「generation test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TEST PATTERN GENERATION APPARATUS例文帳に追加

テストパターン生成装置 - 特許庁

TEST DATA GENERATION PROGRAM例文帳に追加

テストデータ生成プログラム - 特許庁

TEST PROGRAM GENERATION SYSTEM例文帳に追加

テストプログラム生成システム - 特許庁

TEST MODEL GENERATION APPARATUS AND TEST MODEL GENERATION METHOD例文帳に追加

テストモデル生成装置とテストモデル生成方法 - 特許庁

TEST DATA GENERATION METHOD, TEST DATA GENERATION DEVICE, AND TEST DATA GENERATION PROGRAM例文帳に追加

テストデータ生成方法、テストデータ生成装置及びテストデータ生成プログラム - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION SYSTEM, TEST PATTERN GENERATION METHOD, AND TEST PATTERN GENERATION PROGRAM例文帳に追加

テストパタン生成システム、テストパタン生成方法、およびテストパタン生成プログラム - 特許庁

TEST CASE GENERATION DEVICE, TEST CASE GENERATION METHOD AND TEST CASE GENERATION PROGRAM例文帳に追加

テストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラム - 特許庁

TEST DATA GENERATION DEVICE例文帳に追加

テストデータの作成装置 - 特許庁

TEST DATA GENERATION SYSTEM, TEST DATA GENERATION METHOD, AND TEST DATA GENERATION PROGRAM例文帳に追加

テストデータ生成システム、テストデータ生成方法及びテストデータ生成プログラム - 特許庁

TEST-SIGNAL GENERATION CIRCUIT例文帳に追加

テスト信号生成回路 - 特許庁

TEST ITEM GENERATION DEVICE例文帳に追加

テスト項目生成装置 - 特許庁

TEST PROGRAM GENERATION DEVICE AND TEST PROGRAM GENERATION METHOD例文帳に追加

テストプログラム作成装置及びテストプログラム作成方法 - 特許庁

TEST-DATA GENERATION APPARATUS例文帳に追加

試験用データ生成装置 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT, TEST CIRCUIT GENERATION METHOD AND TEST PATTERN GENERATION METHOD例文帳に追加

スキャンテスト回路、テスト回路生成方法およびテストパタン生成方法 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION SYSTEM, AND TEST PATTERN GENERATION DEVICE例文帳に追加

テストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置 - 特許庁

SUPPORT TEST CASE GENERATION DEVICE AND TEST CASE GENERATION METHOD例文帳に追加

支援テストケース作成装置及びテストケース作成方法 - 特許庁

Test generation of events. 例文帳に追加

\\-ImportObscuredEvent through \\-ExportAvailableイベントをテスト生成する。 - XFree86

TEST CASE GENERATION DEVICE, TEST CASE GENERATION METHOD, AND TEST CASE GENERATOR例文帳に追加

テストケース生成装置、テストケース生成方法及びテストケース生成プログラム - 特許庁

TEST ITEM GENERATION DEVICE, TEST ITEM GENERATION METHOD, AND TEST ITEM GENERATION PROGRAM例文帳に追加

試験項目生成装置及び試験項目生成方法及び試験項目生成プログラム - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION APPARATUS AND GENERATION METHOD例文帳に追加

テストパターン作成装置及び作成方法 - 特許庁

AUTOMATIC TEST PROGRAM GENERATION SYSTEM例文帳に追加

テストプログラム自動生成システム - 特許庁

TEST SPECIFICATION GENERATION PROGRAM AND TEST SPECIFICATION GENERATION DEVICE例文帳に追加

テスト仕様書生成プログラム、およびテスト仕様書生成装置 - 特許庁

GENERATION METHOD OF CORE TEST CIRCUIT例文帳に追加

コアテスト回路の生成方法 - 特許庁

AUTOMATIC TEST SPECIFICATION GENERATION SYSTEM例文帳に追加

テスト仕様自動生成方式 - 特許庁

PROGRAM TEST ITEM GENERATION DEVICE例文帳に追加

プログラムテスト項目作成装置 - 特許庁

TEST ITEM GENERATION SUPPORTING DEVICE例文帳に追加

テスト項目生成支援装置 - 特許庁

PARALLEL GENERATION METHOD FOR TEST PATTERN AND GENERATION APPARATUS FOR TEST PATTERN例文帳に追加

テストパターンの並列生成方法およびテストパターン生成装置 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION CIRCUIT AND GENERATION METHOD FOR BUILT IN SELF TEST CIRCUIT例文帳に追加

自己診断回路のテストパターン発生回路及び発生方法 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION MANAGING SYSTEM AND TEST PATTERN GENERATION MANAGEMENT METHOD例文帳に追加

テストパターン生成管理システム及びテストパターン生成管理方法 - 特許庁

TEST DATA GENERATION SUPPORT PROGRAM AND TEST DATA GENERATION SUPPORT METHOD例文帳に追加

テストデータ作成支援プログラムおよびテストデータ作成支援方法 - 特許庁

TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION PROGRAM AND TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION METHOD例文帳に追加

テストパタン自動生成プログラムおよびテストパタン自動生成方法 - 特許庁

TEST PROGRAM GENERATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

テストプログラム生成方法、プログラム - 特許庁

SOFTWARE GENERATION TEST LINKING MECHANISM例文帳に追加

ソフトウェア生成試験連携機構 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATOR, AND TEST PATTERN GENERATION METHOD例文帳に追加

テストパターン生成装置およびテストパターン生成方法 - 特許庁

TEST DATA GENERATION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

テストデータ生成装置及び方法 - 特許庁

TEST DATA GENERATION METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

テストデータ生成方法及びシステム - 特許庁

INTERLOCK TEST PROCEDURE GENERATION SYSTEM例文帳に追加

インターロック試験手順作成システム - 特許庁

GENERATION OF COMPRESSION TEST PLAN FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST SERIES GENERATION AND TEST例文帳に追加

集積回路のテストのための圧縮テストプランの生成、テスト系列生成およびテスト - 特許庁

TEST CASE GENERATION APPARATUS, GENERATION METHOD THEREFOR, AND PROGRAM FOR TEST CASE GENERATION例文帳に追加

テストケース生成装置およびその生成方法、ならびにテストケース生成のためのプログラム - 特許庁

BURN-IN TEST SIGNAL GENERATION CIRCUIT AND BURN-IN TEST METHOD例文帳に追加

バーンインテスト信号発生回路及びバーンインテスト方法 - 特許庁

To speed up a test processing or generation of test data.例文帳に追加

試験処理や試験データの生成を高速化すること。 - 特許庁

TEST CIRCUIT, PATTERN GENERATION SYSTEM, AND PATTERN GENERATION METHOD例文帳に追加

テスト回路、パタン生成装置、及びパタン生成方法 - 特許庁

To provide a test data generation system, a test data generation method and a test data generation program for efficiently generating test data to be used in a test environment.例文帳に追加

テスト環境において用いるテストデータを効率的に生成するためのテストデータ生成システム、テストデータ生成方法及びテストデータ生成プログラムを提供する。 - 特許庁

TEST SPECIFICATION GENERATION DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加

テスト仕様生成装置およびプログラム - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

テストパターン作成方法およびプログラム - 特許庁