法および光ディスク装置 - 特許庁
DEFECT DETECTION METHOD OF TRANSPARENT GAS BARRIER FILM例文帳に追加
透明ガスバリアフィルムの欠陥検出方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION APPARATUS AND METHOD例文帳に追加
欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加
欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁
SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加
表面欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁
DEFECT OBSERVATION APPARATUS AND METHOD例文帳に追加
欠陥観察装置及び欠陥観察方法 - 特許庁
DEFECT-REMOVING DEVICE, DEFECT-REMOVING METHOD, MANUFACTURING METHOD OF COLOR FILTER, COLOR FILTER AND LIQUID CRYSTAL ELEMENT例文帳に追加
欠陥除去装置、欠陥除去方法、カラーフィルタ製造方法、カラーフィルタ、液晶素子 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT例文帳に追加
欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁
PROFILE-DEFECT DETECTION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
外形欠点の検出方法及びプログラム - 特許庁
EVALUATION METHOD FOR FLAKE DEFECT OF STEEL MATERIAL例文帳に追加
鋼材の白点性欠陥の評価方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTING APPARATUS FOR ROD-LIKE CUTTING TOOL例文帳に追加
棒状切削工具の欠陥検査装置 - 特許庁
To provide a defect correction method for a liquid crystal panel, the method correcting a defect.例文帳に追加
欠陥修正を簡便に行う液晶パネルの欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION METHOD, OPTICAL SCANNING DEVICE, AND PRODUCTION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
欠陥検査装置、欠陥検査方法、光学式走査装置、半導体デバイス製造方法 - 特許庁
DEFECT DETECTOR AND WEB PRODUCTION SYSTEM例文帳に追加
欠陥検出装置及びウェブ生産システム - 特許庁
To obtain a defect analyzing system which can investigate automatically cause of fatal defect.例文帳に追加
自動的に致命不良の原因究明が可能な不良解析システムを提供する。 - 特許庁
NON-UNIFORMITY DEFECT INSPECTION MASK, APPARATUS AND METHOD FOR NON-UNIFORMITY DEFECT INSPECTION, AND METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOMASK例文帳に追加
ムラ欠陥検査マスク、ムラ欠陥検査装置及び方法、並びにフォトマスクの製造方法 - 特許庁
METHOD OF INSPECTING SURFACE DEFECT OF AUTOMOBILE BODY, AND INSPECTION APPARATUS OF SURFACE DEFECT OF THE AUTOMOBILE BODY例文帳に追加
自動車ボディ表面欠陥検査方法、及び自動車ボディ表面欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD OF POWER SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
パワー半導体装置の欠陥検査方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR DEFECT INSPECTION例文帳に追加
欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR DEFECT INSPECTION例文帳に追加
欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR DEFECT INSPECTION例文帳に追加
欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁
To provide a defect inspection method capable of improving accuracy of defect detection.例文帳に追加
欠陥検出の精度を向上させることのできる欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁
DEFECT REVIEW METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE DEFECT REVIEW APPARATUS USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE REVIEW APPARATUS例文帳に追加
SEM式レビュー装置を用いた欠陥レビュー方法及びSEM式欠陥レビュー装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE OF PHOTOMASK, DEFECT INSPECTION METHOD OF PHOTOMASK, AND MANUFACTURING METHOD OF PHOTOMASK例文帳に追加
フォトマスクの欠陥検査装置、フォトマスクの欠陥検査方法及びフォトマスクの製造方法 - 特許庁
iv) Grade D implies that a defect or serious defect has been found in the system of controls. 例文帳に追加
④D評価は、管理態勢に欠陥または重大な欠陥が認められる状態。 - 金融庁
To re-detect a defect previously detected by a defect inspection device with a high throughput.例文帳に追加
欠陥検査装置により予め検出された欠陥を高いスループットで再検出する。 - 特許庁
PIXEL DEFECT INSPECTING DEVICE, PIXEL DEFECT INSPECTING METHOD, CONTROL PROGRAM, AND READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加
画素欠陥検査装置、画素欠陥検査方法、制御プログラムおよび可読記録媒体 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD OF PHOTOMASK, AND PHOTOMASK例文帳に追加
フォトマスクの欠陥検査方法及びフォトマスク - 特許庁
METHOD FOR CORRECTING DEFECT IN MULTI-GRADATION PHOTOMASK AND MULTI-GRADATION PHOTOMASK HAVING DEFECT CORRECTED例文帳に追加
多階調フォトマスクの欠陥修正方法及び欠陥が修正された多階調フォトマスク - 特許庁
CRYSTAL DEFECT INSPECTION METHOD AND CRYSTAL DEFECT INSPECTION APPARATUS OF SILICON CARBIDE SINGLE CRYSTAL例文帳に追加
炭化珪素単結晶の結晶欠陥検査方法および結晶欠陥検査装置 - 特許庁
CRYSTAL DEFECT INSPECTION METHOD AND CRYSTAL DEFECT INSPECTION APPARATUS OF SILICON CARBIDE SINGLE-CRYSTAL WAFER例文帳に追加
炭化珪素単結晶ウェハの結晶欠陥検査方法および結晶欠陥検査装置 - 特許庁
compensating for some fault or defect 例文帳に追加
何らかの誤りまたは欠陥を補うさま - 日本語WordNet
METHOD AND DEVICE FOR DETECTING PINHOLE DEFECT AND CONTAMINATION DEFECT ON TRANSPARENT OBJECT例文帳に追加
透明体上のピンホール欠点および汚れ欠点を検出する方法および装置 - 特許庁
DEFECT REPAIRING DEVICE, DEFECT REPAIRING METHOD, PROGRAM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加
欠陥修復装置、欠陥修復方法、プログラム及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
DEFECT REMOVING DEVICE, DEFECT REMOVING METHOD, MANUFACTURING METHOD OF COLOR FILTER, COLOR FILTER AND LIQUID CRYSTAL ELEMENT例文帳に追加
欠陥除去装置、欠陥除去方法、カラーフィルタ製造方法、カラーフィルタ、液晶素子 - 特許庁
CHARACTERISTIC EXTRACTION METHOD OF IMAGE, TOOL DEFECT INSPECTION METHOD, AND TOOL DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加
画像の特徴抽出方法並びに工具欠陥検査方法と工具欠陥検査装置 - 特許庁
In review work, the defect is extracted in a defect extracting part 3 of an appearance inspection device.例文帳に追加
レビュー作業では外観検査装置の欠陥抽出部3で欠陥抽出を行なう。 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION APPARATUS AND INSPECTION METHOD例文帳に追加
パターン欠陥検査装置及び検査方法 - 特許庁
INSPECTION LIGHT SOURCE APPARATUS AND DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
検査光源装置及び欠陥検査装置 - 特許庁
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