「interference measuring～」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

The interference measuring apparatus is constituted of a light source 10 for radiating supercontinuum light (SC light); an optical fiber coupler 11 for dividing the SC light into measuring light and reference light; a dispersion compensation element 12; a drive unit 13 for moving the dispersion compensation element 12; and a light-receiving means 14 for measuring the interference waveform between the measuring light and the reference light.例文帳に追加

干渉測定装置は、スーパーコンティニューム光（ＳＣ光）を放射する光源１０と、ＳＣ光を測定光と参照光とに分割する光ファイバカプラ１１と、分散補償素子１２と、分散補償素子１２を移動させる駆動装置１３と、測定光と参照光との干渉波形を測定する受光手段１４と、によって構成されている。 - 特許庁

To provide a surface measuring device needing no calibration primary standard, and capable of reducing the device size and precisely measuring minute waviness of a long cycle and a short cycle in a short time in regard to a surface measuring device measuring the shape of a disc surface by using an interference optical system.例文帳に追加

干渉光学系を用いてディスク表面の形状を計測する表面計測装置に関し、校正原器が不要で、しかも装置規模を小さくでき、又、長周期及び短周期の微小うねりを短時間に精密に計測できる表面計測装置を実現する。 - 特許庁

To provide an EMI (Electro Magnetic Interference) measuring method and an EMI measuring tool capable of quick EMI measurement, concerning the EMI measuring method and the EMI measuring tool for an information technology device such as a personal computer or a printer.例文帳に追加

パーソナルコンピュータ、プリンタなどの情報技術装置のＥＭＩ測定方法及びＥＭＩ測定用治具に関し、迅速なＥＭＩ測定が可能となるＥＭＩ測定方法及びＥＭＩ測定用治具を提供することを課題とする。 - 特許庁

The mini base station has an interference quantity measuring means for measuring a quantity of interference from the center base station and a time slot setting means for setting the flexibility in a slot configuration of the center base station according to the measured interference quantity and setting a configuration of a time slot to be used by the mini base station within the range of the flexibility.例文帳に追加

ミニ基地局は、中央基地局からの干渉量を測定する干渉量測定手段と、測定した干渉量に応じて、中央基地局のスロット構成に対する自由度を設定し、その自由度の範囲内で、ミニ基地局で使用するタイムスロットの構成を設定するタイムスロット設定手段とを備える。 - 特許庁

This system 1 has a mode blocking laser which can regenerate a clock signal indicating a bit clock of an optical signal to be and a modulation interference structure 5 which has first and second interference measuring arms 33, 35, and can modulate an amplitude and phase of the optical signal according to the clock signal, and contains at least one semiconductor optical amplifier SOA1 disposed in the first interference measuring arm 33.例文帳に追加

この装置１は、再生する光信号のビットのクロックを示すクロック信号を再生可能なモードブロッキングレーザと、第一および第二の干渉測定アーム３３、３５を有し、前記クロック信号により光信号の振幅および位相を変調可能であり、第一の干渉測定アーム３３に配置された少なくとも一つの半導体光増幅器ＳＯＡ１を含む、変調干渉構造５とを備える。 - 特許庁

A relative position of the measuring mirrors 4, 5 to the reference mirror 6 is calculated from interference between laser beams reflected by the measuring mirrors 4, 5 and the reference mirror 6.例文帳に追加

測定ミラー４，５と参照ミラー６で反射されたレーザービームの干渉から測定ミラー４，５の参照ミラー６に対する相対位置を算出する。 - 特許庁

PHOTOGRAPHING DEVICE, DEVICE AND METHOD USING THE SAME FOR MEASURING LASER INTERFERENCE FRINGE AS WELL AS DEVICE AND METHOD FOR MEASURING LASER WAVE-SURFACE例文帳に追加

撮影装置およびこれを利用するレーザー干渉縞計測装置とレーザー波面計測装置、並びにレーザー干渉縞計測方法とレーザー波面計測方法 - 特許庁

To provide a method and instrument for measuring gas temperature by heterodyne interference method capable of contactlessly measuring variation of a gas temperature with high responsiveness and high precision.例文帳に追加

非接触、高応答、高精度で気体温度変化を測定することができるヘテロダイン干渉法によるガス温度変化測定方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To provide an interference light measuring device with wide measurement wavelength range and measurement dynamic range capable of measuring coherent light efficiently with high accuracy.例文帳に追加

測定波長範囲と測定ダイナミックレンジが広く、且つ高い精度で効率良く干渉光の測定を行うことができる干渉光測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide an interferometer and an interference measuring method capable of measuring an aspherical surface shape with the same accuracy as in the case of a spherical surface, and coping with measurement of various surface shapes.例文帳に追加

非球面の面形状を球面と同じ精度で測定が可能で、かつ種々の面形状の測定に対応できる干渉計及び干渉計測法を得ること - 特許庁

A CIR measuring unit 15 measures the CIR in accordance with the measurement results by the measuring unit 13, using either the crude received signals 2 or the received signals after elimination of the interference signals 2b.例文帳に追加

そして、ＣＩＲ測定部１５が、干渉電力測定部１３の測定結果に応じて、そのままの受信信号２か、干渉信号２ｂが除去された除去後受信信号のいずれかを用いてＣＩＲを測定する。 - 特許庁

To provide an optical characteristic measuring device capable of measuring optical characteristics by performing wavelength scanning once, even in the case of a simple interference optical system.例文帳に追加

簡単な干渉光学系であっても、１回の波長掃引で光学特性を測定することができる光学特性測定装置を実現することにある。 - 特許庁

To provide a light wave interference measuring device capable of performing alignment adjustment easily with a simple constitution, and suitable for measuring a specimen such as parallel flat glasses.例文帳に追加

構成簡易でアライメント調整を容易に行うことができ、かつ平行平面ガラス等の被検体を測定するのに適した光波干渉測定装置を得る。 - 特許庁

To provide an optical interference type film thickness measuring device capable of exactly measuring the film thickness of each resist film of RGB constituting a color filter for a liquid crystal display panel.例文帳に追加

液晶表示パネルのカラーフィルタを構成するＲＧＢ各レジスト膜の膜厚を正確に測定可能な光干渉式の膜厚測定装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an electric characteristic measuring apparatus and an electric characteristic measuring method of a semiconductor wafer that can minimize the flow and interference of electricity from those other than a region to be measured.例文帳に追加

測定対象領域以外からの電気の流れや干渉を最小化可能な半導体ウェハの電気特性測定装置及び測定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an inner diameter measuring device for measuring the inner diameter also of an object to be measured having a small inner diameter, in inner diameter dimension measurement of the cylindrical object to be measured using white interference.例文帳に追加

白色干渉を用いた円筒状の被測定物の内径寸法測定において、小さな内径を有する被測定物についても内径を測定可能な内径測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a capacity measuring system capable of preventing mutual interference between each level gage when using a plurality of level gages, and measuring a capacity stably.例文帳に追加

複数の液面計を使用する場合において、液面計同士の相互干渉を防止し、安定して容量を計測できる容量計測システムを実現する。 - 特許庁

To provide an interference measuring apparatus capable of highly accurately setting an origin after measurement and capable of highly accurately measuring the displacement information (absolute displacement information) of an object to be measured.例文帳に追加

測定後の原点を高精度に設定することができ、被測定物の変位情報（絶対変位情報）を高精度に測定することができる干渉測定装置を得ること。 - 特許庁

Measuring lights for the object to be measured 14 are reflected by an optical phase conjugate mirror 120, and then coupled and detected in a range measuring interferometer employing the heterodyne interference method.例文帳に追加

ヘテロダイン干渉を用いた干渉測長装置において、被測定物１４の測定光は位相共役鏡１２０で反射させてから合波・検出する。 - 特許庁

To measure the thickness of a measuring object simply and highly accurately without being influenced by vibration of the measuring object, and also without generating disturbance or fluctuation of interference light.例文帳に追加

被測定物の振動の影響を受けず，また，干渉光の乱れや揺らぎを生じさせることなく，被測定物の厚みを簡易に高精度で測定できること。 - 特許庁

To provide a dimension measuring apparatus which can adjust a focal position of a measuring light beam in a short time in the measurement of surface height of an object under measurement using white light interference.例文帳に追加

白色干渉を用いた被測定物の表面高さの測定において、短時間で測定光束の焦点位置を調節可能な寸法測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide optical image measuring system which can use high-precision signal strength or phase information to measure any measuring object by improving detection sensitivity of interference light.例文帳に追加

干渉光の検出感度を向上させて、良好な精度の信号強度や位相情報を用いて被測定物体を計測できる光画像計測装置を提供する。 - 特許庁

To provide an EMI (Electro Magnetic Interference) measuring instrument, and an EMI measuring method, capable of carrying out measurement in a small-sized radio wave dark room in a short time, and capable of specifying a radiation source of a disturbance electromagnetic wave.例文帳に追加

測定を小型の電波暗室内で短時間に行うことができ、しかも、妨害電磁波の放射源の特定も可能なＥＭＩ測定装置及びＥＭＩ測定方法を提供する。 - 特許庁

To precisely measure the whole face to be measured by dividing the face exceeding a measuring range of an interference shape measuring instrument into a plurality of faces to be measured, and by reducing connection errors generated when connecting them.例文帳に追加

干渉形状計測器の測定範囲を越えるような被測定面を複数分割して測定し、それらをつなぎ合わせる際に生じる接続誤差を低減することによって被測定面全体を高精度に測定する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a substrate for a magnetic disk, by which the quality of even a substrate for a magnetic disk of a one-sided workpiece can be measured by using the conventional probe-type measuring instrument or an optical/interference system measuring instrument.例文帳に追加

片面加工品の磁気ディスク用基板においても従来の触針式測定機や光学式／干渉系測定機を使用した品質の測定を行うことができる磁気ディスク用基板の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection method of a substrate for an electro-optical device, and the like, generating little measurement error, and having a short measuring time, when inspecting the shape of a step on the substrate by using an optical interference measuring device.例文帳に追加

光干渉測定装置を用いて基板上の段差の形状を検査する際に、測定エラーが少なく、測定時間の短い電気光学装置用基板の検査方法等を提供する。 - 特許庁

This blood sugar level measuring device is structured to uninvasively measure a blood sugar level based on a measured temperature by correcting the blood sugar level, uninvasively measured by the temperature measuring method, with the degree of saturation of oxygen in blood and the bloodstream, and further, by taking the influence of an interference substance on the degree of saturation of oxygen in blood into consideration.例文帳に追加

温度測定方式による無侵襲血糖値測定値を血中酸素飽和度と血流量で補正し、さらに血中酸素飽和度を妨害物質の影響を考慮することにより測定データの安定化を図る。 - 特許庁

A non-interference-system wave front measuring part 3 stores the respective center-of-mass positions of a plurality of condensing spots based on the light condensed by a measuring object optical system 2 in a ground test, as reference center-of-mass positions.例文帳に追加

非干渉方式波面計測部３は、地上試験において測定対象光学系２で集光された光に基づく複数の集光スポットの各重心位置を基準重心位置とし記憶している。 - 特許庁

To provide an interference measuring apparatus capable of setting precisely an origin after measurement, and capable of measuring precisely displacement information (absolute displacement information) of a measured object.例文帳に追加

測定後の原点を高精度に設定することができ、被測定物の変位情報（絶対変位情報）を高精度に測定することができる干渉測定装置を得ること。 - 特許庁

Signal processing parts 73-1 to 73-L are provided with SIR(signal to interference ratio) measuring parts 12-1 to 12-L and between these SIR measuring parts and a searcher 72, an antenna weight succeeding processing part 11 is provided.例文帳に追加

信号処理部７３−１〜７３−ＬにＳＩＲ測定部１２−１〜１２−Ｌを設け、これらＳＩＲ測定部とサーチャー７２との間にアンテナ重み継承処理部１１を設ける。 - 特許庁

To provide an optical lens system for inexpensively measuring a position using interference of light in simple constitution, and to provide a position measuring system using it.例文帳に追加

光の干渉を利用した位置計測を単純な構成で低コストで行うための光学レンズ系およびこれを用いた位置計測システムを提供する。 - 特許庁

To provide a measuring device capable of measuring stably a wideband signal in a signal detector using a superconducting quantum interference element which is a highly sensitive magnetic sensor.例文帳に追加

高感度磁気センサーである超伝導量子干渉素子を用いた信号検出器において，広帯域の信号を安定に測定できる測定装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a simple sensor kit and a measuring device capable of measuring bonding of a biochemical substance at high throughput, durable to alkali, and utilizing an optical interference effect of an optical thin film.例文帳に追加

高スループットで生化学物質の結合を測定でき、アルカリに対する耐性のある、光学薄膜の光干渉効果を利用した簡便なセンサキットおよび測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide an isotopic gas measuring instrument capable of repeatedly and stably measuring the concentration of an isotopic gas with little influence of interference of 12CO2 in the absorbance measurement of 13CO2.例文帳に追加

^１３ＣＯ_２の吸光度測定において^１２ＣＯ_２の干渉の影響が小さく、同位体ガスの濃度を再現性よく安定に測定できる同位体ガス測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a measuring terminal measuring accurately without mutual interference between a current lead wire and a voltage lead wire, and preventing a bolt for fixing a conductive member from working as an obstacle.例文帳に追加

この発明は、電流リード線と電圧リード線が互いに干渉し合うことがなく正確な測定が行われるようにし、かつ導電性部材を固定するボルトが支障とならないような計測用端子を得ようとするものである。 - 特許庁

To keep long the distance between an objective lens and a measuring sample even when using the objective lens having large NA to cope with a tilt angle of the measuring sample, and to enlarge the degree of freedom of a measurable shape by preventing interference between the objective lens and the measuring sample.例文帳に追加

被測定試料の傾斜角に対応するためにＮＡの大きな対物レンズを使用したときにおいても対物レンズと被測定試料間の距離を大きく保つことができ、対物レンズと被測定試料の干渉を防ぎ測定可能な形状の自由度を拡大できるようにする。 - 特許庁

To provide an automatic analysis apparatus capable of automatically changing the order of measuring items in such a way that reagent probes may not be frequently cleaned and measuring items in which reaction tubes are easily stained without being affected by the jumping of the interference of reagents of the reagent probes over previous measuring items.例文帳に追加

試薬プローブの試薬の干渉が前の測定項目を飛び越えて影響することなく、試薬プローブの洗浄が頻繁に入らないよう測定項目の順序を自動的に切り換え、反応管が汚れやすい測定項目も測定可能な自動分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a clinical capsule for measuring optical tomographic image using a small-size Mireau interference system surely measuring not only an image of the tissue surface but also a tomographic image of the tissue inside by combining a capsule type endoscope with an optical tomographic image measuring device.例文帳に追加

カプセル型内視鏡と光波断層画像測定装置とを組み合わせて、組織表面の画像のみでなく組織内部の断層画像を確実に測定可能とする小型ミロー干渉系を用いた光波断層画像測定用臨床カプセルを提供する。 - 特許庁

Refractive index change caused by the photothermal effect of the sample 5 is measured by measuring phase change caused by irradiation of a stimulating beam P3 in a measuring beam P1 passed (transmitted) through the sample by using an optical interference method, namely, by a phase difference between a reference beam P2 and the measuring beam P1.例文帳に追加

試料５の光熱効果による屈折率変化を，試料を通過（透過）させた測定光Ｐ１における励起光Ｐ３の照射による位相変化を光干渉法を用いて測定することによって，即ち，参照光（Ｐ２）と測定光（Ｐ１）との位相差によって測定する。 - 特許庁

The shape measuring apparatus S measures the thickness of an object to be measured WA by a one-surface measuring section 2 and an another-surface measuring section 3 for performing optical heterodyne interference, and measures the thickness and surface shape of the object to be measured WA by a single measurement, by having the object to be measured irradiated by the one-surface measuring section 2 with a plurality of measuring lights.例文帳に追加

本発明の形状測定装置Ｓは、光へテロダイン干渉を行う一面側測定部２および他面側測定部３によって測定対象物ＷＡの厚さを測定するものであって、一面側測定部２が測定対象物に複数の測定光を照射することで、１回の測定で測定対象物ＷＡにおける厚さと表面形状とを測定する。 - 特許庁

To provide a thickness measuring device of a colored film and a thickness measuring method capable of measuring the film thickness precisely without being influenced by absorption of a pigment included in the colored film and by high order light, and measuring the film thickness of a photoresist before pattern exposure, when measuring the colored film of a color filter for a liquid crystal display device by a spectral interference method.例文帳に追加

液晶表示装置用カラーフィルタの着色膜を分光干渉式で測定する際に、着色膜に含まれる顔料の吸収の影響、高次光の影響を受けず、精度よく膜厚測定が可能な、また、パターン露光前のフォトレジストの膜厚測定が可能な着色膜の膜厚測定装置、及び膜厚測定方法を提供すること。 - 特許庁

A measuring object 31 and a reference light mirror 32 are irradiated with low coherence light from two or more different low-coherence light sources 51, 52, 53 having different center wavelengths, and interference intensities are measured in each wavelength from interference waveforms of reflected light.例文帳に追加

中心波長が異なった２以上の異なった低コヒーレンス光源５１，５２，５３からの低コヒーレンス光を測定対象物３１と参照光ミラー３２に照射し，その反射光の干渉波形から，干渉強度を各波長ごとに測定する。 - 特許庁

To cancel a coupling loop interference signal from a reception signal, by measuring a delay profile of the coupling loop interference signal in a relaying apparatus, without utilizing a reference signal inserted to an OFDM signal and without calculating a transfer function using a minimum phase condition or the like.例文帳に追加

ＯＦＤＭ信号に挿入された基準信号を利用することなく、また、最小位相条件等を用いた伝達関数の計算を行うことなく、中継装置における回り込み信号の遅延プロファイルを測定して、受信信号から回り込み信号を除去することができるようにする。 - 特許庁

Since non-specific reaction due to the interference substance having a structure, wherein constitutent substances are mutually bonded by a disulfide bond, like a rheumatoid factor can be inhibited by cutting the disulfide bond by the reducing agent to decompose the interference substance, measuring accuracy can be enhanced.例文帳に追加

本発明によれば、リウマチ因子のように構成物質同士がジスルフィド結合した構造をもつ干渉物質による非特異反応を、還元剤でジスルフィド結合を切断し干渉物質を分解することにより抑制することができるので、測定精度の向上などを図ることができる。 - 特許庁

To provide a coaxial type spatial light interference tomographic image measuring instrument, utilizing a spatially correlated wave capable of effectively performing parallel detection of depth detection data due to space interference, using a low coherent light source at a high speed, using a simple constitution.例文帳に追加

低コヒーレント光源を用いた空間干渉による深さ方向情報の並列検出を、簡便な構成かつ高速でかつ有効に実行できる、空間相関波を利用した同軸型空間光干渉断層画像計測装置を提供する。 - 特許庁