「ELECTRON-MICROSCOPE」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST PIECE OBSERVATION METHOD BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡による試料観察方法 - 特許庁

DEFOCUSING AMOUNT MEASURING METHOD OF TEM (TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE)例文帳に追加

ＴＥＭのデフォーカス量測定方法 - 特許庁

FUNCTION FOR REGULATING AUTOMATICALLY IMAGE FOR ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE例文帳に追加

電子顕微鏡等の自動画像調整機能 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING MEASURING CONDITION BY ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡による測定条件決定方法 - 特許庁

To provide a monochromator used for an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡使用のためのモノクロメータに関する。 - 特許庁

METHOD OF OBSERVING TESTPIECE AND ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

試料観察方法及び電子顕微鏡 - 特許庁

STRUCTURE OF SPACE FOR ACCELERATING ELECTRON IN X-RAY MICROSCOPE例文帳に追加

Ｘ線顕微鏡の電子加速空間構造 - 特許庁

SEMI-HERMETICALLY SEALED OBSERVATION ENVIRONMENT FORMING DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の半密閉式観測環境形成装置 - 特許庁

The crossover acts as an effective electron source for the electron optical system of the electron microscope. 例文帳に追加

クロスオーバは、電子顕微鏡の電子光学系に対して事実上の電子光源として働く(作用する)。 - 科学技術論文動詞集

ELECTRON SOURCE HAVING CARBON NANOTUBE, ELECTRON MICROSCOPE USING IT, AND ELECTRON BEAM DRAWING DEVICE例文帳に追加

カーボンナノチューブを有する電子源とそれを用いた電子顕微鏡および電子線描画装置 - 特許庁

ELECTRON-BEAM DRAWING APPARATUS, ELECTRON BEAM TESTER, AND ELECTRON BEAM MICROSCOPE例文帳に追加

電子ビーム描画装置および電子ビーム検査装置および電子ビーム顕微鏡 - 特許庁

To provide an electron beam hologram, a method of producing a transmission electron microscope image and an electron transmission microscope, capable of preventing the positional misalignment of the transmission electron microscope image from the electron beam hologram.例文帳に追加

電子線ホログラムと透過電子顕微鏡像との位置ずれを防止することができる電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法及び透過電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

SECONDARY ELECTRON-REFLECTED ELECTRON DETECTING DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING SECONDARY ELECTRON-REFLECTED ELECTRON DETECTING DEVICE例文帳に追加

２次電子・反射電子検出装置及び２次電子・反射電子検出装置を有する走査電子顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE CONTROL DEVICE, ELECTRON MICROSCOPE CONTROL METHOD, CONTROL PROGRAM, RECORDING MEDIUM HAVING CONTROL PROGRAM RECORDED THEREON, ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM, AND ELECTRON BEAM IRRADIATION DEVICE例文帳に追加

電子顕微鏡制御装置、電子顕微鏡制御方法、制御プログラム、制御プログラムを記録した記録媒体、電子顕微鏡システム、および電子線照射装置 - 特許庁

an electron microscope shows tiny details better than any other type of microscope. 例文帳に追加

電子顕微鏡は、他のどのタイプの顕微鏡よりも、物体を細かく映し出すことができる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

To smoothly switch between observation fields of an electron microscope image and an optical microscope image.例文帳に追加

電子顕微鏡画像、光学拡大観察画像の観察視野切り替えをスムーズに行う。 - 特許庁

To provide an electron gun capable of aiming at higher quality of electron beams in a simple way and provide an electron microscope and an electron generation method.例文帳に追加

簡便に電子ビームの高品質化を図ることができる電子銃、電子顕微鏡、及び電子発生方法を提供する。 - 特許庁

To provide a field-emission electron gun which can control the deterioration of electron emission characteristics and is low cost, and to provide an electron microscope and an electron beam exposure apparatus.例文帳に追加

電子放出特性の劣化を抑制可能であり、低コストな電界放出型電子銃、電子顕微鏡、及び電子ビーム露光機を提供する。 - 特許庁

The invention describes the method for electron diffraction tomography in a transmission electron microscope.例文帳に追加

当該発明は、透過電子顕微鏡における電子回折断層撮影のための方法を記載する。 - 特許庁

ELEMENT CONCENTRATION MEASURING METHOD BY ELECTRON MICROSCOPE WITH ELECTRON BEAM ENERGY SPECTROSCOPE AND DEVICE PROVIDED THEREWITH例文帳に追加

電子線エネルギー分光器付き電子顕微鏡による元素濃度測定方法及びこれを備えた装置 - 特許庁

ELECTRON BEAM ADJUSTING METHOD, CHARGED PARTICLE OPTICAL SYSTEM CONTROL DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子ビームの調整方法，荷電粒子光学系制御装置、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

OBSERVING APPARATUS FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON IMAGE OF ELECTRON MICROSCOPE MOUNTED WITH ENERGY FILTER例文帳に追加

エネルギーフィルタを備えた電子顕微鏡の走査透過電子像観察装置 - 特許庁

To provide an electron microscope, where an electron beam will not irradiate photographing visual field at focus-adjustment.例文帳に追加

焦点合わせの際に電子線が撮影視野を照射することない電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

Holography observation is conducted by using a transmission electron microscope mounting a spin polarization electron source.例文帳に追加

スピン偏極電子源を搭載した透過電子顕微鏡を用いてホログラフィー観察をする。 - 特許庁

ELECTRON BEAM IRRADIATION APPARATUS, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS, AND X-RAY ANALYSIS APPARATUS例文帳に追加

電子線照射装置、及び走査型電子顕微鏡装置、Ｘ線分析装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING AUTOMATIC AXIS OF ELECTRON LENS OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡における電子レンズの自動軸調整方法及び装置 - 特許庁

To guide a large number of secondary electrons to an electron detection part, in a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査電子顕微鏡において、多数の２次電子を電子検出部に導くこと。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, CONTROL METHOD OF THE SAME, AND ELECTRON BEAM AXIS CONTROL METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法並びに電子ビームの軸調整方法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON BEAM HOLOGRAM FORMING METHOD, AND PHASE REPRODUCED IMAGE FORMING METHOD例文帳に追加

電子顕微鏡、電子線ホログラム作成方法及び位相再生画像作成方法 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope device in which an electron gun is maintained in vacuum.例文帳に追加

電子銃が真空に保たれる走査型電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

CONTROL DEVICE AND CONTROL METHOD FOR ELECTRON GUN USED FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE例文帳に追加

走査電子顕微鏡等に用いる電子銃の制御装置及び制御方法 - 特許庁

ILLUMINANT, AND ELECTRON BEAM DETECTOR, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MASS SPECTROMETER USING THE SAME例文帳に追加

発光体と、これを用いた電子線検出器、走査型電子顕微鏡及び質量分析装置 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPY, AND ELECTRON MICROSCOPE, BIOLOGICAL SAMPLE INSPECTING METHOD AND BIOLOGICAL INSPECTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

電子顕微方法及びそれを用いた電子顕微鏡並び生体試料検査方法及び生体検査装置 - 特許庁

RADIATION ELECTRON MICROSCOPE FOR INSULATOR SAMPLE OBSERVATION USING DIAGONALLY IRRADIATING METHOD OF CHARGED NEUTRALIZATION ELECTRON例文帳に追加

帯電中和電子の斜め照射法を用いた絶縁物試料観察用放射電子顕微鏡 - 特許庁

To measure the deviation of an electron beam scanning axis with a stage moving axis of a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査電子顕微鏡の電子ビーム走査軸とステージ移動軸のずれを測定する - 特許庁

To provide an electron beam irradiation apparatus and a scanning electron microscope apparatus, which have a high resolution and are small.例文帳に追加

分解能が良くかつ小型の電子線照射装置と走査型電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

COMMON SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUSED-ION BEAM DEVICE, AND SAMPLE-PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡と集束イオンビーム装置との共用試料ホルダー及び透過型電子顕微鏡用の試料作製方法 - 特許庁

SPECTRUM DATA PROCESSING METHOD OF TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE USING ENERGY FILTER AND ITS TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

エネルギーフィルタを用いた透過型電子顕微鏡の分光データ処理方法、及びその透過型電子顕微鏡 - 特許庁

APPEARANCE INSPECTION APPARATUS WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE DATA PROCESSING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像データの処理方法 - 特許庁

REFERENCE SAMPLE FOR ELEMENT MAPPING OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT MAPPING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

透過電子顕微鏡の元素マッピング用の標準試料およびそれを利用した透過電子顕微鏡の元素マッピング法 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE, METHOD OF DISPLAYING OBSERVED IMAGE OF ELECTRON MICROSCOPE, PROGRAM FOR DISPLAYING THE SAME, AND RECORDING MEDIUM READABLE BY COMPUTER例文帳に追加

電子顕微鏡、電子顕微鏡の観察像表示方法、電子顕微鏡の観察像表示プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

Thus, once a sample cooling holder is attached to an electron microscope, the sample stage of the electron microscope can be positioned.例文帳に追加

これにより、電子顕微鏡に試料冷却ホルダーを一度取り付けれるだけで電子顕微鏡の試料台の位置決めが可能になる。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ITS MAINTENANCE/MANAGEMENT PROGRAM, MAINTENANCE/MANAGEMENT METHOD, AND RESOURCE ALLOCATION METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM例文帳に追加

走査型電子顕微鏡、その保守・管理プログラム、保守・管理方法および走査型電子顕微鏡システムにおける資源割り当て方法 - 特許庁

INFORMATION TRANSMISSION LIMIT MEASURING METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE WITH THE MEASURING METHOD APPLIED例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の情報伝達限界測定法およびこの測定法が適用された透過型電子顕微鏡 - 特許庁

PATTERN DIMENSION MEASUREMENT METHOD USING ELECTRON MICROSCOPE, PATTERN DIMENSION MEASUREMENT SYSTEM AND MONITORING METHOD OF SECULAR CHANGE OF ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

電子顕微鏡を用いたパターン寸法計測方法、パターン寸法計測システム並びに電子顕微鏡装置の経時変化のモニタ方法 - 特許庁