「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

LOW DEFECT DENSITY SILICON例文帳に追加

低欠陥密度シリコン - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT SORTING METHOD AND DEFECT SORTING SYSTEM例文帳に追加

欠陥分類方法及び欠陥分類システム - 特許庁

DEFECT DETERMINATION METHOD AND DEFECT DETERMINATION SYSTEM例文帳に追加

不良判定方法、及び不良判定システム - 特許庁

DEFECT INSPECTION SYSTEM AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査システムおよび欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

欠陥検査方法および欠陥検査システム - 特許庁

DEFECT CHECKUP METHOD AND DEFECT CHECKUP DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT COUNTING DEVICE AND DEFECT COUNTING METHOD例文帳に追加

欠陥計数装置及び欠陥計数方法 - 特許庁

SEAMING DEFECT INSPECTING MACHINE例文帳に追加

巻締不良検査機 - 特許庁

PIXEL DEFECT PROCESSOR例文帳に追加

画素欠陥処理装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥検出方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTING APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT RETRIEVAL DEVICE AND DEFECT RETRIEVAL METHOD例文帳に追加

欠陥検索装置及び欠陥検索方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTING APPARATUS AND DEFECT INSPECTING METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT DETECTOR, AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検出装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT REMOVING METHOD AND DEFECT REMOVING SYSTEM例文帳に追加

欠陥除去方法及び欠陥除去システム - 特許庁

a corrigible defect 例文帳に追加

修正可能な欠陥 - 日本語WordNet

DEFECT INSPECTING METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

WAFER DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

ウェハ欠陥検査装置 - 特許庁

PIXEL DEFECT CORRECTION APPARATUS例文帳に追加

画素欠陥補正装置 - 特許庁

FILM DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

膜欠陥検査方法 - 特許庁

LEAK DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加

漏れ不良検査装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

表面疵検査装置 - 特許庁

CLASSIFICATION METHOD OF DEFECT例文帳に追加

欠陥の分類方法 - 特許庁

MASK DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

マスク欠陥検査装置 - 特許庁

LENS DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

レンズ欠陥検査装置 - 特許庁

REDUCTION METHOD FOR DEFECT例文帳に追加

欠陥の低減方法 - 特許庁

PIXEL DEFECT CORRECTING DEVICE例文帳に追加

画素欠陥補正装置 - 特許庁

WAFER DEFECT EXAMINING DEVICE例文帳に追加

ウエハ欠陥検査装置 - 特許庁

PIXEL DEFECT COMPENSATION DEVICE例文帳に追加

画素欠陥補正装置 - 特許庁

PIXEL DEFECT CORRECTING APPARATUS例文帳に追加

画素欠陥補正装置 - 特許庁

PIXEL DEFECT CORRECTION DEVICE例文帳に追加

画素欠陥補正装置 - 特許庁

IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, IMAGE DEFECT INSPECTION SYSTEM, DEFECT CLASSIFICATION DEVICE, AND IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

画像欠陥検査装置、画像欠陥検査システム、欠陥分類装置及び画像欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT DETECTOR AND DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

欠陥検出装置および欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT DETECTING METHOD AND DEFECT DETECTOR例文帳に追加

欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT DETECTOR AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検出装置及び欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT DETECTOR AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検出装置および欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTOR例文帳に追加

欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁

PIXEL DEFECT CORRECTION DEVICE, PIXEL DEFECT DETECTOR AND PIXEL DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

画素欠陥補正装置および画素欠陥検出装置ならびに方法 - 特許庁

DEFECT DETECTING METHOD, DEFECT OBSERVING METHOD AND DEFECT DETECTING APPARATUS例文帳に追加

欠陥検出方法と欠陥観察方法及び欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT DETECTING DEVICE AND DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

欠陥検出装置及び欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT DETECTING METHOD AND DEFECT DETECTING DEVICE例文帳に追加

欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT CORRECTION DEVICE AND DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加

欠陥修正装置及び欠陥修正方法 - 特許庁