「ELECTRON-MICROSCOPE」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

SPIN POLARIZATION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

スピン偏極走査電子顕微鏡 - 特許庁

VACUUM EXHAUSTION DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の真空排気装置 - 特許庁

SCANNING X-RAY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査Ｘ線電子顕微鏡 - 特許庁

MESH FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用メッシュ - 特許庁

ANALYZING METHOD IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡における分析方法 - 特許庁

SAMPLE HOLDER, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料ホルダー及び電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE COOLING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の試料冷却装置 - 特許庁

ENERGY FILTER ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

エネルギフィルタ電子顕微鏡 - 特許庁

RETRIEVAL METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

電子顕微鏡画像の検索方法 - 特許庁

SCANNING PROBE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE OPERATING SYSTEM例文帳に追加

電子顕微鏡操作システム - 特許庁

FIELD EMISSION TYPE SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電界放射型走査電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE HOLDER OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の試料ホルダ - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料ホルダ - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料ホルダ。 - 特許庁

SCANNING INTERFERENCE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査干渉電子顕微鏡 - 特許庁

PRETREATMENT DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用前処理装置 - 特許庁

DIRECT IMAGING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

直接写像型電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE FOR ANALYSIS例文帳に追加

分析走査電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡及び観察方法 - 特許庁

DOWNSIZED SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

小型の走査型電子顕微鏡 - 特許庁

IMAGE PROCESSING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用画像処理装置 - 特許庁

OBSERVING DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡用観察装置 - 特許庁

SAMPLE TABLE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料台 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE IMAGE OBSERVATION DEVICE例文帳に追加

透過電子顕微鏡像観察装置 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡及び検査方法 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過型電子顕微鏡 - 特許庁

CRYOSTAGE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用クライオステージ - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡装置 - 特許庁

MAGNETIC FIELD APPLYING DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の磁場印加装置 - 特許庁

SAMPLE PRODUCING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料作製装置 - 特許庁

REMOTE OPERATING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の遠隔操作装置 - 特許庁

STAGE, AND ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

ステージ及び電子顕微鏡装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDING MEMBER FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料保持部材 - 特許庁

DIAPHRAGM MECHANISM FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の絞り機構 - 特許庁

TESTPIECE DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の試料装置 - 特許庁

SAMPLE REPLACEMENT MECHANISM OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の試料交換機構 - 特許庁

IMAGE DISPLAY DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用画像表示装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査形電子顕微鏡装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置 - 特許庁

ANALYTICAL TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

分析透過型電子顕微鏡 - 特許庁

FIELD EMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電界放出型電子顕微鏡 - 特許庁

REFLECTION IMAGING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

反射結像型電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型透過電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE HOLDER, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料ホルダ及び電子顕微鏡 - 特許庁