「XRF」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The instrument with function of both the X-ray diffraction (XRD) and the X-ray fluorescence (XRF) measurement deploys an X-ray source 10 generating the incident X-ray beam aiming at samples on a sample stand.例文帳に追加

X線回折XRDおよびX線蛍光測定XRFの両方の機能をもつ機器が、試料台上の試料に向けられる入射X線ビームを生成するX線源１０を配置している。 - 特許庁

XRF analysis is performed by fixing the incident angle θ of an X-ray with respect to a semifinished product 30 before arranging a transparent electrode layer 18.例文帳に追加

透明電極層１８を設ける前の半製品３０に対し、Ｘ線の入射角度θを固定してＸＲＦ分析を行う。 - 特許庁

To provide an apparatus including a security system applicable to biometric analysis based on protein characteristic measurement by an X-ray fluorescence (XRF) spectrometer.例文帳に追加

Ｘ線蛍光（ＸＲＦ）分光計により、タンパク質の特徴を測定し、生体認証解析に利用できるセキュリティシステムを含む装置を提供する。 - 特許庁

An X-ray fluorescence (XRF) spectrometer is used for detecting binding events between proteins and small molecules and measuring the binding selectivity between chemicals and receptors.例文帳に追加

Ｘ線蛍光（ＸＲＦ）分光計は、タンパク質と小分子の結合現象を検出し、化学物質と受容体の間の結合選択性を測定するために使用される。 - 特許庁

The XRF may also be used for determining protein purity to estimate the therapeutic index of a chemical, for estimating the binding selectivity of a chemical versus chemical analogs to measure post-translational modifications of proteins, and for drug manufacturing, as well as for security systems.例文帳に追加

ＸＲＦは、セキュリティシステムへの利用の他、タンパク質の純度を測定し化学物質の治療指数を推測するために、化学物質対化学物質類縁体の結合選択性を推測し、タンパク質の翻訳後修飾を測定するために、及び薬物の製造のためにも使用することができる。 - 特許庁

The film thickness of the n-type buffer layer 16 is obtained based on the strength of a fluorescent X-ray of S from the n-type buffer layer 16 (sulfide), which is obtained by the XRF analysis, and a previously generated analytical curve between the film thickness of the n-type buffer layer 16 and the strength of the fluorescent X-ray of S.例文帳に追加

このＸＲＦ分析で得られたｎ型バッファ層１６（硫化物）からのＳの蛍光Ｘ線の強度と、予め作成しておいたｎ型バッファ層１６の膜厚−Ｓの蛍光Ｘ線強度の検量線とに基づいて、ｎ型バッファ層１６の膜厚を求める。 - 特許庁

The ultrafine particle of tin oxide crytal contains 0.01-0.8 mass% of P vs. SnO_(2-x) in terms of SnO_2 and has a compositional ratio of P at the outermost surface of the particle measured by XPS to P in the whole particle measured by XRF (X-ray fluorimetry) of >1.例文帳に追加

また、Ｐ原子をＳｎＯ_２に換算したＳｎＯ_（２−ｘ）に対して０．０１〜０．８質量％含有し、ＸＰＳにより測定された粒子最表面のＰ原子とＸＲＦ（蛍光Ｘ線分析）により測定された粒子全体中のＰ原子の組成比が１より大である酸化スズ結晶超微粒子。 - 特許庁