「generation test」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS DESIGNING DEVICE, DESIGNING METHOD, DESIGNING PROGRAM, TEST VECTOR VERIFICATION DEVICE, AND TEST VECTOR GENERATION DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路、その設計装置、設計方法、設計プログラム、テストベクタ検証装置、およびテストベクタ作成装置 - 特許庁

A test specification generation processing part 9 extracts a data item concerned with test specification generation from the request specification file 2 (7), extracts a data item of the test scenario pass from the test scenario pass file 5 (8), automatically generates the test specification in an item other than a "judgement" item, and stores the generated data in a test specification file 3 (9).例文帳に追加

テスト仕様生成処理部９は、要求仕様ファイル２からテスト仕様生成に関するデータ項目を抽出する(７)とともに、テストシナリオパスファイル５からテストシナリオパスのデータ項目を抽出して(８)、「判定」項目以外の項目にテスト仕様を自動生成し、テスト仕様ファイル３に生成したデータを格納する(９)。 - 特許庁

A test timing determination part 1c determines generation timing of event for operation test during test object operation based on timing of detected operation change, and stores determined generation timing of event in a test timing information storage part 1d.例文帳に追加

試験タイミング決定部１ｃは、検出された動作変化のタイミングに基づいて、試験対象動作中の動作試験のためのイベントの発生タイミングを決定し、決定したイベントの発生タイミングを試験タイミング情報記憶部１ｄに格納する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, DESIGN SUPPORT SOFTWARE SYSTEM, AND AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATION SYSTEM例文帳に追加

半導体集積回路、設計支援ソフトウェアシステム、および、テストパターン自動生成システム - 特許庁

To provide a polymeric thrombin substrate that can be suitably used in a thrombin generation test.例文帳に追加

トロンビン生成試験で使用するために好適な高分子トロンビン基質の提供。 - 特許庁

The generation of the test program is performed by use of a test program-generating component group 101, a test program-generating component embodiment part 102, a random number generator 103, and a test program generator 100 having a test program output part 104.例文帳に追加

テストプログラムの生成は、テストプログラム生成用部品群１０１と、テストプログラム生成用部品具現化部１０２と、乱数器１０３と、テストプログラム出力部１０４とを備えたテストプログラム生成器１００を用いて行われる。 - 特許庁

The memory access circuit is provided with a test data generation circuit for generating test data and a memory access test control circuit for outputting a memory write test start signal in response to an external synchronizing signal.例文帳に追加

メモリアクセス回路は、テストデータを生成するテストデータ生成回路と、外部同期信号に応答してメモリ書き込みテストスタート信号を出力するメモリアクセステスト制御回路とを具備する構成である。 - 特許庁

To provide a test item generation device extracting a test item from a branch condition of control of specification information, and generating test item combination information wherein a combination of the extracted test items is optimized.例文帳に追加

仕様情報の制御の分岐条件からテスト項目し、抽出したテスト項目の組合せを最適化したテスト項目組合せ情報を生成するテスト項目生成装置を得ること。 - 特許庁

A test case generation section 106 compares an extraction result by the activity test case extraction section 105 and an extraction result by the scenario test case extraction section 104 and generates a test case which includes all differences.例文帳に追加

テストケース生成部１０６は、アクティビティテストケース抽出部１０５による抽出結果と、シナリオテストケース抽出部１０４による抽出結果とを比較し、差分をすべて包含するテストケースを生成する。 - 特許庁

The test-mode entry circuit 100 includes an n-bit shift register 101, a control circuit 102 and a test mode signal generation circuit 103.例文帳に追加

テストモードエントリ回路１００は、ｎビットシフトレジスタ１０１、制御回路１０２及びテストモード信号発生回路１０３を備える。 - 特許庁

A confirmation screen data generation part 220 generates a Web page 302 embedded with output data obtained from the test pattern and the test data.例文帳に追加

確認画面データ生成部２２０は、テストパターンとテストデータから求められる出力データを埋め込んでＷｅｂページ３０２を生成する。 - 特許庁

To provide a multilayer printed board capable of preventing the generation of a short circuit between a test pad and an inner electrode even when an inspection probe is stuck into the test pad.例文帳に追加

検査プローブがテストパッドに刺さってもテストパットと内部電極は短絡を起こさない多層プリント基板を提供する。 - 特許庁

To provide a generation device for a boundary scanning test circuit that can generate a boundary scanning test circuit with a prevention structure for a ground bounce.例文帳に追加

グランドバウンスの防止構造を備えたバウンダリスキャンテスト回路を生成可能なバウンダリスキャンテスト回路生成装置を提供する。 - 特許庁

The test generation part 104 generates test data corresponding to transitional screen design data that a screen design transition means 101 generates.例文帳に追加

テスト生成部１０４は、画面設計遷移手段１０１が生成した遷移画面設計データに対応したテストデータを生成する。 - 特許庁

A control procedure information converting part 130 for test case generation inputs the model identifier and the model configuration information for test case generation and generates a test case generation condition by using a control procedure obtained by retrieving the control procedure storing part 102 by using the model identifier, the model configuration information for test case generation and the control procedure.例文帳に追加

テストケース生成用制御手順情報変換部１３０は、機種識別子とテストケース生成用機種構成情報とを入力し、機種識別子を用いて制御手順記憶部１０２を検索して取得した制御手順と、テストケース生成用機種構成情報と制御手順とを用いて、テストケース生成条件を生成する。 - 特許庁

When the operation indicating part 1e instructs start of test object operation, a test executing part 1f outputs generation instruction of event based on the generation timing of event stored in the test timing information storage part 1d.例文帳に追加

試験実行部１ｆは、動作指示部１ｅが試験対象動作の開始を指示すると、試験タイミング情報記憶部１ｄに記憶されたイベントの発生タイミングに基づいて、イベントの発生指示を出力する。 - 特許庁

To provide an apparatus for compensating the heat generation of a semiconductor element test handler, which compensates the temperature deviation due to the heat generation of the semiconductor element itself, in the temperature test of the semiconductor element, and which can perform the test at an accurate temperature.例文帳に追加

半導体素子の温度テスト中に半導体素子自体の発熱による温度偏差を補償して、正確な温度下でテストを遂行できる半導体素子テストハンドラの発熱補償装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive and simple test magnetic recording signal generation device capable of writing magnetic data in which optional jitters are generated, a test bankbook preparation device, a test magnetic recording signal generation method, and a program.例文帳に追加

任意のジッタを生じさせた磁気データを書き込むことが可能な安価で簡易なテスト用磁気記録信号発生装置、テスト用通帳作成装置、テスト用磁気記録信号発生方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

A test case generation part 7 creates a test case from an obtainable value of an input variable of the function of the test target and an obtainable value of the output variable of the stub function output by the stub function output value generation part 6.例文帳に追加

テストケース生成部７は、試験対象の関数の入力変数の取り得る値と、スタブ関数出力値生成部６が出力したスタブ関数の出力変数の取り得る値とからテストケースの作成を行う。 - 特許庁

An instruction generation parameter required for generating a test instruction stream is generated (201), and on the basis of the parameter, the test instruction stream generated (202) by test instruction string generating processing.例文帳に追加

試験命令列を生成するために必要な命令生成パラメータを作成（２０１）し、試験命令列生成処理が前記パラメータを基に試験命令列を作成（２０２）する。 - 特許庁

When a part of the inner circumference of the test body has an initial crack beforehand, a test of initial crack development is possible, and when having no initial crack, a test from initial crack generation is possible.例文帳に追加

試験体の内周の一部に初期き裂を予め備えていれば初期き裂進展の試験が可能となり、初期き裂がなければき裂発生からの試験が可能となる。 - 特許庁

PROGRAM INSPECTION ITEM GENERATION SYSTEM AND METHOD, PROGRAM TEST SYSTEM AND METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

プログラム検査項目生成システムと方法およびプログラムテストシステムと方法ならびにプログラム - 特許庁

To provide an efficient method and system for automatic test data generation for lookup tables.例文帳に追加

ルックアップテーブルのための効率的な自動テストデータ発生方法およびシステムを提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device that can easily and accurately test the internal clock generation operation.例文帳に追加

内部クロック生成動作を容易かつ正確にテストできる半導体装置を提供する。 - 特許庁

Hereby, the generation state of condensation on the fitting test body at each prescribed time is observed.例文帳に追加

これにより、所定時間ごとの建具試験体の結露の発生状況を観察する。 - 特許庁

RECHARGEABLE ELECTRONIC TIMEPIECE AND CHARACTERISTIC TEST METHOD OF POWER GENERATION MEANS OF RECHARGEABLE ELECTRONIC TIMEPIECE例文帳に追加

充電式電子時計及び充電式電子時計の発電手段の特性テスト方法 - 特許庁

To provide a data generation method that dynamically generates test data to be used in a model inspection.例文帳に追加

モデル検査で用いるテストデータを動的に生成するデータ生成方法を提供する。 - 特許庁

The traffic generation apparatus 32 sends test traffic data 55 to the testing server apparatus 41.例文帳に追加

トラフィック生成装置３２から試験サーバ装置４１へ試験トラフィックデータ５５を送信する。 - 特許庁

TEST SIGNAL GENERATION CIRCUIT, FUNCTION ADDITION CIRCUIT MODULE AND INSPECTION SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

テスト信号発生回路、機能追加回路モジュール、および、半導体デバイスの検査システム - 特許庁

TEST PATTERN SIGNAL GENERATION DEVICE AND METHOD, COLORIMETRY SYSTEM, AND DISPLAY DEVICE例文帳に追加

テストパターン信号生成装置、テストパターン信号生成方法、測色システム及び表示装置 - 特許庁

To provide a technology for shortening generation time of a test pattern in ATPG.例文帳に追加

ＡＴＰＧにおけるテストパタンの生成時間を短縮するための技術を提供する。 - 特許庁

The analysis means analyzes test image data acquired by reading a test image, detects a reference shadow generation region from a test image region that corresponds to the test image data based on the result of analyzing the test image data, and detects reference shadow image data that corresponds to the reference shadow generation region.例文帳に追加

前記解析手段は、テスト画像の読み取りにより得られるテスト画像データを解析し、前記テスト画像データの解析結果に基づき、前記テスト画像データに対応するテスト画像領域から基準影発生領域を検出し、前記基準影発生領域に対応する基準影画像データを検出する。 - 特許庁

An information communication device 10A includes a transmission part 16 for transmitting information to the counterpart side, a test tone generation part 12 for generating a test tone, and a control part 11 that transmits the test tone generated by the test tone generation part 12 to the counterpart side by the transmission part 16 so as to determine a communication state by the return of the test tone.例文帳に追加

本発明は、情報を相手方に伝送する伝送部１６と、テストトーンを発生するテストトーン発生部１２と、テストトーン発生部１２で発生したテストトーンを伝送部１６で相手方に伝送し、そのテストトーンの戻りによって通信状態を判断する制御部１１とを備える情報通信装置１０Ａである。 - 特許庁

In order to test a memory 105 operated by a first clock CK1, this circuit is provided with a first test pattern generation section 101 operated by a second clock CK2 to generate test data, and a second test pattern generation section 102 operated by a third clock CK3 which is the inverted clock of the second clock CK2 to generate test data.例文帳に追加

第１のクロックＣＫ１で動作するメモリ１０５をテストするために、第２のクロックＣＫ２で動作し、テストデータを生成する第１のテストパターン生成部１０１と、第２のクロックＣＫ２の反転クロックである第３のクロックＣＫ３で動作し、テストデータを生成する第２のテストパターン生成部１０２とを設ける。 - 特許庁

To provide a test pattern generation device and the like for generating a test pattern for detecting efficiently trouble in a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の故障をより効率的に検出するためのテストパターンを生成するためのテストパターン生成装置等を提供する。 - 特許庁

To provide plasma processing equipment capable of reducing the foreign material of a test piece or the pollution of the test piece, by suppressing the generation of abnormal electric discharge under processing.例文帳に追加

処理中の異常放電の発生を抑制して試料の異物あるいは汚染を低減できるプラズマ処理装置を提供する。 - 特許庁

A test signal generation unit 600 generates a test signal having a level higher than a signal level of normal sensitivity of a reception circuit 330 by a prescribed level.例文帳に追加

テスト信号生成部600は、受信回路330の規定感度となる信号レベルより所定分高いレベルのテスト信号を生成する。 - 特許庁

DEVICE FOR GENERATION OF TEST DATA, METHOD FOR GENERATING TEST DATA AND STORAGE MEDIUM WHICH STORES PROGRAM TO HAVE COMPUTER TO PROCESS ON THE SYSTEM例文帳に追加

テストデータ生成装置、テストデータ生成方法及びそのシステムでの処理をコンピュータに行なわせるためのプログラムを格納した記憶媒体 - 特許庁

A test data generation means 53 generates test alarm data for testing the operation of the information processing means 51 in accordance with user's operation.例文帳に追加

テストデータ生成手段５３は、ユーザの操作に従って、情報処理手段５１の動作をテストするためのテスト用アラームデータを生成する。 - 特許庁

To prevent personal data from being distributed in a test data generation system that uses a computer for preparing test data on the basis of practical personal data.例文帳に追加

実際の個人データに基きテストデータを作成するコンピュータを利用したテストデータ生成システムにおいて、個人データの分散を防ぐ。 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST PATTERN GENERATOR OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, CONTROL PROGRAM, READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

半導体集積回路のテストパターン生成方法および半導体集積回路のテストパターン生成装置、制御プログラム、可読記録媒体 - 特許庁

A test pattern order change means 103 changes the arrangement according to the order starting from least number of uncertain value for a plurality of test patterns included in an initial test pattern set generated by an initial test pattern generation means 102.例文帳に追加

初期テストパタン生成手段１０２によって生成された初期のテストパタンセットに含まれる複数テストパタンに対して、テストパタン順序変更手段１０３は、不確定値の数が少ない順番に並び替えを行う。 - 特許庁

A test table generation device includes: an equipment set input part 1: an upstream book analysis part 3; an equipment characteristic acquisition part 4: an equipment characteristic matching part 5; and a test table generation part 14.例文帳に追加

試験テーブル生成装置は、機器集合入力部１と、上流図書解析部３と、機器特性取得部４と、機器特性マッチング部５と、試験テーブル生成部１４とを備える。 - 特許庁

To provide a fuel cell system shortening waiting time when a power generation test is performed subsequently to completion of water filling and preventing energy loss when the subsequent power generation test is not performed.例文帳に追加

水張り完了後に続けて発電試験を行う場合は待ち時間を短縮し、続けて発電試験を行わない場合はエネルギーロスを防ぐ燃料電池システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a heat generation compensating device which is used in a test handler which tests an module IC attached to a test socket, and can efficiently compensate the heat generation of the IC during tests.例文帳に追加

モジュールＩＣをテストソケットに装着してテストを行うテストハンドラに使用され、テスト中のＩＣの発熱補償を効果的に行うことのできる発熱補償装置を提供する。 - 特許庁