「interference measuring～」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

ABSOLUTE POSITION MEASURING METHOD OF LASER INTERFERENCE LENGTH MEASURING APPARATUS, AND LASER INTERFERENCE LENGTH MEASURING APPARATUS例文帳に追加

レーザ干渉測長装置の絶対位置測定方法、及びレーザ干渉測長装置 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING ABSOLUTE DISTANCE OF LASER INTERFERENCE MEASURING DEVICE, AND LASER INTERFERENCE MEASURING DEVICE例文帳に追加

レーザ干渉測長装置の絶対距離測定方法、及びレーザ干渉測長装置 - 特許庁

OPTICAL INTERFERENCE UNIT, OPTICAL INTERFERENCE OBJECTIVE LENS DEVICE AND MEASURING APPARATUS例文帳に追加

光干渉ユニット、光干渉対物レンズ装置および測定装置 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING INTERFERENCE FROM OTHER CELLS IN SUBSCRIBER STATION, AND INTERFERENCE WAVE DETECTION CIRCUIT例文帳に追加

加入者局の他セル干渉計測方法及び干渉波検出回路 - 特許庁

DEVICE FOR INTERFERENCE SPECTROSCOPY, METHOD USING INTERFERENCE SPECTROSCOPY, AND INTERFERENCE MEASURING DEVICE例文帳に追加

干渉分光法用の装置、干渉分光法を使用した方法、干渉測定装置 - 特許庁

DIFFRACTION INTERFERENCE MEASURING DEVICE, METHOD FOR MEASURING DIFFRACTION INTERFERENCE, AND METHOD FOR MANUFACTURING EXPOSING DEVICE AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

回折干渉計、回折干渉計測方法、露光装置及び電子デバイスの製造方法 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING DEVICE, INTERFERENCE MEASURING METHOD, AND SURFACE WORKING METHOD OF OPTICAL ELEMENT例文帳に追加

干渉測定装置、干渉測定方法、及び光学素子の表面加工方法 - 特許庁

MEASURING METHOD AND APPARATUS USING LIGHT INTERFERENCE IRREGULARITIES MEASURING APPARATUS例文帳に追加

光干渉型凹凸計測装置を使用する計測方法および装置 - 特許庁

METHOD OF MEASURING OPTICAL HETERODYNE INTERFERENCE, AND MEASURING INSTRUMENT THEREFOR例文帳に追加

光ヘテロダイン干渉測定方法およびその測定装置 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING SYSTEM, METHOD FOR MEASURING TRANSMISSION WAVE FRONT AND PROJECTION LENS例文帳に追加

干渉計測システム、透過波面測定方法、及び投影レンズ - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING MULTIWAVELENGTH OPTICAL HETERODYNE INTERFERENCE例文帳に追加

多波長光ヘテロダイン干渉測定方法および装置 - 特許庁

ATOM INTERFEROMETER AND ATOMIC INTERFERENCE MEASURING METHOD例文帳に追加

原子干渉計および原子干渉測定方法 - 特許庁

SHEARING INTERFERENCE MEASURING METHOD AND SHEARING INTERFEROMETER例文帳に追加

シアリング干渉測定方法及びシアリング干渉計 - 特許庁

LINE FOCUSING TYPE FOURIER DOMAIN INTERFERENCE PROFILE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

線集光型フーリエドメイン干渉形状計測装置 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING DEVICE AND LINEAR ENCODER例文帳に追加

干渉測定装置及びリニアエンコーダ - 特許庁

SHEARING INTERFEROMETER AND INTERFERENCE MEASURING DEVICE例文帳に追加

シヤリング干渉計及び干渉計測装置 - 特許庁

MOBILE RADIO TERMINAL, AND INTERFERENCE WAVE POWER MEASURING METHOD例文帳に追加

移動無線端末、及び干渉波電力測定方法 - 特許庁

INTERFEROMETER AND METHOD OF MEASURING INTERFERENCE FRINGE例文帳に追加

干渉計及び干渉縞測定方法 - 特許庁

FILM THICKNESS GAGE OF INTERFERENCE FRINGE TYPE AND FILM THICKNESS MEASURING METHOD例文帳に追加

干渉縞式膜厚計及び膜厚計測方法 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

干渉計測方法および干渉計測装置 - 特許庁

OPTICAL WAVE INTERFERENCE MEASURING METHOD AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加

光波干渉測定方法及び装置 - 特許庁

HIGH-SENSITIVITY MEASURING METHOD BY WHITE LIGHT INTERFERENCE例文帳に追加

白色干渉による高感度計測方法 - 特許庁

OPTICAL INTERFERENCE TYPE GAS CONCENTRATION MEASURING DEVICE例文帳に追加

光干渉式ガス濃度測定装置 - 特許庁

SHAPE MEASURING METHOD WITH MULTI-WAVELENGTH INTERFERENCE FRINGE例文帳に追加

多波長干渉縞による形状測定方法 - 特許庁

INTERFEROMETER AND METHOD FOR MEASURING INTERFERENCE例文帳に追加

干渉計および干渉測定方法 - 特許庁

INTERFERENCE LIGHT SUPPRESSION METHOD AND MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

干渉光抑圧方法及び計測器 - 特許庁

INTERFERENCE AMOUNT MEASURING METHOD, AND COMMUNICATION APPARATUS例文帳に追加

干渉量測定方法および通信装置 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

干渉測定方法及び干渉測定システム - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEASURING DEVICE WITH FUNCTION OF MONITORING RADIO INTERFERENCE例文帳に追加

電波干渉監視機能付き半導体測定装置 - 特許庁

INTERFERENCE TYEP SURFACE SHAPE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

干渉型表面形状測定装置 - 特許庁

MULTIPLE LIGHT PATH INTERFERENCE LIGHT-MEASURING METHOD AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加

多重光路干渉光測定方法および測定装置 - 特許庁

COAXIAL-TYPE SPATIAL LIGHT INTERFERENCE TOMOGRAPHIC IMAGE MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

同軸型空間光干渉断層画像計測装置 - 特許庁

LIGHT WAVE INTERFERENCE MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

光波干渉測定装置および光波干渉測定方法 - 特許庁

ELECTROMAGNETIC INTERFERENCE WAVE MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

電磁妨害波測定装置及び方法 - 特許庁

OPTICAL INTERFERENCE TYPE FLUID CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE例文帳に追加

光干渉式流体特性測定装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR MEASURING LASER INTERFERENCE例文帳に追加

レーザ干渉測定装置およびレーザ干渉測定方法 - 特許庁

WHITE INTERFERENCE MEASURING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

白色干渉計測装置及び方法 - 特許庁

LIGHT INTERFERENCE TYPE FLUID CHARACTERISTICS MEASURING APPARATUS例文帳に追加

光干渉式流体特性測定装置 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING DEVICE, EXPOSURE DEVICE, AND DEVICE-MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

干渉測定装置、露光装置およびデバイス製造方法 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING APPARATUS, EXPOSURE APPARATUS, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

干渉計測装置、露光装置およびデバイス製造方法 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING APPARATUS AND METHOD FOR DETERMINING MEASUREMENT ORIGIN例文帳に追加

干渉測定装置及び測定原点決定方法 - 特許庁

HETERODYNE INTERFERENCE MEASUREMENT METHOD, HETERODYNE INTERFERENCE DEVICE, THICKNESS MEASURING DEVICE, AND THICKNESS MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

ヘテロダイン干渉測定方法，ヘテロダイン干渉装置，厚み測定装置，厚み測定方法 - 特許庁

LOW-COHERENCE INTERFEROMETER, LOW-COHERENCE INTERFERENCE APPARATUS, AND LOW-COHERENCE INTERFERENCE MEASURING METHOD例文帳に追加

低コヒーレンス干渉計、低コヒーレンス干渉装置、及び低コヒーレンス干渉測定方法 - 特許庁

INTERFERENCE OBJECTIVE LENS UNIT, AND OPTICAL INTERFERENCE MEASURING APPARATUS INCLUDING THE SAME例文帳に追加

干渉対物レンズユニット及び当該干渉対物レンズユニットを備えた光干渉測定装置 - 特許庁

To improve measurement accuracy in an interference measuring apparatus using the interference of light.例文帳に追加

光の干渉を利用した干渉測定装置において、測定精度を向上させること。 - 特許庁