「ELECTRON-MICROSCOPE」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

SAMPLE TRANSFER METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡の試料移動方法。 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROLLING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

電子顕微鏡およびその制御方法 - 特許庁

ABSORPTION CURRENT IMAGE OBSERVATION APPARATUS IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡吸収電流像観察装置 - 特許庁

MICROSCOPE WITH ELECTRON BEAM FOR ILLUMINATION例文帳に追加

照射用電子線を有する顕微鏡 - 特許庁

OBSERVATION METHOD UNDER ELECTRON MICROSCOPE OF RESIN SAMPLE例文帳に追加

樹脂試料の電子顕微鏡観察方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING PATTERN USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いたパターン計測方法 - 特許庁

PATTERN SIZE MEASURING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

パターン寸法計測方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

TRANSMISSION TYPE AN SCAN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型および走査透過型電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION SAMPLE SUPPORTING MEMBER例文帳に追加

電子顕微鏡観察用試料支持部材 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF OPERATING THE SAME例文帳に追加

透過形電子顕微鏡及びその動作方法 - 特許庁

SPECIMEN OBSERVING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料観察方法および走査型電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

電子顕微鏡観察用試料の作製方法 - 特許庁

LINEWIDTH MEASUREMENT REGULATION METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

線幅測定調整方法及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH ELECTRONIC SPECTROMETER例文帳に追加

電子分光器を備えた電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁

SAMPLE EXCHANGING DEVICE IN TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡における試料交換装置 - 特許庁

DETECTION METHOD OF IMAGE INTEGRATION TIMES OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡の画像積算回数検出方法 - 特許庁

METHOD OF PREPARING OBSERVATION SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用観察試料の作製方法 - 特許庁

AUTOMATIC DISTORTION-MEASURING METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の自動歪み測定方法 - 特許庁

BAKING MECHANISM FOR SAMPLE CHAMBER OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡試料室用ベーキング機構 - 特許庁

OBSERVATION METHOD BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡による観察方法 - 特許庁

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料の調製方法 - 特許庁

SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料作製方法 - 特許庁

SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の試料作製方法 - 特許庁

HERMETICALLY SEALED OBSERVATION ENVIRONMENT FORMING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用の密閉式観測環境形成装置 - 特許庁

SURFACE TREATMENT METHOD FOR TEST SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料の表面処理方法 - 特許庁

ABERRATION CORRECTOR FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用収差補正器 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH SAMPLE- CHANGING DEVICE例文帳に追加

試料交換装置を備えた走査型電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE APPLICATION DEVICE, AND TESTPIECE INSPECTION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡応用装置および試料検査方法 - 特許庁

FILAMENT ASSEMBLY FOR ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE例文帳に追加

電子顕微鏡等のフィラメントアセンブリ - 特許庁

IMPROVED ENVIRONMENTAL SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

改良された環境型走査電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND FLAW SHAPE CONFIRMING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡および欠陥形状確認方法 - 特許庁

To favorably perform vibration resistance of an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡の除振を良好に行う。 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND THREE-DIMENSIONAL IMAGE CONSTRUCTION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡および３次元像構築方法 - 特許庁

SPECIMEN OBSERVATION METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE FOR USE IN THE SAME例文帳に追加

試料像観察方法とそれに用いる電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE POSITION DETECTING METHOD AND DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡試料位置検出方法及び装置 - 特許庁

WAFER HOLDER AND ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

ウエハホルダおよび電子顕微鏡装置 - 特許庁

TEST PIECE OBSERVATION METHOD, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料観察方法、及び電子顕微鏡 - 特許庁

DEFECTIVE REVIEWING DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

欠陥レビュー装置および電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡試料作製方法 - 特許庁

PREPARATION METHOD FOR OBSERVING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用観察試料作製方法 - 特許庁

FOCUSING SYSTEM OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡のフォーカス合わせ装置 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

透過電子顕微鏡観察用試料作製方法 - 特許庁

METHOD FOR MAKING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION SPECIMEN例文帳に追加

透過型電子顕微鏡観察試料の作製方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND STEREOSCOPIC OBSERVING METHOD例文帳に追加

透過型電子顕微鏡及び立体観察法 - 特許庁