| 意味 | 例文 (10件) |
X-ray diagramの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 10件
The crystalline form IV of a compound of formula (I) is characterized by its powder X-ray diffraction diagram.例文帳に追加
その粉末Ｘ線回折図表により特徴付けられる、式（Ｉ）：で示される化合物の結晶形態IV。 - 特許庁
The powder X-ray diffraction diagram is measured by using an X'Celerator detector and a PANalytical X' Pert Pro diffracting device and the diagram is represented by items of ray position, ray height, ray range, ray width in half height and face-to-face dimension.例文帳に追加
Ｘ’Ｃｅｌｅｒａｔｏｒ検出器とともにＰＡＮａｌｙｔｉｃａｌ Ｘ’Ｐｅｒｔ Ｐｒｏ回折装置を用いて測定され、光線位置、光線高、光線範囲、半分の高さにおける光線幅および面間距離の項目で表される。 - 特許庁
Thus, titanyl phthalocyanine crystals having a peak at 27.2±0.2° in an X-ray diffraction diagram with Cu-Kα ray can be produced without using sulfuric acid or the like.例文帳に追加
硫酸等を使用せずにＣｕ−Ｋα線によるＸ線回折図で２７．２±０．２°にピークをもつチタニルフタロシアニン結晶を製造できる。 - 特許庁
The α-crystalline form of strontium ranelate of formula (I) is characterized by its powder X-ray diffraction diagram and by a water content of from 22 to 24%, wherein the diagram is expressed by items of a ray position, a ray quantity, a ray range, a ray width in a half height, and a distance between faces.例文帳に追加
光線位置、光線高、光線範囲、半分の高さにおける光線幅および面間距離の項目で表わされる、粉末Ｘ線回析ダイヤグラムおよび２２〜２４％の水分含有量により特徴付けられる、式（Ｉ）：のストロンチウムラネレートのα−結晶形。 - 特許庁
This X-ray diffraction device has in X-ray measuring instrument for acquiring data for a pole diagram, a memory for storing the measuring data acquired by the X-ray measuring instrument, a display device for displaying an image and an image data forming circuit for forming the image data displayed on the display device based on the data stored in the memory.例文帳に追加
極点図のためのデータを得るＸ線測定装置と、そのＸ線測定装置によって得られた測定データを記憶するメモリと、画像を表示する表示装置と、メモリに記憶されたデータに基づいて表示装置に表示するための画像データを生成する画像データ生成回路とを有するＸ線回折装置である。 - 特許庁
To prepare new six crystal polymorphs, α, β, γ, δ, ζ, and η, of a disazo colorant exhibiting characteristic reflection in an X-ray diffraction diagram.例文帳に追加
Ｘ線回折スペクトルにおいて特性反射を有する、ジアゾ着色剤の６つの新規な結晶多形α、β、γ、δ、ζ及びηを提供する。 - 特許庁
The α-crystalline form of strontium ranelate represented by formula (I) is characterized by its powder X-ray diffraction diagram and by a water content of 22-24%.例文帳に追加
粉末Ｘ線回析ダイヤグラムおよび２２〜２４％の水分含有量により特徴付けられる、式（Ｉ）：のストロンチウムラネレートのα−結晶形。 - 特許庁
The hemihydrate of the compound shown by an X-ray powder diffraction diagram includes a melting point of Tm.p.=120±5°C (measured by differential scanning calorimetry; evaluation by the peak maximum; and heating rate: 10°C/min).例文帳に追加
Ｔm.p.＝１２０±５℃の融点（示差走査熱量測定法により測定；ピーク最大により評価；加熱速度：１０℃／分）でＸ線粉末回折図で示される半水化物。 - 特許庁
Further, the ratio of an acute component area to the total area of the acute component area and a nearly flat component area in the X-ray diffraction diagram corresponding to (002) face reflection of the carbon particles of shell-like structure is 0.1 or more.例文帳に追加
また上記シェル状構造の炭素粒子の（００２）面反射に対応するＸ線回折線図における先鋭成分面積と略平坦成分面積との合計面積に対する先鋭成分面積の割合が０．１以上である。 - 特許庁
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