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「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索


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Defectを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 18306



例文

IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT CLASSIFICATION DEVICE, AND IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

画像欠陥検査装置、欠陥分類装置及び画像欠陥検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYZING APPARATUS, DEFECT ANALYZING METHOD, AND DEFECT ANALYZING PROGRAM例文帳に追加

半導体不良解析装置、不良解析方法、及び不良解析プログラム - 特許庁

CONNECTOR DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

コネクタ不具合検査装置 - 特許庁

WORK DEFECT DETECTION SYSTEM例文帳に追加

ワーク不良検出システム - 特許庁

例文

INSPECTING APPARATUS FOR SUBSTRATE DEFECT例文帳に追加

基板欠陥検査装置 - 特許庁


例文

EQUIPMENT DEFECT NOTIFYING SYSTEM例文帳に追加

設備異常通知方式 - 特許庁

PHOTOMASK DEFECT REPAIR DEVICE例文帳に追加

フォトマスク欠陥リペア装置 - 特許庁

A defect correction function section 184 corrects the defect by using defect information read from the defect address memory 38b.例文帳に追加

欠陥アドレスメモリ38b から読み出した欠陥情報を用いて欠陥補正機能部184 で欠陥補正を行う。 - 特許庁

DEFECT INSPECTING APPARATUS, DEFECT INSPECTION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査方法およびプログラム - 特許庁

例文

DEFECT INSPECTION SUPPORT DEVICE AND DEFECT INSPECTION SUPPORT METHOD例文帳に追加

欠陥検査支援装置、欠陥検査支援方法 - 特許庁

例文

OBSERVED DEFECT SELECTING/PROCESSING METHOD, DEFECT OBSERVING METHOD, OBSERVED DEFECT SELECTING/PROCESSING SYSTEM, AND DEFECT OBSERVATION APPARATUS例文帳に追加

観察欠陥選択処理方法、欠陥観察方法、観察欠陥選択処理装置、欠陥観察装置 - 特許庁

PRODUCT DEFECT CONTROL SYSTEM例文帳に追加

製品欠陥管理システム - 特許庁

PATTERN DEFECT EXAMINING METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査方法 - 特許庁

PROJECTION DEFECT REPAIR DEVICE例文帳に追加

突起欠陥補修装置 - 特許庁

COATING DEFECT CORRECTING APPARATUS例文帳に追加

塗布不良修正装置 - 特許庁

PIXEL DEFECT CORRECTION DEVICE例文帳に追加

画素欠陥修正装置 - 特許庁

SUBSTRATE DEFECT DETECTOR例文帳に追加

基板欠陥検出装置 - 特許庁

treatment of a specific defect 例文帳に追加

特定の欠陥の処置 - 日本語WordNet

PAINTING DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

塗装不良検査方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT CLASSIFICATION DEVICE例文帳に追加

パタ—ン欠陥分類装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE FOR FILM例文帳に追加

フィルム欠陥検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査方法 - 特許庁

IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, IMAGE DEFECT INSPECTION SYSTEM, AND IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

画像欠陥検査装置、画像欠陥検査システム及び画像欠陥検査方法 - 特許庁

LOW-DEFECT DEPOSITION METHOD AND LOW-DEFECT THIN FILM, AND LOW- DEFECT FILM DEPOSITION APPARATUS例文帳に追加

低欠陥成膜法及び低欠陥薄膜並びに低欠陥膜成膜装置 - 特許庁

SURFACE-DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

表面欠陥検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT CORRECTING DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥修正装置 - 特許庁

DEFECT SHAPE OBSERVING METHOD AND DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加

欠陥形状観察方法および欠陥検査装置 - 特許庁

PIXEL DEFECT CORRECTING DEVICE AND PIXEL DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加

画素欠陥補正装置及び画素欠陥補正方法 - 特許庁

DEFECT IN BRAKE EXPERIENCING APPARATUS例文帳に追加

ブレーキ失陥体験装置 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

非破壊欠陥検査システム - 特許庁

PATTERN DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検出装置 - 特許庁

LEAK DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

リーク欠陥検出方法 - 特許庁

INSPECTION APPARATUS FOR DEFECT OF WAFER例文帳に追加

ウェーハ欠陥検査装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

表面欠陥検査装置 - 特許庁

WAFER DEFECT INSPECTING METHOD AND WAFER DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

ウェハ欠陥検査方法及びウェハ欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT CLASSIFICATION EQUIPMENT, DEFECT CLASSIFICATION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

欠陥分類装置、欠陥分類方法およびプログラム - 特許庁

CRYSTAL DEFECT ANALYZER例文帳に追加

結晶欠陥解析装置 - 特許庁

DISCHARGE DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

吐出不良検知方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加

表面欠陥検査装置 - 特許庁

INTERNAL DEFECT DETECTING APPARATUS例文帳に追加

内部欠陥検出装置 - 特許庁

MASK DEFECT INSPECTION APPARATUS AND MASK DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

マスク欠陥検査装置及びマスク欠陥検査方法 - 特許庁

PREPREG DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

プリプレグ欠点検査方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT CORRECTING DEVICE例文帳に追加

パタ—ン欠陥修正装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

表面欠陥検査装置 - 特許庁

PROJECTION DEFECT CORRECTING DEVICE例文帳に追加

突起欠陥修正装置 - 特許庁

METHOD OF COATING DEFECT INSPECTION例文帳に追加

塗装不良検査方法 - 特許庁

MINUTE DEFECT REMOVAL DEVICE例文帳に追加

微小欠陥除去装置 - 特許庁

STEEL SHEET DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

鋼板欠陥検査装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

表面欠陥検査装置 - 特許庁

例文

WOOD DEFECT DETECTOR例文帳に追加

木材欠陥検出装置 - 特許庁




  
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