「interference measuring～」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

In a method and a device for measuring the height of a bump on the surface of a substrate by irradiating the interference wave of white light on the surface of the substrate, the isolated interference wave (m+1/4)λ (m is an integer) is matched to each of the surface of the substrate and the bump top to measure the height of the bump.例文帳に追加

半導体の基板表面に白色光の干渉波を照射して、基板表面のバンプ高さを測定するバンプ高さ測定方法及び測定装置において、基板表面及びバンプ頂点に各々アイソレートされた干渉波（ｍ＋１／４）λ（ｍは整数）を合わせ、バンプ高さを測定する。 - 特許庁

A transmission power control section 107 controls the transmission power of a downlink line signal, in which an OL-TCP (open loop-transmit power control) parameter and a known reference signal are multiplexed on the basis of a TCP command, obtained by a TPC command obtaining section 108 and an interference power value measured by an interference power measuring section 106.例文帳に追加

送信電力制御部１０７は、TPCコマンド取得部１０８で取得されたTPCコマンドおよび干渉電力測定部１０６で測定された上り回線の干渉電力値に基づいて、OL-TPCパラメータおよび既知参照信号が多重されている下り回線信号の送信電力を制御する。 - 特許庁

This micro-height measuring device is constituted so that an absolute value of the difference between both interference light intensities generated from the height difference between an aimed point and a peripheral point is regarded as an absolute value of the difference between both interference light intensities at the aimed point when a stage is moved as long as the height difference portion.例文帳に追加

本発明の微小高さ測定装置では、注目点と近傍点との高低差により生じる両干渉光強度の差分の絶対値が、ステージを高低差分移動したときの注目点における両干渉光強度の差分の絶対値とみなされる。 - 特許庁

To obtain a method and an apparatus for the measurement of an interference wherein a detection area up to a part near the peripheral edge of an area generating interference fringes can be measured with high accuracy, in an electronic moire measurement which measures a measuring object by an interferometer by generating carrier fringes.例文帳に追加

被計測対象を干渉計でキャリア縞を発生させて測定する電子モアレ測定において、干渉縞の発生しているエリアの周縁付近までを検出領域とする高精度な計測ができる干渉測定方法及び干渉測定装置を得ること。 - 特許庁

The radio transmitter for transmitting a transmission wave comprises: interference wave evaluation means for measuring a power of an interference wave coming into an occupied region of the transmission wave while the waves are not transmitted, and controlling means for opting out the transmission when the power of a component of the interference wave surpasses a given threshold.例文帳に追加

送信波の送信を行う無線送信機であって、前記送信を行わない期間に、前記送信波の占有帯域内に到来する干渉波の電力を計測する干渉波評価手段と、前記干渉波の成分の電力が既定の閾値を上回るときに前記送信を見合わせる制御手段とを備える。 - 特許庁

To provide a measurement method for correctly reflecting the phenomenon that a reflected light uneven interference required for the quality lies within an allowable level if it is used, permanently and frequently maintaining the accuracy, preventing the reflection light uneven interference from being altered, even if an area of a to-be-inspected surface is large, and conveniently and efficiently measuring the reflected light uneven interference.例文帳に追加

使用する場合の品質として求められる、反射光干渉ムラが許容範囲内の水準であることを正しく反映し、恒常的に高頻度で精度を保つことができ、大面積の検査面であっても、その反射光干渉ムラを変質させずに簡便に効率良く測定することができる測定方法を提供する。 - 特許庁

In a particle diameter measuring device using a laser diffraction method, spatial resolution of interference fringe measurement is enhanced by using a CCD element 6a as a detector for acquiring an interference fringe, and an interference fringe in a dynamic range of the CCD element 6a can be measured by providing a 0-order diffracted light shielding plate 5 between a Fourier transform lens 3 and the CCD element 6a.例文帳に追加

レーザ回折法を用いた粒子径測定装置において、干渉縞を得るためのディテクタとしてＣＣＤ素子６ａを使用することにより、干渉縞計測の空間分解能を高め、かつ、フーリエ変換レンズ３と、ＣＣＤ素子６ａとの間に０次回折光遮蔽板５を設けることにより、ＣＣＤ素子６ａのダイナミックレンジ内での干渉縞の計測を可能とする。 - 特許庁

The membrane thickness information acquiring device comprises the floodlighting optical system for food lighting on the measuring object film, the light-receiving optical system for receiving the reflected light or transmitted light from the object to be measured, an interference waveform generating means for generating the interference waveform data of the received reflected light or the transmitted light, and a membrane thickness information transmission means for transmitting the generated interference waveform data.例文帳に追加

測定対象フィルムに投光する投光光学系と、前記測定対象からの反射光または透過光を受光する受光光学系と、受光した反射光または透過光の干渉波形データを生成する干渉波形生成手段と、生成した干渉波形データを送信する膜厚情報送信手段を備えた膜厚情報取得装置である。 - 特許庁

In the network communication system, network hosts NHs carry out communication between them by using a unique protocol, and the NHs cooperate with each other to execute a radio wave interference measurement test for measuring a degree of external radio wave interference and a degree of interference of radio waves output from wireless communication apparatuses at an initial setting state or in a deteriorated communication state.例文帳に追加

ネットワーク通信システム１では、独自のプロトコルにより各ＮＨ間で通信を行っており、初期設定時や通信状態が悪くなった時に、各ＮＨ間で連携して、外部からの電波干渉の程度及び各無線通信機器から出力される電波による干渉の程度を測定する電波干渉測定テストを行う。 - 特許庁

A compensation value calculating part 118 calculates a desired wave compensation coefficient and an interference wave compensation coefficient for compensating the desired wave power and the interference wave power from the average value calculated by a delay profile average value detecting part 117 and power information outputted by a power measuring part 105, and outputs them to a desired wave compensation value buffer 119 and an interference wave compensation value buffer 120 respectively.例文帳に追加

補正値算出部１１８は、遅延プロファイル平均値検出部１１７により算出された平均値と、パワ測定部１０５より出力されたパワ情報とから、希望波電力と干渉波電力を補正する希望波補正係数と干渉波補正係数を算出し、それぞれ希望波補正値バッファ１１９と干渉波補正値バッファ１２０に出力する。 - 特許庁

The optical characteristic measuring device is improved which has an interference section for multiplexing first and second input lights having different frequency and orthogonal polarized state, transmitting them to a measured object, and interfering at least one of the first and second input lights with the output light outputted from the measured object, and measures the optical characteristic of the measured object using the interference light from this interference section.例文帳に追加

本発明は、周波数が異なり偏光状態が直交する第１、第２の入力光を合波して被測定対象に入力させ、この被測定対象から出力される出力光に、第１、第２の入力光の少なくとも一方の光を干渉させる干渉部を有し、この干渉部からの干渉光によって被測定対象の光学特性を測定する光学特性測定装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

The position measuring system comprises: a pointer 3 which projects concentric interference pattern light 5; detecting devices 10, 11 which detect the concentric interference pattern light 5 projected from the pointer 3; and a computer 12 which computes a positional coordinate of the center of the concentric interference pattern light projected on a display 100, based on signals output from the detecting devices 10, 11.例文帳に追加

本位置計測システムは、同心円状干渉模様光５を投射するポインター３と、ポインター３から投射された干渉模様光を検出する検出装置１０，１１と、検出装置１０，１１から得られた信号に基づいてディスプレイ１００に投射された干渉模様光の中心の位置座標を求めるコンピュータ１２とを備える。 - 特許庁

This dynamic shape measuring method includes steps of superimposing carriers by two light sources with different wavelengths orthogonally on the image of an object surface, obtaining an interference image by one time imaging, demodulating the interference image along each direction of the carriers, determining phases for each wavelength at each point in the interference image, and determining the shape of the object surface according to the principle of the two-wavelength method.例文帳に追加

本発明は、波長の異なる２つの光源によるキャリアを直交して対象表面の像に重畳し、１回の撮像で干渉像を得、それぞれのキャリア方向に沿って干渉画像を復調して、干渉画像中の各点におけるそれぞれの波長に対する位相を求め、２波長法の原理にしたがって物体表面の形状を求めることを特徴とする動的形状計測方法に関する。 - 特許庁

The surface analyzer is constituted of: a light source 10 emitting supercontinuum light; an optical fiber coupler 11 dividing the SC light into measuring light and reference light; a mirror 12; a driving device 13 moving the mirror 12; a light-receiving means 14 measuring an interference waveform between the measuring light and the reference light; and an interference waveform analysis means 15 analyzing a temperature and surface condition of the object to be measured from the interference waveform.例文帳に追加

表面分析装置は、スーパーコンティニューム光を放射する光源１０と、ＳＣ光を測定光と参照光とに分割する光ファイバカプラ１１と、ミラー１２と、ミラー１２を移動させる駆動装置１３と、測定光と参照光との干渉波形を測定する受光手段１４と、干渉波形から測定物の温度および表面状態を分析する干渉波形解析手段１５と、によって構成されている。 - 特許庁

To provide an optical wave interference measuring instrument, which can measure the movement quantity of a body moving extremely rapidly accurately by reducing errors which are possibly generated at switching between a 1st and a 2nd interferometer as to a light wave interference measuring instrument which measures the movement quantity of a body which is moving rapidly.例文帳に追加

本発明は、高速で移動する物体の移動量を測定する光波干渉測定装置に関し、第１及び第２の干渉計の切替時に生じうる誤差を減少させて高速に移動する物体の移動量を極めて正確に測定することのできる光波干渉測定装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a light wave interference measuring device and light wave interference measuring method that can accurately, automatically regulate the misalignment between the optical axis of a reference spherical surface and the optical axis even of a lens to be inspected that cannot observe an optical mark by reflected light from the surface of the lens section, and can provide a stable result of measurement.例文帳に追加

レンズ部表面からの反射光による光マークを観察し得ない被検レンズに対しても、該被検レンズの光軸と基準球面の光軸とのずれを高精度に自動調整することができ、安定した測定結果を得ることが可能な光波干渉測定装置および光波干渉測定方法を得る。 - 特許庁

Radio base stations 1 to 3 measure powers of user terminals in communication in its own cells, and interference powers in the cells by reception power measuring circuits 13 and interference power measuring circuits and record powers for each frequency within reception bands together with time information and inform radio base stations in neighboring cells.例文帳に追加

無線基地局１〜３は、受信電力測定回路１３と干渉波電力測定回路１４でそのセルで通信中のユーザ端末の電力と、そのセルの干渉波電力をそれぞれ測定し、受信帯域内の周波数毎の電力を時間情報とともに記録し、周辺のセルの無線基地局に通知する。 - 特許庁

This reflection spectroscopic measuring apparatus of the present invention attains impedance matching by adding a substance B2 of weakening a reflected electromagnetic wave by internal interference to a frequency of an irradiated electromagnetic wave, to a substance A1 of the measuring object, and detects highly sensitively and determines quantitatively the property change of the measuring objective substance A1 when measuring the change as a deviation from the impedance matching.例文帳に追加

本発明は、反射分光測定装置に関し、測定対象である物質Ａ１に対し、照射電磁波の周波数に対して、内部での干渉により反射電磁波を弱める物質Ｂ２を付加することにより、インピーダンスマッチングを実現し、測定対象物質Ａ１の性質変化をインピーダンスマッチングからのずれとして測定すれば、その変化の高感度・高精度な検出・定量が可能となる。 - 特許庁

This measuring error correcting part 50 is composed of a Z reference mirror 10, an X reference mirror 11, a Y reference mirror 12, a six-axis laser interference length measuring gage 9 which determines position coordinates of the measuring part 4, and a corrective coordinate value calculating part 13 which determines the coordinate value after correction, by adding the corrective value to the coordinate value measured by the measuring part 4.例文帳に追加

この測定誤差補正部５０を、Ｚ参照ミラー１０、Ｘ参照ミラー１１、Ｙ参照ミラー１２、測定部４の位置座標を求める６軸レーザ干渉測長計９及び測定部４で測定した座標値に補正値を加算して補正後の座標値を求める補正座標値算出部１３から構成する。 - 特許庁

In this surface state measuring method for measuring the surface state of a semiconductor wafer 12 based on infrared rays emitted from the semiconductor wafer 12 after multiple reflection by the inside of the semiconductor wafer 12, a reference spectrum is measured before a prescribed manufacturing process, and a measuring spectrum is measured after a prescribed manufacturing process, and the noise caused by the interference fringe is reduced based on the reference spectrum and the measuring spectrum.例文帳に追加

半導体ウェハ１２内部を多重反射した後に半導体ウェハ１２より出射される赤外線に基づいて半導体ウェハ１２の表面状態を測定する表面状態測定方法において、所定の製造工程前に参照スペクトルを測定し、所定の製造工程後に測定スペクトルを測定し、参照スペクトル及び測定スペクトルに基づいて、干渉縞に起因するノイズを低減する。 - 特許庁

This laser vibrometer is equipped with a photodetector, a frequency modulated wave demodulator and a signal processing device for allowing a part of output light emitted from a laser oscillator to pass a light frequency shifter and to enter the measuring object, and measuring vibration of the measuring object from a modulated waveform of a laser output induced by interference between return light from the measuring object and the output light.例文帳に追加

レーザ発振器から出射する出力光の一部を光周波数シフターを通過させた後、被測定物に入射させ、該被測定物からの戻り光と前記出力光との干渉により誘起されるレーザ出力の変調波形から被測定物の振動を計測するための、光検出器、周波数変調波復調器および信号処理装置を具備する。 - 特許庁

To provide a transmission wavefront measuring method of a birefringence optical element measuring properly a transmission wavefront, even when imaging an interference fringe having a domain where transmission wavefront information is not carried correctly by an influence of birefringence carried by a test optical element.例文帳に追加

被検光学素子が有する複屈折性の影響により透過波面情報が正しく担持されない領域を有する干渉縞が撮像されるような場合でも、透過波面測定を適正に行うことが可能な複屈折性光学素子の透過波面測定方法を得る。 - 特許庁

To provide an impedance measuring device capable of measuring the antenna impedance or a circuit constant at desired frequency with high accuracy even under the environment where the electric wave having strong electric field arrives at a measured object as an interference wave.例文帳に追加

妨害波として強い電界を有する電波が測定対象に到来する環境下でも、希望する周波数でアンテナインピーダンス又は回路定数を高精度に測定することが可能なインピーダンス測定装置を提供すること。 - 特許庁

A heterodyne vibration meter provided with: an optical interference device for making a measuring beam 9 reflected by an object 12 and a reference beam 10 interfere, and an optical frequency shifter for generating beat frequency from the frequency difference between the measuring beam and the reference beam.例文帳に追加

物体１２によって反射された測定ビーム９と参照ビーム１０とを干渉させるための光学干渉装置と、測定ビームと参照ビームとの間の周波数差からビート周波数を生成する光学周波数シフタとを備えたヘテロダイン振動計。 - 特許庁

To provide a wavefront aberration measuring apparatus and a wavefront aberration measuring method which can measure the wavefront aberration of an optical system under test with high precision by checking the state of the interference fringes of photographed image data before performing image processing for calculating the wavefront aberration of the optical system under test.例文帳に追加

被検光学系の波面収差の算出のための画像処理を実施する前に、撮像した画像データの干渉縞の状態をチェックすることによって、高精度に被検光学系の波面収差を測定することができる波面収差測定装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical component holder for vibrating a laser interference length measuring instrument at a target frequency and amplitude so as to acquire correction data on a cyclic error, and stably holding the measuring instrument position while it is standing still.例文帳に追加

サイクリックエラーの補正データを得るために、目標とする振動数及び振幅でレーザー干渉測長計を振動させることが可能であり、かつ静止時にはレーザー干渉測長計の位置を安定に保持できる光学部品保持装置を提供する。 - 特許庁

To provide a measuring apparatus constituted of a structure preventing a breakdown of an application end of an interference optical system due to a collision between a sample stage for holding a sample and an application end of the optical system when measuring an aspheric surface of a measured surface with high accuracy.例文帳に追加

被測定面の非球面形状を高精度に測定する際に、被測定物を保持するサンプルステージと干渉光学系の照射先端部との衝突による干渉光学系の照射先端部の破損を防止した構造を有する測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a position measuring apparatus for a work robot, which measures a three-dimensional position of the work robot using the light-section method by eliminating movement of a drive shaft thereof, thus improving working efficiency and avoiding interference of a position measuring unit with any object such as a work.例文帳に追加

作業ロボットにおいて光切断法により３次元位置計測を行うに際して、作業ロボットの駆動軸の作動を不要とすることで、作業効率を向上させるとともに、位置計測ユニットがワーク等と干渉することを回避する。 - 特許庁

To provide a measuring method and a measuring apparatus which can carry out an unlapping processing appropriately even in the case of a shape generating a measurement dead band, and carry out a high-accuracy interference measurement capable of accurately carrying out the measurement more effectively than conventional methods.例文帳に追加

計測不感帯が発生する形状の場合にも適切にアンラッピング処理を行うことができ、高精度に計測可能な高精度干渉計測を従来方式より効率よく行うことができる計測方法及び計測装置を提供する。 - 特許庁

A measurement history or a combination of reaction information in which measuring items T and a prescribed number of past orders of measuring items are stored is compared with the previously set combination of reagent interference to determine the cleaning method of the reagent probes and the number of cleaning.例文帳に追加

測定項目Ｔと所定数の過去の測定項目順を記憶している測定履歴又は反応情報の組み合わせと、予め設定された試薬干渉の組み合わせを比較し、試薬プローブの洗浄方法と洗浄回数を求める。 - 特許庁

Further, the mechanical scanning related to a depth direction is eliminated by using a method for measuring the interference fringe in a spectrum region without directly measuring the interferogram of a time axis and calculating the interferogram of the time axis.例文帳に追加

また、時間軸のインターフェログラムを直接計測するのではなく、スペクトル領域における干渉縞を計測し、そこから時間軸のインターフェログラムを計算する方法を用いることで、深さ方向に対する機械的走査を解消している。 - 特許庁

To provide a position determination method capable of easily determining the position of a measuring object in electron microscope observation from position information or the like of the measuring object acquired by observation by a first microscope such as an optical microscope, a phase contrast microscope, a differential interference microscope or a polarization microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡、位相差顕微鏡、微分干渉顕微鏡または偏光顕微鏡等の第１の顕微鏡で観察した測定対象物の位置情報等から電子顕微鏡観察における測定対象物の位置を簡単に求めることができる位置決定方法を提供する。 - 特許庁

This optical fiber ring interference type sensor is equipped with the optical fiber 11 juxtaposed with optical fiber rings La, Lb constituting the sensor; and an OTDR measuring means 12 for allowing light to enter one end of the optical fiber 11, and measuring a change with time of the intensity of the light returning to its end face.例文帳に追加

光ファイバリング干渉型センサを構成する光ファイバリングＬａ，Ｌｂに併設した光ファイバ１１と、この光ファイバ１１の一端に光を入射し，その端面に戻る光の強度の時間変化を測定するＯＴＤＲ測定手段１２とを備えている。 - 特許庁

A beam-receiving part 13 for receiving the measuring beam and reference beam reflected by the half mirror 19 to made them interfere with each other and converting a change in interference intensity to an electrical signal and counting the electrical signal to measure the flatness of the measuring surface is provided.例文帳に追加

ハーフミラー１９で反射された測定光と参照光を受光して干渉させ、この干渉光強度変化を電気信号に変換し、この電気信号をカウントして測定面の平坦度を測定する受光部１３を設ける。 - 特許庁

In an OCT part 11, using low coherence interference between a signal light L7' reflected at a specified depth of the measuring part 2 and a reference light L6 having a little frequency difference from the signal light L7, an optical tomographic image of the measuring part 2 is obtained to be displayed in a monitor 12.例文帳に追加

ＯＣＴ部11では、測定部２の所定深度で反射された信号光L7’と、信号光L7と僅かな周波数差を有する参照光L6との低コヒーレンス干渉を用いて、測定部２の光断層画像を取得し、モニタ12に表示する。 - 特許庁

To provide a flat surface measuring method of a mirror using a Fizeau interferometer capable of preventing back surface reflected light of the mirror and performing simply interference fringe measurement only on the inspection surface, and a reflection preventing tool for facilitating a flat surface measuring work when executing the method.例文帳に追加

ミラーの裏面反射光を防止し、被検面のみの干渉縞測定を簡便に行うことができるフィゾー干渉計を用いたミラーの平面測定方法及びその方法実施の際、平面測定作業を容易にする反射防止ジグを提供する。 - 特許庁

To highly precisely/highly sensitively and continuously detect/determine quantitatively only a measuring objective chemical substance by an electrode reaction, without receiving interference by a chemical substance other than the measuring objective chemical substance, in an aqueous solution containing the plurality of chemical substances.例文帳に追加

複数の化学物質を含む水溶液において、測定対象とする化学物質以外の化学物質による干渉を受けることなく、電極反応により測定対象化学物質のみを高精度・高感度で連続的に検出・定量する。 - 特許庁

To switch a measurable range (measuring depth) in response to a use purpose, when irradiating a measuring object with a low coherence light with a wavelength band and when obtaining a tomographic image by frequency-analyzing an interference light therein, in optical coherent tomographic measurement.例文帳に追加

光コヒーレンストモグラフィー計測において、測定対象に波長帯域のある低コヒーレンス光を照射し、そのときの干渉光の周波数解析を行うことにより断層画像を取得する場合に、使用目的に応じて測定可能範囲（測定深度）を切り換える。 - 特許庁

This device is made up of an interference light source part 10, a measuring part 20, and a signal processing part 30, and the measuring part 20 is provided with a hemispheric prism 21 made of Ge. an incident angle varying device 22, and a detector 23 for sensing totally reflected light from a surface of a sample, in a closed sample chamber.例文帳に追加

上記装置を干渉光源部１０、測定部２０及び信号処理部３０で構成し、測定部２０では、密閉した試料室内にＧｅからなる半球状プリズム２１と、入射角度可変装置２２と、サンプル表面からの全反射光を感知するディテクタ２３とを設ける。 - 特許庁

To provide an attaching structure for an optical unit and a length measuring machine main body, capable of regulating easily an inclination of an optical axis of a laser beam with respect to a moving mirror, when attaching the laser interference length measuring machine main body and the optical unit, and to provide the optical unit.例文帳に追加

レーザ干渉測長機本体および光学ユニットの取り付けの際に、移動ミラーに対するレーザ光の光軸の傾きを簡易に調整することが可能な光学ユニットおよび測長機本体の取り付け構造、および光学ユニットを提供する。 - 特許庁

The measuring instrument for measuring wavefront aberration of the optical system to be measured includes: a reflecting optical element which reflects light transmitted through a mask and the optical system to make the light incident on the optical system; and a detector which detects interference fringes of light transmitted through pinholes and apertures.例文帳に追加

被検光学系の波面収差を測定する測定装置が、マスク及び被検光学系を透過した光を反射して被検光学系に入射させる反射光学素子と、ピンホール、開口を透過した光の干渉縞を検出する検出器とを有する。 - 特許庁

It is preferable that the wavelength change detecting means has a form of allowing transmission of only light of a specific wavelength and capable of detecting transmission of the light of the specific wavelength, a form of measuring spectrums before and after the wavelength change of the interference light and capable of measuring a differential spectrum, or the like.例文帳に追加

波長変化検出手段が、特定波長の光のみを透過可能で、特定波長の光が透過したことを検知可能な態様、波長変化検出手段が、干渉光の波長変化前後のスペクトルを測定しその差スペクトルを測定可能な態様などが好ましい。 - 特許庁

To provide a method and a device for measuring a surface state that can improve determination accuracy while eliminating the influence of an interference fringe by intercepting infrared rays unnecessary for measurement, and carrying out the incidence of the infrared rays to a substrate at an optimum angle in measuring the surface state by an infrared multiple internal reflection method.例文帳に追加

赤外多重内部反射法による表面状態の測定において、測定に不要な赤外線を遮断して基板内部に最適な角度で赤外線を入射し、干渉縞の影響を排除するとともに、定量精度を向上することができる表面状態測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

BIOSENSING CELL ASSEMBLY OFFSETTING ELECTROMAGNETIC NOISE, SYSTEM FOR MEASURING ANALYTE CONCENTRATION OR DETECTING ANALYTE INCLUDING THE ASSEMBLY, AND METHOD FOR REDUCING ELECTROMAGNETIC INTERFERENCE IN MEASUREMENT LOOP例文帳に追加

電磁ノイズを相殺するバイオセンシング・セル・アセンブリ、当該アセンブリを含む検体濃度の測定または検体の検出を行なうシステム、および測定ループにおける電磁干渉を減少させる方法 - 特許庁

To provide an anti-treponema/pallidum antibody measuring reagent capable of precisely diagnosing the infection of syphilis by preventing the occurrence of serum interference.例文帳に追加

血清干渉の発生を防止して、梅毒の感染の診断を精度良く行うことが可能な抗トレポネーマ・パリダム抗体測定試薬を提供することを目的とする。 - 特許庁