「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

DEFECT INSPECTING APPARATUS AND DEFECT INSPECTING METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT DETECTOR, AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検出装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT COUNTING DEVICE AND DEFECT COUNTING METHOD例文帳に追加

欠陥計数装置及び欠陥計数方法 - 特許庁

SEAMING DEFECT INSPECTING MACHINE例文帳に追加

巻締不良検査機 - 特許庁

PIXEL DEFECT PROCESSOR例文帳に追加

画素欠陥処理装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥検出方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTING APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT TEST METHOD AND DEFECT TEST DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT SPECIFICATION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置および欠陥特定方法 - 特許庁

DEFECT-INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT OBSERVATION METHOD AND DEFECT OBSERVATION APPARATUS例文帳に追加

欠陥観察方法及び欠陥観察装置 - 特許庁

DEFECT MEASURING METHOD例文帳に追加

欠陥の測定方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

不良検査装置および不良検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT ANALYZER AND DEFECT ANALYZING METHOD例文帳に追加

欠陥解析装置及び欠陥解析方法 - 特許庁

LOW DEFECT DENSITY SILICON例文帳に追加

低欠陥密度シリコン - 特許庁

a corrigible defect 例文帳に追加

修正可能な欠陥 - 日本語WordNet

DEFECT INSPECTING METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

WAFER DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

ウェハ欠陥検査装置 - 特許庁

PIXEL DEFECT CORRECTION APPARATUS例文帳に追加

画素欠陥補正装置 - 特許庁

WAFER DEFECT EXAMINING DEVICE例文帳に追加

ウエハ欠陥検査装置 - 特許庁

MASK DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

マスク欠陥検査装置 - 特許庁

LENS DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

レンズ欠陥検査装置 - 特許庁

REDUCTION METHOD FOR DEFECT例文帳に追加

欠陥の低減方法 - 特許庁

LEAK DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加

漏れ不良検査装置 - 特許庁

FILM DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

膜欠陥検査方法 - 特許庁

PIXEL DEFECT CORRECTING DEVICE例文帳に追加

画素欠陥補正装置 - 特許庁

CLASSIFICATION METHOD OF DEFECT例文帳に追加

欠陥の分類方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

表面疵検査装置 - 特許庁

PIXEL DEFECT COMPENSATION DEVICE例文帳に追加

画素欠陥補正装置 - 特許庁

PIXEL DEFECT CORRECTING APPARATUS例文帳に追加

画素欠陥補正装置 - 特許庁

PIXEL DEFECT CORRECTION DEVICE例文帳に追加

画素欠陥補正装置 - 特許庁

IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, IMAGE DEFECT INSPECTION SYSTEM, DEFECT CLASSIFICATION DEVICE, AND IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

画像欠陥検査装置、画像欠陥検査システム、欠陥分類装置及び画像欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT REVIEW DEVICE, DEFECT REVIEW METHOD, AND DEFECT REVIEW EXECUTION PROGRAM例文帳に追加

欠陥レビュー装置、欠陥レビュー方法及び欠陥レビュー実行プログラム - 特許庁

DEFECT DETECTOR AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検出装置及び欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT DETECTOR AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検出装置および欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTOR例文帳に追加

欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTION APPARATUS例文帳に追加

欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT OBSERVATION APPARATUS AND DEFECT OBSERVATION METHOD例文帳に追加

欠陥観察装置、および欠陥観察方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION DEVICE, DEFECT DETECTION METHOD, AND DEFECT DETECTION PROGRAM例文帳に追加

欠陥検出装置、欠陥検出方法および欠陥検出プログラム - 特許庁

OPTICAL SYSTEM FOR DEFECT INSPECTION, DEFECT INSPECTION DEVICE, AND METHOD OF DEFECT INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査光学系、欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INFORMATION ACQUISITION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥情報取得装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

PIXEL DEFECT CORRECTION DEVICE, PIXEL DEFECT DETECTOR AND PIXEL DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

画素欠陥補正装置および画素欠陥検出装置ならびに方法 - 特許庁