Defectを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 18306件
IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT CLASSIFICATION DEVICE, AND IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
画像欠陥検査装置、欠陥分類装置及び画像欠陥検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYZING APPARATUS, DEFECT ANALYZING METHOD, AND DEFECT ANALYZING PROGRAM例文帳に追加
半導体不良解析装置、不良解析方法、及び不良解析プログラム - 特許庁
CONNECTOR DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加
コネクタ不具合検査装置 - 特許庁
INSPECTING APPARATUS FOR SUBSTRATE DEFECT例文帳に追加
基板欠陥検査装置 - 特許庁
A defect correction function section 184 corrects the defect by using defect information read from the defect address memory 38b.例文帳に追加
欠陥アドレスメモリ38b から読み出した欠陥情報を用いて欠陥補正機能部184 で欠陥補正を行う。 - 特許庁
DEFECT INSPECTING APPARATUS, DEFECT INSPECTION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
欠陥検査装置、欠陥検査方法およびプログラム - 特許庁
DEFECT INSPECTION SUPPORT DEVICE AND DEFECT INSPECTION SUPPORT METHOD例文帳に追加
欠陥検査支援装置、欠陥検査支援方法 - 特許庁
OBSERVED DEFECT SELECTING/PROCESSING METHOD, DEFECT OBSERVING METHOD, OBSERVED DEFECT SELECTING/PROCESSING SYSTEM, AND DEFECT OBSERVATION APPARATUS例文帳に追加
観察欠陥選択処理方法、欠陥観察方法、観察欠陥選択処理装置、欠陥観察装置 - 特許庁
PRODUCT DEFECT CONTROL SYSTEM例文帳に追加
製品欠陥管理システム - 特許庁
PROJECTION DEFECT REPAIR DEVICE例文帳に追加
突起欠陥補修装置 - 特許庁
COATING DEFECT CORRECTING APPARATUS例文帳に追加
塗布不良修正装置 - 特許庁
PIXEL DEFECT CORRECTION DEVICE例文帳に追加
画素欠陥修正装置 - 特許庁
PAINTING DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
塗装不良検査方法 - 特許庁
PATTERN DEFECT CLASSIFICATION DEVICE例文帳に追加
パタ—ン欠陥分類装置 - 特許庁
DEFECT INSPECTION DEVICE FOR FILM例文帳に追加
フィルム欠陥検査装置 - 特許庁
PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
パターン欠陥検査方法 - 特許庁
IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, IMAGE DEFECT INSPECTION SYSTEM, AND IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
画像欠陥検査装置、画像欠陥検査システム及び画像欠陥検査方法 - 特許庁
LOW-DEFECT DEPOSITION METHOD AND LOW-DEFECT THIN FILM, AND LOW- DEFECT FILM DEPOSITION APPARATUS例文帳に追加
低欠陥成膜法及び低欠陥薄膜並びに低欠陥膜成膜装置 - 特許庁
SURFACE-DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
表面欠陥検査装置 - 特許庁
PATTERN DEFECT CORRECTING DEVICE例文帳に追加
パターン欠陥修正装置 - 特許庁
PIXEL DEFECT CORRECTING DEVICE AND PIXEL DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加
画素欠陥補正装置及び画素欠陥補正方法 - 特許庁
DEFECT IN BRAKE EXPERIENCING APPARATUS例文帳に追加
ブレーキ失陥体験装置 - 特許庁
NONDESTRUCTIVE DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加
非破壊欠陥検査システム - 特許庁
INSPECTION APPARATUS FOR DEFECT OF WAFER例文帳に追加
ウェーハ欠陥検査装置 - 特許庁
SURFACE DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
表面欠陥検査装置 - 特許庁
WAFER DEFECT INSPECTING METHOD AND WAFER DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加
ウェハ欠陥検査方法及びウェハ欠陥検査装置 - 特許庁
DEFECT CLASSIFICATION EQUIPMENT, DEFECT CLASSIFICATION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
欠陥分類装置、欠陥分類方法およびプログラム - 特許庁
DISCHARGE DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加
吐出不良検知方法 - 特許庁
SURFACE DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加
表面欠陥検査装置 - 特許庁
MASK DEFECT INSPECTION APPARATUS AND MASK DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
マスク欠陥検査装置及びマスク欠陥検査方法 - 特許庁
PREPREG DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加
プリプレグ欠点検査方法 - 特許庁
PATTERN DEFECT CORRECTING DEVICE例文帳に追加
パタ—ン欠陥修正装置 - 特許庁
SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加
表面欠陥検査装置 - 特許庁
PROJECTION DEFECT CORRECTING DEVICE例文帳に追加
突起欠陥修正装置 - 特許庁
METHOD OF COATING DEFECT INSPECTION例文帳に追加
塗装不良検査方法 - 特許庁
STEEL SHEET DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加
鋼板欠陥検査装置 - 特許庁
SURFACE DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加
表面欠陥検査装置 - 特許庁
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