「generation test」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

A test execution means 102 is provided with a test generation part 104, a test execution part 105, and a test result verification part 106.例文帳に追加

テスト実行手段１０２は、テスト生成部１０４，テスト実行部１０５，テスト結果検証部１０６を備える。 - 特許庁

CAN SEAM GAP GENERATION TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

缶のシームギャップ発生試験方法およびその装置 - 特許庁

INTERNAL OPERATION CLOCK GENERATION CIRCUIT PROVIDED WITH TEST FUNCTION例文帳に追加

テスト機能を備えた内部動作クロック生成回路 - 特許庁

DATA PATTERN/TEST DATA GENERATION/STORAGE METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

データパターン／テストデータ生成・蓄積方法及びシステム - 特許庁

TEST SIGNAL GENERATION CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト信号発生回路 - 特許庁

VIDEO TEST SYSTEM, AND VIDEO SEQUENCE DATA GENERATION METHOD例文帳に追加

ビデオ・テスト・システム及びビデオ・シーケンス・データ発生方法 - 特許庁

To provide a test pattern generation method, a test pattern generation system, and a test pattern generation device capable of efficiently generating a test pattern which is used for testing a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のテストに用いるテストパターンを効率よく生成可能としたテストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR SETTING TEST SEQUENCE AND PARAMETER OF TEST SIGNAL, AND SIGNAL GENERATION DEVICE例文帳に追加

試験信号の試験シーケンス及びパラメータ設定方法及び信号生成装置 - 特許庁

AUTOMATIC TEST GENERATION SYSTEM AND METHOD FOR WEB APPLICATION例文帳に追加

ウェブアプリケーションの自動テスト生成システム及び方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TEST DATA GENERATION例文帳に追加

試験データ作成装置および試験データ作成方法 - 特許庁

To provide a test pattern generation device for automatically generating a test pattern without using a test pattern generation method and device related to an ATPG.例文帳に追加

ＡＴＰＧに係るテストパターン生成方法・装置を用いずに、自動的にテストパターンを生成するテストパターン生成・装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test device and the like enabled to guarantee test-pattern safety in generation of a test power-considered test.例文帳に追加

テストパワー考慮型のテスト生成において、テストパターン安全性を保証することを達成するテスト装置等を提供する。 - 特許庁

A test pattern generation part 210 generates a test pattern 301 including the test pattern and the test data from a program specification for a Web system 100.例文帳に追加

テストパターン生成部２１０は、Ｗｅｂシステム１００のプログラム仕様からテストパターンとテストデータを含むテストパターン３０１を生成する。 - 特許庁

CIRCUIT, METHOD, AND APPARATUS FOR BURN-IN TEST AND PATTERN GENERATION PROGRAM例文帳に追加

バーンインテスト回路、方法、装置、及びパターン生成プログラム - 特許庁

ACCESS CONFLICT GENERATION SYSTEM IN ACCESS CONFLICT TEST例文帳に追加

アクセス競合試験におけるアクセス競合発生システム - 特許庁

TEST PULSE GENERATION METHOD AND SYSTEM FOR TESTING ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

電子装置試験用の試験パルス生成方法とシステム - 特許庁

TEST CASE GENERATION DEVICE, OBJECT INSPECTION DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加

テストケース生成装置、オブジェクト検査装置、およびプログラム - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION, FAILURE DETECTION RATE CALCULATING DEVICE, TEST PATTERN GENERATION, AND FAILURE DETECTION RATE CALCULATION METHOD例文帳に追加

テストパターン作成及び故障検出率算出装置並びにテストパターン作成及び故障検出率算出方法 - 特許庁

OPU FRAME GENERATION DEVICE AND OPU FRAME TEST DEVICE例文帳に追加

ＯＰＵフレーム生成装置及びＯＰＵフレーム試験装置 - 特許庁

METHOD OF CREATING INITIAL INPUT VECTOR OF TEST GENERATION CIRCUIT例文帳に追加

テスト発生回路の初期入力ベクトルの作成方法 - 特許庁

The test pattern generation means generates the test pattern through the use of the undetected failure list.例文帳に追加

テストパターン生成手段は、未検出故障リストを用いてテストパターンを生成する。 - 特許庁

A signal generation part 11 outputs an AM test signal and a PM test signal.例文帳に追加

信号生成部１１は、ＡＭテスト信号及びＰＭテスト信号を出力する。 - 特許庁

METHOD FOR TEST PROGRAM GENERATION, APPARATUS THEREFOR AND TEST APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

試験プログラム生成方法及び装置並びに半導体集積回路試験装置 - 特許庁

To provide a pattern generation circuit of a BIST(build in self test) circuit capable of generating a prescribed test pattern in a small area by reducing the number of test pattern generation circuits, and a test pattern generation method for the BIST circuit.例文帳に追加

テストパターン発生回路の数を減じることにより、小面積で所定のテストパターンを発生することができるＢＩＳＴ回路のパターン発生回路及び発生方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test program generation device and a test program generation method capable of inputting a parameter corresponding to a template of the test program.例文帳に追加

テストプログラムのテンプレートに応じて、パラメータが入力できるテストプログラム作成装置及びテストプログラム作成方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

A test specification generation supporting device comprises a test factor classification table generating part 12 and a test specification generating part 28.例文帳に追加

テスト仕様生成支援装置は、テスト因子分類表生成部１２とテスト仕様生成部２８で構成される。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR GENERATING TEST PATTERN AND RECORDING MEDIUM WITH TEST PATTERN GENERATION PROGRAM RECORDED例文帳に追加

テストパタン生成方法および装置ならびにテストパタン生成プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

Then, by giving it to a test parameter generation part 1,103, a test parameter TP is generated.例文帳に追加

そして、テストパラメータ生成部１１０３に与えることにより、テストパラメータＴＰを生成する。 - 特許庁

A generation unit 706 generates a test program from the program code whose test object is set.例文帳に追加

生成部７０６は、試験対象が設定されたプログラムコードからテストプログラムを生成する。 - 特許庁

PSEUDO ROAD SURFACE GENERATION DEVICE FOR VEHICLE TEST, AND RUNNING TEST METHOD OF AUTOMOTIVE VEHICLE例文帳に追加

車両試験用疑似路面発生装置及び自走式車両の走行試験方法 - 特許庁

TEST CASE GENERATING DEVICE AND ITS METHOD AND MEDIUM FOR RECORDING TEST CASE GENERATION PROGRAM例文帳に追加

テストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラムを記録した媒体 - 特許庁

CLOCK GENERATION CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR TEST, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験用クロック生成回路、半導体装置および半導体装置の試験方法 - 特許庁

A test pattern is generated corresponding to a tester model selected by a test pattern generation part 13.例文帳に追加

テストパターン生成部１３で選択されたテスター機種に応じたテストパターンを作成する。 - 特許庁

To avoid the generation of an inter-wiring short circuit in the final test.例文帳に追加

ファイナルテストでの配線間ショートの発生を回避する。 - 特許庁

COMBINATION TEST DATA GENERATION DEVICE AND OPERATION METHOD THEREOF例文帳に追加

組み合わせ試験データ生成装置およびその動作方法 - 特許庁

DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR INPUT DATA GENERATION FOR TEST例文帳に追加

テスト用入力データ生成装置及び方法及びプログラム - 特許庁

TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

テストパターン自動生成方法およびテストパターン自動生成プログラム - 特許庁

SWITCH CONTROLLER, SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, AND GENERATION PROGRAM例文帳に追加

スイッチ制御装置、半導体試験装置、及び生成プログラム - 特許庁

To provide a test pattern generation managing system for easy storing and managing of the test pattern of a semiconductor memory, and to provide a test pattern generation management method for the semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリのテストパターンの保存及び管理が容易なテストパターン生成管理システムおよび半導体メモリのテストパターン生成管理方法を提供する。 - 特許庁

To allow for generation of test data maintaining compatibility with an existing database while reducing a load for computer system test, particularly a load of test data generation.例文帳に追加

コンピュータシステムのテストのための負担、特にテストデータ生成の負担を軽減すると共に、既存のデータベースとの整合性を維持したテストデータの生成を可能にする。 - 特許庁

TEST DATA GENERATION SYSTEM, TEST SYSTEM, TEST DATA GENERATING METHOD, COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH RECORDED TEST DATA GENERATING PROGRAM, AND TEST DATA GENERATING PROGRAM例文帳に追加

テストデータ生成方式及び試験方式及びテストデータ生成方法及びテストデータ生成プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体及びテストデータ生成プログラム - 特許庁

This device is an improved test program generation device for generating the test program from the template of the test program.例文帳に追加

本発明は、テストプログラムのテンプレートからテストプログラムを作成するテストプログラム作成装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a test data generation device and method that enable generation of test data capable of controlling processing branching by arriving at and solving a constraint satisfaction problem.例文帳に追加

処理の分岐を制御できるようなテストデータを制約充足問題に帰着して解くテストデータの生成を可能にする。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR AUTOMATIC TEST DATA GENERATION FOR LOOKUP TABLE例文帳に追加

ルックアップテーブルのための自動テストデータ発生方法およびシステム - 特許庁

TEST METHOD FOR REPRODUCING TROUBLE GENERATION STATE OF DISK ARRAY DEVICE例文帳に追加

ディスクアレイ装置における障害発生時の再現テスト方法 - 特許庁