Defectを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 18306件
METHOD FOR DETERMINING CORRELATION VALUE OF OBJECT TO BE INSPECTED, DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEFECT INSPECTION APPARATUS THEREFOR例文帳に追加
被検査対象相関値決定方法、欠陥検査方法とその欠陥検査装置 - 特許庁
To provide a rice cooker not to be a product defect even when a dimension defect is generated at a component.例文帳に追加
部品に寸法不良が生じても製品不良とならない炊飯器とする。 - 特許庁
DEFECT HANDLING METHOD AND OPTICAL DISK DEVICE例文帳に追加
欠陥処理方法および光ディスク装置 - 特許庁
DEFECT DETECTION METHOD OF TRANSPARENT GAS BARRIER FILM例文帳に追加
透明ガスバリアフィルムの欠陥検出方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION APPARATUS AND METHOD例文帳に追加
欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加
欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTING METHOD AND INSPECTING APPARATUS例文帳に追加
パターン欠陥検査方法及び検査装置 - 特許庁
SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加
表面欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁
DEFECT OBSERVATION APPARATUS AND METHOD例文帳に追加
欠陥観察装置及び欠陥観察方法 - 特許庁
FOREIGN SUBSTANCE DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加
異物欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁
COLORANT COMPOSITION FOR CORRECTING COLOR PATTERN DEFECT AND METHOD FOR CORRECTING COLOR FILTER DEFECT例文帳に追加
着色パターン欠陥修正用着色組成物およびカラーフィルタの欠陥修正方法 - 特許庁
This invention relates to the liquid crystal display(LCD) member having the defect repairing function and the defect repairing method therefor.例文帳に追加
欠陥修理機能のある液晶ディスプレイ(LCD)部材とその欠陥修理方法。 - 特許庁
DISPLAY PANEL DEFECT INSPECTION SYSTEM AND METHOD例文帳に追加
ディスプレイパネル欠陥検査システム及び方法 - 特許庁
INTERNAL DEFECT DETECTION SYSTEM FOR SOLID INSULATOR例文帳に追加
固体絶縁物内部欠陥検出システム - 特許庁
DETECTION METHOD AND DEVICE OF SURFACE DEFECT例文帳に追加
表面欠陥の検出方法及び装置 - 特許庁
SUBSTRATE DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加
基板欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTING METHOD AND SUBSTRATE INSPECTING APPARATUS例文帳に追加
欠陥検査方法及び基板検査装置 - 特許庁
UNEVENNESS DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE OF PATTERN例文帳に追加
パターンのムラ欠陥検査方法及び装置 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTING METHOD AND INSPECTING DEVICE例文帳に追加
パターン欠陥検査方法及び検査装置 - 特許庁
PHOTORESIST PATTERN FORMING METHOD WHICH SUPPRESSES OCCURRENCE OF DEFECT AND DEVELOPING SOLUTION FOR DIMINISHING DEFECT例文帳に追加
ディフェクトの発生を抑えたホトレジストパターンの形成方法およびディフェクト低減用現像液 - 特許庁
INSULATED GATE FIELD-DEFECT SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
絶縁ゲート型電界効果半導体装置 - 特許庁
METHOD FOR DETERMINING DEFECT OF FINE CONVEX-CONCAVE PATTERN AND METHOD FOR DETERMINING DEFECT OF PATTERNED MEDIA例文帳に追加
微細凹凸パターンの欠陥判定方法、および、パターンドメディアの欠陥判定方法 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE例文帳に追加
パターン欠陥検査方法および検査装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加
欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加
欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁
To improve yield by modifying a micro hole defect occurring in a micro hole defect work piece.例文帳に追加
微細孔加工品に生じた微細孔欠陥を修正し、歩留りの向上を図る。 - 特許庁
To re-detect a defect previously detected by a defect inspection device with a high throughput.例文帳に追加
欠陥検査装置により予め検出された欠陥を高いスループットで再検出する。 - 特許庁
PIXEL DEFECT INSPECTING DEVICE, PIXEL DEFECT INSPECTING METHOD, CONTROL PROGRAM, AND READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加
画素欠陥検査装置、画素欠陥検査方法、制御プログラムおよび可読記録媒体 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD OF PHOTOMASK, AND PHOTOMASK例文帳に追加
フォトマスクの欠陥検査方法及びフォトマスク - 特許庁
METHOD FOR CORRECTING DEFECT IN MULTI-GRADATION PHOTOMASK AND MULTI-GRADATION PHOTOMASK HAVING DEFECT CORRECTED例文帳に追加
多階調フォトマスクの欠陥修正方法及び欠陥が修正された多階調フォトマスク - 特許庁
CRYSTAL DEFECT INSPECTION METHOD AND CRYSTAL DEFECT INSPECTION APPARATUS OF SILICON CARBIDE SINGLE CRYSTAL例文帳に追加
炭化珪素単結晶の結晶欠陥検査方法および結晶欠陥検査装置 - 特許庁
CRYSTAL DEFECT INSPECTION METHOD AND CRYSTAL DEFECT INSPECTION APPARATUS OF SILICON CARBIDE SINGLE-CRYSTAL WAFER例文帳に追加
炭化珪素単結晶ウェハの結晶欠陥検査方法および結晶欠陥検査装置 - 特許庁
compensating for some fault or defect 例文帳に追加
何らかの誤りまたは欠陥を補うさま - 日本語WordNet
METHOD AND DEVICE FOR DETECTING PINHOLE DEFECT AND CONTAMINATION DEFECT ON TRANSPARENT OBJECT例文帳に追加
透明体上のピンホール欠点および汚れ欠点を検出する方法および装置 - 特許庁
DEFECT REPAIRING DEVICE, DEFECT REPAIRING METHOD, PROGRAM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加
欠陥修復装置、欠陥修復方法、プログラム及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
DEFECT REMOVING DEVICE, DEFECT REMOVING METHOD, MANUFACTURING METHOD OF COLOR FILTER, COLOR FILTER AND LIQUID CRYSTAL ELEMENT例文帳に追加
欠陥除去装置、欠陥除去方法、カラーフィルタ製造方法、カラーフィルタ、液晶素子 - 特許庁
CHARACTERISTIC EXTRACTION METHOD OF IMAGE, TOOL DEFECT INSPECTION METHOD, AND TOOL DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加
画像の特徴抽出方法並びに工具欠陥検査方法と工具欠陥検査装置 - 特許庁
In review work, the defect is extracted in a defect extracting part 3 of an appearance inspection device.例文帳に追加
レビュー作業では外観検査装置の欠陥抽出部3で欠陥抽出を行なう。 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION APPARATUS AND INSPECTION METHOD例文帳に追加
パターン欠陥検査装置及び検査方法 - 特許庁
INSPECTION LIGHT SOURCE APPARATUS AND DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
検査光源装置及び欠陥検査装置 - 特許庁
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