「Standard method」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

The method further includes a step for determining a component about each module of the method standard.例文帳に追加

方法はさらに、方法基準のモジュールの各々について構成要素を決定するステップを含む。 - 特許庁

Namely this method is characterized by adopting a total area identification standard as a distribution standard in parallel processing.例文帳に追加

すなわち、本発明は、並列処理における分散基準として、合計面積同一化基準を採用した点を特徴とする。 - 特許庁

STANDARD SAMPLE FOR INSPECTING MOISTURE AMOUNT MEASURING INSTRUMENT, SAMPLE SET, AND INSPECTION METHOD OF MOISTURE AMOUNT MEASURING INSTRUMENT USING STANDARD SAMPLE例文帳に追加

水分量測定装置検定用標準試料、試料セット及びそれを利用した水分量測定装置検定方法 - 特許庁

MEASUREMENT STANDARD SPECIMEN OF NANOMETER SCALE AND METHOD OF CALIBRATING SCANNING TYPE MICROSCOPE USING THE MEASUREMENT STANDARD SPECIMEN OF NANO METER SCALE例文帳に追加

ナノメートルスケールの計測標準試料およびナノメートルスケールの計測標準試料を用いた走査型顕微鏡の校正方法 - 特許庁

STANDARD CELL, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, METHOD AND DEVICE FOR DESIGNING THEREOF, AND STANDARD CELL LIBRARY例文帳に追加

スタンダードセル、半導体集積回路、半導体集積回路の設計方法、半導体集積回路の設計装置、及びスタンダードセルライブラリ - 特許庁

The bias between the evaluation method or equipment and the standard test method or equipment is compared with the fluctuating level in the standard test method and a report including the conclusion about the clinical equivalence between the evaluation method or equipment and the standard test method or equipment is prepared.例文帳に追加

評価方法または機器と基準方法または機器との間の偏りが、基準方法における変動レベルに対して比較され、評価方法または機器が基準方法または機器と臨床的に等価であるかどうかに関する結果を含むレポートが生成される。 - 特許庁

METHOD, DEVICE AND COMPUTER PROGRAM TO DETERMINE STANDARD ROD TYPE OF REACTOR例文帳に追加

原子炉の標準ロッドタイプを決定するための方法、装置、及びコンピュータプログラム - 特許庁

METHOD FOR CUTTING VENEER PLATE TO STANDARD LENGTH IN VENEER PEELING/CUTTING TREATMENT PROCESS例文帳に追加

単板切削切断処理工程に於けるベニヤ単板の定尺切断方法 - 特許庁

3,5-DIPRENYL-4-HYDROXYCINNAMIC ACID FOR STANDARD SAMPLE AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME例文帳に追加

標準品用３，５−ジプレニル−４−ヒドロキシ桂皮酸およびその製造方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR FORMATTING DIGITAL IMAGE IN ACCORDANCE WITH USER-SELECTED COMMUNICATION STANDARD例文帳に追加

ユーザ選択の通信規格に基づくデジタル画像のフォーマッティング方法と装置 - 特許庁

The method standard describes one deformation for manufacturing a shape characteristic.例文帳に追加

方法基準は、形状特性を製造するための１つの変形を記述する。 - 特許庁

A method standard describes the configuration for producing the respective shape properties.例文帳に追加

方法基準は各々の形状特性を製造するための形態を記述する。 - 特許庁

EVALUATION STANDARD MEMBER OF SPRAYING CHARACTERISTICS OF NOZZLE, AND METHOD OF EVALUATING USING THE SAME例文帳に追加

ノズルの噴霧特性の評価基準部材及びそれを用いた評価方法 - 特許庁

INORGANIC FIBER MAT STANDARD PLATE FOR MEASURING HEAT CONDUCTIVITY AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

熱伝導率測定用無機繊維マット標準板及びその製造方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR STANDARD SPEECH INTERFACE AND SPEECH CONTROLLED DEVICE例文帳に追加

標準の音声ユーザ・インタフェースの方法と装置および音声制御式デバイス - 特許庁

OBSTACLE DETECTION METHOD, OBSTACLE DETECTOR, AND STANDARD MOVING OBJECT MODEL例文帳に追加

障害物検出方法、障害物検出装置及び標準移動体モデル - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR OPTICAL DEVICE, REFERENCE POSITIONING STANDARD, OPTICAL DEVICE, AND PROJECTOR例文帳に追加

光学装置の製造方法、基準位置出し原器、光学装置、およびプロジェクタ - 特許庁

TEST SITE FOR MEASURING ELECTRIC WAVE HAVING MULTIPLE FENCE AND STANDARD DESIGN METHOD THEREOF例文帳に追加

多重フェンスのある電波計測用テストサイト及びその標準設計方法 - 特許庁

METHOD FOR CALIBRATING ELECTRON MICROSCOPE, AND STANDARD SAMPLE FOR CALIBRATING THE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡の校正方法及び電子顕微鏡校正用標準試料 - 特許庁

The only standard modifier category currently defined is ``im'',which identifies the desired input method. 例文帳に追加

現在のところ定義されている唯一の標準モディファイアカテゴリーは ``im'' である。 - XFree86

To provide a signal selection method having compatibility with ISO 7816 standard.例文帳に追加

ＩＳＯ７８１６標準と互換性のある信号選択方法を提供する。 - 特許庁

STANDARD SAMPLE FOR CALIBRATION AND METHOD FOR CALIBRATING WATER VAPOR PERMEABILITY MEASURING DEVICE例文帳に追加

校正用標準試料および水蒸気透過度測定装置の校正方法 - 特許庁

STANDARD SAMPLE FOR CALIBRATION, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, CALIBRATION METHOD OF SPECTROPHOTOMETER, MASK BLANK AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

較正用標準試料及びその製造方法、分光光度計の較正方法、並びにマスクブランク及びその製造方法。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, DESIGN METHOD AND DESIGN EQUIPMENT THEREOF STANDARD CELL, AND STANDARD CELL LIBRARY例文帳に追加

半導体集積回路、標準セル、標準セルライブラリ、半導体集積回路の設計方法および半導体集積回路の設計装置 - 特許庁

To provide a standard member for length measurement having a finer standard dimension and an electron beam length measuring technology including its manufacturing method.例文帳に追加

より微細な基準寸法を有する測長用標準部材およびその作製方法を含む電子ビーム測長技術を提供する。 - 特許庁

SPOOL STRUCTURE FOR STANDARD PLATINUM RESISTANCE THERMOMETER AND STANDARD PLATINUM RESISTANCE THERMOMETER USING THE SAME AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

標準用白金抵抗温度計の巻枠構造及びこれを用いた標準用白金抵抗温度計並びにその作製方法 - 特許庁

FLOW SITE METER, METHOD FOR ANALYZING CELL, CELL-ANALYZING METHOD, METHOD FOR SETTING SENSITIVITY OF FLUORESCENT LIGHT DETECTOR AND METHOD FOR SETTING STANDARD GATE IN POSITIVE RATE-JUDGING METHOD例文帳に追加

フローサイトメータ、細胞の解析方法、細胞解析プログラム、蛍光検出器の感度設定方法および陽性率判定法における基準ゲート設定方法 - 特許庁

STANDARD MEMBER FOR CALIBRATING LENGTH MEASUREMENT, ITS PRODUCTION METHOD, AND CALIBRATION METHOD AND SYSTEM USING IT例文帳に追加

測長校正用標準部材及びその作製方法及びこれを用いた校正方法及び装置 - 特許庁

METHOD FOR PREVENTING ILLEGAL REWRITING OF TIME BY FALSE LONG WAVE STANDARD RADIO WAVE AND ELECTRONIC APPARATUS USING THE METHOD例文帳に追加

疑似長波標準電波による不正な時刻書き換え防止方法及びこれを用いた電子機器 - 特許庁

STANDARD LIGHT SOURCE, CORRECTION COEFFICIENT CALCULATING METHOD AND DEVICE, AND FLUORESCENT IMAGE FORMING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

標準光源、補正係数算出方法および装置並びに蛍光画像生成方法および装置 - 特許庁

DRIVING APTITUDE DIAGNOSING METHOD, EVALUATION STANDARD DETERMINING METHOD FOR DRIVING APTITUDE DIAGNOSIS, AND DRIVING APTITUDE DIAGNOSTIC PROGRAM例文帳に追加

運転適性診断方法、運転適性診断の評価基準決定方法、運転適性診断プログラム - 特許庁

DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR PERFORMING ALIGNMENT, AND DEVICE, METHOD, AND PROGRAM FOR MAKING STANDARD MODEL例文帳に追加

位置合わせを行う装置、方法、およびプログラム、ならびに基準モデルを作成する装置、方法、およびプログラム - 特許庁

The bias between the evaluation method or equipment and the standard test method or equipment is calculated.例文帳に追加

評価方法または機器と基準方法または機器との間で観察される偏りが算出される。 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR LIGHT MEASURING APPARATUS, AND STANDARD FOR MEASURING DEVIATION AMONG CHANNELS例文帳に追加

光測定装置における測定方法及びチャンネル間偏差測定用標準器 - 特許庁

METHOD FOR DRAWING STANDARD LINE EQUALLY DIVIDING STACK OF SHEETS OR BOARDS AND RULE THEREFOR例文帳に追加

シ—ト又はボ—ドの山を等分割する目安線を描く方法とそのための定規 - 特許庁

ELECTRONIC EQUIPMENT, REMOTE MANAGEMENT SYSTEM THEREFOR, AND COMMUNICATION STANDARD SWITCHING METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

電子装置とその遠隔管理システムおよび通信規格切替方法並びにプログラム - 特許庁

To provide a method in which the values of standard reference materials in different concentrations are evaluated precisely, and to provide a standard sample which is prepared by the method.例文帳に追加

本発明の課題は、異なった濃度の標準物質の値を正確に値付けする方法および、当該方法により製造された標準試料を提供することである。 - 特許庁

SYSTEM FOR MEASURING CHANGE IN PHYSICAL QUANTITY AND METHOD FOR SPECIFYING STANDARD TIME-BASED DATA例文帳に追加

物理量の変化測定システム，及び，標準時刻準拠データの特定方法． - 特許庁

STANDARD WAVE RECEIVING DEVICE, ELECTRIC WAVE CORRECTING TIMEPIECE, ELECTRONIC APPARATUS, AND TIME CORRECTING METHOD例文帳に追加

標準電波受信装置、電波修正時計、電子機器及び時刻修正方法 - 特許庁

To provide a low-cost, efficient distribution method and system for standard-size advertisement paper.例文帳に追加

低コストで効率のよい定型広告紙の配付方法とそのシステムを提供する。 - 特許庁

METHOD FOR PROCESSING AND ANALYZING GENE EXPRESSION DATA FOR SEARCHING INSIDE STANDARD GENE例文帳に追加

内部標準遺伝子を発掘するための遺伝子発現データ処理、分析方法 - 特許庁

The assembly method includes a step for specifying at least one picture selection standard.例文帳に追加

この方法は、少なくとも１つの画像選択基準を特定するステップを含む。 - 特許庁

To generate a code word which ensures upper compatibility with a first error detection method complying with a conventional standard by using a second error detection method complying with a new standard.例文帳に追加

新規規格に則った第２のエラー検出方式によって、従来規格に則った第１のエラー検出方式とは上位互換を保証する符号語を生成する。 - 特許庁

DEVICE FOR IEEE1394 STANDARD AND CONFIGURATION METHOD FOR THE DEVICE例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４規格における装置およびその装置におけるコンフィグレーション方法 - 特許庁

DIGITAL DISPLAY TYPE RADIO-CONTROLLED CLOCK, AND METHOD OF RECEIVING STANDARD WAVE OF THE CLOCK例文帳に追加

デジタル表示式電波修正時計及び該時計の標準電波受信方法 - 特許庁