「ELECTRON-MICROSCOPE」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

WAFER HOLDER AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

ウエハホルダおよび電子顕微鏡 - 特許庁

LOW-ENERGY REFLECTION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

低エネルギー反射電子顕微鏡 - 特許庁

ULTRA HIGH-PRESSURE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

超高圧電子顕微鏡 - 特許庁

TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡装置 - 特許庁

METHOD FOR REGULATING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の調整方法 - 特許庁

REMOTE OPERATING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡遠隔操作装置 - 特許庁

DRAW GEAR FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用の引張装置 - 特許庁

APPARATUS FOR SIGHT COMPENSATION OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の視野補正装置 - 特許庁

CROSS-SECTION OBSERVATION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

断面観察用走査電子顕微鏡 - 特許庁

REMOTE OPERATING SYSTEM FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡遠隔操作装置 - 特許庁

IMAGE PICK-UP DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡用撮影装置 - 特許庁

PUMPING UNIT FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の排気装置 - 特許庁

PRE-CRYOGENIC ELECTRON MICROSCOPE SPECIMEN HOLDER例文帳に追加

電子顕微鏡の予冷型試料台 - 特許庁

PROTECTIVE MATERIAL FOR SAMPLE FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡試料保護材料 - 特許庁

RAPID SUCCESSIVE SHOOTING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

高速連続撮影電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND REMOTE OPERATION SYSTEM THEREOF例文帳に追加

電子顕微鏡と遠隔操作装置 - 特許庁

FOCUSING METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡における焦点合わせ方法および電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査形電子顕微鏡、および走査形電子顕微鏡を用いた撮像方法 - 特許庁

MIRROR ELECTRON MICROSCOPE, AND INSPECTION DEVICE USING MIRROR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

ミラー電子顕微鏡およびミラー電子顕微鏡を用いた検査装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND DISTORTION CALIBRATION OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

走査電子顕微鏡および走査電子顕微鏡像の歪み校正 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE DISPLAY METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡、および走査電子顕微鏡における像表示方法 - 特許庁

OBJECTIVE LENS FOR ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM, AND ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

電子顕微鏡システム用対物レンズおよび電子顕微鏡システム - 特許庁

PHASE PLATE LENS SYSTEM FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡の位相板用レンズシステム、および透過電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND TUNING METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡、および走査透過電子顕微鏡の調整方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DRIFT CORRECTION METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び走査型電子顕微鏡のドリフト補正方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE ALIGNMENT METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡の調整方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND TESTPIECE CHAMBER FITTED WITH ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡、及びそれに取り付けられる電子顕微鏡用試料室 - 特許庁

METHOD OF PREVENTING CHARGE UP OF ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡のチャージアップ防止方法および電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR CALIBRATING ELECTRON MICROSCOPE, AND STANDARD SAMPLE FOR CALIBRATING THE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の校正方法及び電子顕微鏡校正用標準試料 - 特許庁

COMPOUND MICROSCOPE OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡と近接場光学顕微鏡の複合型顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE EQUIPPED WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を備えた走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH FUNCTION OF X-RAY MICROSCOPE例文帳に追加

Ｘ線顕微鏡の機能を備えた走査電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON BEAM AXIS ALIGNING METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡および電子ビームの軸合わせ方法 - 特許庁

ELECTRON OPTICAL SYSTEM AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子光学システム及び電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGING METHOD USING ELECTRON BEAM例文帳に追加

電子顕微鏡及び電子線を用いた撮像方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH ELECTRON BEAM BIPRISM DEVICE例文帳に追加

電子線バイプリズム装置を備えた電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON BEAM ADJUSTMENT METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子ビーム調整方法、及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR IRRADIATING ELECTRON BEAM AND ELECTRON SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

電子ビームの照射方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON STAINING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

透過電子顕微鏡観察用試料の電子染色法。 - 特許庁

REFLECTION ELECTRON DETECTION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡等の反射電子検出装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR REFLECTION ELECTRON DETECTOR FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡用半導体反射電子検出器 - 特許庁

ELECTRON BEAM IRRADIATION APPARATUS AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

電子線照射装置及び走査型電子顕微鏡装置 - 特許庁

ELECTRON ENERGY ANALYZER AND ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

電子エネルギー分析器及びそれを用いた電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON BEAM IRRADIATION DEVICE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

電子線照射装置及び走査電子顕微鏡装置 - 特許庁

ELECTRON BEAM IRRADIATION EQUIPMENT AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

電子線照射装置および走査型電子顕微鏡装置 - 特許庁