「generation test」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

The result of simulation with delay fetched by the second test pattern generation circuit 15 is forcedly assigned to the corresponding scan flip-flop as a PLS test pattern with expected value.例文帳に追加

第２のテストパターン生成回路１４で取り込まれたディレイ付きのシミュレーション結果は、対応するスキャンフリップフロップに期待値付きＰＬＳ用テストパターンとして強制的に割り付けされる。 - 特許庁

This multivariable test function generation system 1 is configured to generate multivariable test functions for classifying input data having the element data of a plurality of elements into a plurality of clusters.例文帳に追加

本発明に係る多変数テスト関数生成システム１は、複数要素の要素データを有する入力データを複数のクラスに分類するための多変数テスト関数を生成するシステムである。 - 特許庁

To provide a pseudo call for a load test and a result-verifying information generation method, capable of easily generating data for verification and the pseudo call for the load test corresponding to a load after operation.例文帳に追加

稼動後の負荷に相当する負荷テスト用擬似呼及び検証のためのデータを容易に生成可能な負荷テスト用擬似呼・結果検証用情報生成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a loading system for a cell load test by which consumption of power generated by a fuel cell is suppressed in the cell load test, and heat generation involved in such consumption of power is suppressed.例文帳に追加

電池の負荷試験において、燃料電池が発生する電力の消費を抑制し、この電力の消費に伴う発熱を抑制する電池試験用負荷装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus in which generation of a vector pattern for VPG from an ALPG side can be controlled in real time and the generation of a pattern can be controlled with a synchronous relation, in a semiconductor test device provided with ALPG and VPG.例文帳に追加

ＡＬＰＧとＶＰＧとを備える半導体試験装置において、ＡＬＰＧ側からＶＰＧに対するベクタパターンの発生制御がリアルタイムに、且つ同期した関係でパターン発生の制御が可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a foreign substance generation test method or the like, which can test easily off-line the generation status of foreign substances which are generated by the interaction of a functional liquid introduced into an ink-jet functional liquid drop discharge head with a tank pooling it.例文帳に追加

インクジェット方式の機能液滴吐出ヘッドに導入される機能液と、これを貯留するタンクとの相互作用により発生する異物の発生状況を、オフラインで簡単に試験することができる異物発生試験方法等を提供する。 - 特許庁

To shorten a verification period of time by automating test bench generation for verifying a DUT by a device which automatically generates a test bench having a library in which verifying devices including models and monitors are registered, and then eliminating misgeneration of the test bench and shortening a generation time to start up the verification fast.例文帳に追加

モデル・モニタを含む検証装置を登録したライブラリを有するテストベンチを自動生成する装置において、ＤＵＴを検証するためのテストベンチ作成を自動化することで、テストベンチの作成ミスの排除と作成時間の短縮がはかれ、検証の立上げが早くなることで検証時間の短縮を行う事を目的とする。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 has auxiliary pattern generating sections 12a-12d for temporarily storing the test pattern P1 generated by the pattern generation section 11, reading the stored test pattern according to individual test states of the devices to be tested 20a-20d, and outputting it as a test pattern used for the test of the devices to be tested 20a-20d.例文帳に追加

この半導体試験装置１は、パターン発生部１１で発生した試験パターンＰ１を一時的に記憶し、被試験デバイス２０ａ〜２０ｄの個別の試験状況に応じて、記憶した試験パターンを読み出して被試験デバイス２０ａ〜２０ｄの試験に用いる試験パターンとして出力する補助パターン発生部１２ａ〜１２ｄを備えている。 - 特許庁

A program generation means generates a test program outputting an output value based on the computed true and faulty input values.例文帳に追加

プログラム生成手段は、演算された真および偽入力値に基づく出力値を出力させるテストプログラムを生成する。 - 特許庁

The each power source noise generation circuit is driven to apply an electric power source noise to the IP core 12 through the electric power source part, in a test mode.例文帳に追加

テストモード時に、電源ノイズ生成回路の各々は駆動されて電源ノイズを電源部を経てＩＰコアに印加する。 - 特許庁

To provide a pseudo road surface generation device capable of performing a test effective in control using as a variable the time during actual running of an infinite crawler automotive vehicle.例文帳に追加

現実の無限履帯式自走車両の走行時の時間を変数とする制御の現実に有効な試験を行う。 - 特許庁

Furthermore, the test processing section 14(24) includes a signal processing section 141(241) and an OAM cell generation/detection section 142(242).例文帳に追加

また、試験処理部１４、２４は、信号処理部１４１、２４１およびＯＡＭセル生成／検出部１４２、２４２を含んでいる。 - 特許庁

To properly impart generation torque of a dynamometer to a power transmission system including a power source so as to conduct a test.例文帳に追加

動力源を含む動力伝達系に対し、適正なダイナモメータの発生トルクを与えて試験を行うことを可能とする。 - 特許庁

To provide a test method capable of inspecting a generation state of smearing, while operating radial needle bearings 6, 6 used actually.例文帳に追加

実際に使用するラジアルニードル軸受６、６を運転しつつ、スミアリングの発生状況を検査できる試験方法を実現する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit capable of reducing the number of test probes, and avoiding generation of a route not tested.例文帳に追加

テスト用プローブの数を減らすことができ、しかもテストが行われない経路の発生を回避できる集積回路を提供すること。 - 特許庁

The technique can be fully integrated into flows of design for testability (DFT) and automatic test pattern generation (ATPG).例文帳に追加

記載された技術は、テスト容易化設計（ＤＦＴ）及び自動テストパターン生成（ＡＴＰＧ）のフローに完全に組込むことができる。 - 特許庁

SHORTEST DISTANCE CALCULATION METHOD, PEDESTRIAN PROTECTING TEST LINE GENERATION METHOD, PROGRAM, DESIGN SUPPORT DEVICE AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

最短距離計算方法および歩行者保護用試験線作成方法およびプログラムおよび設計支援装置および記録媒体 - 特許庁

The number of test signal inputs is small as compared with a case where the generation circuit 16 does not exist in the LSI package.例文帳に追加

テスト信号入力の本数は、信号自動発生回路１６がそのＬＳＩパッケージにない場合に比べ、少なくなる。 - 特許庁

To produce a retardation film the retardation of which hardly fluctuates before and after a moist-heat endurance test while restraining the generation of wrinkles.例文帳に追加

シワの発生を抑えつつ、湿熱耐久試験の前後におけるレターデーションの変動が小さい位相差フィルムを製造する。 - 特許庁

A scanning test of a combination circuit 200 is performed on the basis of a test pattern generated by a scan pattern generation circuit 300, a comparison control circuit 400 compares a test result with an expected value to check the shifting of the flip-flops 100-105.例文帳に追加

スキャンパターン生成回路３００で生成したテストパターンに基づいて組み合せ回路２００のスキャンテストを実行し、比較制御回路４００がテスト結果と期待値との比較を行い、フリップフロップ１００〜１０５のシフト動作の確認を行う。 - 特許庁

To provide a method of a hydraulic pressure test and a hydraulic pressure test device capable of performing a hydraulic pressure test when a power generation plant is newly built, regardless of an installation time period of a pure water device and a water softening treatment device, and preventing a boiler from corrosion and rusting.例文帳に追加

純水装置や軟水処理装置の設置時期に関わらずに発電プラントの新規建設時で水圧試験を実施可能とするとともに、ボイラの防食、防錆を行う水圧試験方法及び水圧試験装置を提供する。 - 特許庁

This IC socket for mounting detachably a device to be measured on a test board is equipped with a signal generation part for a test for generating a signal for the test based on a control command from a testing device body, and outputting it to the device to be measured.例文帳に追加

被測定デバイスをテストボード上に着脱自在に実装するＩＣソケットにおいて、試験装置本体からの制御指令に基づいて試験用信号を発生して被測定デバイスに出力する試験用信号発生部を備える。 - 特許庁

To provide a print data generation device, a print data generation method and a program, capable of generating print data whose image can be partially printed as a test with the same print image as actual printing.例文帳に追加

本印刷と同じ印刷画質で画像の一部を試し印刷可能な印刷データを生成できる印刷データ生成装置、印刷データ生成方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

The normal operation confirmation test of the FCS inspection processing is performed based on the generation or no generation of the FCS error when the CRC polynomials of 16 bit, 32 bit are coincident or different.例文帳に追加

１６ビット、３２ビットのＣＲＣ多項式が一致又は相違した場合のＦＣＳエラーの発生又は非発生に基づいてＦＣＳ検査処理の正常動作確認試験を行う。 - 特許庁

A data conversion part 2 modifies the input database generation information 11 and input data generation information 12 so that a confirmation test of the program 35 (after correction) to be tested can be conducted.例文帳に追加

データコンバート部２は、入力データベース作成情報１１、入力データ作成情報１２を試験対象プログラム（修正後）３５の確認試験を行うことができるように変更する。 - 特許庁

A module-after- correction test part 3 conducts the confirmation test of the program 35 (after correction) to be tested by using the input database generation information 31 and input data generation information 32 and outputs the results as a database dump list 37 and an output information dump list 38.例文帳に追加

修正後モジュール試験部３は、入力データベース作成情報３１、入力データ作成情報３２を用いて試験対象プログラム（修正後）３５の確認試験を行い、その結果をデータベースダンプリスト３７、出力情報ダンプリスト３８として出力する。 - 特許庁

A module-before-correction test part 1 conducts a confirmation test of a program (before correction) to be tested by using input database generation information 11 and input data generation information 12 and outputs the results as a database dump list 17 and an output information dump list 18.例文帳に追加

修正前モジュール試験部１は、入力データベース作成情報１１、入力データ作成情報１２を用いて試験対象プログラム（修正前）１５の確認試験を行い、その結果をデータベースダンプリスト１７、出力情報ダンプリスト１８として出力する。 - 特許庁

Also, each gate signal from the main and ancillary gate generation part 206 is inputted in the trim region-test pattern generation part 208, and a gate signal in the arbitrary scanning and ancillary scanning direction is obtained independently, so that a plurality of test patterns can be printed on the same printing paper separately.例文帳に追加

主・副走査ゲート発生部２０６からの各種ゲート信号がトリム領域・テストパターン生成部２０８に入力され、任意の主走査・副走査方向のゲート信号が独立に得られ、複数のテストパターンを、独立して同一の印刷用紙に印字できる。 - 特許庁

To provide a clock generation circuit, a semiconductor integrated circuit, and a test device therefor which can prevent a decrease in detection rate and an increase in circuit size, reduce the effect of a multi-cycle path, correctly identify problem parts, and test at a higher frequency even if provided with test objects with different frequencies in a non-scanned cell test.例文帳に追加

非スキャンセルの試験において、検出率低下、回路規模の増大を防止でき、マルチサイクルパスの影響を低減でき、不具合箇所を的確に特定でき、異周波数の試験対象があっても高速側の周波数で試験をすることが可能な、クロック生成回路、半導体集積回路およびその試験装置を提供する。 - 特許庁

One routing processor or more is assigned to a test router among the routing processors, and a test program working on the routing processor assigned to the test allows one router to realize functions of a conventional network test tool, such as generation of transmission packets, checking of reception packets, and transmission of error packets or the like.例文帳に追加

複数のルーティングプロセッサの内、一つ又は、一つ以上のルーティングプロセッサをテスト用として割り当て、これらテスト用に割り当てられた、ルーティングプロセッサ上で動作するテストプログラムにより、送信パケットのジェネレート、受信パケットのチェック、エラーパケットの送信など、汎用的なネットワークテストツールの機能を一つのルータ装置で実現した。 - 特許庁

In the prober 11, a travel control stage 111 for placing a wafer WF and a probe card 112, and a circuit substrate 113 for signal relay are arranged to test a probe via a tester body 13 where a test system related to the generation and analysis of a test signal is constructed, and a test head 12 for processing the transmission of a signal.例文帳に追加

プローバー１１は、ウェハＷＦを載置する移動制御ステージ１１１及びプローブカード１１２、信号中継用の回路基材１１３を配備し、試験信号の生成、解析に関係するテストシステムが構築されたテスター本体１３と、信号伝達を処理するテストヘッド１２を介してプローブ試験が行える。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device provided with a timing generator capable of reducing remarkably a circuit scale for realizing generation functions for both a tester channel required to generate a test pattern by a unit of a test rate, and a tester channel required to generate a test pattern having a unit of prescribed integral-times of the test rate.例文帳に追加

テストレート単位に試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルと、前記テストレートの所定整数倍単位の試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルとの両方の発生機能を実現するための回路規模を大幅に低減可能とするタイミング発生器を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a program analysis device, a program analysis method and a program analysis program which automatically identify a factor point preventing generation of a test vector for an optional test item.例文帳に追加

任意のテスト項目に対してテストベクタを生成できない場合にその要因箇所を自動的に特定するプログラム解析装置、プログラム解析方法及びプログラム解析プログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁

Even when a severe ripple application test or charge/discharge test is carried out, film product is not generated at the cathode lead tab 22 and its surrounding part, so generation of a gas can be prevented in the electrolytic capacitor.例文帳に追加

それ故、過酷なリップル印加試験や充放電試験を行っても、陰極リードタブ２２およびその周囲に皮膜生成が発生しないので、電解コンデンサ１内でのガス発生を防止できる。 - 特許庁

A reception signal which was received by an antenna and then went through a variable attenuator 310 is combined with the test signal from a test signal generation unit 510 by a directional coupler 320 and output to the reception circuit 330.例文帳に追加

アンテナで受信された後に可変減衰器310を通った受信信号とテスト信号発生部510からのテスト信号とを方向性結合器320により合成して、受信回路330に出力する。 - 特許庁

A reading part 500 reads and executes a scenario stored in a scenario DB, and generates test data(signal), and a model generation part 501 generates image data of a reference image used for the verification of a test result.例文帳に追加

読込部５００は、シナリオＤＢに記憶されているシナリオを読み出して実行し、テストデータ（信号）を生成し、モデル生成部５０１は、テスト結果の検証に用いる基準画像の画像データを生成する。 - 特許庁

A generation part 1407 generates a test mode operation setting information 1414 from the decision result of the appropriation validity/invalidity deciding part 1406.例文帳に追加

生成部１４０７は、流用可否判定部１４０６の判定結果から、テストモード動作用設定情報１４１４を生成する。 - 特許庁

The memory 17 reads and outputs Es(tp) to a test wave generation part 1.例文帳に追加

メモリ１７は、Ｅｓ（ｔ_0）を読み出して加算器１６に出力し、メモリ１８は、Ｅｅ（ｔ_0）を読み出して試験波発生部１に出力する。 - 特許庁

To provide a program generation device creating a plurality of test programs with a variety of program structures through small man hours.例文帳に追加

多種多様なプログラム構造を有する複数のテストプログラムの生成を少ない工数で実現するプログラム生成装置を提供する。 - 特許庁

A memory tester distributes test pattern data generated by a pattern generation part 10 into a plurality of DUTs, and outputs the data from a driver 30 individually.例文帳に追加

メモリテスタは、パターン発生部１０で生成した試験パターンデータを複数のＤＵＴに分配し、ドライバ３０から個別に出力する。 - 特許庁

To provide an optical communication device which easily evaluates jitter and estimates a jitter generation source in an optical system performance test.例文帳に追加

光学系性能テストにおいてジッタ評価およびジッタ発生源の推定を容易に実行可能な光通信装置を提供する。 - 特許庁

To provide a performance test method of a solid high polymer fuel cell by which a cell performance can be evaluated simply without carrying out power generation.例文帳に追加

発電を行わずにセル性能を簡便に評価可能な固体高分子型燃料電池セルの性能検査方法を提供する。 - 特許庁

To stabilize a load waveform by avoiding generation of torque shortage or resolution shortage, when performing a load test or a plastic deformation processing.例文帳に追加

荷重試験や塑性変形加工などを実施する際に、トルク不足や分解能不足の発生を避け、荷重波形を安定化させる。 - 特許庁

Specifically, the defect detection step further includes a step for providing automatic test generation to a presentation layer associated with the software application.例文帳に追加

具体的には、欠陥検出段階は、ソフトウェアアプリケーションと関連するプレゼンテーション層に自動テスト生成を与える段階を更に有する。 - 特許庁

To prevent the generation of retained water in an end test device, and to achieve miniaturization and cost reduction by reducing portions being a fixed apparatus.例文帳に追加

末端試験装置での滞留水を発生を防止すると共に、固定設備となる部分を減らして小型化とコスト低減を図る。 - 特許庁