「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置及び方法 - 特許庁

DEFECT DETECTING DEVICE AND DEFECT DETECTING METHOD OF ROLLED FILM例文帳に追加

ロール状フィルムの欠陥検出装置及び欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION DEVICE FOR TRANSPARENT MEMBER AND DEFECT DETECTION METHOD例文帳に追加

透明部材の欠陥検出装置及び欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM FOR STORING PROGRAM例文帳に追加

欠陥検査方法、欠陥検査装置、欠陥検査プログラム、このプログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

RING END FACE DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

リング端面欠陥検査装置 - 特許庁

TRANSPARENT OBJECT DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

透過物体の欠陥検査方法、透過物体欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT DETECTING METHOD AND DEFECT DETECTING DEVICE OF SHEET-LIKE MATERIAL例文帳に追加

シート状物の欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT IDENTIFICATION METHOD, DEFECT IDENTIFICATION APPARATUS, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

欠陥識別方法、欠陥識別装置、プログラム、及び記録媒体 - 特許庁

MASTER DISK DEFECT MEASURING DEVICE AND MASTER DISK DEFECT MEASURING METHOD例文帳に追加

原盤ディフェクト測定装置、及び原盤ディフェクト測定方法 - 特許庁

DEFECT ANALYZING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR ANALYZING DEFECT例文帳に追加

半導体装置の不良解析装置及び不良解析方法 - 特許庁

POINT DEFECT DETECTION METHOD AND POINT DEFECT PIXEL VALUE CORRECTION METHOD例文帳に追加

点欠陥検出方法および点欠陥画素値補正方法 - 特許庁

DEFECT CLASSIFICATION SYSTEM, IMAGE FORMING APPARATUS AND DEFECT CLASSIFICATION PROGRAM例文帳に追加

欠陥分類システム、画像形成装置および欠陥分類プログラム - 特許庁

PHOTOELECTRIC CONVERSION ELEMENT, DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

光電変換素子、欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT DETECTING METHOD AND SURFACE DEFECT DETECTING DEVICE例文帳に追加

表面欠陥検出方法および表面欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD THEREOF, AND DEFECT INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

欠陥検査装置及びその方法並びに欠陥検査プログラム - 特許庁

DEVICE FOR DETECTING DEFECT OF ALUMINUM FOIL例文帳に追加

アルミ箔不良検出装置 - 特許庁

DEFECT DETECTING DEVICE, OPTICAL DISK DEVICE, AND DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

欠陥検出装置、光ディスク装置及び欠陥検出方法 - 特許庁

SEALING METHOD FOR SURFACE DEFECT例文帳に追加

表面欠陥の封止方法 - 特許庁

A defect size calculation part 18f measures the size of the defect on the basis of the defect structure point.例文帳に追加

欠損サイズ算出部１８ｆは、欠損構成点に基づいて欠損のサイズを計測する。 - 特許庁

DEFECT INSPECTING DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE OF SURFACE OF OBJECT例文帳に追加

物体表面の欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

FILM OPTICAL DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

フィルム光学欠点検査装置 - 特許庁

To provide a defect inspection device and defect inspection method capable of omitting a false defect and inspecting a defect at high inspection sensitivity.例文帳に追加

擬似欠陥を除外して高い検査感度で欠陥検査が可能な欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

REPAIR/IMPROVEMENT METHOD FOR DEFECT/DEFECT IN STRUCTURE INSIDE METAL MEMBER例文帳に追加

金属部材内部の欠陥／組織不良補修・改善方法 - 特許庁

COLOR FILTER DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

カラーフィルタの欠陥検査方法 - 特許庁

CRYSTAL DEFECT-DETECTING APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING CRYSTAL DEFECT例文帳に追加

結晶欠陥検出装置及び結晶欠陥検出方法 - 特許庁

GLASS SUBSTRATE DEFECT CHECKUP DEVICE AND GLASS SUBSTRATE DEFECT CHECKUP METHOD例文帳に追加

ガラス基板欠陥検査装置及びガラス基板欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR COLOR FILTER SUBSTRATE例文帳に追加

カラーフィルタ基板の欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT MARKING METHOD, DEFECT MARKING DEVICE, AND DEFECT DETECTING SYSTEM FOR ANTI-GLARE DIE例文帳に追加

欠陥マーキング方法、欠陥マーキング装置および防眩処理用金型の欠陥検出システム - 特許庁

DEFECT CORRECTION METHOD AND DEFECT CORRECTION DEVICE OF REFLECTIVE MASK例文帳に追加

反射型マスクの欠陥修正方法及び欠陥修正装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD OF ANTIREFLECTION FILM AND DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

反射防止フィルムの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, DEFECT INSPECTION DEVICE AND PATTERN EXTRACTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査方法、欠陥検査装置、及びパターン抽出方法 - 特許庁

DATA COMPRESSION METHOD, DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

データ圧縮方法、欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

IMAGE DEFECT CORRECTION DEVICE, IMAGE DEFECT CORRECTION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

画像欠陥補正装置、画像欠陥補正方法、及びプログラム - 特許庁

METAL RING DEFECT DETECTOR例文帳に追加

金属リング欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION RECIPE CREATING METHOD例文帳に追加

欠陥検査レシピ作成方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTOR FOR PLATE-SHAPED GLASS例文帳に追加

板状ガラスの欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION DEVICE AND METHOD, AND DEFECT DETECTION PROGRAM例文帳に追加

欠陥検出装置及び方法、並びに欠陥検出プログラム - 特許庁

DEFECT RELIEF DETERMINATION DEVICE AND DEFECT RELIEF DETERMINATION METHOD例文帳に追加

不良救済判定装置および不良救済判定方法 - 特許庁

IMAGING DEVICE, DEFECT CORRECTION APPARATUS, DEFECT CORRECTION METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

撮像装置、欠陥補正装置、欠陥補正方法及びプログラム - 特許庁

WIRING PATTERN DEFECT CONFIRMING APPARATUS例文帳に追加

配線パターン欠陥確認装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTING DEVICE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

欠陥検査装置及び方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置および方法 - 特許庁

METHOD FOR REPAIRING RECESSED DEFECT PART例文帳に追加

凹状欠陥部の補修方法 - 特許庁

DEFECT CORRECTION CIRCUIT OF IMAGING SENSOR例文帳に追加

画像センサの欠陥補正回路 - 特許庁