「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

CORRECTING METHOD OF PHOTOMASK DEFECT例文帳に追加

フォトマスク欠陥修正方法 - 特許庁

APPARATUS FOR ANALYZING SEMICONDUCTOR DEFECT例文帳に追加

半導体不良解析装置 - 特許庁

CYLINDRICAL BODY DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

円筒体欠陥検査装置 - 特許庁

INSPECTION APPARATUS FOR DEFECT OF TAPE CARRIER例文帳に追加

テープキャリア欠陥検査装置 - 特許庁

DETECTION METHOD OF CRACK DEFECT例文帳に追加

亀裂欠陥の検出方法 - 特許庁

SURFACE SCRATCH DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

表面キズ欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT CORRECTING METHOD FOR PATTERN例文帳に追加

パターンの欠陥修正方法 - 特許庁

It's... a genetic defect of some kind.例文帳に追加

遺伝子の欠陥か何かよ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Why didn't he defect to our side?!例文帳に追加

なぜ こちらに つかぬのじゃ! - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

METHOD FOR CORRECTION OF MASK DEFECT例文帳に追加

マスクの欠陥修正方法 - 特許庁

METHOD OF CORRECTING PHOTOMASK DEFECT例文帳に追加

フォトマスク欠陥修正方法 - 特許庁

IMPROVED DEFECT DETECTION SYSTEM例文帳に追加

不良検出システムの改良 - 特許庁

DETERMINATION OF REAL-TIME DEFECT CAUSE例文帳に追加

リアルタイム欠陥原因決定 - 特許庁

It is a defect data analysis method to analyze the defect distribution status based on defect position coordinates detected by an inspection device to classify into any one of the distribution characteristics categories among iterations defect, high density defect, line distribution defect, ring/massive distribution defect, and random defect.例文帳に追加

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, DEFECT INSPECTING APPARATUS, DEFECT INSPECTION PROGRAM, RECORDING MEDIUM STORING THE PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加

欠陥検査方法、欠陥検査装置、欠陥検査プログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

POTENTIAL-DIFFERENCE-METHOD TERMINAL FOR DEFECT DETECTION AND DEFECT DETECTING APPARATUS例文帳に追加

欠陥検出用電位差法端子並びに欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

EVALUATION METHOD OF PIN HOLE DEFECT例文帳に追加

ピンホール欠陥の評価方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT DETECTOR AND SURFACE DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

表面欠陥検出装置および表面欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEFECT INSPECTION DEVICE USING SAME例文帳に追加

欠陥検査方法およびその方法を用いた欠陥検査装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION APPARATUS AND SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

表面欠陥検査装置および表面欠陥検出方法 - 特許庁

IMPROVEMENT FOR DEFECT DETECTION SYSTEM例文帳に追加

不良検出システムの改良 - 特許庁

APPARATUS FOR DETECTING DEFECT OF IMAGE AND ITS DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

画像の欠陥検出装置及びその欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTION DEVICE OF PLATE BODY例文帳に追加

板状体の欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

不良検査方法及び装置 - 特許庁

DEFECT CLASSIFICATION METHOD, ITS DEVICE, AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥分類方法及びその装置並びに欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE FOR FILM, AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR FILM例文帳に追加

フィルムの欠陥検査装置およびフィルムの欠陥検査方法 - 特許庁

To provide a defect detection method, a defect detection device and a defect detection program, for detecting a stripe defect with high accuracy.例文帳に追加

スジ状欠陥を精度よく検出する欠陥検出方法、欠陥検出装置、および欠陥検出プログラムを提供する。 - 特許庁

ANTICIPATED DEFECT LOCATION IDENTIFICATION METHOD AND ANTICIPATED DEFECT LOCATION IDENTIFICATION TOOL例文帳に追加

見込み欠陥位置同定方法、見込み欠陥位置同定ツール - 特許庁

DEFECT MARKING AND DEFECT REMOVING METHOD FOR STEEL SHEET AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

鋼板の欠陥マーキングと欠陥除去方法およびその装置 - 特許庁

To minimize defect occurrence and defect processing cost by performing defect processing corresponding to the importance of an article defect.例文帳に追加

物品不具合の重要度に応じた不具合処理を行うことにより、不具合発生や不具合処理費用の極小化を図る。 - 特許庁

This detects a film thickness defect (first defect) and a film stripped part (second defect) of the protective film 15.例文帳に追加

保護膜１５の膜厚不良部（第１の欠陥）、膜剥離部（第２の欠陥）を検出する。 - 特許庁

COLOR FILTER DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

カラーフィルタの欠陥検査方法 - 特許庁

CRYSTAL DEFECT-DETECTING APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING CRYSTAL DEFECT例文帳に追加

結晶欠陥検出装置及び結晶欠陥検出方法 - 特許庁

GLASS SUBSTRATE DEFECT CHECKUP DEVICE AND GLASS SUBSTRATE DEFECT CHECKUP METHOD例文帳に追加

ガラス基板欠陥検査装置及びガラス基板欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR COLOR FILTER SUBSTRATE例文帳に追加

カラーフィルタ基板の欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT MARKING METHOD, DEFECT MARKING DEVICE, AND DEFECT DETECTING SYSTEM FOR ANTI-GLARE DIE例文帳に追加

欠陥マーキング方法、欠陥マーキング装置および防眩処理用金型の欠陥検出システム - 特許庁

DEFECT CORRECTION METHOD AND DEFECT CORRECTION DEVICE OF REFLECTIVE MASK例文帳に追加

反射型マスクの欠陥修正方法及び欠陥修正装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置及び方法 - 特許庁

DEFECT DETECTING DEVICE AND DEFECT DETECTING METHOD OF ROLLED FILM例文帳に追加

ロール状フィルムの欠陥検出装置及び欠陥検出方法 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECT OF SUSCEPTOR例文帳に追加

サセプタの欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT ANALYSIS APPARATUS FOR PERFORMING DEFECT NAVIGATION OVER DEVICE UNDER TEST例文帳に追加

被試験デバイスの不良ナビゲーションを行う不良解析装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEFECT INSPECTION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

半導体欠陥検査装置および半導体欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION DEVICE AND DEFECT DETECTION METHOD OF HOLOGRAM PRODUCT例文帳に追加

ホログラム製品の欠陥検出装置および欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT REGISTERING METHOD, DEFECT MAP RECORDING MEDIUM AND DISK DEVICE例文帳に追加

欠陥登録方法、ディフェクト・マップ記録媒体、およびディスク装置 - 特許庁