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Defectを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 18303



例文

METHOD AND DEVICE FOR PICTURE DEFECT DETECTION, AND PROGRAM FOR PICTURE DEFECT DETECTION例文帳に追加

画面欠陥検出方法及び装置並びに画面欠陥検出のためのプログラム - 特許庁

DEFECT MANAGEMENT ENABLED PIRM AND METHOD例文帳に追加

欠陥管理可能PIRM及び方法 - 特許庁

To an entry registered in a TLB, "a defect frequency" and "a defect threshold " are added.例文帳に追加

TLBに登録されるエントリに「障害回数」、及び、「障害閾値」を追加する。 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE OF SCREEN例文帳に追加

画面の欠陥検出方法及び装置 - 特許庁

例文

Hereby, the defect signal for showing the defect on the substrate 2 becomes easy to detect.例文帳に追加

これにより、基板2上の欠陥を表す欠陥信号が検出し易くなる。 - 特許庁


例文

STORAGE DEVICE FOR DETECTING DEFECT IN RECORDING MEDIUM, DEFECT DETECTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

記録媒体の欠陥を検出する記憶装置、欠陥検出方法、及びプログラム - 特許庁

To surely detect any defect at the time of detecting an image defect by template matching.例文帳に追加

テンプレートマッチングによる画像欠陥検出において欠陥を確実に検出する。 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING PIXEL DEFECT OF IMAGE PICKUP DEVICE例文帳に追加

撮像素子の画素欠陥補正方法 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device with high detection sensitivity.例文帳に追加

検出感度の高い欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

例文

DEFECT ANALYZSIS DEVICE, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

不良解析装置と方法及びプログラム - 特許庁

例文

MICROSCOPE DEVICE WITH FUNCTION OF CORRECTING DEFECT例文帳に追加

欠陥修正機能付き顕微鏡装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

INFORMATION MEDIUM USING DEFECT INFORMATION例文帳に追加

欠陥情報を利用した情報媒体 - 特許庁

DEVICE, METHOD, AND PROGRAM FOR DEFECT DETECTION例文帳に追加

欠陥検出装置、方法、及びプログラム - 特許庁

DEFECT SURVEYING DEVICE FOR FLUID CONVEYING PIPE例文帳に追加

流体輸送管の欠陥部探査装置 - 特許庁

METHOD OF MEASURING DEFECT DENSITY IN SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

単結晶の欠陥密度測定方法 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECT USING LEAKAGE SURFACE ACOUSTIC WAVE, AND DEFECT DETECTING DEVICE例文帳に追加

漏洩弾性表面波を用いた欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE OF PLANE DISPLAY DEVICE例文帳に追加

平面表示装置の欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT IMAGE SENSING DEVICE AND IMAGE SENSING METHOD例文帳に追加

欠陥撮像装置及び撮像方法 - 特許庁

METHOD FOR REPAIRING DEFECT ON ALUMINUM CAST MEMBER例文帳に追加

アルミ鋳物部材の欠陥補修方法 - 特許庁

When a defect is observed during the defect inspection, defect information such as a position, a size and a shape of the defect is recorded, and a data such as the number of the defects is displayed.例文帳に追加

欠陥検査中に欠陥を発見した場合、その欠陥の位置や大きさ、形状などの欠陥情報を記録し欠陥数などのデータを表示する。 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, PRODUCTION AND DEFECT CORRECTION APPARATUS例文帳に追加

アクティブマトリクス基板の欠陥修正方法、製造方法及び欠陥修正装置 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING DEFECT IN METAL MATERIAL例文帳に追加

金属材料中の欠陥検査方法 - 特許庁

PERIODICAL DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

周期性欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF PATTERN DEFECT AND INSPECTION DEVICE THEREOF例文帳に追加

パターン欠陥検査方法および装置 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF COIL WITH DEFECT MARKED THEREON例文帳に追加

欠陥マーキングしたコイルの製造方法 - 特許庁

INSULATION DEFECT INSPECTION DEVICE OF ROTATING ELECTRICAL MACHINE COIL, AND METHOD FOR INSPECTING INSULATION DEFECT例文帳に追加

回転電機巻線の絶縁欠陥検査装置および絶縁欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD OF DETECTING DEFECT, AND APPARATUS FOR THE SAME例文帳に追加

欠陥検出方法及びその装置 - 特許庁

ELECTRON BEAM DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

電子線装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT DETECTING DEVICE OF EXHAUST PURIFYING FILTER例文帳に追加

排気浄化フィルタの欠陥検出装置 - 特許庁

UNDERWATER DEFECT INSPECTION DEVICE FOR LINING TANK例文帳に追加

ライニング貯槽の水中欠陥検査装置 - 特許庁

APPARATUS FOR INSPECTING DISPLAY DEFECT OF DISPLAY PANEL例文帳に追加

表示パネルの表示欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT DETECTING UNIT, DEFECT DETECTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD FOR PATTERN SUBSTRATE例文帳に追加

欠陥検出装置及び欠陥検出方法並びにパターン基板の製造方法 - 特許庁

DEFECT EVALUATION METHOD FOR SEMICONDUCTOR CRYSTAL例文帳に追加

半導体結晶の欠陥評価方法 - 特許庁

MEDIA DRIVE AND METHOD OF GENERATING DEFECT MAP FOR REGISTERING DEFECT POSITION OF MEDIA例文帳に追加

メディア・ドライブ及びメディアの欠陥位置を登録するディフェクト・マップを生成する方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

パターン欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

MATERIAL DEFECT DETECTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

材料欠陥検出方法および装置 - 特許庁

METHOD FOR REMOVING DEFECT IN LIQUID CRYSTAL COLOR FILTER AND LIQUID CRYSTAL PANEL WITH DEFECT REMOVED例文帳に追加

液晶カラーフィルタの欠陥除去方法および欠陥除去された液晶パネル - 特許庁

METHOD OF INSPECTING PLASTIC MOLDED PRODUCT FOR DEFECT例文帳に追加

プラスチック成型品の欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD FOR REDUCING DEFECT CONCENTRATION IN CRYSTAL例文帳に追加

結晶中の欠陥濃度低減方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEFECT ANALYSIS DISPLAY SYSTEM例文帳に追加

半導体メモリ不良解析表示システム - 特許庁

LIQUID IMMERSION MICROSCOPE AND DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

液浸顕微鏡、及び欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT RELEVANCE DISPLAYING APPARATUS, SUBSTRATE TESTING APPARATUS, AND DEFECT RELEVANCE DISPLAYING METHOD例文帳に追加

欠陥関連性表示装置、基板検査装置、および欠陥関連性表示方法 - 特許庁

DEFECT ANALYSIS METHOD OF SILICON SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

シリコン単結晶の欠陥解析方法 - 特許庁

DEFECT ANALYSIS METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND DEFECT ANALYSIS METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の不良解析方法及び半導体装置の不良解析システム - 特許庁

There is such a thing as a defect in a story.例文帳に追加

物語の欠陥のようなものです。 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

EXPOSURE DEVICE AND MASK DEFECT MONITOR METHOD例文帳に追加

露光装置およびマスク欠陥モニタ方法 - 特許庁

WHITE DEFECT CORRECTION DEVICE OF SOLID-STATE IMAGING ELEMENT例文帳に追加

固体撮像素子の白キズ補正装置 - 特許庁

DEFECT CORRECTION DEVICE AND DEFECT CORRECTION METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING PATTERN SUBSTRATE例文帳に追加

欠陥修正装置及び欠陥修正方法、並びにパターン基板製造方法 - 特許庁

例文

SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE FOR BAND LIKE BODY例文帳に追加

帯状体の表面欠陥検査装置 - 特許庁




  
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