「interference measuring～」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

any measuring instrument that uses interference patterns to make accurate measurements of waves 例文帳に追加

干渉パターンを用いて精確な波の測定をする装置一般 - 日本語WordNet

DIMENSION MEASURING DEVICE USING DIFFRACTED LIGHT INTERFERENCE OF DIFFRACTION GRATING例文帳に追加

回折格子の回折光干渉を用いた寸法測定装置 - 特許庁

OPTICAL MEASURING APPARATUS FOR DISTANCE METER USING HETERODYNE INTERFERENCE例文帳に追加

ヘテロダイン干渉を用いた距離計用の光学計測装置 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING METHOD, INTERFEROMETER, EXPOSURE DEVICE, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

干渉計測方法、干渉計、露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁

METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING GAS TEMPERATURE BY HETERODYNE INTERFERENCE METHOD例文帳に追加

ヘテロダイン干渉法による気体温度測定方法およびその装置 - 特許庁

OPTICAL INTERFERENCE MEASURING METHOD USING PARALLEL OPTICAL HETERODYNE DETECTION METHOD例文帳に追加

並列光ヘテロダイン検出法を用いた光干渉計測方法 - 特許庁

To raise a measuring accuracy of an interference measurement using a diffraction optical element.例文帳に追加

回折光学素子を使用した干渉測定の測定精度を高める。 - 特許庁

INTERFEROMETER, INTERFERENCE MEASURING METHOD, AND PRODUCTING TECHNIQUE OF PROJECTION OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

干渉計、干渉測定方法、及び投影光学系の製造方法 - 特許庁

PLANE SHAPE MEASURING METHOD IN PHASE SHIFT INTERFERENCE FRINGE SIMULTANEOUS IMAGING例文帳に追加

位相シフト干渉縞同時撮像における平面形状計測方法 - 特許庁

SUPERCONDUCTING QUANTUM INTERFERENCE ELEMENT AMPLIFIER AND SIGNAL MEASURING MEANS USING IT例文帳に追加

超伝導量子干渉素子増幅器とそれを用いた信号計測手段 - 特許庁

PLANE SHAPE MEASURING METHOD IN PHASE SHIFT INTERFERENCE FRINGE SIMULTANEOUS IMAGING DEVICE例文帳に追加

位相シフト干渉縞同時撮像装置における平面形状計測方法 - 特許庁

PLANE SHAPE MEASURING METHOD FOR PHASE-SHIFT INTERFERENCE FRINGE SIMULTANEOUS PHOTOGRAPHING DEVICE例文帳に追加

位相シフト干渉縞同時撮像装置における平面形状計測方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING LASER INTERFERENCE DISPLACEMENT例文帳に追加

レーザ干渉変位測定方法およびレーザ干渉変位測定装置 - 特許庁

PHASE CONNECTING METHOD FOR WAVE FRONTS BY FRINGE SCANNING INTERFERENCE MEASURING METHOD例文帳に追加

縞走査干渉測定方式による波面の位相つなぎ方法 - 特許庁

LENGTH MEASURING METHOD BY COINCIDENCE METHOD OF LOW COHERENCE INTERFERENCE例文帳に追加

低コヒーレンス干渉の合致法による長さ測定方法 - 特許庁

OPTICAL INTERFERENCE TYPE FLUID CHARACTERISTIC MEASURING INSTRUMENT AND FRAME STRUCTURE SUITABLE THEREFOR例文帳に追加

光干渉式流体特性測定装置、及びこれに適したフレーム構造 - 特許庁

To decrease the number of components of a grating interference type displacement measuring instrument.例文帳に追加

格子干渉型変位測定装置において、部品点数を低減する。 - 特許庁

OPTICAL HETERODYNE INTERFERENCE APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING OPTICAL PATH-LENGTH DIFFERENCE THEREFOR例文帳に追加

光ヘテロダイン干渉装置およびその光路長差測定方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING DISTRIBUTION OF INTERFERENCE WAVE IN ULTRASONIC TANK例文帳に追加

超音波槽内の干渉波分布測定方法およびその測定装置 - 特許庁

INTERFERENCE FRINGE ANALYTICAL METHOD AND ABERRATION MEASURING METHOD FOR OPTICAL ELEMENT例文帳に追加

光学素子の干渉縞解析方法及び収差測定方法 - 特許庁

PHASE UNWRAPPING METHOD, PROGRAM, AND INTERFERENCE MEASURING DEVICE例文帳に追加

位相アンラッピング方法、プログラム及び干渉計測装置 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING NOISE SOUND PRESSURE DUE TO ELECTROMAGNETIC INTERFERENCE WAVE AND SOUND WAVE TRANSMISSION APPARATUS例文帳に追加

電磁妨害波による雑音音圧測定方法及び音波伝達装置 - 特許庁

To provide an interference measuring method for calibration without increasing unknown measurement error.例文帳に追加

未知の測定誤差を増やすことなく校正用の干渉測定を行う。 - 特許庁

INTERFERENCE MEASURING METHOD AND DEVICE, AND EXPOSING DEVICE HAVING IT例文帳に追加

干渉計測方法、装置及びそれを搭載した露光装置 - 特許庁

MEASURING APPARATUS FOR INTERFERENCE OF PHASE SHIFT, METHOD THEREFOR AND RECORD MEDIUM例文帳に追加

位相シフト干渉測定装置及び方法、並びに記憶媒体 - 特許庁

To reduce the number of parts in a grid interference type displacement measuring device.例文帳に追加

格子干渉型変位測定装置において、部品点数を低減する。 - 特許庁

WAVELENGTH SHIFT MEASURING APPARATUS, OPTICAL SOURCE APPARATUS, INTERFERENCE MEASURING APPARATUS, EXPOSURE APPARATUS, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

波長ずれ測定装置、光源装置、干渉測定装置、露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁

To provide an interference measuring apparatus capable of measuring wavefronts of an optical system to be inspected with high precision.例文帳に追加

被検光学系の波面を高精度に計測することができる干渉計測装置を提供する。 - 特許庁

DISTURBANCE MEASURING DEVICE IN OPTICAL INTERFEROMETER, AND HIGH-PRECISION LIGHT INTERFERENCE MEASURING ARRANGEMENT例文帳に追加

光干渉計における外乱の測定装置および高精度光干渉計測装置 - 特許庁

To provide a lightwave interference measuring apparatus having a simple constitution, capable of measuring absolute distances at a high speed.例文帳に追加

簡易な構成で高速に絶対距離計測が可能な光波干渉計測装置を提供する。 - 特許庁

To provide a diffraction interference measuring device capable of measuring optical properties of an object optical system with high accuracy.例文帳に追加

被検光学系の光学特性を高精度に計測可能な回折干渉計を提供する。 - 特許庁

RECTILE FOCUS MEASURING SYSTEM USING MULTI-INTERFERENCE BEAM AND RECTILE FOCUS MEASURING METHOD例文帳に追加

多重干渉ビームを使用するレチクル焦点測定システムおよびレチクル焦点測定方法 - 特許庁

To reduce the measuring error by disturbance in an interference measuring method by a fringe scan method.例文帳に追加

フリンジスキャン法による干渉計測法において、外乱による測定誤差を低減させる。 - 特許庁

INTERFERENCE OPTICAL SYSTEM FOR MEASURING WAVE FRONT, AND INTERFEROMETER PROVIDED THEREWITH FOR MEASURING WAVE FRONT例文帳に追加

波面測定用干渉光学系およびこれを備えた波面測定用干渉計装置 - 特許庁

DESIRED WAVE POWER TO INTERFERENCE WAVE POWER RATIO MEASURING APPARATUS, DESIRED WAVE POWER TO INTERFERENCE WAVE POWER RATIO MEASURING METHOD AND DESIRED WAVE POWER TO INTERFERENCE WAVE POWER MEASURING PROGRAM例文帳に追加

希望波電力対干渉波電力比測定装置、希望波電力対干渉波電力比測定方法、及び希望波電力対干渉波電力比測定プログラム - 特許庁

To shorten a measuring time by improving position precision of an optical wedge in a measuring device for light wave interference measuring based on waveforms of shading of interference fringe, resulting from shifting of the interference fringe caused by moving the optical wedge.例文帳に追加

光学楔を移動させて干渉縞を移動させ、干渉縞の濃淡の波形に基づき測定を行う光学干渉測定装置において、光学楔の位置精度を高め、測定時間の短縮を図る。 - 特許庁

In this emission spectrophotometry, measuring precision based on the interference of the coexisting element in response to an objective element is calculated as to each of the measuring wavelengths, a post-interference concentration measuring area based on the interference of the coexisting element is determined based on the calculated measuring precision, as the each measuring wavelength.例文帳に追加

各測定波長に関し、前記目的元素に応じた共存元素の干渉に基づく測定精度を算出し、次いで各測定波長に関し、前記算出された測定精度に基づき、共存元素の干渉に基づく干渉後濃度測定領域を決定する。 - 特許庁

To provide a surface profile measuring method and a measuring device using an interference optical system, which is capable of picking up a plurality of interference fringe images, and measuring a surface profile of a measuring object accurately.例文帳に追加

干渉光学系を用いた表面形状測定方法および装置において、複数の干渉縞画像を撮像し、測定対象の表面形状を正確に計測できる表面形状測定方法および測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical interfering type fluid characteristic measuring apparatus constituted so as to specify the degree of an interference fringe from the phase itself of the interference fringe without relying on the history of a change in the phase of the interference fringe, and hence detect the total change quantity of the interference fringe.例文帳に追加

干渉縞の位相変化の履歴に頼ることなく、その時点での干渉縞の位相自体から干渉縞の次数を特定して干渉縞の総変移量を検出すること。 - 特許庁

To automatically set a region to be observed of interference fringes in an optical wave interference measuring apparatus for measuring a shape of an object based on the shade of the interference fringes.例文帳に追加

干渉縞の濃淡に基づき対象物の形状を測定する光学干渉測定装置において、干渉縞の観測対象領域を自動的に設定する。 - 特許庁

To provide a distance measuring device for a motor vehicle capable of detecting the interference of laser light from another motor vehicle, changing the distance measuring method of the distance measuring device of its own motor vehicle according to the input form of the interference light, and measuring a distance as eliminating the effects of the interference light.例文帳に追加

他車両からのレーザ光の干渉を検出すること、及びこの干渉光の入力形態に応じて自車両の距離測定装置の距離測定方法を可変し、干渉光の影響を排除しながら、距離測定が可能な車両用距離測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide an interference measuring apparatus with high lateral coordinate precision capable of measuring and correcting the lateral coordinate error of measuring data.例文帳に追加

測定データの横座標誤差の計測および補正を行うことのできる、横座標精度の高い干渉測定装置。 - 特許庁

A length measuring instrument is constituted by providing a position measuring means 30X which measures the absolute position of an object to be measured to an optical interference length measuring means.例文帳に追加

光干渉測長手段に、被測定体の絶対位置を測定する位置測定手段を備えて測長装置を構成する。 - 特許庁

To provide a mass/volume measuring device capable of measuring simultaneously the mass and the volume of a measuring object generating thin film interference light.例文帳に追加

薄膜干渉光を発生する測定対象物の質量と、体積とを同時に測定可能な質量・体積測定装置の提供。 - 特許庁

Those interference signals from both optical heterodyne interference devices 30 and 40 enable to measure a grid pitch P (X) at a measuring position X.例文帳に追加

両光ヘテロダイン干渉装置３０、４０からの干渉信号により、測長位置Ｘにおける格子ピッチＰ（Ｘ）が計測できる。 - 特許庁