「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

DEFECT INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の不良検査法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE FOR DISPLAY DEVICE例文帳に追加

ディスプレイ装置の欠陥検査装置 - 特許庁

PHOTORECEPTOR MEMBER DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

感光体部材欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECT IN SILICON WAFER例文帳に追加

シリコンウェハの欠陥検出方法 - 特許庁

A defect list for reproducing the defect management information from the defect management area is provided and the defect list is registered to a primary defect list to which the address of a defect found at the time of initialization is registered (step 21).例文帳に追加

欠陥管理領域から欠陥管理情報を再生するための欠陥リストを備えて、この欠陥リストを、初期化時に発見された欠陥のアドレスを登録した一次欠陥リストに登録する（ステップ２１）。 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD FOR SPECTACLE LENS例文帳に追加

眼鏡レンズの欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION SELECTION CORRECTION SYSTEM例文帳に追加

欠陥検出選別修正システム - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE INSPECTION DEVICE FOR CONCRETE DEFECT例文帳に追加

コンクリート欠陥非破壊検査装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD OF PRESS COMPONENT例文帳に追加

プレス部品の欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

欠陥検出方法及びプログラム - 特許庁

CONSTRUCTION STRUCTURE DEFECT SENSOR例文帳に追加

建築構造物損傷検知装置 - 特許庁

DEFECT CONTROL BY OXIDATION OF SILICON例文帳に追加

シリコンの酸化による欠陥低減 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR DETECTION OF DEFECT例文帳に追加

欠陥検出装置及び方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTING DEVICE OF LIQUID CRYSTAL PANEL例文帳に追加

液晶パネルの欠陥検査装置 - 特許庁

COATING DEFECT ANALYZING SYSTEM, COATING DEFECT ANALYZING METHOD AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

塗装欠陥解析システム、塗装欠陥解析方法及びコンピュータプログラム - 特許庁

FILTER DESIGN METHOD, FILTER, DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

フィルタの設計方法、フィルタ、欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING CONCRETE DEFECT DURING PLACING AND INSPECTION DEVICE OF THE DEFECT例文帳に追加

打設中のコンクリート欠陥検出方法及び該欠陥の検査装置 - 特許庁

CAM CAPABLE OF RESTORING COLUMN DEFECT AND COLUMN DEFECT RESTORATION METHOD例文帳に追加

カラム欠陥復旧が可能なＣＡＭ及びカラム欠陥復旧方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT ANALYSIS SUPPORT APPARATUS AND PATTERN DEFECT ANALYSIS SUPPORT PROGRAM例文帳に追加

パターン欠陥解析支援装置およびパターン欠陥解析支援プログラム - 特許庁

SELF DISCHARGE DEFECT DETECTION DEVICE AND SELF DISCHARGE DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

自己放電不良検出装置および自己放電不良検出方法 - 特許庁

To efficiently detect a defect, while enhancing the accuracy of defect detection.例文帳に追加

欠陥検出の精度を高めつつ、効率良く欠陥を検出する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE OF SEALED HONEYCOMB STRUCTURE例文帳に追加

目封止ハニカム構造体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE FOR HONEYCOMB FILTER例文帳に追加

ハニカムフィルタの欠陥の検査方法、及び、ハニカムフィルタの欠陥の検査装置 - 特許庁

PAINTED SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND PAINTED SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

塗装表面欠陥検査方法及び塗装表面欠陥検査装置 - 特許庁

A defect signal and defect position data are input to an FPGA-B 57.例文帳に追加

欠陥信号、欠陥位置データはＦＰＧＡ−Ｂ５７に入力される。 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD FOR TRANSPARENT CONDUCTIVE FILM AND DEFECT DETECTION DEVICE THEREOF例文帳に追加

透明導電膜の欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁

DESIGN METHOD OF FILTER, FILTER, DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

フィルタの設計方法、フィルタ、欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT REVIEW SYSTEM, DEFECT REVIEW METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

欠陥レビューシステム、欠陥レビュー方法、及び電子装置の製造方法 - 特許庁

HOLE FILLER DEFECT INSPECTION SYSTEM OF PRINTED BOARD AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

プリント基板の穴充填部欠陥検査システム及び欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING DEFECT OF MULTILAYER WIRING STRUCTURE AND DEFECT ANALYZING DEVICE例文帳に追加

多層配線構造の不良解析方法および不良解析装置 - 特許庁

DEFECT RECOGNIZING METHOD, DEFECT OBSERVING METHOD, AND CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM例文帳に追加

欠陥認識方法、欠陥観察方法、及び荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

DEFECT MARK MARKING METHOD, AND METAL STRIP WITH DEFECT MARK MARKED THEREON例文帳に追加

欠陥マークのマーキング方法および欠陥マークをマーキングした金属帯 - 特許庁

To reliably correct a short-circuiting defect even when the defect is minute.例文帳に追加

短絡欠陥が微小であっても、その欠陥を確実に修正する。 - 特許庁

FOLDING DEFECT DETECTING METHOD, FOLDING DEFECT DETECTING DEVICE AND FOLDING MACHINE例文帳に追加

折り不良検出方法及び折り不良検出装置並びに折り機 - 特許庁

To provide a defect inspection device, a defect inspection system and a defect inspection method that use defect data for analysis without lowering the number of samples of a defect with a high killer rate.例文帳に追加

キラー率が高い欠陥のサンプリング数を低下させずに欠陥データを解析に用いることが可能な欠陥検査装置、欠陥検査システム及び欠陥データ処理方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING BLACK DEFECT IN CHROMIUM MASK例文帳に追加

クロムマスク黒欠陥修正方法 - 特許庁

DEFECT REVIEW METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

欠陥レビュー方法及びその装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTING METHOD AND ITS APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTING METHOD FOR DRIVE BELT例文帳に追加

駆動用ベルトの欠陥検査方法 - 特許庁

DISPLAY DEVICE FOR IC DEFECT ANALYSIS例文帳に追加

ＩＣ不良解析用表示装置 - 特許庁

DEFECT CORRECTION APPARATUS FOR DISPLAY DEVICE例文帳に追加

表示装置の欠陥修正装置 - 特許庁

DEFECT-INSPECTING DEVICE OF GLASS BOTTLE MOUTH例文帳に追加

ガラス壜口部の欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTION OF DEFECT IN COLOR FILTER例文帳に追加

カラーフィルタの欠陥修正方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置およびその方法 - 特許庁