「ELECTRON-MICROSCOPE」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

DRAWING PLATE FOR ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

電子顕微鏡用絞りプレート板及びその製造方法 - 特許庁

VACUUM DISPLAY DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE CELL例文帳に追加

電子顕微鏡試料室の真空度表示装置 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND SOLID OBSERVATION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡及び立体観察方法 - 特許庁

DEVICE FOR INDICATING VACUUM PRESSURE OF ELECTRON MICROSCOPE ACCELERATING TUBE例文帳に追加

電子顕微鏡加速管の真空圧力表示装置 - 特許庁

ANALYZER AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

分析装置および透過電子顕微鏡 - 特許庁

MEASURING TECHNIQUE OF SAMPLE DIMENSION AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料寸法測定方法及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

ULTRA-THIN LIQUID CONTROL PLATE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用の超薄液体制御板 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING AND MEASURING SAMPLE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料の検査，測定方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

IRRADIATION HEAD, AND ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THIS例文帳に追加

照射ヘッド及びこれを備えた電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND THREE-DIMENSIONAL IMAGE CONSTRUCTION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡及び三次元像構築方法 - 特許庁

SAMPLE SUPPORT DEVICE AND METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の試料支持装置およびその方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DEFECT DETECTOR DEVICE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び欠陥検出装置 - 特許庁

SAMPLE OBSERVATION METHOD BY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡による試料観察方法 - 特許庁

TEST PIECE SAMPLING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料のサンプリング装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び試料観察方法 - 特許庁

ENERGY FILTER AND ELECTRON MICROSCOPE USING IT例文帳に追加

エネルギフィルタおよびこれを用いた電子顕微鏡 - 特許庁

CUTTING MACHINING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料の切り込み加工法 - 特許庁

INSPECTING DEVICE AND METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を用いた検査装置および検査方法 - 特許庁

OBSERVATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND HOLDING JIG例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の観察方法および保持治具 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH TIME CONSTANT MEASUREMENT FUNCTION MOUNTED例文帳に追加

時定数測定機能を搭載した走査型電子顕微鏡 - 特許庁

OBJECT OBSERVATION METHOD BY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡による物体観察方法 - 特許庁

ANALYSIS METHOD BY OPTICAL MICROSCOPE AND ELECTRON MICROSCOPY例文帳に追加

光学顕微鏡と電子顕微鏡とによる分析方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE ANALYZING METHOD USING IT例文帳に追加

電子顕微鏡及びこれを用いた試料の解析方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR CONTROLLING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の制御装置及び制御方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS OF OBSERVING IMAGE IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡における像観察方法及び装置 - 特許庁

INSPECTION DEVICE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いた検査装置 - 特許庁

3-DIMENSIONAL IMAGE BUILDING METHOD AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

３次元像構築方法および透過電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加

走査型電子顕微鏡および該装置の制御方法 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING ITS AXIS例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡及びその軸調整方法 - 特許庁

FABRICATION OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料の作製方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE WITH ENERGY FILTER例文帳に追加

エネルギーフィルタを備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁

90°-CONVERSIBLE SAMPLE TABLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡用９０°変換試料台 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH MAGNETIC MICROPROBE例文帳に追加

磁性マイクロプローブを具備した電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD AND PROGRAM FOR MANIPULATING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の操作方法及びプログラム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING TILTING STAGE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の傾斜ステージ補正方法及び装置 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

電子顕微鏡観察用の試料片の製造方法 - 特許庁

OBSERVATION METHOD BY PHASE RETRIEVAL TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

位相回復方式の電子顕微鏡による観察方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

透過型電子顕微鏡、及び試料観察方法 - 特許庁

DETECTOR SYSTEM FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用の検出器システム - 特許庁

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE FOR PERFORMING AUTOMATIC YOUNG'S FRINGE PHOTOGRAPHING例文帳に追加

自動ヤングフリンジ撮影を行う電子顕微鏡 - 特許庁

RETAINER FOR SAMPLE CARRIER IN ELECTRON MICROSCOPE INSPECTION例文帳に追加

電子顕微鏡検査のサンプル担体のための保持器 - 特許庁

OBSERVATION IMAGE ACQUIRING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

観察画像取得方法、走査型電子顕微鏡 - 特許庁

IMAGE RECORDING METHOD IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡における画像記録方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びパターン測定方法 - 特許庁