ELECTRON-MICROSCOPEの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1812件
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM ENERGY SPECTROSCOPY USING IT例文帳に追加
走査透過電子顕微鏡及びそれを用いた電子線エネルギー分光方法 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM AXIS ADJUSTING METHOD THEREFOR例文帳に追加
走査電子顕微鏡の電子ビーム軸調整方法および走査電子顕微鏡 - 特許庁
To prevent sample contamination in electron irradiation in an analytical electron microscope.例文帳に追加
分析電子顕微鏡において、電子線照射時の試料汚染を防止する。 - 特許庁
EMITTED ELECTRON ACCELERATING METHOD IN COMPOSITE EMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
複合放出電子顕微鏡における放出電子加速方法 - 特許庁
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND TRANSMITTED ELECTRON EXAMINATION DEVICE AND EXAMINATION METHOD例文帳に追加
透過電子顕微鏡装置および透過電子検査装置並びに検査方法 - 特許庁
The electron microscope carries out Fourier synthesis automatically. 例文帳に追加
電子顕微鏡は、フーリエ合成を自動的に行う。 - 科学技術論文動詞集
Ruska succeeded in the development of an electron microscope. 例文帳に追加
ルスカは、電子顕微鏡の開発に成功した。 - 科学技術論文動詞集
The particle diameter ratio would be measured by the electron microscope pictures. 例文帳に追加
粒径比の測定には電子顕微鏡写真を用いる。 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE, AND DIFFRACTION IMAGE OBSERVATION METHOD例文帳に追加
電子顕微鏡、および回折像観察方法 - 特許庁
LINEAR MOTOR, MOVABLE STAGE AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
リニアモータ，可動ステージおよび電子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH MONOCHROMETER例文帳に追加
モノクロメータ付走査形電子顕微鏡 - 特許庁
GRID AND GRID HOLDER FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過型電子顕微鏡用グリッドおよびグリッドホルダー - 特許庁
TEMPLATE MATCHING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
テンプレートマッチング方法、および走査電子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS PHOTOGRAPHING METHOD例文帳に追加
走査電子顕微鏡及びその撮像方法 - 特許庁
ELECTRONIC SPECTROSCOPE AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH ABOVE例文帳に追加
電子分光器及びそれを備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE WITH CAMERA FOR IMAGE OBSERVATION例文帳に追加
像観察用カメラを備える電子顕微鏡 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE WITH X-RAY SPECTROSCOPE例文帳に追加
Ｘ線分光器を備えた電子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE PHOTOGRAPHING METHOD例文帳に追加
走査電子顕微鏡及び試料撮影方法 - 特許庁
CRYSTAL ORIENTATION IDENTIFICATION SYSTEM AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
結晶方位同定システム及び透過電子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING DISTURBANCE CORRECTING DEVICE例文帳に追加
外部擾乱補正装置を有した走査電子顕微鏡 - 特許庁
ASTIGMATISM CORRECTION METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE例文帳に追加
電子顕微鏡の非点収差補正方法とその装置 - 特許庁
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE WITH ELECTRONIC SPECTROSCOPE例文帳に追加
電子分光器を備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SEMICONDUCTOR INSPECTING SYSTEM例文帳に追加
走査型電子顕微鏡及び半導体検査システム - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND BRAKE MECHANISM例文帳に追加
電子顕微鏡装置およびブレーキ機構 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE FOR DIMENSION CALIBRATION例文帳に追加
走査電子顕微鏡及び寸法校正用試料 - 特許庁
MICRO-MANIPULATOR FOR ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡用マイクロマニピュレータ - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS OBSERVATION METHOD例文帳に追加
走査電子顕微鏡およびその観察方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DETECTING DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
半導体検出装置および電子顕微鏡 - 特許庁
REMOTE OBSERVATION SYSTEM FOR ELECTRON MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加
電子顕微鏡像の遠隔観察システム - 特許庁
ELECTRON PAIR MEASURING APPARATUS AND SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加
電子対測定装置および走査形トンネル顕微鏡 - 特許庁
CHARGED PARTICLE TUBE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
荷電粒子管および走査電子顕微鏡 - 特許庁
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION CORRECTION METHOD例文帳に追加
走査透過電子顕微鏡、及び収差補正方法 - 特許庁
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE HAVING TELEVISION CAMERA例文帳に追加
テレビカメラを備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUSING METHOD例文帳に追加
透過電子顕微鏡および焦点合わせ方法 - 特許庁
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE HAVING SCAN IMAGE OBSERVATION FUNCTION例文帳に追加
走査像観察機能を有した透過電子顕微鏡 - 特許庁
CHARGE-UP DETECTION METHOD FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査型電子顕微鏡のチャージアップ検出方法 - 特許庁
ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH ANNULAR ILLUMINATING APERTURE例文帳に追加
環状の照明開口を備える電子顕微鏡 - 特許庁
IMAGING DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加
透過電子顕微鏡像の撮像装置 - 特許庁
LENGTH MEASURING METHOD BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
走査形電子顕微鏡による測長方法 - 特許庁
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
検索履歴を保存できる！|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
