| 意味 | 例文 |
automatic testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 455件
MANIPULATOR FOR TEST HEAD OF AUTOMATIC TESTING DEVICE例文帳に追加
自動テスト装置のテストヘッド用マニピュレータ - 特許庁
AUTOMATIC TEST DEVICE FOR TESTING ENZYMATIC REACTION例文帳に追加
酵素反応試験用の自動試験装置 - 特許庁
LSI TESTER, AUTOMATIC CREATION TOOL OF TEST PROGRAM, AND TEST SYSTEM例文帳に追加
LSIテスタおよびテストプログラム自動作成ツール並びにテストシステム - 特許庁
The test data generator 200 can be utilized in an automatic test system.例文帳に追加
このテストデータ発生器200は自動テストシステムに利用できる。 - 特許庁
AUTOMATIC TEST SYSTEM FOR DIGITAL DISPLAY SYSTEMS例文帳に追加
デジタルディスプレイシステムのための自動試験システム - 特許庁
AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATING METHOD FOR MICROCOMPUTER例文帳に追加
マイクロコンピュータのテストパターン自動生成方法 - 特許庁
To improve the efficiency of test and the accuracy of test of each test item in a start/stop test, a governor test, an indicial response test and an automatic synchronous test.例文帳に追加
始動・停止試験、調速機試験、インディシャル応答試験及び自動同期試験の各試験項目の試験効率と計測精度の向上を図る。 - 特許庁
ELECTROMECHANICAL TYPE DEVICE PERFORMING AUTOMATIC SELF-TEST例文帳に追加
自動自己試験を行う電気機械式装置 - 特許庁
To provide an automatic test tube identification system for storing sample test tubes.例文帳に追加
試料試験管を保存するための試験管識別自動システム。 - 特許庁
TEST CASE VALIDITY AUTOMATIC VERIFICATION PROGRAM AND TEST CASE VALIDITY AUTOMATIC VERIFICATION RESULT DISPLAY METHOD例文帳に追加
テストケース妥当性自動検証プログラムおよびテストケース妥当性自動検証結果表示方法 - 特許庁
AUTOMATIC SUBMULTIPLE AND MULTIPLE TEST WEIGHT CALIBRATION APPARATUS例文帳に追加
被検分銅自動分量・倍量校正装置 - 特許庁
An automatic test device 3 controls an operation of the load test machine 2 and the test machine 5 automatically and performs an automatic test of the node B apparatus 1.例文帳に追加
自動試験装置3は負荷試験機2及び試験機5の動作を自動的にコントロールし、ノードB装置1に対する自動試験を実施する。 - 特許庁
Test harnesses, or automatic test frameworks, are also important in unit testing. 例文帳に追加
テストハーネス、つまり自動テストのフレームワークも、単体テストでは重要です。 - NetBeans
AUTOMATIC TEST METHOD OF FAILURE DIAGNOSIS COMMUNICATION PROGRAM例文帳に追加
故障診断通信プログラムの自動試験方法 - 特許庁
AUTOMATIC PENETRATION TESTER AND PENETRATION TEST METHOD例文帳に追加
自動貫入試験機および貫入試験方法 - 特許庁
To provide a scan base ATPG (automatic test pattern generation) test circuit and test method, and a scan chain reconfiguration method.例文帳に追加
スキャンベースATPGテスト回路、テスト方法及びスキャンチェーン再配置方法を提供する。 - 特許庁
SEQUENCE CIRCUIT AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATION SYSTEM REUSING TEST PATTERN DATA BASE例文帳に追加
テストパターンデータベースを再利用する順序回路自動テストパターン生成システム - 特許庁
METHOD FOR SUPPORTING CONFIRMATION OF SALES TEST OF AUTOMATIC VENDING MACHINE例文帳に追加
自動販売機の販売テスト確認支援方法 - 特許庁
TEST DEVICE AND METHOD FOR AUTOMATIC CONTROL FUNCTION例文帳に追加
自動制御機能の試験装置および試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT BY AUTOMATIC TEST DEVICE例文帳に追加
自動テスト装置で、集積回路をテストする方法 - 特許庁
ANALOG AUTOMATIC ADJUSTMENT TEST SYSTEM FOR PLANT CONTROLLER例文帳に追加
プラント制御装置のアナログ自動調整試験システム - 特許庁
AUTOMATIC TEST GENERATION SYSTEM AND METHOD FOR WEB APPLICATION例文帳に追加
ウェブアプリケーションの自動テスト生成システム及び方法 - 特許庁
TRAY TRANSFER UNIT AND AUTOMATIC TEST HANDLER EQUIPPED THEREWITH例文帳に追加
トレイトランスファーユニット及びそれを備える自動テストハンドラ - 特許庁
To provide an automatic test system for testing smart card chips.例文帳に追加
スマートカードチップを検査するための自動検査システム。 - 特許庁
To provide an automatic test tool program and an automatic test method capable of efficiently performing an operation test of a screen display accompanied by an operation.例文帳に追加
操作に伴う画面表示の動作テストを効率的に行える自動テストツール・プログラム及び自動テスト方法を提供すること。 - 特許庁
To reduce a test data quantity and a test application time in an ATE (automatic test equipment) in a scan-based integrated circuit.例文帳に追加
スキャンベースの集積回路中のATEでのテストデータ量およびテスト適用時間を削減する。 - 特許庁
AUTOMATIC HIGH FREQUENCY TEST SYSTEM AND WAVEGUIDE CHANGEOVER SWITCH例文帳に追加
高周波自動試験システム及び導波管切替スィッチ - 特許庁
AUTOMATIC PENETRATION TEST MACHINE AND METHOD FOR HOLDING PENETRATION例文帳に追加
自動貫入試験機および貫入ロッドの保持方法 - 特許庁
STORAGE STRUCTURE OF TEST PROGRAM FILE OF AUTOMATIC INSPECTION DEVICE例文帳に追加
自動検査装置の検査プログラムファイルの格納構造 - 特許庁
AUTOMATIC NETWORK ANALYZER WITH NOISE/NPR TEST FUNCTION例文帳に追加
雑音/NPR試験機能を有する自動ネットワークアナライザ - 特許庁
To provide an automatic test system for efficiently executing a test in a program generator.例文帳に追加
プログラムジェネレータのテストを効率的に実施するための自動テストシステムを提供する。 - 特許庁
To provide a self test adapter (STA) (22) for automatic test equipment (ATE).例文帳に追加
自動試験装置(ATE)のためのセルフ試験アダプタ(STA)(22)を提供すること。 - 特許庁
TEST BENCH GENERATING DEVICE, AUTOMATIC TEST BENCH GENERATING METHOD, VERIFYING METHOD, AND EVALUATING METHOD例文帳に追加
テストベンチ生成装置とその自動テストベンチ生成方法、検証方法、評価方法 - 特許庁
A test control part 24 performs processing for performing automatic test of detected resources, and a test performing part 25 conducts a test.例文帳に追加
試験制御部24は、検出されたリソースに対して自動試験を行なうための処理を行ない、試験実行部25は、試験を実行する。 - 特許庁
AUTOMATIC GENERATING METHOD FOR LSI TEST PATTERN PROGRAM, ITS DEVICE, AND LSI TEST METHOD例文帳に追加
LSIテストパターンプログラム自動生成方法およびその装置並びにLSIテスト方法 - 特許庁
REAL TIME AUTOMATIC MONITORING CONTROL SYSTEM FOR SPACE FLYING BODY TEST例文帳に追加
宇宙飛翔体試験リアルタイム自動監視制御システム - 特許庁
RESISTANCE CHECK TEST PROGRAM AUTOMATIC GENERATING METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加
抵抗チエックテストプログラム自動生成方法及びその装置 - 特許庁
PATH DELAY FAILURE SIMULATOR AND AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATING SYSTEM例文帳に追加
パス遅延故障シミュレータおよび自動テストパターン生成装置 - 特許庁
TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加
テストパターン自動生成方法およびテストパターン自動生成プログラム - 特許庁
NONVOLATILE SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND ITS AUTOMATIC TEST METHOD例文帳に追加
不揮発性半導体記憶装置及びその自動テスト方法 - 特許庁
The automatic test device 3 operates with reference to the stored data and displays test results and past test data.例文帳に追加
自動試験装置3はその保存されたデータを参照して動作し、試験結果と過去の試験データとを表示する。 - 特許庁
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