「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

DEFECT INSPECTION METHOD OF SHEET MATERIAL AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

シート材の欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION APPARATUS AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁

INTERNAL DEFECT INSPECTION DEVICE AND INTERNAL DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

内部欠陥検査装置および内部欠陥検査方法 - 特許庁

INTERNAL DEFECT INSPECTION METHOD AND INTERNAL DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

内部欠陥検査方法および内部欠陥検査装置 - 特許庁

MASK DEFECT INSPECTION APPARATUS AND MASK DEFECT INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

マスク欠陥検査装置およびマスク欠陥検査プログラム - 特許庁

DEFECT DETECTION DEVICE, DEFECT DETECTION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

欠陥検出装置、欠陥検出方法およびプログラム - 特許庁

DEFECT DETECTOR FOR SHEET例文帳に追加

シートの欠点検出装置 - 特許庁

AUTOMATIC DEFECT CLASSIFYING DEVICE AND AUTOMATIC DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加

自動欠陥分類装置及び自動欠陥検査装置 - 特許庁

REPRODUCING APPARATUS, DEFECT DETECTING APPARATUS, DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

再生装置、欠陥検出装置、欠陥検出方法 - 特許庁

PIXEL DEFECT CORRECTING DEVICE AND PIXEL DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加

画素欠陥補正装置および画素欠陥補正方法 - 特許庁

DEFECT DETERMINATION METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT, DEFECT DETERMINATION PROGRAM AND DEFECT DETERMINING DEVICE例文帳に追加

半導体素子の欠陥判定方法、欠陥判定プログラムおよび欠陥判定装置 - 特許庁

PIXEL DEFECT DETECTOR AND PIXEL DEFECT CORRECTION DEVICE例文帳に追加

画素欠陥検出装置および画素欠陥補正装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE OF SOLAR CELL AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF SOLAR CELL例文帳に追加

太陽電池の欠陥検査装置及びその方法 - 特許庁

PHASE DIFFERENCE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

位相差欠陥検査装置 - 特許庁

POINT DEFECT DETECTING DEVICE AND POINT DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

点欠陥検出装置、および点欠陥検出方法 - 特許庁

SIMULATED DEFECT WAFER AND METHOD FOR FORMING DEFECT INSPECTION RECIPE例文帳に追加

模擬欠陥ウェーハおよび欠陥検査レシピ作成方法 - 特許庁

INSPECTION APPARATUS FOR MASK DEFECT AND METHOD FOR INSPECTING MASK DEFECT例文帳に追加

マスク欠陥検査装置およびマスク欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT DETECTOR FOR TAPE CARRIER, AND DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

テープキャリアの欠陥検出装置および欠陥検査システム - 特許庁

DEFECT MARKER, DEFECT MARKING PROCESSING LINE, METHOD OF MARKING DEFECT, AND METHOD OF MANUFACTIRING DEFECT-MARKED COIL例文帳に追加

欠陥マーキング装置、欠陥マーキング処理ライン、欠陥マーキング方法及び欠陥マーキングされたコイルの製造方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION APPARATUS AND DEFECT DETECTION METHOD, DEFECT CORRECTION APPARATUS AND DEFECT CORRECTION METHOD, AND IMAGING APPARATUS例文帳に追加

欠陥検出装置および欠陥検出方法、欠陥補正装置および欠陥補正方法、ならびに撮像装置 - 特許庁

MASK DEFECT CHECKING DEVICE AND MASK DEFECT CHECKING METHOD例文帳に追加

マスク欠陥検査装置およびマスク欠陥検査方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INFORMATION MANAGEMENT DEVICE例文帳に追加

不具合情報管理装置 - 特許庁

CRYSTAL DEFECT MEASURING DEVICE例文帳に追加

結晶欠陥計測装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE FOR SUBSTRATE例文帳に追加

基板の欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT DETECTOR, DEFECT DETECTION SYSTEM USING THE SAME, AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検出装置とそれを用いた欠陥検出システム及び欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT INTEGRATING PROCESSOR AND DEFECT INTEGRATING PROCESSING METHOD例文帳に追加

欠陥統合処理装置および欠陥統合処理方法 - 特許庁

JUDGING SYSTEM FOR MASK DEFECT AND METHOD FOR JUDGING MASK DEFECT例文帳に追加

マスク欠陥判定システム及びマスク欠陥判定方法 - 特許庁

INSPECTING APPARATUS FOR SURFACE DEFECT例文帳に追加

表面欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT CHECKING SYSTEM, DEFECT CHECKING APPARATUS AND INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

欠陥確認システム、欠陥確認装置および検査装置 - 特許庁

IMAGE DEFECT CORRECTION APPARATUS AND IMAGE DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加

画像欠陥補正装置、及び、画像欠陥補正方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT DETECTOR例文帳に追加

表面欠点検出装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置、及び、パターン欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTING METHOD, DEFECT INSPECTION SYSTEM AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

欠陥検査方法，欠陥検査システム及びコンピュータプログラム - 特許庁

DEFECT INSPECTING APPARATUS OF RECORDING MEDIUM AND DEFECT INSPECTING METHOD例文帳に追加

記録媒体欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT ANALYSIS EQUIPMENT, PATTERN DEFECT ANALYSIS METHOD, AND PATTERN DEFECT ANALYSIS PROGRAM例文帳に追加

パターン欠陥解析装置、パターン欠陥解析方法およびパターン欠陥解析プログラム - 特許庁

PIXEL DEFECT DETECTION CIRCUIT AND PIXEL DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

画素欠陥検出回路及び画素欠陥検出方法 - 特許庁

to gloss over a fault―gloze over a fault―smoothe over a defect 例文帳に追加

欠点を取りつくろう - 斎藤和英大辞典

12.2.8 Exception and Defect 例文帳に追加

12.2.8 例外および障害クラス - Python

SURFACE DEFECT EVALUATION DEVICE例文帳に追加

表面欠陥評価装置 - 特許庁

METHOD FOR MANAGING DEFECT USING TEMPORARY DEFECT INFORMATION AND TEMPORARY DEFECT MANAGEMENT INFORMATION例文帳に追加

臨時欠陥情報及び臨時欠陥管理情報を利用した欠陥管理方法 - 特許庁

MASK DEFECT INSPECTION DEVICE AND MASK DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

マスク欠陥検査装置およびマスク欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT-PART DETECTION METHOD例文帳に追加

欠陥部分検出方法 - 特許庁

RETICLE DEFECT INSPECTION DEVICE AND RETICLE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

レチクル欠陥検査装置およびレチクル欠陥検査方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

表面欠陥検査方法 - 特許庁