Defectを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 18306件
INSPECTION METHOD OF PATTERN DEFECT AND INSPECTION DEVICE THEREOF例文帳に追加
パターン欠陥検査方法および装置 - 特許庁
IMAGE PROCESSING DEVICE AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加
画像処理装置及び欠陥検査装置 - 特許庁
SURFACE DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加
表面欠陥検出方法及び装置 - 特許庁
DEFECT DETECTION METHOD AND IMAGE PICKUP DEVICE例文帳に追加
欠陥検出方法および撮像装置 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD FOR DEFECT-MARKED COIL例文帳に追加
欠陥マーキングされたコイルの製造方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT例文帳に追加
欠陥検査方法と欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT MEASURING DEVICE AND METHOD OF SPECIMEN例文帳に追加
試料の欠陥測定装置及び方法 - 特許庁
METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF DISPLAY PANEL例文帳に追加
ディスプレイパネルの欠陥を検査する方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTING APPARATUS AND METHOD例文帳に追加
欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁
SURFACE DEFECT EVALUATION METHOD OF SILICON WAFER例文帳に追加
シリコンウェーハの表面欠陥評価方法 - 特許庁
METHOD FOR CORRECTING PIXEL DEFECT OF IMAGE PICKUP DEVICE例文帳に追加
撮像素子の画素欠陥補正方法 - 特許庁
To provide a defect inspection method and a defect inspection device with high detection sensitivity.例文帳に追加
検出感度の高い欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
MICROSCOPE DEVICE WITH FUNCTION OF CORRECTING DEFECT例文帳に追加
欠陥修正機能付き顕微鏡装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加
欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁
INFORMATION MEDIUM USING DEFECT INFORMATION例文帳に追加
欠陥情報を利用した情報媒体 - 特許庁
Hereby, the defect signal for showing the defect on the substrate 2 becomes easy to detect.例文帳に追加
これにより、基板2上の欠陥を表す欠陥信号が検出し易くなる。 - 特許庁
METHOD FOR DETECTING DEFECT USING LEAKAGE SURFACE ACOUSTIC WAVE, AND DEFECT DETECTING DEVICE例文帳に追加
漏洩弾性表面波を用いた欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁
METHOD FOR REMOVING DEFECT IN LIQUID CRYSTAL COLOR FILTER AND LIQUID CRYSTAL PANEL WITH DEFECT REMOVED例文帳に追加
液晶カラーフィルタの欠陥除去方法および欠陥除去された液晶パネル - 特許庁
Thereby, only a spot defect image 41, an allowable defect image 42, and a stain defect image 53 remain in the composite image 60, to thereby detect a defect surely.例文帳に追加
これにより、合成画像60には、ブツ欠陥画像41、許容欠陥画像42、ヨゴレ欠陥画像53のみが残り、欠陥を確実に検出することができる。 - 特許庁
DEFECT MANAGEMENT ENABLED PIRM AND METHOD例文帳に追加
欠陥管理可能PIRM及び方法 - 特許庁
To an entry registered in a TLB, "a defect frequency" and "a defect threshold " are added.例文帳に追加
TLBに登録されるエントリに「障害回数」、及び、「障害閾値」を追加する。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR PICTURE DEFECT DETECTION, AND PROGRAM FOR PICTURE DEFECT DETECTION例文帳に追加
画面欠陥検出方法及び装置並びに画面欠陥検出のためのプログラム - 特許庁
DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE OF SCREEN例文帳に追加
画面の欠陥検出方法及び装置 - 特許庁
STORAGE DEVICE FOR DETECTING DEFECT IN RECORDING MEDIUM, DEFECT DETECTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
記録媒体の欠陥を検出する記憶装置、欠陥検出方法、及びプログラム - 特許庁
To surely detect any defect at the time of detecting an image defect by template matching.例文帳に追加
テンプレートマッチングによる画像欠陥検出において欠陥を確実に検出する。 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加
欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加
欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁
ARTICLE DEFECT INFORMATION DETECTOR AND ARTICLE DEFECT INFORMATION DETECTING/PROCESSING PROGRAM例文帳に追加
物品欠陥情報検出装置及び物品欠陥情報検出処理プログラム - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD OF GLASS TUBE FOR VESSELS例文帳に追加
管球用ガラス管の欠陥検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEFECT ANALYSIS DISPLAY SYSTEM例文帳に追加
半導体メモリ不良解析表示システム - 特許庁
LIQUID IMMERSION MICROSCOPE AND DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
液浸顕微鏡、及び欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT RELEVANCE DISPLAYING APPARATUS, SUBSTRATE TESTING APPARATUS, AND DEFECT RELEVANCE DISPLAYING METHOD例文帳に追加
欠陥関連性表示装置、基板検査装置、および欠陥関連性表示方法 - 特許庁
DEFECT ANALYSIS METHOD OF SILICON SINGLE CRYSTAL例文帳に追加
シリコン単結晶の欠陥解析方法 - 特許庁
DEFECT ANALYSIS METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND DEFECT ANALYSIS METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の不良解析方法及び半導体装置の不良解析システム - 特許庁
There is such a thing as a defect in a story.例文帳に追加
物語の欠陥のようなものです。 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
An irregular defect is detected in image data wherein the point/strain defect is repaired in the point/strain defect repair process ST200 (irregular defect detection process ST300).例文帳に追加
点・シミ欠陥修補工程ST200にて点欠陥・シミ欠陥が修補された画像データにおいてムラ欠陥を検出する(ムラ欠陥検出工程ST300)。 - 特許庁
DEFECT DETECTION METHOD AND APPARATUS OF SCREEN例文帳に追加
画面の欠陥検出方法及び装置 - 特許庁
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