「interference measuring～」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

Further, the interferometer includes a shielding member 106 for shielding the measuring beam to form a non-interference region not interfering the reference beams having the second luminance and a CCD camera 111 for imaging an interference region formed by synthesized beams and the non-interference region.例文帳に追加

さらに、干渉計は、第２の輝度とした参照光と干渉しない非干渉領域を形成するように測定光を遮光する遮光部材１０６と、合成光により形成される干渉領域及び非干渉領域を撮像するＣＣＤカメラ１１１とを備える。 - 特許庁

Laser beams of the first and second wave lengths are emitted to the primary standard 64 and the measuring object face 4a to generate interference, and an interference fringe image of the first wave length and an interference fringe image of the second wave length are detected separately by image picking-up tubes 67A, 67B.例文帳に追加

第１および第２の波長のレーザ光を原器６４および測定対象面４ａに出射して干渉を生じさせ、撮像管６７Ａ，６７Ｂによって第１の波長の干渉縞画像と第２の波長の干渉縞画像を個別に検出する。 - 特許庁

This angle measuring apparatus is provided with a determining means for estimating the arrival direction of the interference signals by an interference direction estimating means through the use of each reception signal of the array antenna and excluding error directions through the use of the arrival direction of the desired signals and the arrival direction of the interference signals.例文帳に追加

一方アレーアンテナの各受信信号を用いて、干渉信号の到来方向を干渉方向推定手段で推定して、前記所望信号到来方向と前記干渉信号到来方向とを用いて誤方向を除外する判定手段を備えた。 - 特許庁

To provide a film thickness measuring method by optical interference that can execute measurement with high accuracy even when a measured object has double refraction and an interference spectral spectrum is distorted.例文帳に追加

測定対象が複屈折をもち、干渉の分光スペクトルが歪む場合でも、高精度な測定を行うことができる光干渉による膜厚測定方法を提供する。 - 特許庁

The interference measuring instrument estimates the correlation matrix of the interference noise and the channel estimator estimates the impulse response of transmission path from signals received by each antenna.例文帳に追加

さらに、各アンテナで受信された信号から、干渉測定器は干渉雑音の相関行列を、チャネル推定器は伝送路のインパルス応答を推定する。 - 特許庁

Since the flow rate is measured using the interference between the two ultrasonic waves, accurate flow rate measurements can be stably made without a decrease in measuring accuracy caused by the interference between two ultrasonic waves which occurs in techniques of the prior art.例文帳に追加

２つの超音波の干渉を利用して流量計測を行うので、従来技術で生じた２つの超音波の干渉による計測精度の劣化を招くことがなく、良好な流量計測を安定して行うことができる。 - 特許庁

An other-cell interference measuring section 276 uses the pilot symbol to measure an other-cell interference caused by signals transmitted in cells other than the cell to which the apparatus belongs.例文帳に追加

他セル干渉測定部２７６は、パイロットシンボルを用いて、自装置が属するセル以外のセルにおいて伝送されている信号による他セル干渉を測定する。 - 特許庁

An aspherical reference surface 2 having shape accuracy as exhibiting interference fringes according to the aspherical shape of a measuring surface 1 is produced, an aspherical wave surface 3 is produced and non- spherical surface interference measurement in a large area is conducted in a short time.例文帳に追加

被測定面１の非球面形状に合わせて干渉縞が出る程度の形状精度を有する非球面参照面２を製作し、これにより非球面波面３を生成させ、短時間に大領域の非球面干渉計測を行う。 - 特許庁

In this period measuring method, a photoresist film 10a is formed on a semiconductor substrate 10 on which the diffraction grating is formed, and an interference pattern is formed by exposing it by a two-luminous flux interference exposure method.例文帳に追加

回折格子が形成された半導体基板１０上にフォトレジスト膜１０ａを形成し、二光束干渉露光法で干渉パターンを露光する。 - 特許庁

The interference information processing device 1 issues an instruction to communicate with the radio IC tag at the predetermined timing using a data communication device 2 different from the measuring device as an interference device.例文帳に追加

干渉情報処理装置１は、測定装置とは異なる所定のデータ通信装置２を干渉装置として上記所定のタイミングで無線ＩＣタグとの通信を指示する。 - 特許庁

To obtain an image correcting method for a device for simultaneously measuring phase-shift interference fringes capable of automatically adjusting the contrast and luminance of three simultaneously obtained interference fringe images through the use of electric image pickup data.例文帳に追加

電気的な撮像データを用いて、同時的に得られる３つの干渉縞画像のコントラストや輝度を自動的に調整できるような位相シフト干渉縞の同時計測装置の画像補正法を得るにある。 - 特許庁

To provide a mobile radio terminal of a TDMA system in which even weak interference wave power can be accurately measured, and a method of measuring interference wave power in a TDMA system.例文帳に追加

微弱な干渉波電力でも正確に測定することができるＴＤＭＡシステムの移動無線端末、及びＴＤＭＡシステムにおける干渉波電力の測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an infrared gas analyzer capable of removing an interference effect of a detector influenced by an interference component, and measuring simultaneously a plurality of component gases included in a sample gas without inducing sensitivity decline of the detector.例文帳に追加

干渉成分の影響を受ける検出器の干渉効果を除去し、且つ、検出器の感度低下を招くことなく、試料ガス中に含まれる複数成分ガスを同時に測定できる赤外線ガス分析計を得る。 - 特許庁

This film thickness measuring device acquires an interference image between a glass plate 11 and a sample 10, which are in contact state with the white polarization interference method.例文帳に追加

この膜厚測定装置では、白色偏光干渉法によって、接触状態にあるガラス板１１と試料１０の間の干渉画像を取得する。 - 特許庁

To provide a method of measuring optical interference for easily determining whether the coherent light (optical beat signal) detected by using an interference phenomenon of light causes acquisition of a normal image or acquisition of a folded image.例文帳に追加

光の干渉現象を利用して検出した干渉光（光ビート信号）が正規の像を取得させるものであるのか折り返し像を取得させるものであるのかを簡易に判定することができる光干渉計測方法を提供する。 - 特許庁

Tomographic images of the measuring object S is acquired by an image acquisition means 9, based on the interference light L4 detected by the interference light detecting means.例文帳に追加

この干渉光検出手段により検出された干渉光Ｌ４から測定対象Ｓの断層画像が画像取得手段９により取得される。 - 特許庁

To automatically measure an interference amount in each base station by enabling respective base stations to simultaneously start an interference amount measuring operation and to simultaneously switch a transmission station and a reception station.例文帳に追加

各基地局が一斉に干渉量測定動作を開始するとともに送信局と受信局の切り替えも一斉に行うことを可能とし、各基地局における干渉量を自動測定することを可能にする。 - 特許庁

To increase interference light intensity without increasing a DC component, and to prevent precision from getting low by fluctuation in intensity of light source light, when measuring a thickness and a refractive index of a measured object, using an optical interference method.例文帳に追加

光干渉法を用いて、被測定物の厚さと屈折率を測定する際に、ＤＣ成分の増大を招くことなく干渉光強度を増大させ、光源光の強度に変動による精度低下を防止する。 - 特許庁

To detect the temporal change of a phase difference and to highly accurately provide the phase difference of a reference light and a light to be tested, in a method and a device for measuring interference to which a fringe scanning interference method is applied.例文帳に追加

フリンジスキャン干渉法が適用された干渉計測方法及び干渉計測装置において、位相差の時間変化を検知し、参照光と被検光との位相差を高い精度で求める。 - 特許庁

The variation of phase of interference wave to the liquid sample and the variation of phase of interference wave to vacuum are acquired on each measurement section when moving stages arranged at a plurality of different measuring sections, are moved by a predetermined length.例文帳に追加

複数の測定区間をずらして配置する設定長だけ移動ステージが移動するときに、液体サンプルに対する干渉波の位相変化量と真空に対する干渉波の位相変化量とを各測定区間について取得する。 - 特許庁

To achieve a higher accuracy with a steeper envelope of an interference characteristic curve by partially altering the structure of the conventional low coherence interference measuring apparatus.例文帳に追加

従来の低コヒーレンス干渉測定装置の構成を一部変更して干渉特性曲線の包絡線を急峻化させ、高精度化を図ることを目的とする。 - 特許庁

To provide an optical image measuring instrument capable of calculating the intensity of a direct current component comprising background light, based on a detection result of an interference light beam, and capable of finding signal intensity of the interference light beam and a spatial distribution of a phase thereof, using it.例文帳に追加

干渉光の検出結果に基づいて背景光からなる直流成分の強度を算出でき、それを用いて干渉光の信号強度及び位相の空間分布を求めることが可能な光画像計測装置を提供する。 - 特許庁

To provide an interference device and a measuring technique of planar shapes so as to resolve narrow-spacing of interference band occurred at the time of measurement of a test planar plane (a sample) with steep slope.例文帳に追加

急峻な傾斜を持つ被検体平面〔サンプル〕の計測時に生ずる干渉縞の狭間隔化を解消するようにした干渉装置及び平面形状の測定方法を得る。 - 特許庁

Interference signals IS are acquired for respective scanning lines of measuring light L1, and tomographic information r(z) at each depth position z of an object to be measured S is acquired by using the interference signals IS.例文帳に追加

測定光Ｌ１の走査ライン毎に干渉信号ＩＳが取得され、この干渉信号ＩＳを用いて測定対象Ｓの各深さ位置ｚにおける断層情報ｒ（ｚ）が取得される。 - 特許庁

By this constitution, it is possible to prevent the mutual interference of the distance measuring devices and to effectively prevent interference when each robot autonomously moves even in the case that a plurality of the autonomous mobile robots are present in the narrow movement area.例文帳に追加

このような構成により、各距離測定装置の相互干渉が防止され、狭い移動領域に複数の自律移動型ロボットが存在する場合にも各ロボットの自律移動に際する干渉が有効に防止できる。 - 特許庁

To provide an interference measuring method capable of acquiring data on luminance distributions of a plurality of significant interference fringes on which errors caused by environmental changes are not superposed.例文帳に追加

本発明は、環境変化に起因する誤差の重畳されていない複数の有意な干渉縞の輝度分布データを取得することのできる干渉測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an angle measuring instrument capable of accurately estimating the incident angle of a desired wave, in the event that another interference wave also exists, and in particular even under interference by incident wave having higher reception power level than that of the desired wave.例文帳に追加

他の干渉波も存在する場合、特に所望波より受信電力レベルが大きい入射波による干渉下においても所望波の入射角推定を正確に行うことができる測角装置を提供する。 - 特許庁

METHOD, EQUIPMENT, AND PROGRAM FOR ANALYZING INTERFERENCE FRINGE INTERFERENCE MEASURING DEVICE, MANUFACTURING METHOD OF PROJECTION OPTICAL SYSTEM, PROJECTION EXPOSURE DEVICE, AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

干渉縞解析方法、干渉縞解析装置、干渉縞解析プログラム、干渉測定装置、投影光学系の製造方法、投影露光装置、及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide an interference image measuring instrument capable of extracting phase information at a satisfactory S/N ratio, even when portions different in light intensities exist within the same view field, in measurement of an interference fringe.例文帳に追加

本発明の目的は、干渉縞の測定に際し、光強度の異なる箇所が同一視野内に混在している場合においても、Ｓ／Ｎ比よく位相情報を抽出することができる干渉画像測定装置を提供することにある。 - 特許庁

Interference fringes between the measuring laser beam that is modulated by a change 4a of the shape of an reaction field in the vicinity of the surface of the work 3 caused by the machining laser beam 1 and a reference beam are generated by an interference optical system.例文帳に追加

また干渉光学系により、加工レーザ光１による被加工物３の表面近傍の反応場の形態変化４ａにより変調を受けた計測レーザ光と、参照光との干渉縞を発生させる。 - 特許庁

The invention provides the acid number measuring method for avoiding a measurement interference due to an artifact in the conventional alkali neutralizing titrimetric determination.例文帳に追加

本発明においては、従来のアルカリ中和滴定におけるアーティファクトによる測定妨害を回避する酸価の測定方法が提供される。 - 特許庁

First of all, the laser interferometer 104 can detect interference light and selects at least four measuring positions p_i which do not exist on the same plane.例文帳に追加

まず、レーザ干渉計１０４が干渉光を検出でき、かつ同一平面上に存在しない少なくとも４つの測定位置ｐ_ｉを選ぶ。 - 特許庁

APPARATUS AND OSCILLATING METHOD FOR TWO-WAVELENGTH TYPE SEMICONDUCTOR LASER, AND MEASURING APPARATUS AND METHOD FOR TWO-WAVELENGTH TYPE INTERFERENCE例文帳に追加

２波長型半導体レーザ装置、２波長型干渉計測装置、２波長型半導体レーザ発振方法及び２波長型干渉計測方法 - 特許庁

To provide an ultrasonic flowmeter for preventing interference in reception signals and performing precise measurement, and to provide a method for measuring a flow rate.例文帳に追加

受信信号の干渉を防ぎ、精度の高い測定を行うことが可能な超音波流量計および流量の計測方法を提供する。 - 特許庁

Laser light emitted from an interference optics 2 is made to condense onto an object surface to be measured of the measuring object 100 by using a light-condensing optics 3.例文帳に追加

干渉光学系２から出射されたレーザ光は、集光光学系３で、測定対象物１００の測定対象面上に集光される。 - 特許庁

To provide a small scale angle measuring system accurately estimating an arrival angle of a desired wave even under interference of a multipath wave.例文帳に追加

装置規模が小さくマルチパス波の干渉下でも所望波の到来角を正確に推定する測角装置を得る。 - 特許庁

An estimation circuit provided in an SIR(Signal-to-Interference Ratio) measuring circuit 132 receives plural prescribed signals (pilot symbols) from an external signal source.例文帳に追加

ＳＩＲ測定回路１３２に含まれる推定回路は、複数の所定の信号（パイロット・シンボル）を外部の信号源から受信する。 - 特許庁

To provide a device capable of accurately measuring interference power to a main signal system obtained by inverse spread demodulation and synthesis.例文帳に追加

逆拡散復調と合成によって得られる主信号系に対する干渉電力を正確に測定することが出来る装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING INTERFERENCE, DEVICE OF CONTROLLING INTERFEROMETER, METHOD FOR MANUFACTURING PROJECTION LENS, AND PROJECTION EXPOSURE APPARATUS例文帳に追加

干渉測定方法及び干渉計の制御装置、並びに、投影レンズの製造方法及び投影露光装置 - 特許庁

To provide an interference measuring apparatus capable of high-accuracy and wide dynamic range measurements of the surfaces shape of objects to be measured.例文帳に追加

高精度かつ広ダイナミックレンジで被測定物の表面形状を測定することができる干渉測定装置を提供する。 - 特許庁

ALIGNING METHOD, POINT DIFFRACTION INTERFERENCE MEASURING INSTRUMENT, AND HIGH-ACCURACY PROJECTION LENS MANUFACTURING METHOD USING THE SAME INSTRUMENT例文帳に追加

アライメント方法、点回折干渉計測装置、及び該装置を用いた高精度投影レンズ製造方法 - 特許庁

The spectral reflectance meter (107) measures reflecting interference light being reflected by the sample in each measuring environment.例文帳に追加

分光反射率計（１０７）は、それぞれの測定環境において、試料で反射された反射干渉光を測定する。 - 特許庁

To provide an optical image measuring device capable of determining effectively a direct-current component of a heterodyne signal comprising background light of interference light.例文帳に追加

干渉光の背景光からなるヘテロダイン信号の直流成分を有効に求めることが可能な光画像計測装置を提供する。 - 特許庁

Then, the temperature of the measuring object 31 is determined from the change of an optical path length after subtracting an influence portion of the thin film layer from the interference waveform.例文帳に追加

その後前記干渉波形から薄膜層の影響分を引いた後の光路長の変化から，測定対象物３１の温度を求める。 - 特許庁

SHEARING INTERFERENCE MEASURING METHOD AND SHEARING INTERFEROMETER, METHOD OF MANUFACTURING FOR PROJECTION OPTICAL SYSTEM, AND PROJECTION OPTICAL SYSTEM, AND PROJECTION EXPOSURE DEVICE例文帳に追加

シアリング干渉測定方法及びシアリング干渉計、投影光学系の製造方法、投影光学系、及び投影露光装置 - 特許庁