「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

DEFECT OBSERVATION METHOD例文帳に追加

欠陥観察方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠点検出装置 - 特許庁

In the defect detection, whether the wiring has the defect, the defect position, and the defect kind of a short defect or open defect can be identified.例文帳に追加

欠陥検出は、配線の欠陥の有無、欠陥位置、ショート欠陥かオープン欠陥かの欠陥種の判別が可能である。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, DEFECT INSPECTION DEVICE, AND DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

欠陥検査方法、欠陥検査装置及び欠陥検査システム - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION SYSTEM, AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査システム及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEFECT INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査方法及び欠陥検査プログラム - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION SYSTEM, AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査システム、および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION CIRCUIT例文帳に追加

ディフェクト検出回路 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

不良検出方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

ディフェクト検出装置 - 特許庁

DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加

欠陥修正方法 - 特許庁

EXTENDED DEFECT SIZING例文帳に追加

拡張欠陥サイジング - 特許庁

DEFECT DETECTING DEVICE例文帳に追加

ディフェクト検出装置 - 特許庁

to gloss over a fault―gloze over a defect―smoothe over a defect 例文帳に追加

欠点を繕う - 斎藤和英大辞典

DEFECT DETECTING CIRCUIT例文帳に追加

ディフェクト検出回路 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION SYSTEM AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査システム及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTING METHOD AND DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTING DEVICE AND DEFECT INSPECTING METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

欠陥検査装置及び欠陥検査プログラム - 特許庁

DEFECT DETECTION DEVICE AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検出装置、欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTING APPARATUS AND DEFECT INSPECTING METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT REVIEW DEVICE AND DEFECT REVIEW METHOD例文帳に追加

欠陥レビュー装置及び欠陥レビュー方法 - 特許庁

DEFECT CONTROL SYSTEM AND DEFECT CONTROL METHOD例文帳に追加

欠陥管理システム及び欠陥管理方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTING METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置、及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

欠陥検査装置及び欠陥検査プログラム - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTING DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

欠陥検査方法、及び欠陥検査システム - 特許庁

DEFECT DETECTING METHOD, DEFECT DETECTOR AND DEFECT DETECTING PROGRAM例文帳に追加

欠陥検出方法、欠陥検出装置、及び欠陥検出プログラム - 特許庁

DEFECT ANALYSIS APPARATUS, DEFECT ANALYSIS METHOD, AND DEFECT ANALYSIS PROGRAM例文帳に追加

欠陥解析装置、欠陥解析方法および欠陥解析プログラム - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD, DEFECT DETECTOR, AND DEFECT DETECTION PROGRAM例文帳に追加

欠陥検出方法、欠陥検出装置及び欠陥検出プログラム - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION SUPPORT METHOD例文帳に追加

欠陥検査方法，欠陥検査装置及び欠陥検査支援方法 - 特許庁

DEFECT ANALYZER, DEFECT ANALYSIS PROGRAM, AND DEFECT ANALYSIS METHOD例文帳に追加

欠陥解析装置、欠陥解析プログラム、および欠陥解析方法 - 特許庁

DEFECT DETECTING METHOD, DEFECT DETECTING APPARATUS AND DEFECT DETECTING PROGRAM例文帳に追加

欠陥検出方法、欠陥検出装置及び欠陥検出プログラム - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT SORTING METHOD AND DEFECT SORTING SYSTEM例文帳に追加

欠陥分類方法及び欠陥分類システム - 特許庁

DEFECT DETERMINATION METHOD AND DEFECT DETERMINATION SYSTEM例文帳に追加

不良判定方法、及び不良判定システム - 特許庁

DEFECT OBSERVATION METHOD AND DEFECT OBSERVATION DEVICE例文帳に追加

欠陥観察方法及び欠陥観察装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION SYSTEM AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査システムおよび欠陥検査方法 - 特許庁