「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

LINE INSPECTION DEVICE FOR METAL SURFACE DEFECT例文帳に追加

金属表面欠陥ライン検査装置 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING DEFECT OF SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加

半導体素子の欠陥解析方法 - 特許庁

DEFECT CHECKING METHOD AND APPARATUS FOR THE SAME例文帳に追加

欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD BY IMAGE RECOGNITION例文帳に追加

画像認識による不良検査方法 - 特許庁

SHAPE DEFECT INSPECTION DEVICE, SHAPE MODELING DEVICE, AND SHAPE DEFECT INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

形状欠損検査装置、形状モデリング装置および形状欠損検査プログラム - 特許庁

No alignment defect is therefore caused and a display defect does not occur.例文帳に追加

従って、配向欠陥を誘発することがなく、表示不良になることがない。 - 特許庁

INTERNAL DEFECT DETECTION METHOD FOR FORGING例文帳に追加

鍛造品の内部欠陥検出方法 - 特許庁

To prevent color irregularity and color development defect.例文帳に追加

色むらや発色不良を防止する。 - 特許庁

ROAD SURFACE DEFECT DETECTION SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

路面欠陥検出システム及び方法 - 特許庁

DEFECT ANALYSIS SYSTEM, RECORDING MEDIUM, DEFECT ANALYZING METHOD AND PROCESS CONTROLLING METHOD例文帳に追加

欠陥解析システム、記録媒体、欠陥解析方法、及び工程管理方法 - 特許庁

DEFECT CORRECTION METHOD FOR PHASE SHIFT MASK例文帳に追加

位相シフトマスクの欠陥修正方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR SURFACE DEFECT INSPECTION例文帳に追加

表面欠陥検査装置及び方法 - 特許庁

To efficiently exclude an initial defect.例文帳に追加

初期不良を効率的に排除する。 - 特許庁

VACANCY DOMINATED SILICON HAVING LOW DEFECT DENSITY例文帳に追加

低欠陥密度の空孔優勢シリコン - 特許庁

DEFECT PIXEL DETECTION METHOD FOR SOLID-STATE IMAGE PICKUP ELEMENT AND PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加

固体撮像素子の欠陥画素検出方法および画素欠陥補正方法 - 特許庁

CAMERA HAVING EXPOSURE DEFECT DETECTION MECHANISM例文帳に追加

露出不良検知機構を備えたカメラ - 特許庁

MANUFACTURING DEFECT FACTOR ANALYSIS SUPPORT DEVICE例文帳に追加

製造不良要因分析支援装置 - 特許庁

IMAGING METHOD, DEFECT DETERMINATION METHOD, AND DEFECT DETERMINATION DEVICE FOR HOLOGRAM例文帳に追加

ホログラムの撮像方法および欠陥判別方法ならびに欠陥判別装置 - 特許庁

DEFECT DETECTING METHOD, MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND DEFECT DETECTOR例文帳に追加

欠陥検出方法、半導体装置の製造方法および欠陥検出装置 - 特許庁

IMAGING DEVICE, DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION METHOD AND ELECTRON BEAM INSPECTION DEVICE例文帳に追加

撮像装置、欠陥検査装置、欠陥検査方法及び電子線検査装置 - 特許庁

DEFECT OBSERVATION METHOD AND DEVICE FOR THE SAME例文帳に追加

欠陥観察方法及びその装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

表面欠陥検査装置及び方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

表面欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

STATIC RAM CIRCUIT FOR ANALYZING DEFECT例文帳に追加

欠陥分析用スタティックＲＡＭ回路 - 特許庁

METHOD AND DEVICE AND INSPECTING DEFECT ON FILM例文帳に追加

フィルム欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING CELL WITH GENETIC DEFECT例文帳に追加

遺伝子異常細胞の解析方法 - 特許庁

The defect inspection of the design pattern 3 and the defect inspection of the monitor pattern 5 are performed by using the defect inspection apparatus and after the defect of the monitor pattern 5 is confirmed to be detectable by the defect inspection apparatus, the defect of the design pattern 3 detected in the defect inspection is corrected.例文帳に追加

そして、欠陥検査装置を用いて設計パタン３の欠陥検査およびモニタパタン５の欠陥検査を行い、欠陥検査装置によってモニタパタン５の欠陥が検出可能であることを確認した後、欠陥検査において検出された設計パタン３の欠陥を修正する。 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR DEPTH OF DEFECT IN STRUCTURE例文帳に追加

構造物欠陥深さ測定方法 - 特許庁

RECORDING MEDIUM HAVING SPARE AREA FOR DEFECT MANAGEMENT AND INFORMATION ON DEFECT MANAGEMENT例文帳に追加

欠陥管理のための余裕空間とその管理情報を有する記録媒体 - 特許庁

IMAGING APPARATUS AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT例文帳に追加

撮像装置および欠陥補正方法 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE DEFECT DETECTION DEVICE FOR THIN SHEET例文帳に追加

薄板の非破壊欠陥検出装置 - 特許庁

UNEVENNESS DEFECT INSPECTION DEVICE OF TRAVELING SHEET例文帳に追加

走行シートの凹凸不良検査装置 - 特許庁

DEFECT DETECTING CIRCUIT AND IMAGING DEVICE例文帳に追加

欠陥検出回路及び撮像装置 - 特許庁

METHOD OF SIMULATING POINT DEFECT AREA AND MINUTE DEFECT DISTRIBUTION OF SILICON SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

シリコン単結晶の点欠陥領域と微小欠陥分布のシミュレーション方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, ITS DEVICE, DEFECT ANALYSIS METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法及びその装置並びに欠陥解析方法及びその装置 - 特許庁

ELECTRICAL DEFECT ANALYSIS METHOD OF WIRING BOARD AND ELECTRICAL DEFECT ANALYSIS APPARATUS例文帳に追加

配線基板の電気的欠陥解析方法および電気的欠陥解析装置 - 特許庁

CORD CONNECTION DEFECT INSPECTING DEVICE FOR HARNESS例文帳に追加

ハーネスのコード接続不良検査装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION DEVICE AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

欠陥検出装置及びコンピュータプログラム - 特許庁

DEFECT DETECTION DEVICE FOR FPD SUBSTRATE例文帳に追加

ＦＰＤ用基板の欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD FOR ROLLED STEEL SHEET例文帳に追加

圧延鋼板の欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT DETECTING METHOD FOR PATTERN AND ITS DEVICE例文帳に追加

パターンの欠陥検出方法と装置 - 特許庁

DEFECT INFORMATION DISPLAY DEVICE AND METHOD例文帳に追加

欠陥情報表示装置及び方法 - 特許庁

METHOD OF MARKING DEFECT OF OPTICAL FILM例文帳に追加

光学フィルムの欠陥のマーキング方法 - 特許庁

DEFECT OBSERVING METHOD AND APPARATUS OF THE SAME例文帳に追加

欠陥観察方法及びその装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DEFECT JUDGEMENT例文帳に追加

疵判定方法及び疵判定装置 - 特許庁