「ELECTRON-MICROSCOPE」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

TRANSMISSION ELECTRON BEAM MICROSCOPE EQUIPPED WITH ELECTRON BEAM SPECTROMETER例文帳に追加

電子線分光器を備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁

ADJUSTMENT METHOD OF ELECTRON BEAM IN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡における電子ビーム調整方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM IRRADIANCE LEVEL DISPLAY DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の電子線照射量表示装置 - 特許庁

ELECTRON BEAM INTERFERENCE DEVICE AND ELECTRON BEAM INTERFERENCE MICROSCOPE METHOD例文帳に追加

電子線干渉装置、および電子線干渉顕微方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM HOLOGRAM, METHOD OF PRODUCING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE IMAGE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法及び透過電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON EMITTING CATHODE, ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON BEAM EXPOSING MACHINE例文帳に追加

電子放射陰極、電子顕微鏡および電子ビーム露光機 - 特許庁

FIELD-EMISSION ELECTRON GUN, ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM EXPOSURE APPARATUS例文帳に追加

電界放出型電子銃、電子顕微鏡、及び電子ビーム露光機 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE OPERATION PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING PROGRAM OF ELECTRON MICROSCOPE AND COMPUTER READABLE RECORD MEDIUM例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡の操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

SAMPLE PREPARING METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, MICRO VESSEL FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, AND ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡観察用試料作製方法、電子顕微鏡観察用微小容器及び電子顕微鏡観察方法。 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, METHOD OF OPERATING ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE OPERATING PROGRAM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM AND RECORDED APPARATUS例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, OPERATING PROGRAM OF ELECTRON MICROSCOPE AND RECORD MEDIUM READABLE WITH COMPUTER例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の観察像記憶方法、電子顕微鏡の観察像記憶プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

BEDDING SPECIMEN FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE MEASURING METHOD, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

透過電子顕微鏡観測用下地試料、透過電子顕微鏡測定方法、および透過電子顕微鏡装置 - 特許庁

SAMPLE FOR RESOLUTION EVALUATION OF ELECTRON MICROSCOPE, RESOLUTION EVALUATION METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, AND THE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の分解能評価用試料及び電子顕微鏡の分解能評価方法並びに電子顕微鏡 - 特許庁

IDENTIFIER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, HOLDER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND OBSERVATION METHOD OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡用試料の識別子、走査型電子顕微鏡用試料のホルダーおよび走査型電子顕微鏡用試料の観察方法 - 特許庁

To provide an electron microscope evaluation apparatus for properly evaluating the resolution of an electron microscope, and to provide an electron microscope.例文帳に追加

本発明は、電子顕微鏡の解像力を適正に評価する電子顕微鏡画像評価装置、及び電子顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁

ELECTRON-EMITTING ELEMENT, ELECTRON GUN, ELECTRON MICROSCOPE DEVICE USING IT, AND ELECTRON BEAM LITHOGRPHY DEVICE例文帳に追加

電子放出素子，電子銃、それを用いた電子顕微鏡装置及び電子線描画装置 - 特許庁

ELECTRODE RING, ELECTRON MICROSCOPE, MANUFACTURING METHOD OF ELECTRODE RING, AND MANUFACTURING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電極リング、電子顕微鏡、電極リングの製造方法及び電子顕微鏡の製造方法 - 特許庁

HYSTERESIS CORRECTION METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡のヒステリシス補正方法、及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

DIFFERENTIAL CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD OF DATA PROCESSING OF ELECTRON MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

差分コントラスト電子顕微鏡および電子顕微鏡像のデータ処理方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ACCELERATION VOLTAGE OPTIMIZATION METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び走査型電子顕微鏡における加速電圧最適化方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE AND MANUFACTURING APPARATUS FOR ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料の製造方法および電子顕微鏡用試料の製造装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING SAMPLE USING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OR SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡又は走査型透過電子顕微鏡を用いた試料の分析方法及び分析装置 - 特許庁

METHOD FOR OBTAINING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USER FOR THE SAME例文帳に追加

走査電子顕微鏡画像を得る方法及びこれに用いられる走査電子顕微鏡装置 - 特許庁

SAMPLE PREPARATION METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION AND SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

電子顕微鏡観察用の試料作製方法及び電子顕微鏡観察用の試料 - 特許庁

VISUAL INSPECTION DEVICE WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE FORMING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像生成方法 - 特許庁

PHASE PLATE FOR PHASE CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE, MANUFACTURING METHOD THEREOF AND PHASE CONTRAST ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

位相差電子顕微鏡用位相板及びその製造方法並びに位相差電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF PREPARING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE AND SAMPLE PIECE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料作製方法及び透過電子顕微鏡用試料片 - 特許庁

MOVABLE PROBE APPARATUS FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND SPECIMEN OBSERVING METHOD WITH ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用可動プローブ装置および電子顕微鏡の試料観察方法 - 特許庁

DYEING AGENT FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, AND DYEING METHOD OF SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法 - 特許庁

PREPARATION METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料の作製方法及び透過電子顕微鏡用試料 - 特許庁

METHOD OF ANALYZING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料の解析方法および透過型電子顕微鏡用試料 - 特許庁

POSITION DETERMINATION METHOD OF MEASURING OBJECT IN ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡における測定対象物の位置決定方法および電子顕微鏡 - 特許庁

RESOLUTION EVALUATION METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE, AND ADJUSTING METHOD OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の分解能評価方法および電子顕微鏡の調整方法 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, OBSERVING METHOD AND SAMPLING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用試料ホルダおよび観察方法ならびに電子顕微鏡用試料作製装置 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, OBSERVING TEST-PIECE, TEST-PIECE BASE OF ELECTRON MICROSCOPE, AND SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

電子顕微鏡、観察試料、電子顕微鏡の試料台および半導体ウェハ - 特許庁

DEFECT REVIEW METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE DEFECT REVIEW APPARATUS USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE REVIEW APPARATUS例文帳に追加

ＳＥＭ式レビュー装置を用いた欠陥レビュー方法及びＳＥＭ式欠陥レビュー装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM PROBE MICROANALYZER例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び電子線プローブマイクロアナライザー - 特許庁

METHOD FOR ANALYSIS OF ELECTRON BEAM DIFFRACTION IMAGE AND TRANSMISSIVE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子線回折像の解析方法及び透過型電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE FOR ELECTRON BEAM DIFFRACTION AND METHOD FOR PRODUCING ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE例文帳に追加

電子線回折用試料および電子顕微鏡試料の製造方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME, AND ANALYTICAL METHOD例文帳に追加

電子線分光器、それを備えた電子顕微鏡及び分析方法 - 特許庁

POSITIVE ELECTRON ANALYSIS MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING POSITIVE ELECTRON BEAM例文帳に追加

陽電子分析顕微鏡および陽電子ビームを用いた測定方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM DEVICE AND GAS REACTION SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子線装置及び電子顕微鏡用ガス反応試料ホルダ - 特許庁

ELECTRON BEAM ENERGY SPECTRUM DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加

電子線エネルギー分光装置及びそれを備えた電子顕微鏡 - 特許庁

LOW VACUUM OF SECONDARY ELECTRON DETECTING APPARATUS SUCH AS SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ETC例文帳に追加

走査電子顕微鏡等の低真空二次電子検出装置 - 特許庁