「ELECTRON-MICROSCOPE」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a chamber suitable for use with a scanning electron microscope useful for allowing wet samples to be viewed under an electron microscope.例文帳に追加

湿潤サンプルの電子顕微鏡検査を可能にすることになる、走査型電子顕微鏡と共に使用するように適合されたチャンバを提供する。 - 特許庁

To clear an observation image of a sample for transmission type electron microscope observation at a specific position to be observed by the transmission type electron microscope.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡で観察したい特定箇所の透過型電子顕微鏡観察用試料の観察像を鮮明にする。 - 特許庁

THIN FILM PHASE PLATE FOR PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE, THE PHASE DIFFERENCE ELECTRON MICROSCOPE, AND AN ANTISTATIC METHOD FOR THE PHASE PLATE例文帳に追加

位相差電子顕微鏡用薄膜位相板並びに位相差電子顕微鏡及び位相板帯電防止法 - 特許庁

In this transmission electron microscope, when a sample 1 is inclined, a sample inclining/rotating mechanism 2 is driven by the control from an electron microscope body control system 7.例文帳に追加

試料１を傾斜させる場合、電子顕微鏡本体制御系７からの制御により、試料傾斜・回転機構２が駆動される。 - 特許庁

To provide a method for preparing a sample for electron microscope observation capable of readily performing observation, using an electron microscope with a relatively simple work.例文帳に追加

比較的簡易な作業にて、電子顕微鏡で容易に観察することができる電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a correction device in which a chromatic aberration and an aperture aberration in a scanning electron microscope or a scanning transmission type electron microscope are removed.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡または走査透過型電子顕微鏡における色収差および開口収差を除去する。 - 特許庁

An electron interference microscope images both the specimen and an interference pattern. 例文帳に追加

電子干渉顕微鏡は、試料と干渉パターンの両方を結像する。 - 科学技術論文動詞集

In the first chapter, the different types of electron microscope are compared. 例文帳に追加

最初の章では、異なるタイプの電子顕微鏡が比較される。 - 科学技術論文動詞集

This electron microscope was manufactured in the late 1990s and is still used. 例文帳に追加

この電子顕微鏡は、1990年代後期に製造され、今なお使われている。 - 科学技術論文動詞集

of or relating to or involving an electron microscope 例文帳に追加

電子顕微鏡の、電子顕微鏡に関する、または、電子顕微鏡にかかわる - 日本語WordNet

the electrode that is the source of electrons in a cathode-ray tube or electron microscope 例文帳に追加

ブラウン管または電子顕微鏡における電子源である電極 - 日本語WordNet

electron microscope used to observe the surface structure of a solid 例文帳に追加

固体の表層構造を観察するために使用される電子顕微鏡 - 日本語WordNet

A dyeing agent for electron microscope observation contains cisplatin.例文帳に追加

電子顕微鏡観察用染色剤は、シスプラチンを含有する。 - 特許庁

SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE WITH EXTERNAL AC MAGNETIC FIELD CANCELLATION MECHANISM例文帳に追加

外部交流磁場キャンセル機構を有した走査形電子顕微鏡 - 特許庁

HIGH RESOLUTION/CHEMICAL BOND ELECTRON/SECONDARY ION MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

高分解能・化学結合電子・２次イオン顕微鏡装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING THREE-DIMENSIONAL SHAPE ANALYSIS FUNCTION例文帳に追加

三次元形状解析機能を有する走査型電子顕微鏡 - 特許庁

To improve dimensional inspection accuracy and reproducibility of a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡の寸法検査精度及び再現性を向上させる。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR MAPPING TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND MICRO DEVICE例文帳に追加

写像型電子顕微鏡及びマイクロデバイスの製造方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND METHOD OF MANUFACTURING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

走査電子顕微鏡システムおよび集積回路の製造方法 - 特許庁

APPARATUS DIFFERENCE CONTROL SYSTEM IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND ITS METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡装置における機差管理システムおよびその方法 - 特許庁

ABERRATION CORRECTION METHOD AND ABERRATION CORRECTION DEVICE FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡における収差補正方法および収差補正装置 - 特許庁

SAMPLE PREPARATION METHOD AND KIT FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

電子顕微鏡観察用サンプルの作製方法及びキット - 特許庁

REMOTE CONTROL METHOD AND REMOTE CONTROL SYSTEM FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の遠隔制御方法及び遠隔制御システム - 特許庁

SPHERICAL ABERRATION CORRECTION ELECTRON MICROSCOPE HAVING LESS COLOR ABERRATION例文帳に追加

色収差も小さく抑えた球面収差補正電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, ABERRATION MEASURING METHOD, AND ABERRATION CORRECTION METHOD例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法、ならびに収差補正方法 - 特許庁

AUTOMATIC IMAGE DRIFT CORRECTION SYSTEM FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡における画像ドリフト自動修正システム - 特許庁

OBSERVATION METHOD FOR SAMPLE BY USE OF SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた試料の観察方法及びその装置 - 特許庁

The chamber (34) is suitable for use with the scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡と共に使用するのに適したチャンバ（３４）。 - 特許庁

ELECTRIC MANIPULATOR FOR POSITIONING SPECIMEN ON TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の試料を位置決めするための電動マニピュレーター - 特許庁

To improve total throughput of a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡のトータルスループットを向上させる。 - 特許庁

MULTIPLE CHARGED PARTICLE DETECTOR, AND SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

多重荷電粒子検出器、及びそれを用いた走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

ABERRATION CORRECTION DEVICE AND ABERRATION CORRECTION METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型透過電子顕微鏡の収差補正装置及び収差補正方法 - 特許庁

ELECTRON LENS ADJUSTMENT STANDARD FOR PHOTOELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF PRODUCING THE SAME例文帳に追加

光電子顕微鏡の電子レンズ調整標準及びその製造方法 - 特許庁

METHOD OF SETTING EXPOSURE TIME AND IRRADIATION CONDITION OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の露光時間及び照射条件の設定方法 - 特許庁

VOICE INPUT DEVICE IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR SIMILAR APPARATUS例文帳に追加

走査形電子顕微鏡あるいは類似装置における音声入力（操作）装置 - 特許庁

IMAGE LUMINANCE ADJUSTMENT METHOD AND SYSTEM IN TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡における画像の輝度調整方法及びシステム - 特許庁

SAMPLE HOLDER, SAMPLE TABLE AND SAMPLE TABLE FIXTURE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の試料ホルダー、試料台および試料台用治具 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING AUTOMATIC OPTIMUM FOCUSING OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の自動最適合焦点調整方法及び装置 - 特許庁

METHOD OF OBSERVATION OF SAMPLE FLOATING ON LIQUID SURFACE UNDER SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

液体の表面を浮遊する試料の走査電子顕微鏡観察方法 - 特許庁

This operation places the electron microscope into a beam shower mode.例文帳に追加

この動作によって、透過電子顕微鏡はビームシャワーモードとなる。 - 特許庁

DISTRIBUTION CONDITION ANALYSIS METHOD USING ELECTRON MICROSCOPE FOR MATERIAL INSIDE CAPSULE例文帳に追加

カプセル内の材料の分布状態を電子顕微鏡により解析する方法 - 特許庁

SAMPLE FOR TUNING OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡調整用試料及びその製造方法 - 特許庁

METAL THIN FILM FORMING METHOD FOR MICROSCOPIC OBSERVATION SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡用検鏡試料の金属薄膜成膜方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND CONTROL DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

荷電粒子線装置及び走査電子顕微鏡の制御装置 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH PHASE PLATE AND LENS SYSTEM FOR PHASE PLATE例文帳に追加

位相板と位相板用レンズ系を備えた透過電子顕微鏡 - 特許庁