「interference measuring～」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

To improve the accuracy of measuring results of the specific heat capacity and hemispherical total emissivity of a conductive sample of a high temperature by solving problems such as electromagnetic interference noise or the ununiformity of the sample temperature distribution.例文帳に追加

電磁干渉ノイズや試料温度分布の不均一性の問題を解決して高温における導電性試料の比熱容量及び半球全放射率の測定結果の確度を向上させる。 - 特許庁

A long-term quality measuring part 109 acquires an own cell/other cell interference ratio using demodulation signal as a long-term quality for determining a CQI table to be used from among a plurality of CQI tables.例文帳に追加

長期品質測定部１０９は、複数のＣＱＩテーブルから使用するＣＱＩテーブルを決定するために、復調信号を用いて自セル／他セル干渉比を長期品質として求める。 - 特許庁

The interference effect, corresponding to the characteristics of an analyzer, can be compensated by providing a cooling unit and a semipermeable membrane separator to a measuring gas sampling line for selectively removing a prescribed amount of alcohol.例文帳に追加

測定ガスサンプリングラインに冷却ユニット及び半透膜分離器を設け、アルコールを選択的に所定量除去することにより、分析計の特性に対応した干渉影響を補償することができる。 - 特許庁

Then, a mutual ratio in each wavelength is determined and compared with a film thickness-interference ratio characteristic acquired beforehand, to thereby estimate the film thickness of the thin film layer of the measuring object 31.例文帳に追加

その後各波長ごとの相互比率を求め，予め取得していた膜厚−干渉比特性と比較して，測定対象物３１の薄膜層の膜厚を推定する。 - 特許庁

The measuring apparatus includes a device having a mask structure mechanism 5 including a measurement pattern 6; and a device 10 for detecting and evaluating interference information for indicating an imaging error.例文帳に追加

測定装置は、測定パターン6を含むマスク構造機構5を有する装置と、撮像エラーを示す干渉情報の検出および評価のための装置10を含む測定装置と、を含む。 - 特許庁

To provide a probe card and its prober which prevents the mutual interference of IC chips when measuring electric characteristics of two IC chips at the same time.例文帳に追加

２つのＩＣチップの電気的特性を同時に測定する際に、ＩＣチップ同士の干渉を防止できるようにしたプローブカード及びプローバを提供する。 - 特許庁

As a result, a laser light from the laser interference measuring machine 8 is reflected at any inclination by the mirror G and vertically injected to the mirror 7 mounted on the stage 5.例文帳に追加

この結果、任意の傾斜角において、レーザ干渉測長器８からのレーザ光は、Ｇによって反射され、ステージ５に取り付けられたミラー７に垂直に入射することになる。 - 特許庁

To secure a means for identifying a larger number of radio frequency tags and to avoid interference of response signals transmitted respectively from the radio frequency tags in a plurality, in a radio frequency tag distance measuring system.例文帳に追加

無線タグ距離測定システムにおいて、より多くの無線タグを識別するための手段を確保すること、および複数の無線タグからそれぞれ送信される応答信号の干渉を回避することを目的とする。 - 特許庁

To provide an interference measuring apparatus capable of shortening time required for measurement by reducing mechanical operation and also suppressing a motion artifact.例文帳に追加

機械的な動作を低減することによって測定に要する時間を短縮し、且つモーションアーチファクトを抑制できる干渉測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a simple and precise same-optical-axis combination distance measuring instrument combined with micro displacement measurement by an interference fringe and displacement measurement by a triangulation method.例文帳に追加

干渉縞による微小変位計測と三角測量法による変位計測を組み合わせた、簡便かつ高精度の同一光軸複合距離計測装置を提供する。 - 特許庁

A CPU 20 samples intensity of interference light varying at a specific position of the measuring object surface 31 in a predetermined sampling interval based on a band region width of the specific frequency band region.例文帳に追加

ＣＰＵ２０は、測定対象面３１の特定箇所で変化する干渉光の強度値を、特定周波数帯域の帯域幅に基づいて予め定められたサンプリング間隔でサンプリングする。 - 特許庁

Two heterodyne beams having slightly different frequencies are guided to a measuring optical head 35 via a polarization surface storage optical fiber 34, and one portion of the heterodyne beams is taken out for interference to detect a reference beat signal.例文帳に追加

僅かに周波数の異なる２つのヘテロダイン光を偏波面保存光ファイバ３４を介して測定光学ヘッド３５に導き、ヘテロダイン光の一部を取り出して干渉させ参照ビート信号を検出する。 - 特許庁

Hereby, since the laser light is not emitted from the laser displacement gages on the position where the measuring object 300 does not exist between the pair of the laser displacement gages 121, 122, mutual interference of the laser light does not occur.例文帳に追加

これにより、一対のレーザ変位計121,122の間に被測定物300が存在しない位置では、レーザ変位計からレーザ光が射出されないので、レーザ光の相互干渉が生ずることがない。 - 特許庁

The reflected light Lo of the diffraction lattice G of measuring light is allowed to interfere with the reference light branched by a half mirror 26, and an interference fringe is formed on a screen 7a.例文帳に追加

測定光の回折格子Ｇでの反射光Ｌｏは、ハーフミラー２６で分岐された参照光と干渉させられ、干渉縞がスクリーン７ａ上に形成される。 - 特許庁

To provide a multiplexing spectrum interference optical coherence tomography having no delay of a measuring time by high-order scanning, capable of OCT measurement in a full range not including a complex conjugate image.例文帳に追加

高次の走査による計測時間の遅延がなく、複素共役画像を含まないフルレンジのＯＣＴ計測を可能とする多重化スペクトル干渉光コヒーレンストモグラフィーを実現する。 - 特許庁

An A/D conversion part 221 performs A/D conversion for an interference signal in a measuring range only when a selection pulse 226a is input from the rotation angle signal select part 226.例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換部２２１は、回転角度信号選択部２２６から選択パルス２２６ａが入力されたときのみの計測範囲の干渉信号をＡ／Ｄ変換を行う。 - 特許庁

To provide a radar device and a radio transmitting characteristic measuring method, excellent in interference resistance and also excellent in easiness of circuit configuration without needing a high-speed correlator.例文帳に追加

耐干渉性に優れ、かつ、高速な相関器が不要で回路構成の容易性にも優れた「レーダ装置および無線伝送特性測定方法」を提供する。 - 特許庁

The present invention implements an investigation of forecasted communication conditions all over the area to arrange telecommunications, thereby providing the highly accurate neighbor list without actually measuring an interference level on the job site.例文帳に追加

本発明は、電気通信が配備されるべきエリア全体に対して予想される通信条件の調査を実行することによって、現場における干渉レベルの実際の測定を必要とせずに、高精度の近隣リストを提供する。 - 特許庁

To eliminate the mutual interference of measuring circuits with each other and to make it possible to measure a plurality of semiconductor elements simultaneously.例文帳に追加

測定回路同士の相互干渉を無くし、複数の被測定半導体素子を同時に測定することに対応できる半導体検査装置及びそれを用いた検査方法の提供。 - 特許庁

To accurately acquire various items of information on objects to be tested by a simple constitution in an object measuring apparatus for acquiring various items of information on objects to be tested through the use of spectral interference.例文帳に追加

スペクトル干渉を用いて被検物体の諸情報を取得する装置において、簡単な構成で精度よく被検物体の諸情報を取得可能な物体測定装置を提供する。 - 特許庁

In the other embodiment, the parallel side face plate is used for the interference measuring system so that it obtains a signal depending on an angle of a radiation beam reflected by a mirror, and the flatness of the mirror is mapped by it.例文帳に追加

他の実施例では、ミラーで反射される放射線ビームの角度に依存した信号を得るべく、平行側面プレートが干渉測定システムに用いられ、それによってミラーの平面度がマップされる。 - 特許庁

The wet film thickness of the substrate 5 coated with the coating liquid 10 is measured by a light interference method using wavelength light of ≥500 nm at a film measuring position 17.例文帳に追加

塗液１０が塗布された基体５の湿潤膜厚が、膜厚測定位置１７で５００ｎｍ以上の波長光を用いた光干渉法によって測定される。 - 特許庁

An interference fringe is formed by making return measuring light that is reflected on the aspheric plane 7a to be inspected and returned via the null lens 6 interfere with return reference light that is reflected on the reference plane 5a and returned.例文帳に追加

被検非球面７ａで反射してヌルレンズ６を介して戻る戻り測定光と、参照面５ａで反射して戻る戻り参照光とを干渉させて干渉縞を形成する。 - 特許庁

To moderate a constraint about a diameter of a pinhole to moderate a requirement for brightness of a light source, and to enhance measuring precision, in wave front aberration measurement by a pinhole interference method.例文帳に追加

ピンホール干渉法による波面収差測定において、ピンホールの径に対する制約を緩和することにより、光源の輝度に対する要求を緩和すると共に、測定精度を向上させる。 - 特許庁

The interference measuring apparatus measures a surface shape or a wave face shape on the basis of reflection light from a reference face (4a) and reflection light from a face to be inspected (5a).例文帳に追加

参照面（４ａ）からの反射光と被検面（５ａ）からの反射光との干渉パターンに基づいて面形状または波面形状を測定する干渉測定装置。 - 特許庁

To make a thermoelectric measuring instrument stably usable in a wide sample temperature range by making the adjustment of its optical axis easier by intercepting background light by passing a laser beam having a specific wavelength through an interference filter when the laser beam is projected upon a sample.例文帳に追加

熱電気測定装置において、特定波長のレーザ光を試料に照射するときに干渉フィルターを通すことにより、背景光をカットし、光軸調整を容易にし、広い試料温度範囲で安定して使えるようにする。 - 特許庁

To provide a wavefront measuring apparatus capable of acquiring interference fringes having satisfactory contrast over the whole surface of an object to be inspected and performing highly accurate measurements.例文帳に追加

被検物の全面にわたって、良好なコントラストの干渉縞を得ることができ、高精度な測定を行うことができる波面測定装置を提供すること - 特許庁

The second diffraction grating 4 has the function of combining the reference light separated by the first diffraction grating 3 and the measuring light reflected by the surface to be measured W into interference light.例文帳に追加

第２回折格子４は、第１回折格子３にて分離される参照光、及び被測定面Ｗにて反射される測定光を合成して干渉光とする機能を有している。 - 特許庁

To facilitate quick and highly-accurate shape measurement by using a simple constitution, concerning a fringe scanning interference fringe measuring method and an interferometer.例文帳に追加

フリンジスキャン干渉縞計測方法および干渉計において、簡素な構成を用いて、容易かつ高精度な形状測定を迅速に行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide an optical probe capable of suppressing interference of illumination light even if a measuring wavelength band is narrowed and if the brightness of the illumination light is increased.例文帳に追加

測定波長帯域を狭めると共に照明光のブライトネスを高めた場合でも、照明光の干渉の発生が抑制された光学プローブを提供する。 - 特許庁

An analyzer 11 analyzes the second interference fringe image acquired by the second interferometer I_2, and detects a displacement of the reflecting flat mirror F_1 with respect to a predetermined measuring position set previously.例文帳に追加

解析装置１１は、第２の干渉計Ｉ_2により取得された第２の干渉縞画像を解析し、予め設定された所定の測定位置に対する折り返し平面ミラーＦ_1の位置ずれを検出する。 - 特許庁

The second interferometer I_2 emits measuring light and obtains a second interference fringe image based on return light that returns to the second interferometer I_2 again after being reflected from a mirror surface S_1 formed on a surface of the reflecting plane mirror F_1.例文帳に追加

そして、第２の干渉計Ｉ_2は、測定光を照射し、折り返し平面鏡Ｆ_1の表面に形成された鏡面Ｓ_1で反射され、再び第２の干渉計Ｉ_2に戻ってきた戻り光を基に、第２の干渉縞画像を取得する。 - 特許庁

The second interferometer I_2 radiates measuring light, and acquires a second interference fringe image, based on return light having returned to the second interferometer again after being reflected by a part of a spherical mirror formed on the backside of the reflecting flat mirror F_1.例文帳に追加

第２の干渉計Ｉ_2は、測定光を照射し、折り返し平面ミラーＦ_1の裏面に形成された球面ミラーの一部で反射され、再び第２の干渉計に戻ってきた戻り光を基に、第２の干渉縞画像を取得する。 - 特許庁

To provide a method for measuring a shape of a cylindrical surface that can measure the shape of a cylindrical surface easily and in a short time by using laser scanning interference and obtain a surface image of the cylindrical surface.例文帳に追加

レーザ走査干渉を用いて円筒面の形状を簡単に、かつ、短時間で測定することができ、同時に円筒面の表面画像を得ることのできる、円筒面の形状計測方法を提供する。 - 特許庁

To provide a phase connection method of two-dimensional phase data that can perform phase connection in a relatively short time with high noise immunity, and to provide an interference measuring apparatus using such a method.例文帳に追加

ノイズ耐性が大きく、比較的短時間で位相つなぎを実行できる２次元位相データの位相つなぎ方法および、これを用いた干渉測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a means for measuring film thickness of films included in a laminate of a multi-layer configuration having a polarizing film with high-precision by an optical interference method.例文帳に追加

偏光膜を有する多層構成の積層体に含まれる被膜の膜厚を、光干渉法によって高精度に測定するための手段を提供する。 - 特許庁

Furthermore, the refractive index of an identical point on a sample to be subjected to interference measurement is determined, by using an identical light source, to measure a Brewster's angle that is determined solely by the refractive index of a reflective substance, using slope incidence and reflection measuring gauge.例文帳に追加

また、干渉測定する対象試料の同一点の屈折率を同一光源を用いて、傾斜入反射測定計で反射物質の屈折率のみで決まるブリュースター角を測定することで、屈折率を決定する。 - 特許庁

To provide a wind tunnel capable of efficiently displaying the effect of a slotted wall, properly inhibiting wall interference, and performing measurement with high precision, even when the state of a test-piece in a measuring portion changes.例文帳に追加

測定部における供試体の状態が変化した場合においても、スロッティドウォールの効果を効率良く発揮させ、適正な壁干渉の抑制を実施でき、高精度な計測を可能とする風洞を提供する。 - 特許庁

A PL (PiLot) signal receiving unit 260 extracts a pilot signal at a PL signal extracting unit 261, and measures reception quality such as SIR (Signal to Interference Ratio) at a reception quality measuring unit 262.例文帳に追加

ＰＬ信号受信部２６０は、ＰＬ信号抽出部２６１にてパイロット信号を抽出し、受信品質測定部２６２にて例えばＳＩＲなどの受信品質を測定する。 - 特許庁

In this interferometer for measuring the surface shape of an optical element by utilizing interference, a reference wave front generation unit for generating a wave front which is a measurement reference of the surface shape is installed in an optical path to be inspected.例文帳に追加

干渉を利用して光学素子の面形状を測定する干渉計において、該面形状の測定基準となる波面を生成する基準波面生成ユニットを被検光路中に設けている - 特許庁

Then, by spreading the received signals (2) by the code non-correlated to the code C1 and measuring the power of the obtained signals (4), the interference power is measured.例文帳に追加

そこで、受信した信号（２）を符号Ｃ１とは無相関な符号で拡散し、得られた信号（４）の電力を測ることにより干渉電力を測定する。 - 特許庁

To provide a light source module for performing position measurement utilizing optical interference inexpensively with a simple constitution, and a position measuring system using it.例文帳に追加

光の干渉を利用した位置計測を単純な構成で低コストで行うための光源モジュールおよびこれを用いた位置計測システムを提供する。 - 特許庁

To select a carrier frequency at which interference is minimum and to automatically set transmission power by measuring carrier frequency information and a signal level of a peripheral base station when a device is started up.例文帳に追加

装置立ち上げ時に周辺基地局の搬送波周波数情報や信号レベルを測定し、干渉が最小の搬送波周波数を選択すると共に送信電力を自動的に設定する。 - 特許庁

To obtain an interference canceling device which can prepare level ranking information indicating the magnitudinous order of the receiving levels of user signals with a simple constitution, without using receivers for measuring the receiving levels.例文帳に追加

各ユーザ信号の受信レベルを測定するための受信機を用いることなく簡易な構成で受信レベルの大小順位を表すレベルランキング情報を生成する。 - 特許庁

In these method and device for measuring the interference, a surface to be tested and a reference surface are irradiated with the light of the same wavelength, and the light to be tested and the reference light are led to the same part.例文帳に追加

干渉計測方法および干渉計測装置では、被検面および参照面に同一波長の光が照射され、被検光と参照光とが同一箇所に導かれる。 - 特許庁