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「Measuring method」に関連した英語例文の一覧と使い方(128ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Measuring methodの意味・解説 > Measuring methodに関連した英語例文

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Measuring methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 28057



例文

METHOD OF MEASURING DISCONNECTION OF TAIL CORD IN ELEVATOR例文帳に追加

エレベーターにおけるテールコードの断線測定方法 - 特許庁

LIQUID DROPLET SPEED MEASURING METHOD OF LIQUID JET HEAD例文帳に追加

液体噴射ヘッドの液滴速度測定方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING BLOOD SUGAR例文帳に追加

血糖値測定装置及び血糖値測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING DISTANCE FROM VEHICLE TO TRAFFIC SIGNAL例文帳に追加

車両から信号機までの距離測定方法 - 特許庁

例文

MEASURING DEVICE AND MEASUREMENT METHOD USING SAME例文帳に追加

計量装置およびこれを用いた計量方法 - 特許庁


例文

GAS CONCENTRATION MEASURING INSTRUMENT AND METHOD例文帳に追加

ガス濃度測定装置及びガス濃度測定方法 - 特許庁

SAMPLE MEASURING METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加

試料測定方法、及び荷電粒子線装置 - 特許庁

INLINE CONTINUOUS MEASURING METHOD AND MEASURING APPARATUS OF FOOD AND BEVERAGE OVERRUN, FOOD AND BEVERAGE MANUFACTURING METHOD USING THE MEASURING METHOD, AND FOOD AND BEVERAGE MANUFACTURED BY THE METHOD例文帳に追加

飲食品のオーバーランのインライン連続測定方法及び測定装置、並びに、当該測定方法を使用した飲食品の製造方法と、これにより製造した飲食品 - 特許庁

ASPHERIC SURFACE MEASURING ELEMENT, LIGHTWAVE INTERFERENCE MEASURING DEVICE AND METHOD USING THE ASPHERIC SURFACE MEASURING ELEMENT, ASPHERIC SURFACE SHAPE CORRECTION METHOD, AND SYSTEM ERROR CORRECTION METHOD例文帳に追加

非球面測定用素子、該非球面測定用素子を用いた光波干渉測定装置と方法、非球面の形状補正方法、およびシステム誤差補正方法 - 特許庁

例文

MEASURING APPARATUS FOR CHARACTERISTIC OF PHOTOVOLTAIC ELEMENT, MEASURING METHOD USING THE SAME, METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING FUNCTIONAL ELEMENT AND MANUFACTURING METHOD FOR SOLAR BATTERY USING THE SAME例文帳に追加

光起電力素子特性の測定装置、それを用いる測定法、機能素子の測定方法および測定装置、それを用いる太陽電池の製造方法 - 特許庁

例文

PREPARATION METHOD OF SMALL-GRANULATED HBs ANTIGEN AND PREPARATION METHOD OF IMMUNO-MEASURING REAGENT USING IT, IMMUNO-MEASURING REAGENT AND IMMUNO-MEASURING METHOD例文帳に追加

小粒子化HBs抗原の調製法並びにこれを用いた免疫測定試薬の製造方法、免疫測定試薬及び免疫測定方法 - 特許庁

REFERENCE POSITION CALIBRATION TOOL, CONTOUR MEASURING INSTRUMENT, VISUAL INSPECTION DEVICE, MEASURING OBJECT HOLDING DEVICE, REFERENCE POSITION CALIBRATION METHOD, CONTOUR MEASURING METHOD, AND VISUAL INSPECTION METHOD例文帳に追加

基準位置校正治具、外形測定装置、外観検査装置、測定対象物保持装置、基準位置校正方法、外形測定方法、及び外観検査方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING MODE COUPLING LENGTH OF OPTICAL FIBER, METHOD OF MEASURING POLARIZATION MODE DISPERSION, METHOD OF MEASURING LONGITUDINAL-DIRECTIONAL DISTRIBUTION IN POLARIZATION MODE DISPERSION, AND OPTICAL FIBER例文帳に追加

光ファイバのモード結合長測定方法、偏波モード分散測定方法、偏波モード分散の長手方向分布測定方法及び光ファイバ - 特許庁

To provide a measuring method as substitution for a correlation measuring method, since the correlation measuring method of measuring noncollidingly a yarn velocity dependent parameter requires a high cost when measuring, in particular, a high yarn velocity.例文帳に追加

糸速度依存パラメータを非衝突的に測定する方法である、相関測定方法は特に高い糸速度を測定する場合に多大のコストを必要とするため、これに代わる測定方法を提供する。 - 特許庁

DEVELOPED COLOR IMAGE MEASURING SET, JIG FOR FIXING SHEET CONTAINER FOR MEASURING DEVELOPED COLOR IMAGE, AND DEVELOPED COLOR IMAGE MEASURING METHOD例文帳に追加

発色画像測定セット、発色画像測定用シート容器の固定治具及び発色画像測定方法 - 特許庁

IMAGE MEASURING SYSTEM, IMAGE MEASURING METHOD, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM RECORDING IMAGE MEASURING PROGRAM例文帳に追加

画像計測システム、画像計測方法及び画像計測用プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

TEMPERATURE-MEASURING SENSOR, METHOD OF MANUFACTURING TEMPERATURE-MEASURING SENSOR, AND MOLDING MOLD USED IN MANUFACTURE OF TEMPERATURE-MEASURING SENSOR例文帳に追加

温度測定センサと、温度測定センサの製造方法並びに温度測定センサの製造に用いる成形型 - 特許庁

FEEDER LINE LOCATION MEASURING METHOD, FEEDER LINE LOCATION MEASURING DEVICE, FEEDER LINE LOCATION MEASURING SYSTEM AND PROGRAM例文帳に追加

送電線位置計測処理方法、送電線位置計測処理装置、送電線離隔計測システム及びプログラム - 特許庁

THIN FILM THERMOPHYSICAL PROPERTY MEASURING INSTRUMENT AND METHOD OF MEASURING THERMAL CONDUCTIVITY AND INTERFACE THERMAL RESISTANCE USING THIS MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

薄膜の熱物性測定装置とこの測定装置を用いた熱伝導率と界面熱抵抗の測定方法 - 特許庁

PROBE FOR MEASURING UNDERGROUND THERMAL CONDUCTIVITY, UNDERGROUND THERMAL CONDUCTIVITY MEASURING DEVICE, AND UNDERGROUND THERMAL CONDUCTIVITY MEASURING METHOD例文帳に追加

地中熱伝導率計測用のプローブ、地中熱伝導率計測装置及び地中熱伝導率計測方法 - 特許庁

PIPETTE TIP USED FOR MEASURING SAMPLED LIQUID, MEASURING METHOD USING PIPETTE TIP AND MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

採取液体を検量するために用いられるピペットチップ、このピペットチップを用いた検量方法および検量装置 - 特許庁

To provide an image measuring apparatus, an image measuring method, and an image measuring program for speedily executing measurements.例文帳に追加

測定を迅速に実行可能な画像測定装置、画像測定方法、及び画像測定プログラムを提供する。 - 特許庁

DISCHARGE CHARACTERISTIC MEASURING METHOD, DISCHARGE CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE AND IMAGE FORMING DEVICE HAVING DISCHARGE CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE例文帳に追加

吐出特性測定方法、吐出特性測定装置、吐出特性測定装置を備えた画像形成装置 - 特許庁

LEVEL-MEASURING DEVICE, LEVEL-MEASURING SYSTEM, LEVEL-MEASURING METHOD, COMPUTER PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE RECORD MEDIUM例文帳に追加

レベル測定装置、レベル測定システム、レベル測定方法、コンピュータプログラムおよびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide a thickness measuring device and a thickness measuring method for measuring film thickness accurately with a simple constitution.例文帳に追加

簡易な構成で、精度良く膜厚測定可能な厚み測定装置または厚み測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an artificial radioactivity measuring device and a measuring method with high accuracy of measurement by measuring directly radiation from artificial radioactivity.例文帳に追加

人工放射能測定装置及び測定方法において、人工放射能の測定作業の簡素化を図る。 - 特許庁

SIGNAL INCOMING AZIMUTH MEASURING SYSTEM, AND MEASURING METHOD OF SIGNAL INCOMING AZIMUTH IN SIGNAL INCOMING AZIMUTH MEASURING SYSTEM例文帳に追加

信号到来方位測定システム及び信号到来方位測定システムにおける信号到来方位の測定方法 - 特許庁

MASK, POSITION CONTROL ACCURACY MEASURING METHOD, EXPOSING METHOD AND DEVICE PRODUCTION METHOD例文帳に追加

マスク、位置制御精度計測方法、及び露光方法、並びにデバイス製造方法 - 特許庁

MEASURING METHOD, METHOD OF PROVIDING ALIGNMENT MARK AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

測定方法、位置合せマークを提供するための方法及びデバイス製造方法 - 特許庁

METHOD OF MEASURING ZETA POTENTIAL, GREASE PREPARATION METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING BEARING例文帳に追加

ゼータ電位の測定方法、グリースの調製方法および軸受の製造方法 - 特許庁

MARK DETECTION METHOD, ALIGNMENT METHOD, EXPOSURE METHOD, PROGRAM AND MEASURING APPARATUS OF MARK例文帳に追加

マーク検出方法、位置合わせ方法、露光方法、プログラム及びマーク計測装置 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING IMPURITY CONCENTRATION, STM MEASUREMENT METHOD AND STS MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

不純物濃度測定方法、STM測定方法及びSTS測定方法 - 特許庁

METHOD OF EVALUATING FILM, METHOD OF MEASURING TEMPERATURE, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

膜の評価方法,温度測定方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

In the method for measuring the characteristics of a measuring target liquid 1 by a characteristic measuring method 2, the ratio of air bubbles 3 contained in the measuring target liquid 1 within the measuring region S of the characteristic measuring method 2 is reduced to reduce the measuring error caused by the air bubbles 3.例文帳に追加

測定対象液1の特性を特性測定部2により測定する方法であって、特性測定部2の測定領域S内の測定対象液1に含まれている気泡3の割合を減少させることにより、気泡3に起因する測定誤差を低減する。 - 特許庁

An immunity measuring method capable of measuring equol without de-conjugation treatment is established by building an immunity measuring method using this antibody.例文帳に追加

この抗体を用いて免疫測定法を構築することにより、脱抱合処理なしに測定できる免疫測定法が確立された。 - 特許庁

MEDIA FOR MEASURING HEIGHT OF HEAD CARRIAGE, MANUFACTURING METHOD OF MEDIA FOR MEASURING HEIGHT OF HEAD CARRIAGE, AND METHOD FOR MEASURING HEIGHT OF HEAD CARRIAGE例文帳に追加

ヘッドキャリッジの高さ測定用メディア及びヘッドキャリッジの高さ測定用メディア製造方法並びにヘッドキャリッジの高さ測定方法 - 特許庁

POWER CABLE TEMPERATURE MEASURING METHOD, POWER CABLE TEMPERATURE MEASURING SECTION STRUCTURE, AND CONSTRUCTION METHOD OF POWER CABLE TEMPERATURE MEASURING SECTION例文帳に追加

電力ケーブル温度測定方法、電力ケーブル温度測定区間部構造、ならびに電力ケーブル温度測定区間部の構築方法 - 特許庁

BACKLIGHT BRIGHTNESS MEASURING APPARATUS, BACKLIGHT BRIGHTNESS MEASURING METHOD, PROGRAM FOR PERFORMING MEASURING METHOD, AND STORAGE MEDIUM RECORDING IT例文帳に追加

バックライト輝度測定装置、バックライト輝度測定方法、及びその測定方法を実行させるプログラム並びにそれを記録した記録媒体 - 特許庁

OPTICAL-SIGNAL TO NOISE-RATIO MEASURING METHOD IN OPTICAL COMMUNICATION SYSTEM AND OPTICAL-SIGNAL TO NOISE-RATIO MEASURING DEVICE USING THE MEASURING METHOD例文帳に追加

光通信システムにおける光信号対雑音比測定方法及び該測定方法を使用した光信号対雑音比測定装置 - 特許庁

MEASURING APPARATUS OF FULL-CHARGE CAPACITY OF BATTERY, MEASURING METHOD THEREOF, CONTROL APPARATUS OF VEHICLE LOADED WITH THE MEASURING APPARATUS, AND CONTROL METHOD THEREOF例文帳に追加

電池の満充電容量計測装置、計測方法、その計測装置を搭載した車両の制御装置および制御方法 - 特許庁

IMAGE FORMING DEVICE, METHOD FOR MEASURING OPTICAL CHARACTERISTIC OF LIGHT DEFLECTOR, TILT ANGLE MEASURING DEVICE AND METHOD FOR MEASURING TILT ANGLE OF LIGHT DEFLECTOR例文帳に追加

画像形成装置、光偏向装置の光学特性測定方法、倒れ角測定装置及び光偏向装置の倒れ角測定方法 - 特許庁

TOE VALUE MEASURING DEVICE, TOE VALUE MEASURING METHOD, TO VALUE MEASURING PROGRAM, AXLE ASSEMBLY ADJUSTING DEVICE, AXLE ASSEMBLY ADJUSTING METHOD AND AXLE ASSEMBLY ADJUSTING PROGRAM例文帳に追加

トー値測定装置、トー値測定方法、トー値測定プログラム、アクスルアッシー調整装置、アクスルアッシー調整方法、アクスルアッシー調整プログラム - 特許庁

To provide an occluded gas amount measuring method and its device for measuring the amount of occluded gas with significantly higher accuracy and efficiency than a conventional occluded gas amount measuring method and its device.例文帳に追加

従来の吸蔵ガス量測定方法及び装置に比して遥かに高精度に且つ能率よく吸蔵ガス量を測定する。 - 特許庁

OPTICAL CHARACTERISTICS MEASURING METHOD, OPTICAL SYSTEM ADJUSTING METHOD, OPTICAL CHARACTERISTICS MEASURING APPARATUS, EXPOSURE APPARATUS AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

光学特性測定方法、光学系の調整方法、光学特性測定装置、露光装置並びにデバイスの製造方法 - 特許庁

BODY WITH PATTERN, POSITION MEASURING DEVICE, STAGE DEVICE, EXPOSURE DEVICE AND MANUFACTURING METHOD FOR DEVICE, METHOD FOR MEASURING POSITION, AND EVALUATING METHOD例文帳に追加

パターン付き物体、位置計測装置、ステージ装置、露光装置、及びデバイス製造方法、位置計測方法、評価方法 - 特許庁

WAVE FRONT ABERRATION MEASURING METHOD, WAVE FRONT ABERRATION MEASURING DEVICE, MANUFACTURING METHOD OF IMAGING OPTICAL SYSTEM AND MANUFACTURING METHOD OF EXPOSURE DEVICE例文帳に追加

波面収差測定方法、波面収差測定装置、結像光学系の製造方法、及び露光装置の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING EXPANSION/CONTRACTION, METHOD FOR PROCESSING SUBSTRATE, METHOD FOR PRODUCING DEVICE, APPARATUS FOR MEASURING EXPANSION/CONTRACTION, AND APPARATUS FOR PROCESSING SUBSTRATE例文帳に追加

伸縮測定方法、基板処理方法及びデバイス製造方法、並びに伸縮測定装置及び基板処理装置 - 特許庁

GLASSES WEARING PARAMETER MEASURING INSTRUMENT, GLASSES WEARING PARAMETER MEASURING METHOD, GLASSES LENS MANUFACTURING METHOD AND GLASSES MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

眼鏡装用パラメータ測定装置、眼鏡装用パラメータ測定方法、眼鏡レンズの製造方法、及び眼鏡の製造方法 - 特許庁

SAMPLE PROCESSING METHOD OF CONCRETE, MEASURING METHOD OF BUBBLE PARAMETER, AND MEASURING DEVICE FOR EXECUTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

コンクリートのサンプル加工方法、気泡パラメータの測定方法、並びにその測定方法を実行する測定装置及びプログラム。 - 特許庁

例文

TRANSITION BIAS MEASURING METHOD, TRANSITION BIAS MEASURING DEVICE, TRANSITION BIAS EVALUATING METHOD, TRANSITION BIAS SETTING METHOD AND IMAGE FORMING APPARATUS例文帳に追加

転移バイアス計測方法、転移バイアス計測装置、転移バイアス評価方法、転移バイアス設定方法、画像形成装置 - 特許庁




  
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